JPH06347649A - 光線路の識別方法 - Google Patents

光線路の識別方法

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JPH06347649A
JPH06347649A JP5132205A JP13220593A JPH06347649A JP H06347649 A JPH06347649 A JP H06347649A JP 5132205 A JP5132205 A JP 5132205A JP 13220593 A JP13220593 A JP 13220593A JP H06347649 A JPH06347649 A JP H06347649A
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optical
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reflecting
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Application number
JP5132205A
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English (en)
Inventor
Masaichi Mobara
政一 茂原
Susumu Inoue
享 井上
Tatsuhiko Shitomi
龍彦 蔀
Yasuji Hattori
保次 服部
Fumio Otsuki
文男 大槻
Katsuya Yamashita
克也 山下
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Sumitomo Electric Industries Ltd
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Sumitomo Electric Industries Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 光線路をその端部において、容易にかつ正確
に識別する方法を提供すること。 【構成】光線路50上に複数個の反射部と、少なくとも
上記複数の反射部の全長より離れた位置に一つの反射部
を設け、光線路50毎に各反射部の相対位値の組み合わ
せをかえて識別標識36とし、これらの光線路50に対
して検出光を入射したときの反射光に基づいて反射部の
相対位値を検出し、その検出結果に基づいて光線路50
を識別するものである。発光部20により光線路50の
片端から検査光を入射すると、その光は識別標識39の
各反射部で反射され入射端に戻ってくる。この光を例え
ばマイケルソン干渉計30で分析することにより、反射
部の相対位置を検出することができ、光線路50を識別
できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は光通信に用いられる光線
路をその端部において識別する方法に関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】光線路の識別方法として、光線路のコア
の屈折率を部分的に変化させ、この変化位置をOTDR
測定法を用いて線路端部で検出する方法が知られている
(1991年電子情報通信学会秋季大会 文献B−59
1「光線路データベースのための遠隔ファイバ識別
法」)。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、この方法によ
れば、光線路に設ける識別符号部が数百メートルにわた
ってしまう。たとえば、上述した文献中の例では、8ビ
ットの識別符号を光線路に記録するのに1ビット当たり
50m、全体で400mの長さを要している。したがっ
て、もともと短い長さの光線路に対して識別符号を付け
ることは困難である。また、数百メートルにわたる識別
符号を光線路に記録するには、光線路の製造過程でこれ
を行う必要があり、実用的ではない。
【0004】
【課題を解決するための手段】このような問題点を解決
するために、本発明の識別方法は、光線路上に複数個の
反射部と、少なくともその全長より離れた位置に一つの
反射部を設け、光線路毎に複数の反射部の相対位置の組
み合わせをかえて識別標識とし、これらの光線路に対し
て検査光を入射したときの反射光に基づいて反射部の相
対位置を検出し、その検出結果に基づいて光線路を識別
するものである。
【0005】また、識別標識を光線路中に直接設ける代
