JP2599924B2 - ワイヤ放電加工機における電極ガイドの位置測定方法 - Google Patents
ワイヤ放電加工機における電極ガイドの位置測定方法Info
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 被加工体とワイヤ電極との間に放電を発生させて放電
加工を行うように構成されたワイヤ放電加工機における
電極ガイドの位置測定方法において、上部電極ガイドを
加工テーブルの動き平面に平行なＵ軸方向またはＶ軸方
向へ移動せしめ、更に当該動き平面に垂直なＺ軸方向へ
移動せしめ、それぞれの移動停止状態のもとで上記載物
台に載置された治具プレートによるワイヤ電極に対する
接触感知を行い、当該接触感知の実施時における加工テ
ーブルのＸ、Ｙ方向への移動距離と、上記上部電極ガイ
ドのＵ、Ｖ方向およびＺ方向への移動距離にもとづい
て、上記下部電極ガイドと載物台の上面との実加工装置
上での等価垂直距離および下部電極ガイドと予め用意さ
れているＺ軸スケール上の基準位置に対して上部電極ガ
イドを保持する軸の原点を原点合わせした際における上
部電極ガイドとの実加工装置上での等価垂直距離を算出
するようにしたワイヤ放電加工機における電極ガイドの
位置測定方法に関するものである。
加工を行うように構成されたワイヤ放電加工機における
電極ガイドの位置測定方法において、上部電極ガイドを
加工テーブルの動き平面に平行なＵ軸方向またはＶ軸方
向へ移動せしめ、更に当該動き平面に垂直なＺ軸方向へ
移動せしめ、それぞれの移動停止状態のもとで上記載物
台に載置された治具プレートによるワイヤ電極に対する
接触感知を行い、当該接触感知の実施時における加工テ
ーブルのＸ、Ｙ方向への移動距離と、上記上部電極ガイ
ドのＵ、Ｖ方向およびＺ方向への移動距離にもとづい
て、上記下部電極ガイドと載物台の上面との実加工装置
上での等価垂直距離および下部電極ガイドと予め用意さ
れているＺ軸スケール上の基準位置に対して上部電極ガ
イドを保持する軸の原点を原点合わせした際における上
部電極ガイドとの実加工装置上での等価垂直距離を算出
するようにしたワイヤ放電加工機における電極ガイドの
位置測定方法に関するものである。
一般的なワイヤ放電加工機の概要構成図が第４図に図
示されている。第４図において、符号１は被加工体、２
は加工開始孔、３は加工軌跡、４はワイヤ電極、５は載
物台であって直交するX,Y方向に移動自在にもうけられ
たテーブル（図示省略）上に固定されるもの、６はテー
ブル駆動装置、７はワイヤ供給ロール、８は上部電極ガ
イド、９は下部電極ガイド、10はワイヤ巻取ロール、11
はガイド駆動装置であって上記上部電極ガイド８を直交
するU,V方向（当該U,V方向は上記X,Y方向と平行）およ
びＺ方向（当該Ｚ方向は上記U,V方向に対して垂直）に
移動せしめるもの、12は加工電源装置、13および14は通
電子、15はNC装置を表している。
示されている。第４図において、符号１は被加工体、２
は加工開始孔、３は加工軌跡、４はワイヤ電極、５は載
物台であって直交するX,Y方向に移動自在にもうけられ
たテーブル（図示省略）上に固定されるもの、６はテー
ブル駆動装置、７はワイヤ供給ロール、８は上部電極ガ
イド、９は下部電極ガイド、10はワイヤ巻取ロール、11
はガイド駆動装置であって上記上部電極ガイド８を直交
するU,V方向（当該U,V方向は上記X,Y方向と平行）およ
びＺ方向（当該Ｚ方向は上記U,V方向に対して垂直）に
移動せしめるもの、12は加工電源装置、13および14は通
電子、15はNC装置を表している。
第４図図示ワイヤ放電加工機においては、一般に良く
知られているごとく、上部電極ガイド８と下部電極ガイ
ド９とを経由して走行するワイヤ電極４と被加工体１と
の間に、加工電源装置12からパルス状の電流を供給する
ことにより、加工液を介して放電を発生せしめると共
に、NC装置15により予め定められた条件にもとづいて被
加工体１および上部電極ガイド８の位置を制御すること
によって、所望する傾斜角度と形状とを有する加工が行
われる。なお、加工開始孔２が加工開始位置であり、上
記NC装置15による位置制御は、上記加工開始孔２を基準
にして行われる。以下、上記NC装置15による被加工体１
および上部電極ガイド８の制御態様を第５図に関連して
説明する。なお、第５図は、加工位置の制御が被加工体
１の下面を基準面として行われるテーパ加工の場合の制
御態様図を示し、図示矢印Ｈは下部電極ガイド９と上記
