JPH065321A - Ｉｃクリップ - Google Patents
ＩｃクリップInfo
- Publication number
- JPH065321A JPH065321A JP4182994A JP18299492A JPH065321A JP H065321 A JPH065321 A JP H065321A JP 4182994 A JP4182994 A JP 4182994A JP 18299492 A JP18299492 A JP 18299492A JP H065321 A JPH065321 A JP H065321A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- probe
- clip
- pins
- pin
- contact
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 ＩＣの各リード端子とプローブとを接続する
ＩＣクリップにおいて、ＩＣクリップのどのピンにプロ
ーブ接触子を接続したときでも、プローブグランド端子
を長く伸ばす必要性をなくし、このグランド端子のイン
ダクタンス成分を低く抑える。 【構成】 ＩＣのリード端子に夫々対応して複数ピン１
２を並設する。これ等ピンの特定ピンのみに電気的に接
続された導電性部材１３をこれ等ピンの並設方向に沿っ
て設ける。あるピン１２にプローブの先端７４を接触さ
せた場合、導電性部材１３が必ずその近傍にあるので、
プローブのグランド線７５が固定的に一定長さであって
も良くなる。
ＩＣクリップにおいて、ＩＣクリップのどのピンにプロ
ーブ接触子を接続したときでも、プローブグランド端子
を長く伸ばす必要性をなくし、このグランド端子のイン
ダクタンス成分を低く抑える。 【構成】 ＩＣのリード端子に夫々対応して複数ピン１
２を並設する。これ等ピンの特定ピンのみに電気的に接
続された導電性部材１３をこれ等ピンの並設方向に沿っ
て設ける。あるピン１２にプローブの先端７４を接触さ
せた場合、導電性部材１３が必ずその近傍にあるので、
プローブのグランド線７５が固定的に一定長さであって
も良くなる。
Description
【０００１】
【技術分野】本発明はＩＣクリップに関し、特に集積回
路装置の複数の端子とこれ等端子の各電気的波形を観測
するためのプローブとを電気的に接続するＩＣクリップ
に関するものである。
路装置の複数の端子とこれ等端子の各電気的波形を観測
するためのプローブとを電気的に接続するＩＣクリップ
に関するものである。
【０００２】
【従来技術】図５はこの種のプローブの従来例の構造を
示す図であり、（Ａ）はその正面図、（Ｂ）はその側面
図である。このＩＣクリップは絶縁体のモールド部分１
１と、図示せぬＩＣの複数の端子に夫々対応して並設さ
れた複数のピン１２と、バネ５１とにより構成されてい
る。
示す図であり、（Ａ）はその正面図、（Ｂ）はその側面
図である。このＩＣクリップは絶縁体のモールド部分１
１と、図示せぬＩＣの複数の端子に夫々対応して並設さ
れた複数のピン１２と、バネ５１とにより構成されてい
る。
【０００３】このＩＣクリップを使用する際には、ＩＣ
をこのＩＣクリップの先端部分で挟むことによって各ピ
ン１２の下端がＩＣの対応端子（リード端子）に夫々接
触するようになるので、ピン１２の上端のモールド部分
１１から露出した部分を、プローブ（図示せず）により
接触してプロービングすることで、ＩＣの電気的波形の
観測が可能となるのである。
をこのＩＣクリップの先端部分で挟むことによって各ピ
ン１２の下端がＩＣの対応端子（リード端子）に夫々接
触するようになるので、ピン１２の上端のモールド部分
１１から露出した部分を、プローブ（図示せず）により
接触してプロービングすることで、ＩＣの電気的波形の
観測が可能となるのである。
【０００４】この種のＩＣクリップでは、各ピン１２の
電位等を測定するために、特定ピン（一般にはグランド
ピン）を基準とするが、この特定ピンにプローブのグラ
ンド端子を接続して、プローブの接触子を測定しようと
するピンに接続させるが、この場合特定ピンと各測定ピ
ンとの距離が全て異なっているために、図６に示す様な
プローブを用いている。
電位等を測定するために、特定ピン（一般にはグランド
ピン）を基準とするが、この特定ピンにプローブのグラ
ンド端子を接続して、プローブの接触子を測定しようと
するピンに接続させるが、この場合特定ピンと各測定ピ
ンとの距離が全て異なっているために、図６に示す様な
プローブを用いている。
【０００５】このプローブはプローブ本体７１と、グラ
ンド線７２と、このグランド線の先端に取付けられたワ
ニ口クリップ７３と、プローブ先端の接触子７４とから
なっている。
ンド線７２と、このグランド線の先端に取付けられたワ
ニ口クリップ７３と、プローブ先端の接触子７４とから
なっている。
【０００６】このプローブのグランド線７２をある程度
の長さに設定しておいて、接触子７４を測定すべきピン
に接触したとき、グランド等の基準となるべき特定ピン
が離れていても、このグランド線７２により測定を容易
