JPH06329480A - セラミックス−金属接合体およびその製造方法 - Google Patents

セラミックス−金属接合体およびその製造方法

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JPH06329480A
JPH06329480A JP14303293A JP14303293A JPH06329480A JP H06329480 A JPH06329480 A JP H06329480A JP 14303293 A JP14303293 A JP 14303293A JP 14303293 A JP14303293 A JP 14303293A JP H06329480 A JPH06329480 A JP H06329480A
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metal
sintered body
ceramic
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ceramic sintered
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JP14303293A
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English (en)
Inventor
Masanori Hirano
正典 平野
Noriyoshi Yamauchi
則義 山内
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Noritake Co Ltd
Original Assignee
Noritake Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 温度変化に起因するセラミック焼結体と金属
の剥離、セラミック焼結体のクラックの発生等の問題を
好適に解消し得るセラミックス−金属接合体を提供す
る。 【構成】 アルミナ接合基板20は、アルミナ基板10
と、金属層22と、金属層22を介してアルミナ基板1
0に接合されている銅板16とから成る。この金属層2
2は、タングステンと、銀−銅合金と、チタンとを含
み、銀−銅合金の含有率のタングステンの含有率に対す
る比率が、アルミナ基板10から遠ざかるに従って大き
くされている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、セラミックス−金属接
合体およびその製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】アルミナ、窒化ケイ素、窒化アルミニウ
ム等のセラミック焼結体は、耐熱性、耐摩耗性、絶縁性
等に優れているため、半導体用基板や自動車部品などに
広く用いられている。この中には、例えばパワーモジュ
ールやエンジン部品、ロケットの外壁材等のように放熱
性が共に要求される場合があるが、セラミック焼結体は
一般に熱伝導性に劣るため、このような場合には、熱伝
導性に優れた金属(例えば銅など)と接合して放熱性を
向上させたセラミックス−金属接合体が用いられる。こ
の接合方法には、例えば銀ろう等を用いてセラミック焼
結体に金属体をろう付する方法や、特公昭57−135
15号公報に開示されているようにセラミック焼結体を
金属体に接触して位置させ、所定の雰囲気下で共晶反応
により接合する方法等がある。
【0003】
【発明が解決すべき課題】しかしながら、一般的なセラ
ミック焼結体の熱膨張率は3〜10×10-6/℃程度で
あるのに対し、例えば銅やステンレス鋼等の金属の熱膨
張率は16〜18×10-6/℃程度と大きい。したがっ
て、このようなセラミックス−金属接合体は、接合され
た両者の熱膨張率が大きく異なるため、その接合工程や
使用時の温度変化により熱膨張率の差に起因する応力
(熱応力)が発生し、接合界面で剥離が生じたり、セラ
ミック焼結体の強度が熱応力に比べて低い場合にはクラ
ック(ひび、割れ等)が発生することがある。そこで、
セラミック焼結体と金属の接合界面に、両者の中間の熱
膨張率を有する緩衝材や、特開昭56−41879号公
報に開示されているような熱応力を塑性変形により吸収
する延性に富む緩衝材等を介挿する方法が行われている
が、前者の方法では、緩衝材とセラミック焼結体との間
にも相当の熱膨張率の差があるため、それに起因する熱
応力が生じるという問題があり、後者の方法では、発生
する熱応力がきわめて大きい場合には緩衝材の塑性変形
では応力が充分に吸収できないという問題があった。
【0004】本発明は以上の事情を背景として為された
