JPH0644574Y2 - ワイヤ放電加工機 - Google Patents
ワイヤ放電加工機Info
- Publication number
- JPH0644574Y2 JPH0644574Y2 JP1988130710U JP13071088U JPH0644574Y2 JP H0644574 Y2 JPH0644574 Y2 JP H0644574Y2 JP 1988130710 U JP1988130710 U JP 1988130710U JP 13071088 U JP13071088 U JP 13071088U JP H0644574 Y2 JPH0644574 Y2 JP H0644574Y2
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- Japan
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- wire
- wire electrode
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Description
【考案の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 本考案はワイヤ放電加工機に関し、特に、ワイヤ電極を
正確に垂直に張架する装置に関する。
正確に垂直に張架する装置に関する。
「従来の技術」 ワイヤ放電加工においてワイヤ電極の垂直度は加工精度
に直接影響し重要である。ワイヤ電極の垂直度の設定に
は上下一組の検出端面を備える垂直出しゲージが用いら
れる。垂直出し作業は、上記の垂直出しゲージを２つ用
い、工作物が載置されるXYテーブル上に検出端面により
構成される検出面がそれぞれＸ軸,Y軸に垂直になるよう
に固定し、Ｘ軸又はＹ軸を移動させた際にワイヤ電極が
垂直出しゲージの上下一組の検出端面に同時に接触する
ようにワイヤガイドの位置を微調整することにより行
う。検出端面とワイヤ電極の接触検出はワイヤ電極の電
圧変化により検出する。
に直接影響し重要である。ワイヤ電極の垂直度の設定に
は上下一組の検出端面を備える垂直出しゲージが用いら
れる。垂直出し作業は、上記の垂直出しゲージを２つ用
い、工作物が載置されるXYテーブル上に検出端面により
構成される検出面がそれぞれＸ軸,Y軸に垂直になるよう
に固定し、Ｘ軸又はＹ軸を移動させた際にワイヤ電極が
垂直出しゲージの上下一組の検出端面に同時に接触する
ようにワイヤガイドの位置を微調整することにより行
う。検出端面とワイヤ電極の接触検出はワイヤ電極の電
圧変化により検出する。
かかる垂直出し作業を自動化した装置として、特開昭54
−104099号公報及び特開昭63−127830号公報では、ワイ
ヤガイド駆動装置を備え、Ｘ軸に垂直な第１の検出面と
Ｙ軸に垂直な第２の検出面を有する垂直出しゲージを用
い、ワイヤ電極が第１の検出面と平行になるようにワイ
ヤガイドのＵ軸を位置決めした後、第２の検出面とも平
行になるようにワイヤガイドのＶ軸を位置決めする装置
が開示されている。
−104099号公報及び特開昭63−127830号公報では、ワイ
ヤガイド駆動装置を備え、Ｘ軸に垂直な第１の検出面と
Ｙ軸に垂直な第２の検出面を有する垂直出しゲージを用
い、ワイヤ電極が第１の検出面と平行になるようにワイ
ヤガイドのＵ軸を位置決めした後、第２の検出面とも平
行になるようにワイヤガイドのＶ軸を位置決めする装置
が開示されている。
「考案が解決しようとする課題」 しかしながら、上記の垂直出し操作は本質的にはワイヤ
電極を垂直出しゲージの検出面に平行に調整するもので
あり、十分な垂直出し精度を得るには垂直出しゲージの
各検出面を正確にＸ軸及びＹ軸と直交するように配置す
る必要がある。この点について第７図を用いて説明す
る。第７図はワイヤ電極の垂直出しの一連の動きをXY平
面（水平面）に正射影した図である。垂直出しされる前
の傾斜したワイヤ電極は、上下ワイヤガイドの中心A0,B
0を結ぶ線分で示され、その線分はＸ軸と角度βをなす
とする。また、垂直出しゲージの第１検出面P1がＸ軸と
直交せず、角度θだけ傾いて固定されていたとする。
電極を垂直出しゲージの検出面に平行に調整するもので
あり、十分な垂直出し精度を得るには垂直出しゲージの
各検出面を正確にＸ軸及びＹ軸と直交するように配置す
る必要がある。この点について第７図を用いて説明す
る。第７図はワイヤ電極の垂直出しの一連の動きをXY平
面（水平面）に正射影した図である。垂直出しされる前
の傾斜したワイヤ電極は、上下ワイヤガイドの中心A0,B
0を結ぶ線分で示され、その線分はＸ軸と角度βをなす
とする。また、垂直出しゲージの第１検出面P1がＸ軸と
直交せず、角度θだけ傾いて固定されていたとする。
さて、第１検出面P1を用いてワイヤ電極が検出面P1に平
行になるよう上ワイヤガイドの位置がＵ軸方向に移動さ
れる（A1,B1）。次いでテーブルがＸ軸方向に移動され