被加工体１の下面（載物台５の上面）との実加工装置上
の等価垂直距離、図示矢印G0は予め用意されているＺ軸
スケール（第７図に関連して後述する）上の基準位置
（図示矢印Z0）に対して上部電極ガイド８を保持する軸
の原点を原点合わせした際における当該上部電極ガイド
８と下部電極ガイド９との実加工装置上での等価垂直距
離、Ｚは上部電極ガイド８と上記Ｚ軸基準位置Z0との垂
直距離（以下、上部ガイド垂直距離と呼ぶ）を表す。な
お、第７図に関連して後述するが、上記Ｚ軸スケール
は、上部電極ガイド８のＺ軸方向における位置を示すも
のである。
知られているごとく、上部電極ガイド８と下部電極ガイ
ド９とを経由して走行するワイヤ電極４と被加工体１と
の間に、加工電源装置12からパルス状の電流を供給する
ことにより、加工液を介して放電を発生せしめると共
に、NC装置15により予め定められた条件にもとづいて被
加工体１および上部電極ガイド８の位置を制御すること
によって、所望する傾斜角度と形状とを有する加工が行
われる。なお、加工開始孔２が加工開始位置であり、上
記NC装置15による位置制御は、上記加工開始孔２を基準
にして行われる。以下、上記NC装置15による被加工体１
および上部電極ガイド８の制御態様を第５図に関連して
説明する。なお、第５図は、加工位置の制御が被加工体
１の下面を基準面として行われるテーパ加工の場合の制
御態様図を示し、図示矢印Ｈは下部電極ガイド９と上記
被加工体１の下面（載物台５の上面）との実加工装置上
の等価垂直距離、図示矢印G0は予め用意されているＺ軸
スケール（第７図に関連して後述する）上の基準位置
（図示矢印Z0）に対して上部電極ガイド８を保持する軸
の原点を原点合わせした際における当該上部電極ガイド
８と下部電極ガイド９との実加工装置上での等価垂直距
離、Ｚは上部電極ガイド８と上記Ｚ軸基準位置Z0との垂
直距離（以下、上部ガイド垂直距離と呼ぶ）を表す。な
お、第７図に関連して後述するが、上記Ｚ軸スケール
は、上部電極ガイド８のＺ軸方向における位置を示すも
のである。
ストレート加工の場合には加工すべき形状に対応する
図形情報をNC装置15に与えられるが、テーパ加工の場合
には上記図形情報（例えば上記被加工体１の下面におけ
る図形情報）が与えられると共に、傾斜角情報（傾斜角
θまたはtanθ），被加工体１の厚さに応じてＺ軸スケ
ール上で読まれる上記上部電極ガイド８のＺ軸方向にお
ける位置即ち上記上部ガイド垂直距離Ｚが与えられる。
そして、ワイヤ電極４の傾斜は、上部電極ガイド８をU,
V方向へ移動せしめることによって行われる。即ち、第
５図図示の如く、上記傾斜角情報と、等価垂直距離G0お
よび上記上部ガイド垂直距離Ｚにより得られる上・下ガ
イド間距離（G0＋Ｚ）にもとづく演算処理により、上記
ワイヤ電極４の垂直状態における上部電極ガイド８の位
置からの移動距離ａが求められる。また、ワイヤ電極４
を傾斜させることにより、加工すべき形状，寸法に対し
て変位ｂが発生するが、当該変位ｂの値は、ワイヤ電極
４の傾斜角情報と等価垂直距離Ｈとにもとづく演算によ
って求められるもので上記図形情報，傾斜角情報および
等価垂直距離Ｈにもとづいて、被加工体１の位置制御が
行われる。即ち、上部電極ガイド８の移動制御および被
加工体１の位置制御を行いつつ放電加工を実施すること
によって、所望する形状の加工が行われる。なお、従
来、上記等価垂直距離ＨおよびG0は、予め測定され装置
固有の定数として、NC装置15に記憶させておくようにさ
れていた。
図形情報をNC装置15に与えられるが、テーパ加工の場合
には上記図形情報（例えば上記被加工体１の下面におけ
る図形情報）が与えられると共に、傾斜角情報（傾斜角
θまたはtanθ），被加工体１の厚さに応じてＺ軸スケ
ール上で読まれる上記上部電極ガイド８のＺ軸方向にお
ける位置即ち上記上部ガイド垂直距離Ｚが与えられる。
そして、ワイヤ電極４の傾斜は、上部電極ガイド８をU,
V方向へ移動せしめることによって行われる。即ち、第
５図図示の如く、上記傾斜角情報と、等価垂直距離G0お
よび上記上部ガイド垂直距離Ｚにより得られる上・下ガ
イド間距離（G0＋Ｚ）にもとづく演算処理により、上記
ワイヤ電極４の垂直状態における上部電極ガイド８の位
置からの移動距離ａが求められる。また、ワイヤ電極４
を傾斜させることにより、加工すべき形状，寸法に対し
て変位ｂが発生するが、当該変位ｂの値は、ワイヤ電極
４の傾斜角情報と等価垂直距離Ｈとにもとづく演算によ
