JPH065321A - Icクリップ - Google Patents
IcクリップInfo
- Publication number
- JPH065321A JPH065321A JP4182994A JP18299492A JPH065321A JP H065321 A JPH065321 A JP H065321A JP 4182994 A JP4182994 A JP 4182994A JP 18299492 A JP18299492 A JP 18299492A JP H065321 A JPH065321 A JP H065321A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- probe
- clip
- pins
- pin
- contact
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 ICの各リード端子とプローブとを接続する
ICクリップにおいて、ICクリップのどのピンにプロ
ーブ接触子を接続したときでも、プローブグランド端子
を長く伸ばす必要性をなくし、このグランド端子のイン
ダクタンス成分を低く抑える。 【構成】 ICのリード端子に夫々対応して複数ピン1
2を並設する。これ等ピンの特定ピンのみに電気的に接
続された導電性部材13をこれ等ピンの並設方向に沿っ
て設ける。あるピン12にプローブの先端74を接触さ
せた場合、導電性部材13が必ずその近傍にあるので、
プローブのグランド線75が固定的に一定長さであって
も良くなる。
ICクリップにおいて、ICクリップのどのピンにプロ
ーブ接触子を接続したときでも、プローブグランド端子
を長く伸ばす必要性をなくし、このグランド端子のイン
ダクタンス成分を低く抑える。 【構成】 ICのリード端子に夫々対応して複数ピン1
2を並設する。これ等ピンの特定ピンのみに電気的に接
続された導電性部材13をこれ等ピンの並設方向に沿っ
て設ける。あるピン12にプローブの先端74を接触さ
せた場合、導電性部材13が必ずその近傍にあるので、
プローブのグランド線75が固定的に一定長さであって
も良くなる。
Description
【0001】
【技術分野】本発明はICクリップに関し、特に集積回
路装置の複数の端子とこれ等端子の各電気的波形を観測
するためのプローブとを電気的に接続するICクリップ
に関するものである。
路装置の複数の端子とこれ等端子の各電気的波形を観測
するためのプローブとを電気的に接続するICクリップ
に関するものである。
【0002】
【従来技術】図5はこの種のプローブの従来例の構造を
示す図であり、(A)はその正面図、(B)はその側面
図である。このICクリップは絶縁体のモールド部分1
1と、図示せぬICの複数の端子に夫々対応して並設さ
れた複数のピン12と、バネ51とにより構成されてい
る。
示す図であり、(A)はその正面図、(B)はその側面
図である。このICクリップは絶縁体のモールド部分1
1と、図示せぬICの複数の端子に夫々対応して並設さ
れた複数のピン12と、バネ51とにより構成されてい
る。
【0003】このICクリップを使用する際には、IC
をこのICクリップの先端部分で挟むことによって各ピ
ン12の下端がICの対応端子(リード端子)に夫々接
触するようになるので、ピン12の上端のモールド部分
11から露出した部分を、プローブ(図示せず)により
接触してプロービングすることで、ICの電気的波形の
観測が可能となるのである。
をこのICクリップの先端部分で挟むことによって各ピ
ン12の下端がICの対応端子(リード端子)に夫々接
触するようになるので、ピン12の上端のモールド部分
11から露出した部分を、プローブ(図示せず)により
接触してプロービングすることで、ICの電気的波形の
観測が可能となるのである。
【0004】この種のICクリップでは、各ピン12の
電位等を測定するために、特定ピン(一般にはグランド
ピン)を基準とするが、この特定ピンにプローブのグラ
ンド端子を接続して、プローブの接触子を測定しようと
するピンに接続させるが、この場合特定ピンと各測定ピ
ンとの距離が全て異なっているために、図6に示す様な
プローブを用いている。
電位等を測定するために、特定ピン(一般にはグランド
ピン)を基準とするが、この特定ピンにプローブのグラ
ンド端子を接続して、プローブの接触子を測定しようと
するピンに接続させるが、この場合特定ピンと各測定ピ
ンとの距離が全て異なっているために、図6に示す様な
プローブを用いている。
【0005】このプローブはプローブ本体71と、グラ
ンド線72と、このグランド線の先端に取付けられたワ
ニ口クリップ73と、プローブ先端の接触子74とから
なっている。
ンド線72と、このグランド線の先端に取付けられたワ
ニ口クリップ73と、プローブ先端の接触子74とから
なっている。
【0006】このプローブのグランド線72をある程度
の長さに設定しておいて、接触子74を測定すべきピン
に接触したとき、グランド等の基準となるべき特定ピン
が離れていても、このグランド線72により測定を容易