わりに、光線路に識別標識を有する分岐線路を付加して
もよい。
【0006】
【作用】光線路の片端から検査光を入射するとその光は
識別標識である複数の反射部で反射され入射端に戻って
くる。複数の反射部と一つの反射部の相対位置の組み合
わせを光線路ごとに異なるものとしておき、各反射部か
らの反射光の光路差を干渉計で測定したり、各反射部か
らの反射光が戻るまでの時間差を測定するなどして、識
別標識を構成する複数の反射部の相対位置を検出すれ
ば、その検出結果に基づいて光線路を識別できる。
【0007】
【実施例】図1は、本発明の光線路の識別方法を適用す
る光線路設備管理システムを示す構成図である。局舎1
と加入者宅3との間には、光線路の接続切り換えを行う
ための端子函2が設けられている。局舎1内の伝送装置
4に一端が接続されている複数の光線路は光ファイバケ
ーブル9として束ねられ、端子函2まで延びている。各
光線路の他端は、端子函2内において、各加入者宅3に
延びている光線路の一端と光コネクタ10を介して接続
され、これにより、局舎1内の伝送装置4と各加入者宅
3とがそれぞれ1本の光線路で接続されたことになる。
【0008】光コネクタ10では、接続の切り換えを手
動で任意に行うことができる。この切り換えを行う際に
は、まず、局舎1内に置かれた識別標識読取装置(コー
ド読取装置)5で、後述する識別方法により光線路のル
ート情報を調べ、そのルート情報を制御装置6から端子
函2内のローカルコントローラ11に伝達し、表示装置
12で現場の作業者にその情報を知らせる。作業者はそ
のルート情報に基づいて所望のコネクタ切り換えを行
う。切り換え作業終了後、再びコード読取装置5で光線
路の識別標識を読み取って局舎1側でルート情報を確認
し、このルート情報を制御装置6からローカルコントロ
ーラ11を介して表示装置12に表示することで、作業
者は切り換えの良否を確認する。
【0009】図2は、コード読取装置5の内部構成およ
びその周辺装置を示すブロック図である。コード読取装
置5は発光部20と受光部21を備え、これらは制御回
路6を構成するコンピュータ22およびタイミング制御
回路23によってその動作が制御される。
【0010】発光部20は、白色光などの適当なスペク
トル幅を持つ光を発する光源24と、光源24から放射
される光をオンオフ制御する音響光学素子25と、この
音響光学素子25の入出力部にそれぞれ設けられたレン
ズ系26、27とで構成されており、光源24から放射
された光はレンズ26、音響光学素子25、レンズ27
を経て、光ファイバ40の一端に検査光として入射され
る。光ファイバ40は、被測定光線路である光ファイバ
50とコード読取装置5とを繋ぐ分岐光線路であり、接
続手段38を介して被測定光線路50と接続されてい
る。接続手段38は、光ファイバ40を多数の被測定光
線路50の中のいずれかに選択的に接続するものであ
る。
【0011】受光部21は、マイケルソン干渉計30
と、このマイケルソン干渉計30の出力信号をデジタル
値に変換してコンピュータ22に供給するA/D変換回
路36と、マイケルソン干渉計30への入力光をタイミ
ング制御回路23からの信号に基づいてオンオフ制御す
る音響光学素子31とを主要な構成要素として備えてい
る。なお、符号32、33はそれぞれレンズを示し、符
号34は光ファイバを示している。マイケルソン干渉計
30は、移動鏡300、固定鏡301、ビームスプリッ
タ302、移動鏡移動機構303、移動鏡位置読取装置
304、受光器305、レンズ306、307で構成さ
れている。光ファイバ34からマイケルソン干渉計30
に入射した光は、ビームスプリッタ302で分岐され、
一方は固定鏡301へ、他方は移動鏡300に導かれ
る。それぞれの鏡で反射された光はビームスプリッタ3
02に戻り、重なり合って干渉が生じる。この干渉光は
レンズ307を介して受光器305に入射し、電気信号
に変換される。このとき、移動鏡300を移動させて干
渉計内の光路長差を変化させることによりインターフェ
ログラムと呼ばれる干渉波形を得ることができる。これ
が、マイケルソン干渉計30の動作原理であり、この原
理を利用して、識別標識39を構成する複数の反射部の
相対位置を検出する。
【0012】各光線路50には、それぞれ固有の識別標
識(コード)39が線路中に書き込まれている。識別標
識39は、1本及び複数の反射部で構成され、光線路毎
に反射部の相対位置の組み合わせをかえたものである。
識別標識39を構成する反射部は、光線路50を切断
し、光ファイバの屈折率を変えることによって屈折率の
不連続点を設けたものである。図3に識別標識39の一
