JPH04230865A - 電気試験プローブ - Google Patents

電気試験プローブ

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JPH04230865A
JPH04230865A JP3168675A JP16867591A JPH04230865A JP H04230865 A JPH04230865 A JP H04230865A JP 3168675 A JP3168675 A JP 3168675A JP 16867591 A JP16867591 A JP 16867591A JP H04230865 A JPH04230865 A JP H04230865A
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strain buffer
strain
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substrate
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JP3168675A
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Ohara Suteiibu
スティーブ・オハラ
Naichingeeru Maaku
マーク・ナイチンゲール
Ookusuteikarunisu Guren
グレン・オークスティカルニス
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はオシロスコープや他の測
定、観測及び信号処理用装置のための電気試験プローブ
、特に伝送ケーブルにかかる応力を緩衝し、グランド接
続されていることを特徴とする電気試験プローブ。
【０００２】
【従来の技術】通常用いられる電気試験プローブには、
ニッケルでメッキされた真鍮製で導電性の細長い円筒形
導体が用いられ、内部に基板が配置される。この基板に
はプローブの負荷を減らし、測定器の特性インピーダン
スをプローブで終端する受動回路又は能動回路が設けら
れる。上記細長い円筒形導体の一端にはプロービング・
チップが付いており、これは円筒形導体内部に延び絶縁
プラグで保持される。プロービング・チップは絶縁プラ
グを通して円筒形導体内部まで突き出しており、導電性
エラストマー部材の使用、その他の従来の接続法により
、基板とプロービング・チップは電気的に接続される。 円筒形導体の外側のほとんどの部分は、射出成形プラス
チックなどの絶縁部材で覆われている。このプラスチッ
ク部品を円筒形導体に取り付ける方法にはいろいろあり
、例えば、圧着法、接着剤を用いる方法又は本体に直接
プラスチックを流し込んで型を作る方法などである。一
般にこのプラスチック部品の外側には、指の滑り止めや
ガードとして機能する突縁部が形成される。また、プラ
スチック部品はプローブに接続するケーブルなどの伝送
線を保護する外部ハウジングとしても機能する。
【０００３】伝送ケーブルは、中心導体の周囲に絶縁部
材を設け、その周囲に導電性の外部シールド導体を設け
、その周囲に外部絶縁体が設けられている。中心導体は
電気的に基板に接続され、外部シールド導体は電気的に
円筒形導体に接続される。伝送ケーブルを電気試験プロ
ーブに接続する方法には様々なものがある。
【０００４】上記の方法のうちの１つが米国特許第４２
０９７４２号に開示されている。このモジュラ・プロー
ブ・システムにおいて、伝送ケーブルは円筒形導体と嵌
合する接続プラグ中に保持される。射出成形プラスチッ
クの外部ハウジングは円筒形導体の周囲に形成され、こ
のハウジング中心空洞内に中空の円筒形導体が延びてい
る。接続プラグはこの円筒形導体の中空内に嵌合し、こ
の接続プラグに設けられた絶縁部材で絶縁された同軸構
造の一対のコンタクトが、プロービング・チップと円筒
形導体とにそれぞれ接続される。接続プラグの中心コン
タクトは伝送ケーブルの中心導体と電気的に接続され、
外部コンタクトは外部シールド導体と電気的に接続され
ている。接続プラグにおいて外部コンタクトは積層状の
環状部材に支持されるが、この環状部材の内側端部から
伝送ケーブルにかけて接続プラグ内部の金属性スリーブ
をかしめることにより、両コンタクトと伝送ケーブルが
接続される。この接続プラグは絶縁被覆で覆われる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】上記及び他の設計にお
けるプローブの大きな欠点は、組み立てるのに多くの部
品と時間が必要なことである。そこで本発明は構造が簡
単で、コストが安いプローブ、つまり、より少ない部品
数で伝送ケーブルとプローブを接続し、同時に信頼性を
確保するために必要な電気的接続と伝送ケーブルにかか
る応力による歪を緩衝する構造を有するプローブを提供
することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明は歪緩衝アダプタ
を設けることで、伝送ケーブルをプローブに接続し、さ
らに、中空導体内の基板を機械的に支持し、ケーブルに
かかる歪応力を緩衝する。
【０００７】
【実施例】図１は本発明による電気試験プローブ１０の
一実施例を示しており、細長い中空導体１２を具えてい
る。この中空導体１２の一方の端には絶縁プラグ１４が