としているのである。
の長さに設定しておいて、接触子74を測定すべきピン
に接触したとき、グランド等の基準となるべき特定ピン
が離れていても、このグランド線72により測定を容易
としているのである。
【0007】しかしながら、プローブに長いグランド線
72を用いて測定すると、ある程度以上の周波数成分を
有する信号を測定する際に、このグランド線のインダク
タンス成分が影響を及ぼし、正しい測定ができないとい
う欠点がある。
72を用いて測定すると、ある程度以上の周波数成分を
有する信号を測定する際に、このグランド線のインダク
タンス成分が影響を及ぼし、正しい測定ができないとい
う欠点がある。
【0008】この欠点を解決するために、図7の様にグ
ランド線の代りに短いグランド用裸線75を接触子74
の近くに固定し取付けたプローブを用いると、特定ピン
と測定しようとするピンとの間の距離が全て異なってい
るので、測定が容易でなく、また誤接触が生じ易いとい
う欠点がある。
ランド線の代りに短いグランド用裸線75を接触子74
の近くに固定し取付けたプローブを用いると、特定ピン
と測定しようとするピンとの間の距離が全て異なってい
るので、測定が容易でなく、また誤接触が生じ易いとい
う欠点がある。
【0009】
【発明の目的】本発明の目的は、特定ピンと測定すべき
ピンとの間の距離が異なっていても、容易にかつ確実に
プローブによる測定ができるようにしたICクリップを
提供することである。
ピンとの間の距離が異なっていても、容易にかつ確実に
プローブによる測定ができるようにしたICクリップを
提供することである。
【0010】
【発明の構成】本発明によれば、集積回路装置の複数の
端子とこれ等端子の各電気的波形を観測するためのプロ
ーブとを電気的に接続するICクリップであって、前記
端子の各々に夫々対応して並設して設けられた複数のピ
ンと、これ等ピンのうち特定ピンのみに対して電気的に
接続され前記ピンの並設方向に沿って設けられた導電性
部材とを含むことを特徴とするICクリップが得られ
る。
端子とこれ等端子の各電気的波形を観測するためのプロ
ーブとを電気的に接続するICクリップであって、前記
端子の各々に夫々対応して並設して設けられた複数のピ
ンと、これ等ピンのうち特定ピンのみに対して電気的に
接続され前記ピンの並設方向に沿って設けられた導電性
部材とを含むことを特徴とするICクリップが得られ
る。
【0011】
【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
つつ説明する。
つつ説明する。
【0012】図1は本発明の実施例を示す一部正面図で
あり、本例では簡単化のためにICクリップの片側(右
側)部分のみを示している。ICクリップは図5の従来
例にも示すように左右対象であるから、図1では左側部
分を省略しているが、図示する右側部分の構造と同一で
ある。
あり、本例では簡単化のためにICクリップの片側(右
側)部分のみを示している。ICクリップは図5の従来
例にも示すように左右対象であるから、図1では左側部
分を省略しているが、図示する右側部分の構造と同一で
ある。
【0013】このICクリップは絶縁体のモールド部1
1と、図示せぬICのリード端子に夫々対応して並設し
て設けられた複数のピン12と、特定のピン(例えばグ
ランドとなるべきピン)とのみ電気的に接続された導電
性部材13,14とを含む。
1と、図示せぬICのリード端子に夫々対応して並設し
て設けられた複数のピン12と、特定のピン(例えばグ
ランドとなるべきピン)とのみ電気的に接続された導電
性部材13,14とを含む。
【0014】図2及び図3はこの特定ピン12と導電性
部材13,14との具体的構造を示す図であり、図2は
その正面図,図3(A)はその斜視図,(B)はその上
面図である。
部材13,14との具体的構造を示す図であり、図2は
その正面図,図3(A)はその斜視図,(B)はその上
面図である。
【0015】特定ピン12と導電性プレート14とは電
気的に接続されており、この導電性プレート14はこれ
等ピン12の並設方向に沿って取付けられる。この導電
性プレート14の上端近傍には、これまた導電性プロー
ブグランド用接触端子板13が取付けられており、この
端子板13もピン12の並設方向に沿って取付けられる
ことになる。
気的に接続されており、この導電性プレート14はこれ
等ピン12の並設方向に沿って取付けられる。この導電
性プレート14の上端近傍には、これまた導電性プロー
ブグランド用接触端子板13が取付けられており、この
端子板13もピン12の並設方向に沿って取付けられる
ことになる。
【0016】図4は本発明の実施例によるICクリップ
に対してプローブ(図7に示すプローブ)を使用する際
の状態を示した図である。
に対してプローブ(図7に示すプローブ)を使用する際
の状態を示した図である。
【0017】プローブの先端接触子74をどのピンに接
触させても、端子板13が全てのピン12と同一距離に
ある様になっているために、固定されているグランド用
裸線75は必ずこの端子板13に接触可能となり、結果