例を示す。この識別標識39は、光ファイバに切り欠き
を設けて形成される複数の反射部52〜56が間隔Pで
n個設けられ、1本の反射部51が複数の反射部52〜
56の全長n×Pより離れた位置Lに構成されている。
したがって、この光線路50に発光部20からの検査光
が入射されると、受光部21に到達する識別標識39か
らの反射光は、反射部である切り欠き毎に光路差が生じ
ており、この光路差をマイケルソン干渉計30で検出す
ることにより、複数の反射部52〜56の各々1本の反
射部51に対する相対位置を検出することができる。
【0013】識別標識39は、図1における局舎1と端
子函2との間の光線路、端子函2と加入者宅3との間の
光線路のそれぞれに設けられている。局舎1と加入者宅
3との間に端子函が複数個介在する場合は、端子函間の
光線路にも識別標識が設けられる。
【0014】つぎに、識別標識39の読取方法を説明す
る。たとえば、図3に示すような1つの反射部51と複
数の反射部52〜56から構成される識別標識39の付
された光線路50に検査光を入射したとすると、受光部
21ではコンピュータ22との同期により図4に示すよ
うなインターフェログラムが得られる。つまり、光路差
が零のところで極大が得られ、光路差が大きくなるにし
たがって、複数の反射部相互の光路差に相当する部分に
副極大が得られる。この複数の反射部相互の干渉は光路
差(n−1)pの間で生じる。さらに光路差を大きくと
ると、Lの位置に1本の反射部からの反射光と、複数の
反射部の最も1本の反射部に近い反射部からの反射光と
の干渉による副極大(図示せず)が得られ、その後、順
次識別標識を設けてあるL+p、L+2p、…、L+
(n−1)pの光路差で副極大が得られる。
【0015】したがって、この識別方法によれば、識別
標識39は設計された光路差の位置に反射部を設ける
か、設けないかを副極大の有無として検知し、2進数で
符号化することによって識別することになる。例えば、
設計した光路差の位置を12点設けたとすると、それら
の反射部の有無の組み合わせにより、4096本の光線
路を識別できることになる。
【0016】このマイケルソン干渉計30は使用する波
長幅における光線路の分散値と実質的に同じ液体、気体
などの物質中に構成されることが望ましい。1本の反射
部と複数の反射部からの反射光の光路差を伝送する光は
適当なスペクトル幅を持つため、光線路内の分散の影響
により各波長において光線路内をそれぞれ異なった進み
方をする。ところがこの反射光を干渉させるために設け
た固定鏡と移動鏡の光路差分を空気中とすると、光線路
の分散の影響を受けた光をそのまま干渉させるためそれ
ぞれの波長で光路差がずれることになり、極大の振幅が
小さくなってしまう。したがって、光線路と同じ物質中
にマイケルソン干渉計30を構成すれば、それぞれの波
長のずれをもとに戻すことになり、極大の振幅を大きく
することができ、読取り誤差の確率が小さくなる。
【0017】同様に反射部を構成する光線路を、使用す
る波長幅において実質的に零である物質を用いれば、そ
れぞれの波長での進み方は同じであるため極大の振幅が
小さくならず、読取り誤差の確率が小さくなる。なお、
本実施例によると、複数の反射部52〜56において、
そのうちの1つの反射部を基準とする他の反射部との光
路差によっても副極大が得られるが、この副極大は上述
のとおり、Lをn×pより大としてあるので、1本の反
射部52と複数の反射部52〜56の光路差により生じ
る副極大と重なり合うことがない。したがって、本実施
例では、複数の反射部52〜56のうちの1つの反射部
と他の反射部との光路差により得られる副極大は無視す
るだけでよく、特に不具合は生じない。
【0018】本実施例では、局舎1と加入者宅3とを繋
ぐ光線路が、端子函2で接続された2本の区分光線路で
構成されている。識別標識は各区分光線路にそれぞれ設
けられているため、これらを区別して認識する必要があ
る。音響光学素子31は、そのために用いられているも
のである。すなわち、タイミング制御回路23によっ
て、パルス状の検査光を被測定光線路に入射し、検査光
の入射タイミングを基準にして、音響光学素子31で識
別標識ごとの反射光を時間的に切り出す。これにより、
同一光線路上の異なる点の識別標識からの反射光をそれ
ぞれ区別することができる。コンピュータ22は、この
識別標識ごとの反射光を区別しながら、反射光の光強度
データを取り込むことにより、識別標識毎のインターフ
ェログラムを得ることができる。なお、反射光の切り出
しは、音響光学素子31に変えて、ゲート回路などを用