って求められるもので上記図形情報，傾斜角情報および
等価垂直距離Ｈにもとづいて、被加工体１の位置制御が
行われる。即ち、上部電極ガイド８の移動制御および被
加工体１の位置制御を行いつつ放電加工を実施すること
によって、所望する形状の加工が行われる。なお、従
来、上記等価垂直距離ＨおよびG0は、予め測定され装置
固有の定数として、NC装置15に記憶させておくようにさ
れていた。
〔発明が解決しようとする問題点〕 ワイヤ放電加工機による放電加工の加工精度を向上せ
しめる上で、等価垂直距離ＨおよびG0の値を正確に把握
する必要がある。しかし、上部電極ガイド８や下部電極
ガイド９が磨耗した場合、或いはワイヤ電極４を異なる
線径のものに取り替えるような場合には、上記上部電極
ガイド８や下部電極ガイド９の交換が行われるが、この
ような場合、ガイド交換後の上記等価垂直距離Ｈおよび
G0の値と、装置固有の値として予めNC装置15に記憶され
ている値との間に差異が生じることがある。即ち、上記
等価垂直距離G0は、第７図に図示されている如く、予め
用意されているＺ軸スケール17上の基準位置Z0に対し
て、上部電極ガイド８を保持するＺ軸19の原点（図示指
針20）を原点合わせした際における当該上部電極ガイド
８と下部電極ガイド９との垂直距離である。従来の場合
には、上記Ｚ軸スケール17上の基準位置Z0に対して上記
の如く原点合わせを行った際、当該上部電極ガイド８の
ワイヤ電極保持位置は上記基準位置Z0に対して正しく所
定の距離L0に位置するものと見做していた。しかし、上
部電極ガイド８のワイヤ電極保持位置は、上記Ｚ軸スケ
ール17上の基準位置Z0から正しく所定の距離L0に位置す
るものとならずに、図示矢印寸法ｅのズレが生じる。即
ち、当該ズレ寸法ｅは上記上部電極ガイド８の取付け状
態などによって変化する。従って、高精度の加工を行う
ためには、上記ズレ寸法ｅの存在を考慮する必要がある
が、当該ズレ寸法ｅのないものとすることは、実際上不
可能であった。上記等価垂直距離Ｈについても、下部電
極ガイド９が存在することから同様なことが言える。
しめる上で、等価垂直距離ＨおよびG0の値を正確に把握
する必要がある。しかし、上部電極ガイド８や下部電極
ガイド９が磨耗した場合、或いはワイヤ電極４を異なる
線径のものに取り替えるような場合には、上記上部電極
ガイド８や下部電極ガイド９の交換が行われるが、この
ような場合、ガイド交換後の上記等価垂直距離Ｈおよび
G0の値と、装置固有の値として予めNC装置15に記憶され
ている値との間に差異が生じることがある。即ち、上記
等価垂直距離G0は、第７図に図示されている如く、予め
用意されているＺ軸スケール17上の基準位置Z0に対し
て、上部電極ガイド８を保持するＺ軸19の原点（図示指
針20）を原点合わせした際における当該上部電極ガイド
８と下部電極ガイド９との垂直距離である。従来の場合
には、上記Ｚ軸スケール17上の基準位置Z0に対して上記
の如く原点合わせを行った際、当該上部電極ガイド８の
ワイヤ電極保持位置は上記基準位置Z0に対して正しく所
定の距離L0に位置するものと見做していた。しかし、上
部電極ガイド８のワイヤ電極保持位置は、上記Ｚ軸スケ
ール17上の基準位置Z0から正しく所定の距離L0に位置す
るものとならずに、図示矢印寸法ｅのズレが生じる。即
ち、当該ズレ寸法ｅは上記上部電極ガイド８の取付け状
態などによって変化する。従って、高精度の加工を行う
ためには、上記ズレ寸法ｅの存在を考慮する必要がある
が、当該ズレ寸法ｅのないものとすることは、実際上不
可能であった。上記等価垂直距離Ｈについても、下部電
極ガイド９が存在することから同様なことが言える。
また、ワイヤ電極４は、第６図図示実線で示されてい
る如く、上部電極ガイド８と下部電極ガイド９との間で
垂直状態であると言う前提のもとで、ワイヤ電極４の傾
斜角度制御や被加工体１とワイヤ電極４との相対的な位
置制御が行われている。しかし、ワイヤ電極４の剛性，
弾性などのために、第６図図示点線で示されている如
く、ワイヤ電極４の屈折点がずれて傾斜角度誤差および
加工位置誤差が発生することになる。この問題の解決を
図るために、既に、ワイヤ電極４の引っ張り力，ヤング
率等にもとづいて、上記傾斜角度誤差および加工位置誤
差の補正を行うようにする手段が提案されているが、ワ
イヤ電極４の表面状態や上部電極ガイド8,下部電極ガイ
ド９の表面状態の変化により、当該ワイヤ電極４と上部
電極ガイド８および下部電極ガイド９との摩擦によるワ