ワイヤ電極が相対的に一担後退する（A2,B2）。次に第
２検出面P2を用いて第２検出面P2に平行になるよう上ワ
イヤガイド位置がＶ軸方向に操作される（A3,B3）。次
いでテーブルがＹ軸方向に移動されワイヤ電極が後退し
て（A4,B4）、垂直出し動作を終了する。しかしながら
図から明らかであるように、以上の操作でA4点とB4点と
は一致していない。つまり、ワイヤ電極はXY平面に垂直
になっていない。これは垂直出しゲージの第１検出面P1
がＸ軸に直交する様に垂直出しゲージが取付けられなか
ったためであり、この現象は取付角度誤差θが大きけれ
ば大きいほどワイヤ電極の垂直度が悪くなるという傾向
を示す。
行になるよう上ワイヤガイドの位置がＵ軸方向に移動さ
れる（A1,B1）。次いでテーブルがＸ軸方向に移動され
ワイヤ電極が相対的に一担後退する（A2,B2）。次に第
２検出面P2を用いて第２検出面P2に平行になるよう上ワ
イヤガイド位置がＶ軸方向に操作される（A3,B3）。次
いでテーブルがＹ軸方向に移動されワイヤ電極が後退し
て（A4,B4）、垂直出し動作を終了する。しかしながら
図から明らかであるように、以上の操作でA4点とB4点と
は一致していない。つまり、ワイヤ電極はXY平面に垂直
になっていない。これは垂直出しゲージの第１検出面P1
がＸ軸に直交する様に垂直出しゲージが取付けられなか
ったためであり、この現象は取付角度誤差θが大きけれ
ば大きいほどワイヤ電極の垂直度が悪くなるという傾向
を示す。
また、垂直出しゲージの２つの検出面P1,P2の直角度精
度が悪い場合も、いずれかの検出面がテーブルの移動軸
（Ｘ軸又はＹ軸）と正確に直交することができなくな
り、同様にワイヤ電極の垂直度が悪くなるという傾向を
もたらす。
度が悪い場合も、いずれかの検出面がテーブルの移動軸
（Ｘ軸又はＹ軸）と正確に直交することができなくな
り、同様にワイヤ電極の垂直度が悪くなるという傾向を
もたらす。
上記のように、従来の装置では垂直出しゲージの検出面
をＸ軸,Y軸に正確に直交するように高精度に設定する必
要があり、垂直出しゲージの設定に熟練を要し、垂直出
しゲージの固定に面倒な平行出し作業を要するという問
題点があった。
をＸ軸,Y軸に正確に直交するように高精度に設定する必
要があり、垂直出しゲージの設定に熟練を要し、垂直出
しゲージの固定に面倒な平行出し作業を要するという問
題点があった。
さらに、垂直出しゲージの２つの検出面P1,P2の直角度
に高い精度が要求されるという問題点があった。
に高い精度が要求されるという問題点があった。
本考案は上記の問題点に鑑みなされたものであり、その
目的とするところは、垂直出しゲージ検出面の直角度に
高精度を要求せず、また、垂直出しゲージの取付に高精
度を必要とすることなく、ワイヤ電極の高精度垂直出し
作業の自動化を可能としたワイヤ放電加工機を提供する
ことにある。
目的とするところは、垂直出しゲージ検出面の直角度に
高精度を要求せず、また、垂直出しゲージの取付に高精
度を必要とすることなく、ワイヤ電極の高精度垂直出し
作業の自動化を可能としたワイヤ放電加工機を提供する
ことにある。
「課題を解決するための手段」 上記の目的を達成するため、本考案では、第１図に示す
様に、工作物が載置されるテーブル10をワイヤ電極１に
対して相対的にXY平面内で移動させる直交X,Y軸を有す
る工作物送り装置４と、ワイヤ電極を張架する上下１組
のワイヤガイド2,3の少なくとも一方をUV平面内で移動
させる前記X,Y軸に平行な直交U,V軸を有するワイヤガイ
ド駆動装置５と、前記テーブル10上に載置され、互いに
直交する第１及び第２の２つの検出面P1,P2にそれぞれ
上下１組の検出端面45,46及び47,48を有する垂直出しゲ
ージ40と、該垂直出しゲージ40の前記上下１組の検出端
面45,46及び47,48へのワイヤ電極１の接触を検出する接
触検出手段６とを備えるワイヤ放電加工機において、Ｘ
軸に略直交する前記第１の検出面P1を構成する上下１組
の検出端面45,46の双方とワイヤ電極１との接触を、該
検出面P1のＸ軸方向への移動により検出するとともに、
上下のワイヤガイド2,3間に張架された前記ワイヤ電極
１を一直線状にすべく前記ワイヤガイド2,3のＵ軸位置
を移動させた後、前記検出端面45,46の双方とワイヤ電
極１との接触が解除される所定の位置まで前記Ｘ軸を移
動させるＵ軸移動手段７と、Ｙ軸に略直交する前記第２
の検出面P2を構成する上下１組の検出端面47,48の双方
とワイヤ電極１との接触を、該検出面P2のＹ軸方向への
移動により検出するとともに、上下のワイヤガイド2,3
間に張架された前記ワイヤ電極１を一直線状にすべく前
記ワイヤガイド2,3のＶ軸位置を移動させた後、前記検
出端面47,48の双方とワイヤ電極１との接触が解除され
る所定の位置まで前記Ｙ軸を移動させるＶ軸移動手段８
と前記Ｕ軸移動手段７及びＶ軸移動手段８の移動動作に
基づいて前記ワイヤ電極１の垂直精度を判定するととも
に、垂直精度の判定値が所定の許容範囲内に収束するま