いて受光器305からの電気信号を読取るタイミングを
制御することでも達成できる。
【0019】なお、図5に示すように、識別標識を光線
路中に直接書き込む代わりに、識別標識100が書き込
まれた分岐光線路101をファイバカプラ102などを
用いて付加してもよい。
【0020】検査光が光ファイバ(光線路)で反射して
戻ってくるようにするには、上記の他に、光ファイバ中
のクラッドの屈折率を変えてもよい。図6(a),
(b)はこの観点からなされた識別標識39の他の実施
例である。図6(a)の実施例では、光ファイバ41の
反射部のクラッド42に切り欠き43を設けた例を示し
ている。図6(b)は光ファイバ41の反射部のクラッ
ド42を除去し、他の屈折率の部材44を張りつける例
を示している。
【0021】図7(a)〜(d)は識別標識39の設置
に関する他の実施例を示している。すなわち、識別標識
39は光線路中の任意の位置に設けられるものである
が、ケーブル中の光線路に設けることは困難である。そ
こで、図7(a)〜Ad)では、識別標識39を光線路
の接続部に使用される光コネクタに識けている。
【0022】より具体的には、図7(a)では、一対の
光コネクタ45,46の一方の内部に、光ファイバ41
に1つの反射部51と複数の反射部52〜56を有する
識別標識39が設けられている。図7(b)では、図
(a)のように1本の反射部51を特別に設けず、一対
をなす光コネクタ45,46の結合部58の反射を利用
する例が示されている。図7(c)では、一方の光コネ
クタ45と他方の光コネクタ46の間に識別標識39を
有した識別標識素子59を挿入する例が示されている。
さらに、図7(d)では、同図(c)の1本の反射部5
1に代えて一方の光コネクタ45と識別標識素子59と
の接続端面60での反射を利用する例が示されている。
【0023】本発明は上記実施例の他に、次の実施例と
してもよい。すなわち、発光部にパルス幅の短いパルス
光を出射できる半導体レーザとその駆動回路を設け、一
方、受光部にはメモリ付きA/D変換回路と平均化回路
を設けて、パルス状の検査光を光線路50に入射し、そ
の反射光強度の時間的変化を測定することで、各反射部
の相対位置に応じたコード情報を読み取ることができ
る。
【0024】なお、本発明は上記の他にも必要に応じて
設計変更することは構わない。
【0025】
【発明の効果】以上説明したように本発明の識別方法に
よれば、識別標識を構成する複数の反射部と一つの反射
部の相対位置の組み合わせを光線路ごとに異なるものと
しておき、この相対位置を検出することにより、容易に
かつ正確に光線路を識別できる。したがって、端子函に
おける切り換え作業の際の接続の確認に極めて有効であ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の識別方法を適用する光線路設備管理シ
ステムを示すブロック図。
【図2】そのコード読取装置の内部構成およびその周辺
装置を示すブロック図。
【図3】識別標識の具体例を示す図。
【図4】インターフェログラムによる標識の識別方法を
示す図。
【図5】識別標識用の分岐光線路を示す図。
【図6】識別標識の他の具体例を示す図。
【図7】識別標識を書き込む方法を示す図。
【符号の説明】
1…局舎、2…端子函、3…加入者宅、4…伝送装置、
5…コード読取装置、6…制御装置、20…発光部、2
1…受光部、30…マイケルソン干渉計、39…識別標
識、40,41…光ファイバ、42…クラッド、43…
切り欠き、44…他の部材、45,46…光コネクタ、
50…光線路、51〜56…反射部(切り欠き)、59
…識別標識素子。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 蔀 龍彦 神奈川県横浜市栄区田谷町1番地 住友電 気工業株式会社横浜製作所内 (72)発明者 服部 保次 神奈川県横浜市栄区田谷町1番地 住友電 気工業株式会社横浜製作所内 (72)発明者 大槻 文男 東京都千代田区内幸町一丁目1番6号 日 本電信電話株式会社内 (72)発明者 山下 克也 東京都千代田区内幸町一丁目1番6号 日 本電信電話株式会社内

Claims (15)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光線路上の複数個の反射部と少なくとも
    前記複数の反射部の全長より離れた位置に一つの反射部
    を設け、光線路毎に前記複数の反射部の相対位置の組み
    合わせを変えて識別標識とし、これらの光線路に対して
    検査光を入射したときの反射光に基づいて前記一つの反