あり、その同軸中心に導電性のプロービング・チップ１
６が配置され、絶縁プラグ１４の両方向に突き出て延び
ている。プロービング・チップ１６の中空導体１２の中
へ延びている部分は、弾性力が負荷された電気的コンタ
クト２０によって電気的に基板１８に接続される。基板
１８上には、電気試験プローブ１０を補償するための抵
抗、コンデンサなどの電気部品２２が装着されている。 導電性の歪緩衝アダプタ２４が基板１８の上に装着され
、電気的に接続されているが、これにより基板１８はグ
ランドに接続される。また、歪緩衝アダプタ２４は中空
導体１２に挿入された基板１８を機械的に支持する働き
もする。伝送ケーブル２６は歪緩衝アダプタ２４に挿入
され、中空導体１２を歪緩衝アダプタ２４の周りでかし
めることにより中空導体１２内に保持される。サーモプ
ラスチック、エラストマーなどの絶縁部材２８は、中空
導体１２の外側のほとんどの部分と伝送ケーブル２６の
一部を包むよう形作られ、伝送ケーブル２６の電気的絶
縁及び応力による歪の緩衝に役立つ。伝送ケーブル２６
の他端は、オシロスコープその他の試験装置などに接続
する適当な型のコネクタに接続される。
【０００８】伝送ケーブル２６は中心導体３０を持ち、
その周囲はポリプロピレン製の絶縁層３２が設けられ、
その周囲は外部シールド導体３４が設けられ、その周囲
はさらに外部絶縁層３６が設けられている。外部シール
ド導体３４は試験機器を通してグランドに接続される。 伝送ケーブル２６を歪緩衝アダプタ２４に挿入するにあ
たっては、伝送ケーブル２６の外部絶縁層３６を取り除
き、外部シールド導体３４を露出させる。一般にワイヤ
を編んだものが使用される外部シールド導体３４を外部
絶縁層３６の周囲に折り返し、ポリプロピレンの絶縁層
３２を露出させる。さらに、絶縁層３２の一部を取り除
き、中心導体３０を露出させる。次に、外部シールド導
体３４の折り返し部分が歪緩衝アダプタ２４に収まるま
で、伝送ケーブル２６を歪緩衝アダプタ２４に挿入する
。歪緩衝アダプタ２４により、外部シールド導体３４と
基板１８が電気的に接続される。中心導体３０はろう付
けなど従来ある方法で基板１８と接続される。
【０００９】基板１８上の弾性力が負荷された電気的コ
ンタクト２０がプロービング・チップ１６と継合するま
で、基板１８は中空導体１２に挿入される。このとき、
中空導体１２内に基板１８を保持するために、中空導体
１２を導電性の緩衝アダプタ２４の周りでかしめる。中
空導体１２がかしめられることで、歪緩衝アダプタ２４
を通して外部シールド導体３４と中空導体１２が接続さ
れる。また、歪緩衝アダプタ２４に伝送ケーブルを保持
することで中心導体にかかる歪応力を緩衝する働きもす
る。
【００１０】図２は本発明による導電性の歪緩衝アダプ
タ２４の斜視図を示している。歪緩衝アダプタ２４は、
図３に見られるような形をしたベリリウム銅の薄板３８
から作られる。薄板３８はおおよそ外形が円筒状の部材
４０に形作られ、基底４２と基底４２の反対側に隙間４
６とを持つアーチ型側面４４が延びている。円筒状部材
４０の基底４２から、ある角度を付けて平板部材４８が
延びており、さらにその先に基底４２とほぼ平行に平面
板５０が付いている。その反対の円筒状部材４０の端に
は、アーチ型側面４４から突縁部５２が突き出ている。
【００１１】歪緩衝アダプタ２４は、伝送ケーブル２６
を接続する前に、基板１８に表面実装される。図４には
回路板上に実装した代表的な基板の１例が示されている
。実際には多数の基板のパターンが大きな回路板部材５
４などの上に既知の回路板技術を用いて作られる。歪緩
衝アダプタ２４を受けるために、回路板５４上の各基板
１８の近辺にスロット５６があけられる。回路板５４に
あけられたスロット５６の中に、歪緩衝アダプタ２４は
配置され、歪緩衝アダプタ２４の平面板５０は、基板１
８上の対応するろう付けパッド５８上に置かれる。円筒
状部材４０にあるの突縁部５２は、回路板の上側に引っ
かかってスロット５６の中にある歪緩衝アダプタ２４を
支えている。歪緩衝アダプタ２４の平面板５０をろう付
けパッド５８にろう付けするときには表面実装処理が用
いられる。ろう付け処理が終わると、突縁部５２は円筒
状部材４０の反対方向に曲げられるか、取り除かれる。
【００１２】
【発明の効果】本発明では、歪緩衝アダプタを用いるこ
とで組立に必要な部品点数が減って構造が簡単になり、
製造コストも安くなる。また、歪緩衝アダプタは伝送ケ
ーブルにかかる歪応力を緩衝し、伝送ケーブル接続の信
頼性が向上する。
【図面の簡単な説明】
【図１】一部が切取図、一部が断面図である本発明の電
気試験プローブの側面図。
【図２】本発明の電気試験プローブに使われる歪緩衝ア
ダプタの斜視図。
【図３】本発明の歪緩衝アダプタを組み立てるための部
材を平にした図。
【図４】本発明の回路板上に作られた基板に実装された
歪緩衝アダプタの斜視図。
【符号の説明】
１０　　電気試験プローブ １２　　中空導体 １４　　絶縁プラグ １６　　プロービング・チップ １８　　基板 ２０　　コンタクト ２２　　電気部品 ２４　　歪緩衝アダプタ ２６　　伝送ケーブル ２８　　絶縁部材 ３０　　中心導体 ３２　　絶縁層 ３４　　外部シールド導体 ３６　　外部絶縁層 ３８　　薄板 ４０　　円筒状部材 ４２　　基底 ４４　　アーチ型側面 ４６　　隙間 ４８　　平板部材 ５０　　平面板 ５２　　突縁部 ５４　　回路板 ５６　　スロット ５８　　ろう付けパッド