としているのである。
の長さに設定しておいて、接触子７４を測定すべきピン
に接触したとき、グランド等の基準となるべき特定ピン
が離れていても、このグランド線７２により測定を容易
としているのである。
【０００７】しかしながら、プローブに長いグランド線
７２を用いて測定すると、ある程度以上の周波数成分を
有する信号を測定する際に、このグランド線のインダク
タンス成分が影響を及ぼし、正しい測定ができないとい
う欠点がある。
７２を用いて測定すると、ある程度以上の周波数成分を
有する信号を測定する際に、このグランド線のインダク
タンス成分が影響を及ぼし、正しい測定ができないとい
う欠点がある。
【０００８】この欠点を解決するために、図７の様にグ
ランド線の代りに短いグランド用裸線７５を接触子７４
の近くに固定し取付けたプローブを用いると、特定ピン
と測定しようとするピンとの間の距離が全て異なってい
るので、測定が容易でなく、また誤接触が生じ易いとい
う欠点がある。
ランド線の代りに短いグランド用裸線７５を接触子７４
の近くに固定し取付けたプローブを用いると、特定ピン
と測定しようとするピンとの間の距離が全て異なってい
るので、測定が容易でなく、また誤接触が生じ易いとい
う欠点がある。
【０００９】
【発明の目的】本発明の目的は、特定ピンと測定すべき
ピンとの間の距離が異なっていても、容易にかつ確実に
プローブによる測定ができるようにしたＩＣクリップを
提供することである。
ピンとの間の距離が異なっていても、容易にかつ確実に
プローブによる測定ができるようにしたＩＣクリップを
提供することである。
【００１０】
【発明の構成】本発明によれば、集積回路装置の複数の
端子とこれ等端子の各電気的波形を観測するためのプロ
ーブとを電気的に接続するＩＣクリップであって、前記
端子の各々に夫々対応して並設して設けられた複数のピ
ンと、これ等ピンのうち特定ピンのみに対して電気的に
接続され前記ピンの並設方向に沿って設けられた導電性
部材とを含むことを特徴とするＩＣクリップが得られ
る。
端子とこれ等端子の各電気的波形を観測するためのプロ
ーブとを電気的に接続するＩＣクリップであって、前記
端子の各々に夫々対応して並設して設けられた複数のピ
ンと、これ等ピンのうち特定ピンのみに対して電気的に
接続され前記ピンの並設方向に沿って設けられた導電性
部材とを含むことを特徴とするＩＣクリップが得られ
る。
【００１１】
【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
つつ説明する。
つつ説明する。
【００１２】図１は本発明の実施例を示す一部正面図で
あり、本例では簡単化のためにＩＣクリップの片側（右
側）部分のみを示している。ＩＣクリップは図５の従来
例にも示すように左右対象であるから、図１では左側部
分を省略しているが、図示する右側部分の構造と同一で
ある。
あり、本例では簡単化のためにＩＣクリップの片側（右
側）部分のみを示している。ＩＣクリップは図５の従来
例にも示すように左右対象であるから、図１では左側部
分を省略しているが、図示する右側部分の構造と同一で
ある。
【００１３】このＩＣクリップは絶縁体のモールド部１
１と、図示せぬＩＣのリード端子に夫々対応して並設し
て設けられた複数のピン１２と、特定のピン（例えばグ
ランドとなるべきピン）とのみ電気的に接続された導電
性部材１３，１４とを含む。
１と、図示せぬＩＣのリード端子に夫々対応して並設し
て設けられた複数のピン１２と、特定のピン（例えばグ
ランドとなるべきピン）とのみ電気的に接続された導電
性部材１３，１４とを含む。
【００１４】図２及び図３はこの特定ピン１２と導電性
部材１３，１４との具体的構造を示す図であり、図２は
その正面図，図３（Ａ）はその斜視図，（Ｂ）はその上
面図である。
部材１３，１４との具体的構造を示す図であり、図２は
その正面図，図３（Ａ）はその斜視図，（Ｂ）はその上
面図である。
【００１５】特定ピン１２と導電性プレート１４とは電
気的に接続されており、この導電性プレート１４はこれ
等ピン１２の並設方向に沿って取付けられる。この導電
性プレート１４の上端近傍には、これまた導電性プロー
ブグランド用接触端子板１３が取付けられており、この
端子板１３もピン１２の並設方向に沿って取付けられる
ことになる。
気的に接続されており、この導電性プレート１４はこれ
等ピン１２の並設方向に沿って取付けられる。この導電
性プレート１４の上端近傍には、これまた導電性プロー
ブグランド用接触端子板１３が取付けられており、この
端子板１３もピン１２の並設方向に沿って取付けられる
ことになる。
【００１６】図４は本発明の実施例によるＩＣクリップ
に対してプローブ（図７に示すプローブ）を使用する際
の状態を示した図である。
に対してプローブ（図７に示すプローブ）を使用する際
の状態を示した図である。
【００１７】プローブの先端接触子７４をどのピンに接
触させても、端子板１３が全てのピン１２と同一距離に
ある様になっているために、固定されているグランド用
裸線７５は必ずこの端子板１３に接触可能となり、結果