    射部と前記複数の反射部の相対位置を検出し、その検出
    結果に基づいて光線路を識別する光線路の識別方法。
  2. 【請求項2】 光線路のそれぞれに分岐線路を付加し、
    これらの分岐線路上に複数個の反射部と少なくとも前記
    複数の反射部の全長より離れた位置に一つの反射部を設
    け、光線路毎に前記複数の反射部の相対位置の組み合わ
    せを変えて識別標識とし、これらの光線路に対して検査
    光を入射したときの反射光に基づいて前記一つの反射部
    と前記複数の反射部の相対位置を検出し、その検出検査
    に基づいて光線路を識別する光線路の識別方法。
  3. 【請求項3】 光線路上の複数の位置のそれぞれに複数
    個の反射部と少なくとも前記複数の反射部の全長より離
    れた一つの反射部を設け、光線路毎に前記複数の反射部
    の相対位置の組み合わせを変えて識別標識とし、これら
    の光線路に対してパルス状の検査光を入射したときの前
    記各識別標識からその位置に応じて時間的にずれて戻っ
    てくるそれぞれの反射光に基づいて前記識別標識毎の前
    記一つの反射部と前記複数の反射部の相対位置及び光線
    路内での識別標識の位置を検出し、その検出結果に基づ
    いて光線路を識別する光線路の識別方法。
  4. 【請求項4】 光線路のそれぞれの分岐線路を付加し、
    これらの分岐線路上に複数個の反射部と少なくとも前記
    複数の反射部の全長より離れた位置に一つの反射部を設
    け、前記各分岐光線路毎に前記複数の反射部の相対位置
    の組み合わせを変えて識別標識とし、前記光線路に対し
    てパルス状の検査光を入射したときの前記各識別標識か
    らその位置に応じて時間的にずれて戻ってくるそれぞれ
    の反射光に基づいて前記識別標識毎の前記一つの反射部
    と前記複数の反射部の相対位置及び光線路内での識別標
    識の位置を検出し、その検出結果に基づいて光線路を識
    別する光線路の識別方法。
  5. 【請求項5】 光線路が複数の区分線路縦続接続により
    構成され、前記識別標識が前記区分線路毎に設けられて
    いる請求項3または4に記載の光線路の識別方法。
  6. 【請求項6】 反射部の相対位置の検出は、一つの反射
    部に対する複数の反射部それぞれの光路差を干渉計で測
    定し、その測定した光路差に基づいて行うことを特徴と
    する請求項1から5のいずれかに記載の光線路の識別方
    法。
  7. 【請求項7】 反射部の相対位置の検出は、各反射部か
    らの反射光が戻るまでの時間差を測定し、その測定した
    時間差に基づいて行うことを特徴とする請求項1から6
    のいずれかに記載の光線路の識別方法。
  8. 【請求項8】 反射部の相対位置の検出に用いる干渉計
    を、検出光の波長領域において光線路と実質的に同じ波
    長分散の物質の中に構成することを特徴とする請求項6
    記載の光線路の識別方法。
  9. 【請求項9】 検出光の波長において波長分散が実質的
    に零に等しい物質を、反射部に用いて光線路を構成する
    ことを特徴とする請求項6記載の光線路の識別方法。
  10. 【請求項10】 反射部が光線路に設けた切り欠きであ
    ることを特徴とする請求項1から9のいずれかに記載の
    光線路の識別方法。
  11. 【請求項11】 反射部が光線路に設けた切断面である
    ことを特徴とする請求項1から9のいずれかに記載の光
    線路の識別方法。
  12. 【請求項12】 反射部が光線路のうちの光ファイバの
    コアの外周に設けた反射部材であることを特徴とする請
    求項1から9のいずれかに記載の光線路の識別方法。
  13. 【請求項13】 反射部が光線路のうちの光コネクタの
    光ファイバ接着部に設けられていることを特徴とする請
    求項1から12のいずれかに記載の光線路の識別方法。
  14. 【請求項14】 反射部が光線路のうちの接続部の二つ
    の光コネクタの間に設けられていることを特徴とする請
    求項1から12のいずれかに記載の光線路の識別方法。
  15. 【請求項15】 反射部のうち複数の反射部の全長より
    離れた位置に設ける一つの反射部を、光コネクタの接続
    端面とすることを特徴とした請求項13から14いずれ
    かに記載の光線路の識別方法。
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