で、前記Ｕ軸移動手段７とＶ軸移動手段８による移動動
作を複数回交互に繰り返す繰返し手段９と、を備えるこ
とを特徴とするワイヤ放電加工機が提供される。
様に、工作物が載置されるテーブル10をワイヤ電極１に
対して相対的にXY平面内で移動させる直交X,Y軸を有す
る工作物送り装置４と、ワイヤ電極を張架する上下１組
のワイヤガイド2,3の少なくとも一方をUV平面内で移動
させる前記X,Y軸に平行な直交U,V軸を有するワイヤガイ
ド駆動装置５と、前記テーブル10上に載置され、互いに
直交する第１及び第２の２つの検出面P1,P2にそれぞれ
上下１組の検出端面45,46及び47,48を有する垂直出しゲ
ージ40と、該垂直出しゲージ40の前記上下１組の検出端
面45,46及び47,48へのワイヤ電極１の接触を検出する接
触検出手段６とを備えるワイヤ放電加工機において、Ｘ
軸に略直交する前記第１の検出面P1を構成する上下１組
の検出端面45,46の双方とワイヤ電極１との接触を、該
検出面P1のＸ軸方向への移動により検出するとともに、
上下のワイヤガイド2,3間に張架された前記ワイヤ電極
１を一直線状にすべく前記ワイヤガイド2,3のＵ軸位置
を移動させた後、前記検出端面45,46の双方とワイヤ電
極１との接触が解除される所定の位置まで前記Ｘ軸を移
動させるＵ軸移動手段７と、Ｙ軸に略直交する前記第２
の検出面P2を構成する上下１組の検出端面47,48の双方
とワイヤ電極１との接触を、該検出面P2のＹ軸方向への
移動により検出するとともに、上下のワイヤガイド2,3
間に張架された前記ワイヤ電極１を一直線状にすべく前
記ワイヤガイド2,3のＶ軸位置を移動させた後、前記検
出端面47,48の双方とワイヤ電極１との接触が解除され
る所定の位置まで前記Ｙ軸を移動させるＶ軸移動手段８
と前記Ｕ軸移動手段７及びＶ軸移動手段８の移動動作に
基づいて前記ワイヤ電極１の垂直精度を判定するととも
に、垂直精度の判定値が所定の許容範囲内に収束するま
で、前記Ｕ軸移動手段７とＶ軸移動手段８による移動動
作を複数回交互に繰り返す繰返し手段９と、を備えるこ
とを特徴とするワイヤ放電加工機が提供される。
「作用」 上記のように構成されたワイヤ放電加工機では、ワイヤ
電極１を第１の検出面P1に平行にするＵ軸移動手段７
と、第２の検出面P2に平行にするＶ軸移動手段８による
移動手段が、垂直精度が所定の許容範囲内に収束するま
で、繰返し手段９により交互に複数回繰返し実行され
る。垂直出しゲージ40の各検出面P1,P2が正確にＸ軸又
はＹ軸に直交していなかったとしても、Ｕ軸移動手段７
及びＶ軸移動手段８を組みとする一回の動作毎に、ワイ
ヤガイド２の位置はワイヤ電極１をXY平面に垂直とする
位置に収束していく。このため、各検出面P1,P2のＸ軸
及びＹ軸に対する直交誤差の存在にかかわらず、ワイヤ
電極１の垂直度誤差は所定値以下に抑制される。
電極１を第１の検出面P1に平行にするＵ軸移動手段７
と、第２の検出面P2に平行にするＶ軸移動手段８による
移動手段が、垂直精度が所定の許容範囲内に収束するま
で、繰返し手段９により交互に複数回繰返し実行され
る。垂直出しゲージ40の各検出面P1,P2が正確にＸ軸又
はＹ軸に直交していなかったとしても、Ｕ軸移動手段７
及びＶ軸移動手段８を組みとする一回の動作毎に、ワイ
ヤガイド２の位置はワイヤ電極１をXY平面に垂直とする
位置に収束していく。このため、各検出面P1,P2のＸ軸
及びＹ軸に対する直交誤差の存在にかかわらず、ワイヤ
電極１の垂直度誤差は所定値以下に抑制される。
「実施例」 本発明の実施例について図面を参照し説明する。
第２図はワイヤガイド駆動装置を備えたワイヤ放電加工
機の概略構成を示す図である。工作物取付台をなすテー
ブル10はＸ軸モータ11及びＹ軸モータ12によりＸ軸方向
及びＹ軸方向に送られ水平面内（XY平面内）で移動可能
である。Ｘ軸及びＹ軸は互いに直交する。X,Y軸モータ1
1,12を含む送り機構は工作物送り装置４をなす。
機の概略構成を示す図である。工作物取付台をなすテー
ブル10はＸ軸モータ11及びＹ軸モータ12によりＸ軸方向
及びＹ軸方向に送られ水平面内（XY平面内）で移動可能
である。Ｘ軸及びＹ軸は互いに直交する。X,Y軸モータ1
1,12を含む送り機構は工作物送り装置４をなす。
ワイヤ電極１は上下のワイヤガイド2,3により位置決め
され、図示しないブレーキローラと駆動ローラにより所
定の張力が与えられ、略垂直に張架されている。下ワイ
ヤガイド３は所定の位置に固定されている。上ワイヤガ
イド２はＵ軸モータ13及びＶ軸モータ14によりＵ軸方向
及びＶ軸方向に送られ、水平面内（UV軸平面内）で移動
可能である。Ｕ軸はＸ軸に平行でありＶ軸はＹ軸に平行
である。Ｕ軸,V軸は互いに直交し、U,V軸モータ13,14を
含む送り機構はワイヤガイド駆動装置５をなす。上ワイ
ヤガイド２のUV平面上の位置によりワイヤ電極１の傾斜
が制御され、垂直度が調整される。
され、図示しないブレーキローラと駆動ローラにより所