イヤ電極４に発生する歪の変動が生じるため、上記補正
の精度が問題となっていた。
る如く、上部電極ガイド８と下部電極ガイド９との間で
垂直状態であると言う前提のもとで、ワイヤ電極４の傾
斜角度制御や被加工体１とワイヤ電極４との相対的な位
置制御が行われている。しかし、ワイヤ電極４の剛性，
弾性などのために、第６図図示点線で示されている如
く、ワイヤ電極４の屈折点がずれて傾斜角度誤差および
加工位置誤差が発生することになる。この問題の解決を
図るために、既に、ワイヤ電極４の引っ張り力，ヤング
率等にもとづいて、上記傾斜角度誤差および加工位置誤
差の補正を行うようにする手段が提案されているが、ワ
イヤ電極４の表面状態や上部電極ガイド8,下部電極ガイ
ド９の表面状態の変化により、当該ワイヤ電極４と上部
電極ガイド８および下部電極ガイド９との摩擦によるワ
イヤ電極４に発生する歪の変動が生じるため、上記補正
の精度が問題となっていた。
従って、従来、高い加工精度が要求される放電加工に
おいては、本加工の前にテスト加工を行い、当該テスト
加工によって加工された加工前の傾斜角度や加工形状を
実測して、予めNC装置15に入力されている等価垂直距離
ＨおよびG0の補正を行い、しかるのち本加工を実施する
ような煩雑な加工工程がとられていた。なお、本発明に
おいては、上記測定によって得られた距離ＨおよびGoを
それぞれ、実加工装置上での等価垂直距離Ｈ′および
G0′としている。
おいては、本加工の前にテスト加工を行い、当該テスト
加工によって加工された加工前の傾斜角度や加工形状を
実測して、予めNC装置15に入力されている等価垂直距離
ＨおよびG0の補正を行い、しかるのち本加工を実施する
ような煩雑な加工工程がとられていた。なお、本発明に
おいては、上記測定によって得られた距離ＨおよびGoを
それぞれ、実加工装置上での等価垂直距離Ｈ′および
G0′としている。
本発明は，上記の如き問題点を解決することを目的と
しており，そのため本発明のワイヤ放電加工機における
電極ガイドの位置測定方法は、X,Y軸方向に移動する加
工テーブルと、該加工テーブルに固定されて被加工体が
載置される載物台と、U,V,Z軸方向に移動する上部電極
ガイドと下部電極ガイドとの間を走行するワイヤ電極と
を少なくともそなえ、上記載物台に載置された被加工体
と上記ワイヤ電極との間に放電を発生させて放電加工を
行うように構成されたワイヤ放電加工機において、上部
電極ガイドをＵおよび／またはＶ方向およびＺ方向へ移
動せしめ、それぞれの移動停止状態のもとで上記載物台
に載置された治具プレートによるワイヤ電極に対する接
触感知を行い、当該接触感知の実施時における加工テー
ブルのＸ、Ｙ方向への移動距離と、上記電極上部ガイド
のＵ、Ｖ方向およびＺ方向への移動距離とにもとづい
て、上記下部電極ガイドと載物台の上面との実加工装置
上での等価垂直距離G0′および下部電極ガイドと予め用
意されているＺ軸スケール上の基準位置に対して上部電
極ガイドを保持する軸の原点を原点合わせした際におけ
る上部電極ガイドとの実加工装置上での等価垂直距離
Ｈ′を算出するようにしたことを特徴としている。以
下、図面を参照しつつ説明する。
しており，そのため本発明のワイヤ放電加工機における
電極ガイドの位置測定方法は、X,Y軸方向に移動する加
工テーブルと、該加工テーブルに固定されて被加工体が
載置される載物台と、U,V,Z軸方向に移動する上部電極
ガイドと下部電極ガイドとの間を走行するワイヤ電極と
を少なくともそなえ、上記載物台に載置された被加工体
と上記ワイヤ電極との間に放電を発生させて放電加工を
行うように構成されたワイヤ放電加工機において、上部
電極ガイドをＵおよび／またはＶ方向およびＺ方向へ移
動せしめ、それぞれの移動停止状態のもとで上記載物台
に載置された治具プレートによるワイヤ電極に対する接
触感知を行い、当該接触感知の実施時における加工テー
ブルのＸ、Ｙ方向への移動距離と、上記電極上部ガイド
のＵ、Ｖ方向およびＺ方向への移動距離とにもとづい
て、上記下部電極ガイドと載物台の上面との実加工装置
上での等価垂直距離G0′および下部電極ガイドと予め用
意されているＺ軸スケール上の基準位置に対して上部電
極ガイドを保持する軸の原点を原点合わせした際におけ
る上部電極ガイドとの実加工装置上での等価垂直距離
Ｈ′を算出するようにしたことを特徴としている。以
下、図面を参照しつつ説明する。
第１図は本発明が適用されるワイヤ放電加工機の一実
施例における概要構成図、第２図は本発明のワイヤ放電