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】細長い中空導体と、該中空導体内部に設け
    られた回路基板と、互いに絶縁された中心導体と外部シ
    ールド導体を有するケーブルの上記外部シールド導体を
    上記回路基板及び中空導体に接続する導電性の歪緩衝ア
    ダプタとを具え、該歪緩衝アダプタは上記中空導体及び
    上記外部シールド導体間で圧着接続され、上記中心導体
    の歪を緩衝することを特徴とする電気試験プローブ。
JP3168675A 1990-06-13 1991-06-13 電気試験プローブ Expired - Lifetime JPH0623784B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US538344 1990-06-13
US07/538,344 US5061892A (en) 1990-06-13 1990-06-13 Electrical test probe having integral strain relief and ground connection

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH04230865A true JPH04230865A (ja) 1992-08-19
JPH0623784B2 JPH0623784B2 (ja) 1994-03-30

Family

ID=24146534

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3168675A Expired - Lifetime JPH0623784B2 (ja) 1990-06-13 1991-06-13 電気試験プローブ

Country Status (4)

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US (1) US5061892A (ja)
EP (1) EP0461391B1 (ja)
JP (1) JPH0623784B2 (ja)
DE (1) DE69100677T2 (ja)

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US5061892A (en) 1991-10-29
JPH0623784B2 (ja) 1994-03-30
EP0461391B1 (en) 1993-11-24
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