定の張力が与えられ、略垂直に張架されている。下ワイ
ヤガイド３は所定の位置に固定されている。上ワイヤガ
イド２はＵ軸モータ13及びＶ軸モータ14によりＵ軸方向
及びＶ軸方向に送られ、水平面内（UV軸平面内）で移動
可能である。Ｕ軸はＸ軸に平行でありＶ軸はＹ軸に平行
である。Ｕ軸,V軸は互いに直交し、U,V軸モータ13,14を
含む送り機構はワイヤガイド駆動装置５をなす。上ワイ
ヤガイド２のUV平面上の位置によりワイヤ電極１の傾斜
が制御され、垂直度が調整される。
ワイヤ電極１には給電子15が摺接し、電圧が印加され
る。
る。
各軸モータ11〜14はNC制御装置20に接続されている。NC
制御装置はCPU21（プロセッサユニット）及びメモリ22
を有し、各軸のコントローラ23〜26及びドライバ27〜30
を介して各軸モータ11〜14を制御する。NC制御装置20は
ワイヤ電極２と垂直出しゲージ40との接触を検出する検
出回路31を備えている。
制御装置はCPU21（プロセッサユニット）及びメモリ22
を有し、各軸のコントローラ23〜26及びドライバ27〜30
を介して各軸モータ11〜14を制御する。NC制御装置20は
ワイヤ電極２と垂直出しゲージ40との接触を検出する検
出回路31を備えている。
垂直出し作業の際にはワイヤ放電加工機のテーブル10上
に垂直出しゲージ40が載置固定される。垂直出しゲージ
40はＬ字形状をした金属板からなる上下２枚の検出片4
1,42を絶縁部材43で結合した構造をなし、各検出片41,4
2は互いに直交する検出端面45〜48を有している。上下
の検出端面は互いに組みとなって検出端面（45,46）か
らなる第１検出面P1及び検出端面（47,48）からなる第
２検出面P2の２組の検出面P1,P2を構成する。各検出面P
1,P2は垂直出しゲージ40の底面に対して精密に垂直とな
るように各検出端面45〜48が形成されている。垂直出し
ゲージ40は第１の検出面P1がＸ軸に略直交するようにテ
ーブル10上に固定される。
に垂直出しゲージ40が載置固定される。垂直出しゲージ
40はＬ字形状をした金属板からなる上下２枚の検出片4
1,42を絶縁部材43で結合した構造をなし、各検出片41,4
2は互いに直交する検出端面45〜48を有している。上下
の検出端面は互いに組みとなって検出端面（45,46）か
らなる第１検出面P1及び検出端面（47,48）からなる第
２検出面P2の２組の検出面P1,P2を構成する。各検出面P
1,P2は垂直出しゲージ40の底面に対して精密に垂直とな
るように各検出端面45〜48が形成されている。垂直出し
ゲージ40は第１の検出面P1がＸ軸に略直交するようにテ
ーブル10上に固定される。
垂直出しゲージ40の検出片41,42及び給電子15は検出回
路31に接続される。検出回路31では給電子15に５〜10V
の低電圧を供給し、上下の検出端面45〜48へのワイヤ電
極１の接触を電気的に検出する。
路31に接続される。検出回路31では給電子15に５〜10V
の低電圧を供給し、上下の検出端面45〜48へのワイヤ電
極１の接触を電気的に検出する。
CPU21は、メモリ22に予め記憶したコンピュータプログ
ラムを実行し、検出回路31からの接触信号に従ってテー
ブル10を駆動するＸ軸モータ11,Y軸モータ12及び上ワイ
ヤガイド２を駆動するＵ軸モータ13,V軸モータ14を制御
し、ワイヤ電極１が垂直出しゲージ40の第１の検出面P1
と平行となる位置に上ワイヤガイド２のＵ軸位置を位置
決めし、次にワイヤ電極１が第２の検出面P2と平行とな
る位置に上ワイヤガイド２のＶ軸位置を位置決めする。
そして、上記Ｕ軸位置決め及びＶ軸位置決めを次々に繰
返し、ワイヤ電極１の垂直度誤差が所定値以下となる位
置に上ワイヤガイド２を位置決めしていく。
ラムを実行し、検出回路31からの接触信号に従ってテー
ブル10を駆動するＸ軸モータ11,Y軸モータ12及び上ワイ
ヤガイド２を駆動するＵ軸モータ13,V軸モータ14を制御
し、ワイヤ電極１が垂直出しゲージ40の第１の検出面P1
と平行となる位置に上ワイヤガイド２のＵ軸位置を位置
決めし、次にワイヤ電極１が第２の検出面P2と平行とな
る位置に上ワイヤガイド２のＶ軸位置を位置決めする。
そして、上記Ｕ軸位置決め及びＶ軸位置決めを次々に繰
返し、ワイヤ電極１の垂直度誤差が所定値以下となる位
置に上ワイヤガイド２を位置決めしていく。
第３図はかかる制御を実現するCPUでの処理を示すフロ
ーチャートであり、第４図はワイヤガイドの動きを示す
説明図である。
ーチャートであり、第４図はワイヤガイドの動きを示す
説明図である。
NC制御装置20に垂直出し動作の指令が与えられると処理
100が開始される。まず、内部の準備処理としてアイテ
ムｉが０にされ（ステップ101）、メモリ22にＵ軸及び
Ｖ軸の現在位置がｉ＝０であるから、U0,U0として記憶
される（ステップ102）。
100が開始される。まず、内部の準備処理としてアイテ
ムｉが０にされ（ステップ101）、メモリ22にＵ軸及び