としてこのグランド用裸線75は特定ピンと電気的に接
続されることになるのである。
触させても、端子板13が全てのピン12と同一距離に
ある様になっているために、固定されているグランド用
裸線75は必ずこの端子板13に接触可能となり、結果
としてこのグランド用裸線75は特定ピンと電気的に接
続されることになるのである。
【0018】尚、上記実施例では、特定ピンがICクリ
ップの右側部分に存在する場合について示しているが、
左側部分にも同様に導電性プレート14及びプローブグ
ランド用接触端子板13を取付けて、左右両側の導電性
プレートを内部で電気的に接続する機能を付加する様に
しても良いものである。
ップの右側部分に存在する場合について示しているが、
左側部分にも同様に導電性プレート14及びプローブグ
ランド用接触端子板13を取付けて、左右両側の導電性
プレートを内部で電気的に接続する機能を付加する様に
しても良いものである。
【0019】
【発明の効果】叙上の如く、本発明によれば、特定ピン
に接続された導電性部材がピンの並設方向に沿って全て
のピンとの距離が等しくなる様に設けられているので、
プローブのグランド線をインダクタンスが極めて小とな
る様にすることができると共に、誤接続が生じないとい
う効果がある。
に接続された導電性部材がピンの並設方向に沿って全て
のピンとの距離が等しくなる様に設けられているので、
プローブのグランド線をインダクタンスが極めて小とな
る様にすることができると共に、誤接続が生じないとい
う効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例の一部構成を示す図である。
【図2】図1の更に一部の構造を示す図である。
【図3】(A)は図2の斜視図であり、(B)はその正
面図である。
面図である。
【図4】本発明の実施例のICクリップを使用する際の
プローブとの関係を示す図である。
プローブとの関係を示す図である。
【図5】(A)は従来のICクリップの正面図、(B)
はその側面図である。
はその側面図である。
【図6】プローブの一例を示す図である。
【図7】プローブの他の例を示す図である。
11 絶縁性モールド部 12 ピン 13 導電性プローブグランド用接触端子 14 導電性プレート 51 バネ 71 プローブ本体 72 グランド線 73 ワニ口クリップ 74 プローブ先端接触子 75 グランド用裸線
Claims (2)
- 【請求項1】 集積回路装置の複数の端子とこれ等端子
の各電気的波形を観測するためのプローブとを電気的に
接続するICクリップであって、前記端子の各々に夫々
対応して並設して設けられた複数のピンと、これ等ピン
のうち特定ピンのみに対して電気的に接続され前記ピン
の並設方向に沿って設けられた導電性部材とを含むこと
を特徴とするICクリップ。 - 【請求項2】 前記導電性部材は、前記ピンの各々に前
記プローブの接触子を接続したときプローブのグランド
端子に対して接触可能な位置に設けられていることを特
徴とする請求項1記載のICクリップ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4182994A JPH065321A (ja) | 1992-06-17 | 1992-06-17 | Icクリップ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4182994A JPH065321A (ja) | 1992-06-17 | 1992-06-17 | Icクリップ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH065321A true JPH065321A (ja) | 1994-01-14 |
Family
ID=16127900
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4182994A Pending JPH065321A (ja) | 1992-06-17 | 1992-06-17 | Icクリップ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH065321A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR200494988Y1 (ko) * | 2020-08-27 | 2022-02-14 | 주식회사 한국가스기술공사 | 터미널 단자대 측정용 계측기 프로브 |
-
1992
- 1992-06-17 JP JP4182994A patent/JPH065321A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR200494988Y1 (ko) * | 2020-08-27 | 2022-02-14 | 주식회사 한국가스기술공사 | 터미널 단자대 측정용 계측기 프로브 |
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