ものであって、その目的は、温度変化に起因するセラミ
ック焼結体と金属の剥離、セラミック焼結体のクラック
の発生等の問題を好適に解消し得るセラミックス−金属
接合体を提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための第一の手段】斯かる目的を達成
するために、本発明の要旨とするところは、セラミック
焼結体と、そのセラミック焼結体の少なくとも一部の表
面上に形成された金属層と、その金属層を介してセラミ
ック焼結体に接合された金属体とを含むセラミックス−
金属接合体であって、その金属層は、高融点金属と、銀
−銅系合金と、活性金属とを含み、高融点金属の含有率
の銀−銅系合金の含有率に対する比率が、前記セラミッ
ク焼結体の表面から遠ざかるに従って連続的または段階
的に小さくされたものであることにある。
【0006】
【作用および第一発明の効果】このようにすれば、セラ
ミック焼結体上に形成された金属層がチタン(Ti)、
Nb、Hf、Zr等の活性金属を含んでいるため、セラ
ミック焼結体と金属体との接合時に活性金属がその界面
近傍で拡散することにより両者が強固に接合されると共
に、その金属層は、高融点金属の含有率の銀−銅系合金
の含有率に対する比率が、前記セラミック焼結体の表面
から遠ざかるに従って連続的または段階的に小さくされ
ているため、金属層の熱膨張率はセラミック焼結体側で
比較的小さく、その反対側で比較的大きくされる。これ
は、タングステン、モリブデン等の高融点金属の熱膨張
率が5×10-6/℃程度と小さく、反対に銀−銅系合金
の熱膨張率が16〜18×10-6/℃と大きいため、金
属層の熱膨張率は両者の含有率の比率に応じたそれぞれ
の熱膨張率の中間の値に決定されるからである。したが
って、セラミック焼結体と金属体との接合界面におい
て、それぞれの金属層との界面における熱膨張率の差が
小さくなり、温度変化が生じた際にその差に起因する熱
応力が小さくされて、剥離やセラミック焼結体のクラッ
クの発生等が好適に解消される。更に、前記金属体が金
属層を介して前記セラミック焼結体と接合されているた
め、セラミック焼結体側で発生した熱が接合された金属
体により好適に放散されて、半導体基板やエンジン部
品、ロケットの外壁材などの絶縁性や耐熱性と共に放熱
性が必要な部品に適している。
【0007】好適には、前記金属体は、前記銀−銅系合
金層を介して前記金属層に接合されている。このような
セラミックス−金属接合体は、接合時における銅板と銀
−銅系合金との濡れ性が良好であるため、充分な接合強
度が得られ、良好な熱伝導性と共に高い耐久性が得られ
る。
【0008】また、好適には、前記セラミック焼結体は
基板であり、前記金属体は銅板または銅合金板である。
このような構造のセラミック基板は、パワーモジュール
や圧電素子用の半導体モジュール等に用いられた際に
は、半導体や電子部品等で発生した熱が金属体により放
散されて半導体および基板の温度上昇が好適に緩和され
るとともに、前述のように、温度変化が生じた際にも剥
離、クラックが発生せず、高温下で用いられる半導体や
電子部品等の基板として好適である。
【0009】また、好適には、前記セラミック基板にお
いて、銅板または銅合金板の少なくとも一部に回路パタ
ーンが形成されている。このようなセラミック基板は、
大電流に対応できると共に、温度変化が生じた際に回路
パターンの剥離が生じず、信頼性の高いセラミック回路
基板が得られる。
【0010】また、好適には、前記セラミック焼結体
は、アルミナ焼結体または窒化アルミニウム焼結体であ
る。このようなセラミックス−金属接合体は熱伝導性、
絶縁性、機械的特性等に特に優れているため、前述のよ
うな半導体や電子部品等の基板等に特に好適である。
【0011】
【課題を解決するための第二の手段】また、本発明のセ
ラミックス−金属接合体の製造方法の要旨とするところ
は、高融点金属と銀−銅系合金とを含み、高融点金属の
含有率の銀−銅系合金の含有率に対する比率の異なる少
なくとも二種以上の混合物を用い、セラミック焼結体の
少なくとも一部の表面上に、その比率の大きい順に混合
物層を形成する積層工程と、金属体を、その混合物層の
前記セラミック焼結体の反対側の面に接して位置させる
工程と、活性金属の存在下で加熱処理する加熱工程とを
含むことにある。
【0012】
【作用および第二発明の効果】このようにすれば、所定
種類の混合物を所定回数セラミック焼結体に積層するこ
とにより、セラミック焼結体の表面から遠ざかるに従っ
て、高融点金属の含有率の銀−銅系合金の含有率に対す
る比率が小さくされた混合物層が得られる。したがっ
て、活性金属の存在下で加熱処理することにより、活性
金属が混合物層内に拡散してセラミック焼結体と金属体
が強固に接合されると共に、前記金属層は、高融点金属