としてこのグランド用裸線７５は特定ピンと電気的に接
続されることになるのである。
触させても、端子板１３が全てのピン１２と同一距離に
ある様になっているために、固定されているグランド用
裸線７５は必ずこの端子板１３に接触可能となり、結果
としてこのグランド用裸線７５は特定ピンと電気的に接
続されることになるのである。
【００１８】尚、上記実施例では、特定ピンがＩＣクリ
ップの右側部分に存在する場合について示しているが、
左側部分にも同様に導電性プレート１４及びプローブグ
ランド用接触端子板１３を取付けて、左右両側の導電性
プレートを内部で電気的に接続する機能を付加する様に
しても良いものである。
ップの右側部分に存在する場合について示しているが、
左側部分にも同様に導電性プレート１４及びプローブグ
ランド用接触端子板１３を取付けて、左右両側の導電性
プレートを内部で電気的に接続する機能を付加する様に
しても良いものである。
【００１９】
【発明の効果】叙上の如く、本発明によれば、特定ピン
に接続された導電性部材がピンの並設方向に沿って全て
のピンとの距離が等しくなる様に設けられているので、
プローブのグランド線をインダクタンスが極めて小とな
る様にすることができると共に、誤接続が生じないとい
う効果がある。
に接続された導電性部材がピンの並設方向に沿って全て
のピンとの距離が等しくなる様に設けられているので、
プローブのグランド線をインダクタンスが極めて小とな
る様にすることができると共に、誤接続が生じないとい
う効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施例の一部構成を示す図である。
【図２】図１の更に一部の構造を示す図である。
【図３】（Ａ）は図２の斜視図であり、（Ｂ）はその正
面図である。
面図である。
【図４】本発明の実施例のＩＣクリップを使用する際の
プローブとの関係を示す図である。
プローブとの関係を示す図である。
【図５】（Ａ）は従来のＩＣクリップの正面図、（Ｂ）
はその側面図である。
はその側面図である。
【図６】プローブの一例を示す図である。
【図７】プローブの他の例を示す図である。
１１ 絶縁性モールド部 １２ ピン １３ 導電性プローブグランド用接触端子 １４ 導電性プレート ５１ バネ ７１ プローブ本体 ７２ グランド線 ７３ ワニ口クリップ ７４ プローブ先端接触子 ７５ グランド用裸線
Claims (2)
- 【請求項１】 集積回路装置の複数の端子とこれ等端子
の各電気的波形を観測するためのプローブとを電気的に
接続するＩＣクリップであって、前記端子の各々に夫々
対応して並設して設けられた複数のピンと、これ等ピン
のうち特定ピンのみに対して電気的に接続され前記ピン
の並設方向に沿って設けられた導電性部材とを含むこと
を特徴とするＩＣクリップ。 - 【請求項２】 前記導電性部材は、前記ピンの各々に前
記プローブの接触子を接続したときプローブのグランド
端子に対して接触可能な位置に設けられていることを特
徴とする請求項１記載のＩＣクリップ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4182994A JPH065321A (ja) | 1992-06-17 | 1992-06-17 | Ｉｃクリップ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4182994A JPH065321A (ja) | 1992-06-17 | 1992-06-17 | Ｉｃクリップ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH065321A true JPH065321A (ja) | 1994-01-14 |
Family
ID=16127900
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4182994A Pending JPH065321A (ja) | 1992-06-17 | 1992-06-17 | Ｉｃクリップ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH065321A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR200494988Y1 (ko) * | 2020-08-27 | 2022-02-14 | 주식회사 한국가스기술공사 | 터미널 단자대 측정용 계측기 프로브 |
-
1992
- 1992-06-17 JP JP4182994A patent/JPH065321A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR200494988Y1 (ko) * | 2020-08-27 | 2022-02-14 | 주식회사 한국가스기술공사 | 터미널 단자대 측정용 계측기 프로브 |
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