加工機における電極ガイドの位置測定方法の一実施例説
明図、第３図は本発明の測定過程を説明するためのフロ
ーチャートを示す。図中の符号4,5,6,8,9,11および15は
第４図に対応しており、16は治具プレートであって載物
台５に載置される下面の先端にエッジ状の接触部が形成
されているもの、17はＺ軸スケール、17−０は垂直基準
位置であって上記Ｚ軸スケール17の基点、18は演算部で
あって後述する測定方法により等価垂直距離Ｈ′および
G0′の演算を行うものを表している。
施例における概要構成図、第２図は本発明のワイヤ放電
加工機における電極ガイドの位置測定方法の一実施例説
明図、第３図は本発明の測定過程を説明するためのフロ
ーチャートを示す。図中の符号4,5,6,8,9,11および15は
第４図に対応しており、16は治具プレートであって載物
台５に載置される下面の先端にエッジ状の接触部が形成
されているもの、17はＺ軸スケール、17−０は垂直基準
位置であって上記Ｚ軸スケール17の基点、18は演算部で
あって後述する測定方法により等価垂直距離Ｈ′および
G0′の演算を行うものを表している。
第１図図示実施例は、基本的に本願明細書の冒頭に説
明した第４図と同様な構成を有するワイヤ放電加工機で
ある。そして、本発明の測定方法を実施する場合には、
第１図に図示されている如く、載物台５に治具プレート
16を載置し、上部電極ガイド８をＵまたはＶ方向へ移動
せしめ、更にＺ方向へ移動せしめ、それぞれの移動停止
状態のもとで、上記治具プレート16によるワイヤ電極４
に対する接触感知を行う。当該接触感知の実施方法は、
既に良く知られていることであるので説明を省略する
が、上記接触感知の実施時における上記治具プレート16
の移動距離すなわち図示省略した加工テーブルのＸ、Ｙ
方向への移動距離と、上記上部電極ガイド８のＵ、Ｖ方
向への移動距離或いはＺ方向への移動距離とにもとづく
演算処理が演算部18において行われることにより、上記
等価垂直距離Ｈ′およびG0′が算出される。以下、第２
図を参照しつつ第３図図示フローチャートに従い本発明
の測定方法を順次説明する。
明した第４図と同様な構成を有するワイヤ放電加工機で
ある。そして、本発明の測定方法を実施する場合には、
第１図に図示されている如く、載物台５に治具プレート
16を載置し、上部電極ガイド８をＵまたはＶ方向へ移動
せしめ、更にＺ方向へ移動せしめ、それぞれの移動停止
状態のもとで、上記治具プレート16によるワイヤ電極４
に対する接触感知を行う。当該接触感知の実施方法は、
既に良く知られていることであるので説明を省略する
が、上記接触感知の実施時における上記治具プレート16
の移動距離すなわち図示省略した加工テーブルのＸ、Ｙ
方向への移動距離と、上記上部電極ガイド８のＵ、Ｖ方
向への移動距離或いはＺ方向への移動距離とにもとづく
演算処理が演算部18において行われることにより、上記
等価垂直距離Ｈ′およびG0′が算出される。以下、第２
図を参照しつつ第３図図示フローチャートに従い本発明
の測定方法を順次説明する。
「スタート」 上部電極ガイド８を任意の高さZ1（Ｚ軸スケール17の
読み）にセットした上で、当該上部電極ガイド８を移動
させてワイヤ電極４を垂直にする（ワイヤ電極４を垂直
状態にする方法は公知である）。第２図において、上記
ワイヤ電極４を垂直状態にした時の上部電極ガイド８の
位置即ちスタート位置が図示矢印により示されてい
る。なおこの間、上記治具プレート16は上記ワイヤ電極
４に接触しない位置に退避させておくものとする。そし
て、上記ワイヤ電極４を垂直にした状態のもとで、上記
治具プレート16による接触感知を行う。即ち、治具プレ
ート16がワイヤ電極４に接触した位置で図示省略した加
工テーブルを停止せしめる。なお、本発明においては、
ワイヤ電極４を走行させながら行う。
読み）にセットした上で、当該上部電極ガイド８を移動
させてワイヤ電極４を垂直にする（ワイヤ電極４を垂直
状態にする方法は公知である）。第２図において、上記
ワイヤ電極４を垂直状態にした時の上部電極ガイド８の
位置即ちスタート位置が図示矢印により示されてい
る。なおこの間、上記治具プレート16は上記ワイヤ電極
４に接触しない位置に退避させておくものとする。そし
て、上記ワイヤ電極４を垂直にした状態のもとで、上記
治具プレート16による接触感知を行う。即ち、治具プレ
ート16がワイヤ電極４に接触した位置で図示省略した加
工テーブルを停止せしめる。なお、本発明においては、