と、銀−銅系合金と、活性金属とを含み、その金属層に
おける高融点金属の含有率の銀−銅系合金の含有率に対
する比率が、前記セラミック焼結体の表面から遠ざかる
に従って連続的または段階的に小さくされた、セラミッ
クス−金属接合体が容易に得られる。
【0013】好適には、前記活性金属は、前記積層工程
により形成された混合物層内に含まれ、または混合物層
外に積層されたものである。このようにすれば、加熱さ
れたときに、活性金属は混合物層内で拡散し易いため、
セラミック焼結体表面および金属体表面に到達し得て、
銀−銅系合金および活性金属により両者が強固に接合さ
れる。
【0014】
【実施例】以下に、本発明の一実施例を図面を参照して
詳細に説明する。
【0015】図1は本発明の工程流れ図である。例えば
表1のNo.1〜No.9の組成の銀−銅−チタン混合粉末(平
均粒径はそれぞれ銀:1.2μm、銅:1.3μm、チ
タン:20μm)に、それぞれタングステン粉末(粒径
2.4μm)を、その重量比が例えばA:60%、B:
40%、C:20%となるように添加して、合計27種
の混合物原料を調合し、例えばエチルセルロースとテル
ピネオールを主成分とする助剤を添加し、例えば三本ロ
ールミルで混練して混合物ペーストA1 〜A9、B1
9 、C1 〜C9 を作製した。なお、本実施例では、チ
タンが活性金属に、タングステンが高融点金属にそれぞ
れ相当する。
【0016】
【表1】
【0017】次に、別途用意した例えば50×33×
0.6mmの寸法のアルミナ基板(焼結体:Al2 3
96%、残部CaO、MgO、SiO2 および微量の不
可避不純物)10の両面に、混合物ペーストA1
9 、B1 〜B9 、C1 〜C9 をそれぞれ添字が同じも
のの組み合わせ(例えばA1 とB1 とC1 )でA、B、
Cの順に、例えば約20μmの厚さで印刷後、例えば約
130℃で乾燥する作業を繰り返し、図2に示すような
印刷層12が両面に形成された9種の印刷基板14を得
た。なお、印刷層12は、図3に一部断面を示すよう
に、それぞれ混合物ペーストA、B、Cに対応する、所
定の厚さの三層(12a、12b、12c)から成って
おり、印刷基板14の一方の面(図2における上面)に
は所定の回路パターンが形成されている。また、印刷層
12は両面とも同様な断面構造であるため、図3では一
方の面の構造のみ示している。次に、これらの印刷基板
14を例えばN2 雰囲気下600℃で脱脂し、印刷基板
14の両面の印刷層12上にそれぞれ例えば厚さ300
μmおよび350μmの無酸素銅板16、18を載置
し、スペーサーを介して例えば0.3g/mm2 の荷重
をかけて、例えば5×10-5torrの真空中850℃で2
0分間加熱処理して、図4に示すような両面に銅板が接
合されたアルミナ接合基板20を得た。なお、本実施例
では、アルミナ基板10がセラミック焼結体に、印刷層
12が混合物層に相当し、活性金属は混合物層内に含ま
れている。
【0018】これらのアルミナ接合基板20は、アルミ
ナ基板10の両面に前記印刷層12に対応する金属層2
2を介して銅板16、18が接合されており、金属層2
2は、図5に一部断面を示すように、印刷層12a、1
2b、12cに対応する22a、22b、22cの三層
から構成されており、チタンを含む銀−銅合金24の中
にタングステン粒子26が、アルミナ基板10側では多
く、銅板16側では少なくなるように分散された構造に
なっている。すなわち、金属層22においては、タング
ステンの含有率の銀−銅合金の含有率に対する比率が、
アルミナ基板10の表面から遠ざかるに従って段階的に
小さくされている。
【0019】ここで、アルミナ接合基板20と、従来の
銀ろうやCu−O共晶反応によって銅板を接合した同様
な形状のアルミナ接合基板のピール強度を測定したとこ
ろ、アルミナ接合基板20の強度は何れも14kg/c
m以上であり、これに対して従来法によるアルミナ接合
基板の強度は8kg/cmであった。なお、ピール強度
試験は、アルミナ接合基板20に引張端子を接合し、銅
板16または18をアルミナ基板10に対して90°の
方向に引張試験機で引き剥がし、剥がれた際の荷重を測
定して求めたものである。
【0020】また、アルミナ接合基板20の耐熱衝撃性
を評価するため、熱衝撃試験機内で−50℃に30分保
持後、150℃に加熱し、30分保持する一連の工程を
1サイクルとする試験を繰り返し行った。なお、温度調
節は試験機内に冷気或いは熱気を送り込むことによりき
わめて速やかに行った。この結果、アルミナ接合基板2
0は何れも500サイクル後もクラック、剥離の発生は
認められなかった。これに対して、同時に試験に供した
上記の従来法にて作製したアルミナ接合基板は約50サ