Ｖ軸の現在位置がｉ＝０であるから、U0,U0として記憶
される（ステップ102）。
次に、ステップ111〜119ではＵ軸位置が第１の検出面P1
と平行になるように位置決めされ、そのＵ軸位置が記憶
される。すなわち、ステップ111では、Ｕ軸モータ13が
駆動されて上ワイヤガイド２が＋ΔＵだけ移動され、第
４図（１）に示す様に、ワイヤ電極１が強制的に傾斜さ
せられる。次に、Ｘ軸モータ11が駆動されテーブル10を
Ｘ＋方向に移動する（ステップ112,113）。ワイヤ電極
１が傾斜させられているため、第４図（２）に示す様
に、ワイヤ電極１は最初に垂直出しゲージ40の上検出端
面45に接触するが、かまわずそのままＸ軸の送りを続行
する。やがて第４図（３）に示す様に、ワイヤ電極１が
下検出端面46に接触すると直ちにテーブル10を停止させ
る（ステップ113,114）。このとき、上検出端面45から
下ワイヤガイド３に至るワイヤ電極１は第１の検出面P1
に平行になっている。次に、Ｕ軸モータ13を駆動し上ワ
イヤガイド２をＵ−方向に移動させて、上検出端面45か
ら上方のワイヤ電極１の傾斜を戻す（ステップ115,11
6）。やがて、第４図（４）に示す様に、ワイヤ電極１
が上検出端面45から離れた瞬間にＵ軸モータ13を停止し
上ワイヤガイド２の位置決めを行う（ステップ116,11
7）。このとき、ワイヤ電極１は上検出端面45と下検出
端面46とで構成される第１の検出面P1に平行になってい
る。そのＵ軸位置をUiとしてメモリ22に記憶する。そし
て、テーブル10を開始位置に戻しワイヤ電極１を検出端
面45,46から離す（ステップ119）。
と平行になるように位置決めされ、そのＵ軸位置が記憶
される。すなわち、ステップ111では、Ｕ軸モータ13が
駆動されて上ワイヤガイド２が＋ΔＵだけ移動され、第
４図（１）に示す様に、ワイヤ電極１が強制的に傾斜さ
せられる。次に、Ｘ軸モータ11が駆動されテーブル10を
Ｘ＋方向に移動する（ステップ112,113）。ワイヤ電極
１が傾斜させられているため、第４図（２）に示す様
に、ワイヤ電極１は最初に垂直出しゲージ40の上検出端
面45に接触するが、かまわずそのままＸ軸の送りを続行
する。やがて第４図（３）に示す様に、ワイヤ電極１が
下検出端面46に接触すると直ちにテーブル10を停止させ
る（ステップ113,114）。このとき、上検出端面45から
下ワイヤガイド３に至るワイヤ電極１は第１の検出面P1
に平行になっている。次に、Ｕ軸モータ13を駆動し上ワ
イヤガイド２をＵ−方向に移動させて、上検出端面45か
ら上方のワイヤ電極１の傾斜を戻す（ステップ115,11
6）。やがて、第４図（４）に示す様に、ワイヤ電極１
が上検出端面45から離れた瞬間にＵ軸モータ13を停止し
上ワイヤガイド２の位置決めを行う（ステップ116,11
7）。このとき、ワイヤ電極１は上検出端面45と下検出
端面46とで構成される第１の検出面P1に平行になってい
る。そのＵ軸位置をUiとしてメモリ22に記憶する。そし
て、テーブル10を開始位置に戻しワイヤ電極１を検出端
面45,46から離す（ステップ119）。
次に、ステップ121〜129ではＶ軸位置が第２の検出面P2
と平行になるように位置決めされ、そのＶ軸位置が記憶
される。ステップ121〜129の処理は駆動軸がＶ軸、Ｙ軸
となるのみで前記ステップ111〜119の各ステップに対応
しているので説明を省略する。
と平行になるように位置決めされ、そのＶ軸位置が記憶
される。ステップ121〜129の処理は駆動軸がＶ軸、Ｙ軸
となるのみで前記ステップ111〜119の各ステップに対応
しているので説明を省略する。
ステップ129に至った状態では、ワイヤ電極１は垂直出
しゲージ40の第２の検出面P2に平行になっている。ここ
で注意すべきことは、垂直出しゲージ40の２つの検出面
P1,P2がＸ軸及びＹ軸に正確に直交していない場合に、
Ｖ軸の移動（ステップ125）によりワイヤ電極１と第１
の検出面P1との平行が崩れることである。
しゲージ40の第２の検出面P2に平行になっている。ここ
で注意すべきことは、垂直出しゲージ40の２つの検出面
P1,P2がＸ軸及びＹ軸に正確に直交していない場合に、
Ｖ軸の移動（ステップ125）によりワイヤ電極１と第１
の検出面P1との平行が崩れることである。
そこで、ステップ131でアイテムｉを歩進しながらステ
ップ111〜119で構成されるＵ軸移動手段７の処理と、ス
テップ121〜129で構成されるＶ軸移動手段８の処理を順
次繰返す。そして、今回のＵ軸位置U1と前回のＵ軸位置
U1-1の差で示されるＵ軸移動量｜U1-U1-1｜、及び今回
のＶ軸位置V1と前回のＶ軸位置V1-1の差で示されるＶ軸
移動量｜V1-V1-1｜が共に所定設定値α以下になれば、
ステップ130からステップ132に進み、ワイヤ電極１の垂
直出し処理を終了する。
ップ111〜119で構成されるＵ軸移動手段７の処理と、ス
テップ121〜129で構成されるＶ軸移動手段８の処理を順
次繰返す。そして、今回のＵ軸位置U1と前回のＵ軸位置