ワイヤ電極４を走行させながら行う。
「Z1値読込」 上部電極ガイド８のスタート位置（図示矢印）の上
記Ｚ軸スケール17の読みZ1が、NC装置15を介して演算部
18に読み込まれる。
記Ｚ軸スケール17の読みZ1が、NC装置15を介して演算部
18に読み込まれる。
「Ｕ（Ｖ）軸定量ａ移動」 上部電極ガイド８をＵまたはＶ軸方向（第２図図示実
施例においてはＵ軸方向）へ所定の距離ａだけ移動せし
める。当該移動後の上部電極ガイド８の位置が第２図図
示矢印により示されており、ワイヤ電極４の傾斜角は
図示矢印角αとなる。そして、上記移動距離ａがNC装置
15を介して演算部18に読み込まれる。
施例においてはＵ軸方向）へ所定の距離ａだけ移動せし
める。当該移動後の上部電極ガイド８の位置が第２図図
示矢印により示されており、ワイヤ電極４の傾斜角は
図示矢印角αとなる。そして、上記移動距離ａがNC装置
15を介して演算部18に読み込まれる。
「Ｘ（Ｙ）軸送り」 上記「Ｕ（Ｖ）軸定量ａ移動」により、治具プレー
ト16とワイヤ電極４とは非接触状態となっている。そこ
で、当該治具プレート16による接触感知を行うため、図
示省略した加工テーブルをＸまたはＹ軸方向（第２図図
示実施例においてはＸ軸方向）へ移動させる。
ト16とワイヤ電極４とは非接触状態となっている。そこ
で、当該治具プレート16による接触感知を行うため、図
示省略した加工テーブルをＸまたはＹ軸方向（第２図図
示実施例においてはＸ軸方向）へ移動させる。
「接触感知」 上記治具プレート16とワイヤ電極４との接触が感知さ
れるまで上記加工テーブルの移動が継続され、接触が感
知された時点で当該加工テーブルの移動は停止される。
れるまで上記加工テーブルの移動が継続され、接触が感
知された時点で当該加工テーブルの移動は停止される。
「Ｘ（Ｙ）軸移動距離ｂ読込」 上記加工テーブルの移動距離ｂがNC装置15を介して演
算部18に読み込まれる。
算部18に読み込まれる。
「Ｚ軸定量ｃ下降」 上部電極ガイド８をＺ軸方向へ所定の距離ｃだけ下降
せしめる。当該移動後の上部電極ガイド８の位置が第２
図図示矢印により示されており、ワイヤ電極４の傾斜
角は図示矢印角βとなる。そして、上記移動距離ｃがNC
装置15を介して演算部18に読み込まれる。
せしめる。当該移動後の上部電極ガイド８の位置が第２
図図示矢印により示されており、ワイヤ電極４の傾斜
角は図示矢印角βとなる。そして、上記移動距離ｃがNC
装置15を介して演算部18に読み込まれる。
「Ｘ（Ｙ）軸送り」 上記「Ｚ軸定量ｃ下降」により治具プレート16とワ
イヤ電極４とは非接触状態となっている。そこで，当該
治具プレート16による接触感知を行うため、図示省略し
た加工テーブルをＸまたはＹ軸方向（第２図図示実施例
においてはＸ軸方向）へ移動させる。
イヤ電極４とは非接触状態となっている。そこで，当該
治具プレート16による接触感知を行うため、図示省略し
た加工テーブルをＸまたはＹ軸方向（第２図図示実施例
においてはＸ軸方向）へ移動させる。
「接触感知」 上記治具プレート16とワイヤ電極４との接触が感知さ
れるまで上記加工テーブルの移動が継続され、接触が感
知された時点で当該加工テーブルの移動は停止される。
れるまで上記加工テーブルの移動が継続され、接触が感
知された時点で当該加工テーブルの移動は停止される。
「Ｘ（Ｙ）軸移動距離ｄ読込」 上記加工テーブルの移動距離ｄがNC装置15を介して演
算部18に読み込まれる。
算部18に読み込まれる。
「等価垂直距離Ｈ′およびG0′の演算処理」 演算部18は、上記上部電極ガイド８のスタート位置に
おけるＺ軸スケール17の読みZ1,移動距離a,b,cおよびｄ
にもとづいて、等価垂直距離Ｈ′およびG0′の演算を行
う。即ち、第２図において、下記（１）および（２）式
が成立する。
おけるＺ軸スケール17の読みZ1,移動距離a,b,cおよびｄ
にもとづいて、等価垂直距離Ｈ′およびG0′の演算を行
う。即ち、第２図において、下記（１）および（２）式
が成立する。
上記（１）および（２）式より、下記（３）および
（４）式の如く、等価垂直距離Ｈ′およびG0′を算出す
ることが出来る。
（４）式の如く、等価垂直距離Ｈ′およびG0′を算出す
ることが出来る。
即ち、演算部18は、前述したないしの測定過程に
おいて読み込まれた上記a,b,c,dおよびZ1の数値にもと
づいて演算処理（上記（３）および（４）式）を行うこ
とによって、上記等価垂直距離Ｈ′およびG0′を求める
ことが出来る。