イクル後に割れが発生しており、以上の試験から、本実
施例のアルミナ接合基板20は接合強度が強く、また、
温度変化(温度サイクル)に対しても充分な耐久性を有
することが示された。
【0021】すなわち、アルミナ基板10上に形成され
た金属層22が、アルミナ基板10側の層22aはタン
グステンの含有率が高く低熱膨張率に、銅板16、18
側の層22cはタングステン含有率が低く高熱膨張率
に、中間の層22bはこれらの中間のタングステン含有
率であって中間の熱膨張率にされており、したがって、
アルミナ基板10から遠ざかるに従って銀−銅合金の含
有率が高く、すなわち熱膨張率が大きくなるようにされ
ているため、銅板16、18とアルミナ基板10との熱
膨張率の差は金属層22に吸収されて、それに起因する
熱応力が殆ど発生しない。このため、銅板16、18を
接合する際の加熱・冷却による熱応力の残留(残留応
力)が小さくなり、上記のように高い接合強度が得られ
ると共に、温度変化が生じてもクラックや剥離の発生し
ないアルミナ接合基板20が得られるのである。
【0022】また、アルミナ接合基板20は、一方の面
に放熱板としての銅板18が接合されているため、発熱
量の大きなパワーモジュール等の基板として用いると、
半導体に発生した熱が、銅板18によって好適に放散さ
れて、高い耐久性と信頼性が得られる。これは、銅板1
8とアルミナ基板10の接合層の役割を果たす金属層2
2が、タングステンおよび銀−銅合金から成る比較的緻
密な層で形成されて、熱伝導が良好であるとともに、前
述のように熱応力が小さくされることにより、剥離、ク
ラック等が発生し難いためである。
【0023】また、銀−銅−チタンの混合粉末とタング
ステン粉末の混合比を変えた混合物ペーストを用いて、
三層構造の印刷層12を印刷・積層により形成している
ため、これを焼成することにより、アルミナ基板10か
ら遠ざかるに従ってタングステンの含有率の銀−銅合金
の含有率に対する比率が小さくなる金属層22が容易に
得られる。このとき、印刷される混合物ペーストにチタ
ンが含有されているため、このチタンが金属層内に拡散
されて活性金属として働き、アルミナ基板10と銅板1
6、18とが強固に接合される。
【0024】また、アルミナ基板10の両面に同様な寸
法・形状の銅板16、18が接合されているため、温度
変化が生じた際に両面に同程度の熱応力が発生して相殺
され、一層温度変化に対して高い耐久性を有するアルミ
ナ接合基板20が得られる。
【0025】また、本実施例においてはセラミック焼結
体がアルミナ基板10であるため、機械的特性、熱伝導
性、絶縁性に優れ、パワーモジュール等に用いる基板と
して好適である。
【0026】また、接合する金属体として無酸素銅板1
6、18を用いているため、銅板とろう材との濡れ性が
良好であり、且つ、ろう材中の活性金属と銅板中の酸素
との反応に起因する活性金属の活性の低下がないので、
銅板とセラミック焼結体との強固な接合体が得られる。
【0027】次に、本発明の他の実施例を説明する。
【0028】例えば表1のNo.1の組成の銀−銅−チタン
混合粉末とモリブデン粉末(粒径2.6μm)とを用い
て、それぞれモリブデン粉末の重量比が例えば50%、
25%である二種の混合物原料を調合し、例えばエチル
セルロースとテルピネオールを主成分とする助剤を添加
し、例えば三本ロールミルで混練して混合物ペースト
D、Eを作製した。更に、表1のNo.10 〜No.22 の組成
の混合粉末を、混合物ペーストと同様にして銀−銅ろう
材ペーストF1 〜F13を作製した。なお、本実施例で
は、モリブデンが高融点金属に相当する。
【0029】次に、別途用意した数枚の例えば50×3
3×0.6mmの寸法の窒化アルミニウム基板(焼結
体:AlN96重量%、残部Y2 3 および微量の不可
避不純物)の両面に、混合物ペーストD、Eを順に例え
ば約30μmの厚さで印刷後、例えば130℃で乾燥す
る作業を繰り返し、更に、その上に銀−銅ろう材ペース
トF1 〜F13の内の何れか一種をそれぞれ例えば約15
μmの厚さで印刷して、図2に示す印刷基板14と同様
な13種の印刷基板を得た。なお、これらの印刷基板の
印刷層は第一実施例と同様な構造であり、一方の面には
回路パターンが形成されている。更に、第一実施例と同
様な手法で無酸素銅板を窒化アルミニウム基板の両面に
接合して、図4に示すアルミナ接合基板と同様な形状の
窒化アルミニウム接合基板28を得た。
【0030】これらの窒化アルミニウム接合基板28の
金属層30は、図6に一部断面を示すように、ペースト
D、E、Fに対応する、モリブデンを含有する層30
a、30bと、モリブデンを含有しない層30cの三層
から構成されており、したがって、モリブデン粒子32
の含有率の銀−銅合金34の含有率に対する比率が、窒