U1-1の差で示されるＵ軸移動量｜U1-U1-1｜、及び今回
のＶ軸位置V1と前回のＶ軸位置V1-1の差で示されるＶ軸
移動量｜V1-V1-1｜が共に所定設定値α以下になれば、
ステップ130からステップ132に進み、ワイヤ電極１の垂
直出し処理を終了する。
以上述べたＵ軸移動手段（ステップ111〜119）及びＶ軸
移動手段（ステップ121〜129）の繰返しにより、上ワイ
ヤガイド２の位置がワイヤ電極１を精密に垂直にする位
置に収束していくことについて説明する。
移動手段（ステップ121〜129）の繰返しにより、上ワイ
ヤガイド２の位置がワイヤ電極１を精密に垂直にする位
置に収束していくことについて説明する。
第５図は下ワイヤガイド３の中心を原点とするUV直交座
標面に上ワイヤガイド２の中心位置をベクトルで示した
図である。テーブル10が移動するＸ軸,Y軸はワイヤガイ
ド２が移動するＵ軸,Y軸に平行である。ここで、垂直出
しゲージ40の検出面P1,P2がＸ軸（Ｕ軸）,Y軸（Ｖ軸）
と正確に直交せず、角度θをなす位置に傾いた状態でテ
ーブル10上に固定されたとする。垂直出しゲージ40の第
１検出面P1及び第２検出面P2に平行で原点を通る面をそ
れぞれ図上に１点鎖線で示す。
標面に上ワイヤガイド２の中心位置をベクトルで示した
図である。テーブル10が移動するＸ軸,Y軸はワイヤガイ
ド２が移動するＵ軸,Y軸に平行である。ここで、垂直出
しゲージ40の検出面P1,P2がＸ軸（Ｕ軸）,Y軸（Ｖ軸）
と正確に直交せず、角度θをなす位置に傾いた状態でテ
ーブル10上に固定されたとする。垂直出しゲージ40の第
１検出面P1及び第２検出面P2に平行で原点を通る面をそ
れぞれ図上に１点鎖線で示す。
今、上ワイヤガイド２中心の初期位置が原点からの距離
r,X軸となす角度βのベクトルR0で示される位置にあっ
たとする。
r,X軸となす角度βのベクトルR0で示される位置にあっ
たとする。
R0＝［r cosβ,r sinβ］ …（１） まず、第１回目のＵ軸移動手段（ステップ111〜119,i＝
１）によって、上ワイヤガイド２は第１検出面P1に平行
なベクトルR1Xで示される位置に移動する。
１）によって、上ワイヤガイド２は第１検出面P1に平行
なベクトルR1Xで示される位置に移動する。
R1X＝［−r sinβtanθ,r sinβ］ …（２） 次に、Ｖ軸移動手段（ステップ121〜129,i＝１）によっ
て、上ワイヤガイド２は第２検出面P2に平行なベクトル
R1Yで示される位置に移動する。
て、上ワイヤガイド２は第２検出面P2に平行なベクトル
R1Yで示される位置に移動する。
R1Y＝［−r sinβtanθ，−r sinθtan2θ］ …（３） 以下、繰返し手段（ステップ130,131）によりｎ回の垂
直出しを行った後の上ワイヤガイド２はベクトルRnで示
される位置に移動する。
直出しを行った後の上ワイヤガイド２はベクトルRnで示
される位置に移動する。
Rn＝r sinβ(-1)n［tan2n-1θ，tan2nθ］ …（４） ここで、角度θは垂直出しゲージ40のテーブル10への取
付誤差に起因する角度であるから、その値は小さく、ta
nθの値は極めて小さな値である。従って、上記（４）
式で示されるベクトルRnは極めて素早く原点（0,0）に
収束する。原点は下ワイヤガイド３の中心位置であるか
ら、上ワイヤガイド２の位置はワイヤ電極１をXY平面に
対して精密に垂直に張架する位置に収束していくことに
なる。
付誤差に起因する角度であるから、その値は小さく、ta
nθの値は極めて小さな値である。従って、上記（４）
式で示されるベクトルRnは極めて素早く原点（0,0）に
収束する。原点は下ワイヤガイド３の中心位置であるか
ら、上ワイヤガイド２の位置はワイヤ電極１をXY平面に
対して精密に垂直に張架する位置に収束していくことに
なる。
たとえば、ｒ＝20mm,β＝45°，θ＝２°とすると、｜R
1｜＝0.511mm,|R2｜＝6.23×10-4mm,|R3｜＝7.60×10-7
mmとなり、その収束速度は極めて早い。
1｜＝0.511mm,|R2｜＝6.23×10-4mm,|R3｜＝7.60×10-7
mmとなり、その収束速度は極めて早い。
次に、垂直出しゲージ40の第１の検出面P1と第２の検出
面P2との直角度に誤差がある場合にも、上ワイヤガイド
２の位置ベクトルは原点位置に収束していくことを、第
６図を参照し説明する。
面P2との直角度に誤差がある場合にも、上ワイヤガイド
２の位置ベクトルは原点位置に収束していくことを、第
６図を参照し説明する。
今、垂直出しゲージ40の第１検出面P1と第２検出面P2と
の直角度に角度Δだけ誤差があったとする。垂直出しゲ
ージ40の取付角度誤差は前回と同じくθ，上ワイヤガイ
ド２位置を示す初期ベクトルR0がＸ軸となす角度をβと
すると、 R0＝［r cosβ,r sinβ］ …（５） 第１回目の垂直出し動作では、 R1X＝［−rsinβ・tan（θ＋Δ）,rsinβ］ R1≡R1Y ＝［−rsinβ・tan（θ＋Δ），−rsinβtan2（θ＋