おいて読み込まれた上記a,b,c,dおよびZ1の数値にもと
づいて演算処理（上記（３）および（４）式）を行うこ
とによって、上記等価垂直距離Ｈ′およびG0′を求める
ことが出来る。
なお、上記の目的とするところは、上記電極ガイド８
の初期設定位置のＺ軸スケール17上の読みZ1,垂直位置
からの移動量a,およびＺ軸方向の移動量ｃを与え、載
物台５の上面位置に於けるワイヤ電極４の変位量ｂおよ
びｄを得ることにより、等価垂直距離Ｈ′およびG0′を
算出するものであり、上記からの手順を限定するも
のでない。なお、上記ないしの手順は、処理の動作
ステップ数が最も少なくなるものとして例示したもので
ある。
の初期設定位置のＺ軸スケール17上の読みZ1,垂直位置
からの移動量a,およびＺ軸方向の移動量ｃを与え、載
物台５の上面位置に於けるワイヤ電極４の変位量ｂおよ
びｄを得ることにより、等価垂直距離Ｈ′およびG0′を
算出するものであり、上記からの手順を限定するも
のでない。なお、上記ないしの手順は、処理の動作
ステップ数が最も少なくなるものとして例示したもので
ある。
以上説明した如く、本発明によれば、上部電極ガイド
をＵまたはＶ方向およびＺ方向へ移動せしめ、それぞれ
の移動停止状態のもとで上記載物台に載置された治具プ
レートによるワイヤ電極に対する接触感知を行い、当該
接触感知の実施時における加工テーブルのＸ、Ｙ方向へ
の移動距離と、上記上部電極ガイドのＵ、Ｖ方向および
Ｚ方向への移動距離とにもとづいて、下部電極ガイドと
載物台の上面との実加工装置上での等価垂直距離Ｈ′、
下部電極ガイドと予め用意されているＺ軸スケール上の
基準位置に対して上部電極ガイドを保持する軸の原点を
原点合わせした際における上部電極ガイドとの実加工装
置上での等価垂直距離G0′を簡単かつ正確に求めること
が可能となる。
をＵまたはＶ方向およびＺ方向へ移動せしめ、それぞれ
の移動停止状態のもとで上記載物台に載置された治具プ
レートによるワイヤ電極に対する接触感知を行い、当該
接触感知の実施時における加工テーブルのＸ、Ｙ方向へ
の移動距離と、上記上部電極ガイドのＵ、Ｖ方向および
Ｚ方向への移動距離とにもとづいて、下部電極ガイドと
載物台の上面との実加工装置上での等価垂直距離Ｈ′、
下部電極ガイドと予め用意されているＺ軸スケール上の
基準位置に対して上部電極ガイドを保持する軸の原点を
原点合わせした際における上部電極ガイドとの実加工装
置上での等価垂直距離G0′を簡単かつ正確に求めること
が可能となる。
第１図は本発明が適用されるワイヤ放電加工機の一実施
例における概要構成図、第２図は本発明のワイヤ放電加
工機における電極ガイドの位置測定方向の一実施例説明
図、第３図は本発明の測定過程を説明するためのフロー
チャート、第４図は一般的なワイヤ放電加工機の概要構
成図、第５図は第４図図示ワイヤ放電加工機における放
電加工の制御態様説明図、第６図はワイヤ電極の走行状
態に関する説明図、第７図は等価垂直距離に関する説明
図を示す。 図中、１は被加工体、２は加工開始孔、３は加工軌跡、
４はワイヤ電極、５は載物台、６はテーブル駆動装置、
７はワイヤ供給ロール、８は上部電極ガイド、９は下部
電極ガイド、10はワイヤ巻取ロール、11はガイド駆動装
置、12は加工電源装置、13および14は通電子、15はNC装
置、17はＺ軸スケール、17−０は垂直基準位置、18は演
算部を表す。
例における概要構成図、第２図は本発明のワイヤ放電加
工機における電極ガイドの位置測定方向の一実施例説明
図、第３図は本発明の測定過程を説明するためのフロー
チャート、第４図は一般的なワイヤ放電加工機の概要構
成図、第５図は第４図図示ワイヤ放電加工機における放
電加工の制御態様説明図、第６図はワイヤ電極の走行状
態に関する説明図、第７図は等価垂直距離に関する説明
図を示す。 図中、１は被加工体、２は加工開始孔、３は加工軌跡、
４はワイヤ電極、５は載物台、６はテーブル駆動装置、
７はワイヤ供給ロール、８は上部電極ガイド、９は下部
電極ガイド、10はワイヤ巻取ロール、11はガイド駆動装
置、12は加工電源装置、13および14は通電子、15はNC装
置、17はＺ軸スケール、17−０は垂直基準位置、18は演
算部を表す。
Claims (1)
- 【請求項１】Ｘ軸方向、Ｙ軸方向に移動する加工テーブ
ルと、該加工テーブルに固定されて被加工体が載置され
る載物台と、上記Ｘ軸方向、Ｙ軸方向に平行なＵ軸方
向、Ｖ軸方向に移動しかつ上記Ｘ軸方向,Y軸方向に垂直