化アルミニウム基板36の表面から遠ざかるに従って段
階的に小さくされ、最も銅板38に近い層はモリブデン
を含まない銀−銅系合金層になっている。なお、本発明
では窒化アルミニウム基板36がセラミック焼結体に相
当する。
【0031】ここで、窒化アルミニウム接合基板28
の、窒化アルミニウム基板36と銅板38のピール強度
と耐熱衝撃性を、第一実施例と同様に従来の接合基板と
比較した。本実施例の窒化アルミニウム接合基板28は
何れも、ピール強度が14kg/cm以上、耐熱衝撃試
験では100サイクルでもクラックの発生がなかったの
に対し、従来のものはピール強度8kg/cm、10サ
イクルでクラック発生という結果であった。本実施例に
おいても、窒化アルミニウム接合基板28が従来のもの
に比較して接合強度が強く、また、温度変化(温度サイ
クル)に対しても充分な耐久性を有することが示され
た。
【0032】すなわち、本実施例においても、第一実施
例と同様にモリブデン粒子32の含有率の銀−銅合金3
4の含有率に対する比率が、窒化アルミニウム基板36
の表面から遠ざかるに従って段階的に小さくされた構造
であるため、窒化アルミニウム基板36上に形成された
金属層30に、銅板38と窒化アルミニウム基板36と
の熱膨張率の差が吸収されて、それに起因する熱応力が
殆ど発生しない。このため、銅板38を接合する際の加
熱・冷却による熱応力の残留(残留応力)が小さくな
り、上記のように高い接合強度が得られると共に、温度
変化が生じてもクラックや剥離の発生しない窒化アルミ
ニウム接合基板28が得られるのであり、また、第一実
施例と同様に発熱量の大きなパワーモジュール等の基板
として用いられた場合には、一方の面に接合された銅板
38が放熱板として働き、高い耐久性と信頼性が得られ
る。
【0033】また、銀−銅−チタンの混合粉末とモリブ
デン粉末の混合比を変えた混合物および銀−銅ろう材を
用いて、三層構造の印刷層を印刷・積層により形成して
いるため、これを焼成することにより、窒化アルミニウ
ム基板36から遠ざかるに従って銀−銅合金の含有率の
モリブデンの含有率に対する比率が大きくなる金属層3
0が容易に得られる。このとき、印刷される混合物ペー
ストにチタンが含有されているため、このチタンが金属
層30内に拡散されて活性金属として働き、窒化アルミ
ニウム基板36と銅板38とが強固に接合される。更
に、本実施例においては、銅板38側に銀−銅系合金層
(金属層30c)が形成されて、接合時における銅板と
銀−銅系ろう材との濡れ性が良好であるため、充分な接
合強度が得られ、良好な熱伝導性と共に高い耐久性が得
られる。
【0034】また、本実施例においても、窒化アルミニ
ウム基板36の両面に同様な寸法・形状の銅板38が接
合されているため、温度変化が生じた際に両面に同程度
の熱応力が発生して相殺され、一層温度変化に対して高
い耐久性を有する窒化アルミニウム接合基板28が得ら
れる。また、銅板38が無酸素銅板であるため、銅板3
8とろう材との濡れ性が良好であり、且つ、ろう材中の
活性金属と銅板中の酸素との反応に起因する活性金属の
活性の低下がないので、銅板とセラミック焼結体との強
固な接合体が得られる。
【0035】また、本実施例においてはセラミック焼結
体が窒化アルミニウム基板36であるため、第一実施例
のアルミナ基板を用いた場合よりも一層熱伝導性に優
れ、パワーモジュール等に用いる基板として一層好適で
ある。
【0036】次に、本発明の更に別の実施例を説明す
る。
【0037】第一実施例で用いたものと同組成の50×
50×5mmのアルミナ焼結体と、第二実施例と同組成
・同寸法の窒化アルミニウム焼結体と、50×50×1
0mmの窒化ケイ素焼結体(Si3 4 92重量%、残
部Al2 3 、Y2 3 および微量の不可避不純物)
と、50×50×10mmのジルコニア焼結体(ZrO
2 97%、残部Y2 3 および微量の不可避不純物)と
(以下、特に区別しないときはセラミック焼結体とい
う)を用意して、第一実施例で用いた混合物ペーストA
1 、B1 、C1 をセラミック焼結体の一方の面にそれぞ
れ第一実施例と同様に積層・脱脂し、4種の印刷セラミ
ック焼結体を得た。
【0038】次に、厚さ0.5mmの無酸素銅板と、厚
さ5mmのSS41鋼板と、厚さ5mmのSUS430
鋼板と(以下、特に区別しないときは金属板という)を
用意し、前記4種の印刷セラミック焼結体のペースト印
刷面に何れか一つをそれぞれ載置し、第一実施例と同様
に加熱処理して、12種のセラミックス−金属接合体を
得た。得られたセラミックス−金属接合体は、セラミッ
ク焼結体に金属層を介して金属体が接合されており、そ
の金属層は第一実施例と同様の図5に示す断面構造を有
していた。