Δ）］ …（６） 第２回目の垂直出し動作では、 R2X＝ｒ sinβ［tan3（θ＋Δ），−tan2（θ＋Δ）］ R2≡R2Y ＝r sinβ［tan3（θ＋Δ），tan4（θ＋Δ）］ …
（７） 一般式は次式で与えられる。
の直角度に角度Δだけ誤差があったとする。垂直出しゲ
ージ40の取付角度誤差は前回と同じくθ，上ワイヤガイ
ド２位置を示す初期ベクトルR0がＸ軸となす角度をβと
すると、 R0＝［r cosβ,r sinβ］ …（５） 第１回目の垂直出し動作では、 R1X＝［−rsinβ・tan（θ＋Δ）,rsinβ］ R1≡R1Y ＝［−rsinβ・tan（θ＋Δ），−rsinβtan2（θ＋
Δ）］ …（６） 第２回目の垂直出し動作では、 R2X＝ｒ sinβ［tan3（θ＋Δ），−tan2（θ＋Δ）］ R2≡R2Y ＝r sinβ［tan3（θ＋Δ），tan4（θ＋Δ）］ …
（７） 一般式は次式で与えられる。
Rn＝r sinβ(-1)n［tan2n-1（θ＋Δ）、tan2n（θ＋
Δ）］ …（８） 上記（８）式から明らかなように、収束速度はtan2（θ
＋Δ）/1回となりやや遅くなるものの、上ワイヤガイド
２位置はワイヤ電極１を垂直に張架する位置（原点）に
収束していく。
Δ）］ …（８） 上記（８）式から明らかなように、収束速度はtan2（θ
＋Δ）/1回となりやや遅くなるものの、上ワイヤガイド
２位置はワイヤ電極１を垂直に張架する位置（原点）に
収束していく。
前記第３図に示す実施例では、上記ベクトルRnの絶対値
｜Rn｜が充分小さくなりワイヤ電極１の垂直度精度が所
定許容値内に取ったことを確認するため、一回当たりの
Ｕ軸移動量｜U1-U1-1｜及びＶ軸移動量｜V1-V1-1｜を評
価関数として用い、それぞれの値が所定設値定値α以下
となっていることにより判別した（ステップ130）。し
かし、｜Rn｜を評価する関数に種々のものが考えられ、
たとえば、U,V軸の移動量の合計｜U1-U1-1｜＋｜V1-V
1-1｜を用いてもよい。また、収束速度が早いことか
ら、単純に繰返し回数ｉにより評価し、すべて３回（ｎ
＝３）繰返すようにする手段も可能である。
｜Rn｜が充分小さくなりワイヤ電極１の垂直度精度が所
定許容値内に取ったことを確認するため、一回当たりの
Ｕ軸移動量｜U1-U1-1｜及びＶ軸移動量｜V1-V1-1｜を評
価関数として用い、それぞれの値が所定設値定値α以下
となっていることにより判別した（ステップ130）。し
かし、｜Rn｜を評価する関数に種々のものが考えられ、
たとえば、U,V軸の移動量の合計｜U1-U1-1｜＋｜V1-V
1-1｜を用いてもよい。また、収束速度が早いことか
ら、単純に繰返し回数ｉにより評価し、すべて３回（ｎ
＝３）繰返すようにする手段も可能である。
「考案の効果」 本考案は、以上説明したように構成されているから、ワ
イヤ電極を第１の検出面に平行にするＵ軸移動手段と、
第２の検出面に平行にするＶ軸移動手段による移動動作
が、垂直精度が所定の許容範囲内に収束するまで、繰返
し手段により交互に複数回繰返し実行されるから、垂直
出しゲージの取付精度が悪く各検出面が正確にＸ軸又は
Ｙ軸に直交ていなかったとしても、また検出面の直角度
精度が悪くても、自動動作で高精度にワイヤ電極の垂直
出しを行うことができ、ワイヤ電極の垂直出し作業の準
備作業に手間がかからなくなるというるという優れた効
果を奏することができる。
イヤ電極を第１の検出面に平行にするＵ軸移動手段と、
第２の検出面に平行にするＶ軸移動手段による移動動作
が、垂直精度が所定の許容範囲内に収束するまで、繰返
し手段により交互に複数回繰返し実行されるから、垂直
出しゲージの取付精度が悪く各検出面が正確にＸ軸又は
Ｙ軸に直交ていなかったとしても、また検出面の直角度
精度が悪くても、自動動作で高精度にワイヤ電極の垂直
出しを行うことができ、ワイヤ電極の垂直出し作業の準
備作業に手間がかからなくなるというるという優れた効
果を奏することができる。
【図面の簡単な説明】 第１図は本考案の構成を明示する図、第２図は実施例で
あるワイヤ放電加工機の構成を示すブロック図、第３図
はCPUでの実際の処理を示すフローチャート、第４図は
上ワイヤガイドの動作を示す正面図、第５図及び第６図
はUV平面上での上ワイヤガイドの動作を示すベクトル
図、第７図はXY平面上でのワイヤ電極の動きを示す平面
図である。 １…ワイヤ電極、2,3…ワイヤガイド、４…工作物送り
装置、５…ワイヤガイド駆動装置、６…接触検出手段、
７…Ｕ軸移動手段、８…Ｖ軸移動手段、９…繰返し手
段、10…テーブル、21…CPU、22…メモリ、31…検出回
路（接触検出手段）、40…垂直出しゲージ、45,46…第
１の検出面P1を構成する検出端面、47,48…第２の検出
面P2を構成する検出端面。
あるワイヤ放電加工機の構成を示すブロック図、第３図
はCPUでの実際の処理を示すフローチャート、第４図は