なＺ軸方向に移動する上部電極ガイドと下部電極ガイド
との間を走行するワイヤ電極とを少なくともそなえ、 上記載物台に載置された被加工体と上記ワイヤ電極との
間に放電を発生させて放電加工を行うように構成され、 かつ上記載物台に載置され先端に接触部が形成された治
具プレートと、 上記上部電極ガイドおよび下部電極ガイドの位置に関す
る演算を行う演算部とをそなえたワイヤ放電加工機にお
ける電極ガイドの位置測定方法において、 上部電極ガイドを任意の高さZ1にセットし、走行状
態のワイヤ電極を垂直にした状態のもとで、上記治具プ
レートによる接触感知を行う工程と、 上部電極ガイドをＵ軸方向および／またはＶ軸方向
へ所定の距離ａだけ移動せしめ、当該距離ａを演算部に
送る工程と、 加工テーブルをＸ軸方向および／またはＹ軸方向へ
移動させて上記治具プレートによる接触感知を行い、当
該加工テーブルの移動距離ｂを演算部に送る工程と、 上部電極ガイドをＺ軸方向へ所定の距離ｃだけ移動
せしめ、当該距離ｃを演算部に送る工程と、 加工テーブルをＸ軸方向および／またはＹ軸方向へ
移動させて上記治具プレートによる接触感知を行い、当
該加工テーブルの移動距離と上記距離ｂとの加算値ｄを
演算部に送る工程とをそなえ、 上記演算部は、上記各工程により得られた数値a,b,c,d
およびZ1にもとづいて、 （但し、Ｈ′は下部電極ガイドと載物台の上面との実加
工装置上での等価垂直距離、G0′は下部電極ガイドと予
め用意されているＺ軸スケール上の基準位置に対して上
部電極ガイドを保持する軸の原点を原点合わせした際に
おける上部電極ガイドとの実加工装置上での等価垂直距
離。） の演算を行うようにし、当該演算結果を実加工時に利用
するようにしたことを特徴とするワイヤ放電加工機にお
ける電極ガイドの位置測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18312387A JP2599924B2 (ja) | 1987-07-22 | 1987-07-22 | ワイヤ放電加工機における電極ガイドの位置測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18312387A JP2599924B2 (ja) | 1987-07-22 | 1987-07-22 | ワイヤ放電加工機における電極ガイドの位置測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6440218A JPS6440218A (en) | 1989-02-10 |
| JP2599924B2 true JP2599924B2 (ja) | 1997-04-16 |
Family
ID=16130194
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18312387A Expired - Lifetime JP2599924B2 (ja) | 1987-07-22 | 1987-07-22 | ワイヤ放電加工機における電極ガイドの位置測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2599924B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3540474B2 (ja) * | 1995-11-11 | 2004-07-07 | 株式会社ソディック | ワイヤ放電加工装置の基準接触位置の位置決め方法及びその装置 |
| JP4112391B2 (ja) | 2003-02-06 | 2008-07-02 | 本田技研工業株式会社 | 内燃機関のシリンダヘッド |
| JP6404968B2 (ja) * | 2017-03-03 | 2018-10-17 | ファナック株式会社 | ワイヤ放電加工機 |
| CN110091019B (zh) * | 2018-01-31 | 2021-01-19 | 衡阳市裕展精密科技有限公司 | 线切割加工机的角度校正方法与用于角度校正的校正块 |
-
1987
- 1987-07-22 JP JP18312387A patent/JP2599924B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6440218A (en) | 1989-02-10 |
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