【0039】ここで、セラミックス−金属接合体の接合
強度を剪断試験により測定し、従来のろう材による接
合、緩衝材を用いた接合と比較した。その結果、本実施
例のセラミックス−金属接合体の剪断強度は何れも10
kg/mm2 以上の強度であったのに対し、従来の方法
による接合体の強度は8kg/mm2 以下であった。ま
た、第一実施例と同様な耐熱衝撃試験を行ったところ、
本実施例のセラミックス−金属接合体は何れも100サ
イクルでもクラックが発生しなかったのに対し、従来の
方法による接合体は10サイクルでクラックが発生し
た。本実施例においても従来の接合方法よりも接合強度
が向上していることが示された。
【0040】すなわち、本実施例においても、金属層は
第一実施例と同様な構造であるため、接合時の残留応力
が小さく、温度変化が生じた際にも金属体とセラミック
焼結体との熱膨張率の差が金属層により吸収されて熱応
力が小さくなり、したがって、高い接合強度と耐久性を
有するセラミックス−金属接合体が得られる。なお、窒
化ケイ素焼結体は、曲げ強度や破壊靭性が大きい素材で
あり、これを用いた接合体は特に耐熱衝撃性が良好であ
った。
【0041】また、接合するセラミック焼結体および金
属体の種類・形状・寸法に応じて、金属層の熱膨張率お
よび積層数、厚みを適宜決定することにより、本実施例
に示したような様々なセラミックス−金属接合体を得る
ことができるので、自動車用エンジン部品、ロケットの
外壁材などにも有用である。
【0042】以上、本発明の実施例を詳細に説明した
が、本発明は更に別の態様でも実施される。
【0043】実施例においては、混合物に用いる高融点
金属として、平均粒径が2.4μmのタングステン粉末
および平均粒径が2.6μmのモリブデン粉末を用いた
が、これに替えて平均粒径20μm以下のタングステン
粉末やモリブデン粉末を用いても良い。なお、平均粒径
が小さくなり過ぎると取扱いが困難になり、大きくなり
過ぎると均一な分散が行われないという問題が生じ易い
ので、好ましくは0.5〜10μm、更に好ましくは
0.5〜6.0μm程度の平均粒径の粉末を用いるのが
良い。また、高融点金属としてはタングステン或いはモ
リブデンは一方のみでなく、これらが混合されたもので
も良い。
【0044】また、混合物における高融点金属の含有率
は、必要な熱膨張率に応じて適宜定められるものである
が、銀−銅系合金の含有率が低すぎる場合は充分な接合
強度が得られないため、印刷積層時の全ての層で80%
以下であることが必要であり、更に高強度を得るために
は60%以下であることが望ましい。また、金属層は、
銀−銅系合金の含有率と高融点金属の含有率の比率が連
続的に変化する方が熱応力の低減には好ましいが、この
比率の異なる二層以上(すなわち、比率が段階的に変化
する層)で構成されていれば充分な効果が得られる。上
記比率が連続的に変化する金属層を得るには、例えば、
各層間の含有率の差を小さくし、且つできるだけ多層構
造とすれば良い。このようにすれば、接合時の各層界面
での高融点金属と銀−銅系合金の移動の発生にも起因し
て各層界面での急激な上記比率の変化がなくなり、上記
比率が連続的に変化する金属層が得られる。なお、段階
的に変化する場合には、上記比率の異なる三層以上で構
成されていることが熱応力の低減のためには一層好まし
い。
【0045】また、銀−銅系合金は、実施例で示した組
成の他、銀が40〜96重量%、銅が4〜60重量%の
範囲内で合計100%となる組成でも良く、また、必要
に応じて、Niが3重量%以下、Liが0.5重量%以
下、Snが10重量%以下、Inが15重量%以下の範
囲で含まれていても良い。加熱工程における条件は主に
この組成と、接合する金属体、セラミック焼結体によっ
て定められるものであり、温度は650〜950℃、雰
囲気は1×10-3torr以上(好ましくは1×10-4
上)の真空またはAr等の不活性ガス或いはN2 ガス、
2 ガス雰囲気で、0.1〜0.5g/mm2 の荷重を
かけて加熱される。
【0046】また、用いられる活性金属は、チタン(T
i)の他に、Nb、Hf、Zr等でも良く、活性金属は
実施例で述べたように混合物の全てに含有されている
他、任意の一層を形成する混合物の中に含有されていた
り、混合物の積層工程において、任意の層間に活性金属
単独の層として積層されていても良い。活性金属は拡散
し易いため、セラミック焼結体と金属体との間の金属層
の少なくとも一層に存在していれば良いのである。ま
た、活性金属の平均粒径は実施例で示した20μmに限
定されるものではなく、加熱時に充分に拡散されるもの
であれば良いのであって、例えば10μm或いは30μ
m程度のものでも良い。なお、充分な接合強度を得るた
めには、活性金属の銀−銅系合金に対する添加量は0.