上ワイヤガイドの動作を示す正面図、第５図及び第６図
はUV平面上での上ワイヤガイドの動作を示すベクトル
図、第７図はXY平面上でのワイヤ電極の動きを示す平面
図である。 １…ワイヤ電極、2,3…ワイヤガイド、４…工作物送り
装置、５…ワイヤガイド駆動装置、６…接触検出手段、
７…Ｕ軸移動手段、８…Ｖ軸移動手段、９…繰返し手
段、10…テーブル、21…CPU、22…メモリ、31…検出回
路（接触検出手段）、40…垂直出しゲージ、45,46…第
１の検出面P1を構成する検出端面、47,48…第２の検出
面P2を構成する検出端面。
Claims (1)
- 【請求項１】工作物が載置されるテーブルをワイヤ電極
に対して相対的にXY平面内で移動させる直交X,Y軸を有
する工作物送り装置と、ワイヤ電極を張架する上下１組
のワイヤガイドの少なくとも一方をUV平面内で移動させ
る前記X,Y軸に平行な直交U,V軸を有するワイヤガイド駆
動装置と、前記テーブル上に載置され、互いに直交する
第１及び第２の２つの検出面にそれぞれ上下１組の検出
端面を有する垂直出しゲージと、該垂直出しゲージの前
記上下１組の検出端面へのワイヤ電極の接触を検出する
接触検出手段とを備えるワイヤ放電加工機において、 Ｘ軸に略直交する前記第１の検出面を構成する上下１組
の検出端面の双方とワイヤ電極との接触を、該検出面の
Ｘ軸方向への移動により検出するとともに、上下のワイ
ヤガイド間に張架された前記ワイヤ電極を一直線状にす
べく前記ワイヤガイドのＵ軸位置を移動させた後、前記
検出端面の双方とワイヤ電極との接触が解除される所定
の位置まで前記Ｘ軸を移動させるＵ軸移動手段と、 Ｙ軸に略直交する前記第２の検出面を構成する上下１組
の検出端面の双方とワイヤ電極との接触を、該検出面の
Ｙ軸方向への移動により検出するとともに、上下のワイ
ヤガイド間に張架された前記ワイヤ電極を一直線状にす
べく前記ワイヤガイドのＶ軸位置を移動させた後、前記
検出端面の双方とワイヤ電極との接触が解除される所定
の位置まで前記Ｙ軸を移動させるＶ軸移動手段と、 前記Ｕ軸移動手段及びＶ軸移動手段の移動動作に基づい
て前記ワイヤ電極の垂直精度を判定するとともに、垂直
精度の判定値が所定の許容範囲内となるまで、前記Ｕ軸
移動手段とＶ軸移動手段による移動動作を複数回交互に
繰り返す繰返し手段と、 を備えることを特徴とするワイヤ放電加工機。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1988130710U JPH0644574Y2 (ja) | 1988-10-05 | 1988-10-05 | ワイヤ放電加工機 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1988130710U JPH0644574Y2 (ja) | 1988-10-05 | 1988-10-05 | ワイヤ放電加工機 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0251029U JPH0251029U (ja) | 1990-04-10 |
| JPH0644574Y2 true JPH0644574Y2 (ja) | 1994-11-16 |
Family
ID=31386125
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1988130710U Expired - Lifetime JPH0644574Y2 (ja) | 1988-10-05 | 1988-10-05 | ワイヤ放電加工機 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0644574Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5868689B2 (ja) * | 2011-12-16 | 2016-02-24 | 日置電機株式会社 | 調整用情報取得方法、ワイヤ位置調整方法および加熱処理方法 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63127830A (ja) * | 1986-11-17 | 1988-05-31 | Hoden Seimitsu Kako Kenkyusho Ltd | ワイヤ放電加工装置 |
| JPS63139617A (ja) * | 1986-11-28 | 1988-06-11 | Nec Corp | ワイヤ放電加工におけるワイヤ垂直位置決め処理方式 |
-
1988
- 1988-10-05 JP JP1988130710U patent/JPH0644574Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0251029U (ja) | 1990-04-10 |
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