1%以上、好ましくは2%以上必要であり、また、活性
金属はセラミック焼結体に過度に拡散すると強度低下を
引き起こすため、前記添加量は25%以下、好ましくは
10%以下、更に好ましくは5%以下であることが必要
である。また、前記のように活性金属単独の層を設ける
場合には、セラミック焼結体への過度の拡散を避けるた
めに、できるだけ金属体側の層間に積層することが望ま
しい。
【0047】また、混合物中にはセラミックス−金属接
合体を構成するセラミック焼結体と同組成のセラミック
原料や、SiO2 等のガラス成分等が含まれていてもよ
い。この場合、その含有量は金属層の熱伝導性や接合強
度を劣化させない程度である必要がある。
【0048】また、セラミック焼結体としては、実施例
で示した他に、スピネル、ムライト、炭化ケイ素、炭化
ホウ素、窒化ホウ素、サイアロン、ジルコン等が利用可
能であり、特にムライト等の誘電率の低い素材は、基板
材料として用いた場合に信号遅延時間が比較的短く、こ
のような用途には特に好適である。なお、これらのセラ
ミック焼結体には、不可避不純物の他、焼結助剤が含ま
れていても良い。焼結助剤としては、実施例で示したも
のの他に、例えば、アルミナに対しては、Y23 、B
aO、Cr2 3 等が、窒化アルミニウムに対しては、
CaO、BaO、SrO、CaCO3 、BaCO3 、S
rCO3 、アルミン酸カルシウム、La2 3 、CeO
2 等が挙げられる。また、その形状は、実施例で示した
板状の他に、角柱状、円柱状等用途に応じたものにする
ことが可能であり、既に積層構造にされている多層基板
等でも良い。更に、本発明の方法によれば、発生する熱
応力が小さいため、比較的低強度のセラミック焼結体に
も金属を接合することが可能である。
【0049】また、金属体としては、実施例で示したも
のの他に、タフピッチ銅、鉄系の鋼材、ニッケル、チタ
ン鋼等が利用可能であり、その形状は、セラミック焼結
体と同様に、板状、角柱状、円柱状等種々のものが用い
られ得る。なお、本発明の製造方法における加熱工程
は、セラミック焼結体、金属体の材質や前記混合物の組
成等に応じて適宜定められるものである。
【0050】更に、本発明のセラミックス−金属接合体
は、セラミック焼結体と金属体との間に介在する金属層
が両者の熱膨張率の差に起因する熱応力を低減するた
め、セラミック焼結体と高い熱膨張率を有する金属体と
を従来よりも高い接合強度と耐久性を与えて接合するこ
とが可能であり、したがって、従来の限界であった10
0×100×0.5mmを越える形状、例えば厚さ5m
m以上の金属体の接合が可能である。例えば、圧電素子
用の半導体モジュール等に用いる場合に、比較的厚い銅
回路板を接合できて、従来にない大電流(50〜60
A)を流すことの可能な基板が得られる。
【0051】また、金属層の形成方法としては、実施例
で述べたセラミック焼結体にペーストを印刷する方法の
他に、例えばドクターブレード法等で作製した、所定の
種類の混合物生シートを積層する方法によっても良く、
印刷法による場合に、比較的厚い(50μm以上)層が
必要であれば同じペーストを重ねて印刷する等の方法に
よれば良い。
【0052】その他、一々例示はしないが、本発明はそ
の主旨を逸脱しない範囲で種々変更を加え得るものであ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例の工程流れ図である。
【図2】図1の積層工程を説明する斜視図である。
【図3】図2の一部断面図である。
【図4】図1に示す工程により製造されたアルミナ接合
基板を示す斜視図である。
【図5】図4の一部断面図である。
【図6】本発明の他の実施例のセラミックス−金属接合
体の一部断面図であり、図5に対応する図である。
【符号の説明】
10:アルミナ基板 16:銅板 20:アルミナ接合基板 22:金属層

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 セラミック焼結体と、該セラミック焼結
    体の少なくとも一部の表面上に形成された金属層と、該
    金属層を介してセラミック焼結体に接合された金属体と
    を含むセラミックス−金属接合体であって、 該金属層は、高融点金属と、銀−銅系合金と、活性金属
    とを含み、該高融点金属の含有率の該銀−銅系合金の含
    有率に対する比率が、前記セラミック焼結体の表面から
    遠ざかるに従って連続的または段階的に小さくされたも
    のであることを特徴とするセラミックス−金属接合体。
  2. 【請求項2】 前記金属体は、前記銀−銅系合金層を介
    して前記金属層に接合されていることを特徴とする請求
    項1のセラミックス−金属接合体。
  3. 【請求項3】 前記セラミック焼結体は基板であり、前
    記金属体は銅板または銅合金板であることを特徴とする
    請求項1のセラミックス−金属接合体。
  4. 【請求項4】 前記金属体の少なくとも一部に回路パタ
    ーンが形成されていることを特徴とする請求項3の金属
    とセラミックスの接合体。
  5. 【請求項5】 前記セラミック焼結体は、アルミナ焼結
    体または窒化アルミニウム焼結体であることを特徴とす
    る請求項1のセラミックス−金属接合体。
  6. 【請求項6】 高融点金属と銀−銅系合金とを含み、該
    高融点金属の含有率の該銀−銅系合金の含有率に対する
    比率の異なる少なくとも二種以上の混合物を用い、セラ
    ミック焼結体の少なくとも一部の表面上に、該比率の大
    きい順に混合物層を形成する積層工程と、 金属体を、該混合物層の前記セラミック焼結体の反対側
    の面に接して位置させる工程と、 活性金属の存在下で加熱処理する加熱工程とを含むこと
    を特徴とするセラミックス−金属接合体の製造方法。
  7. 【請求項7】 前記活性金属は、前記積層工程により形
    成された混合物層内に含まれ、または混合物層外に積層
    されたものであることを特徴とする請求項6のセラミッ
    クス−金属接合体の製造方法。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102004031431B4 (de) * 2003-07-04 2008-04-10 Hitachi Powdered Metals Co., Ltd., Matsudo Verfahren zur Herstellung von gesinterten Metallkeramikschichtkörpern
JP2015209347A (ja) * 2014-04-24 2015-11-24 株式会社ノリタケカンパニーリミテド 接合材およびその利用
JPWO2019044752A1 (ja) * 2017-08-29 2019-11-07 京セラ株式会社 回路基板およびこれを備える電子装置
WO2023063396A1 (ja) * 2021-10-15 2023-04-20 京セラ株式会社 接合体、電子部品用筐体およびダイヤフラム支持体、ならびに接合体の製造方法
CN116477969A (zh) * 2023-04-27 2023-07-25 无锡湃泰电子材料科技有限公司 一种陶瓷金属化封装用活性钼-银铜钛浆料及其制备方法

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102004031431B4 (de) * 2003-07-04 2008-04-10 Hitachi Powdered Metals Co., Ltd., Matsudo Verfahren zur Herstellung von gesinterten Metallkeramikschichtkörpern
JP2015209347A (ja) * 2014-04-24 2015-11-24 株式会社ノリタケカンパニーリミテド 接合材およびその利用
JPWO2019044752A1 (ja) * 2017-08-29 2019-11-07 京セラ株式会社 回路基板およびこれを備える電子装置
WO2023063396A1 (ja) * 2021-10-15 2023-04-20 京セラ株式会社 接合体、電子部品用筐体およびダイヤフラム支持体、ならびに接合体の製造方法
CN116477969A (zh) * 2023-04-27 2023-07-25 无锡湃泰电子材料科技有限公司 一种陶瓷金属化封装用活性钼-银铜钛浆料及其制备方法

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