JPH06326226A - 冷却装置 - Google Patents

冷却装置

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JPH06326226A
JPH06326226A JP5327324A JP32732493A JPH06326226A JP H06326226 A JPH06326226 A JP H06326226A JP 5327324 A JP5327324 A JP 5327324A JP 32732493 A JP32732493 A JP 32732493A JP H06326226 A JPH06326226 A JP H06326226A
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JP
Japan
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substrate
cover plate
refrigerant
cooling device
coolant
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Application number
JP5327324A
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English (en)
Inventor
Koichiro Kawano
浩一郎 川野
Hiroshi Mizukami
浩 水上
Hideo Iwasaki
秀夫 岩崎
Katsumi Kuno
勝美 久野
Masaru Ishizuka
勝 石塚
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73251Location after the connecting process on different surfaces
    • H01L2224/73253Bump and layer connectors

Landscapes

  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 冷媒を流す際の圧力損失を低減し、半導体素
子等の破壊防止が可能な冷却装置を提供すること 【構成】 基板1の一の主面1aに、複数の溝2を形成
することにより、複数のフィン7を構成し、フィン7の
頂面は、例えば基板1の周縁部よりも高さが低くなるよ
うにすることにより、基板1の一の主面1a上に、その
全面を覆うように張り合わされた貫通孔4,5を有する
カバープレート3の対向面との間に間隙を形成して、基
板1とカバープレート3との間に形成される領域を冷媒
流路として利用する際の流路面積を拡大することによ
り、冷媒が流れる際の圧力損失を低減することが可能な
冷却装置。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、例えば基板に搭載され
た半導体素子等を冷却するための冷却装置に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、半導体装置の技術進歩は目ざまし
く、特に最近は種々の分野から、半導体装置の小型化及
び高集積化の要請が強い。かかる要請に応えるために
は、半導体装置内で発生する熱の排除に関する問題を解
決する必要があり、その中で次のような冷却装置が提案
されている。
【0003】以下に従来の冷却装置の例を図9を参照し
つつ説明する。図9は、従来の冷却装置の概略を示すも
のであり、図9(a)は分解斜視図、図9(b)は外観
斜視図、図9(c)は部分断面図(A−A断面図)であ
る。
【0004】図に示すように、半導体基板1の一の主面
1aには複数の溝2が設けられており、半導体基板1の
他の主面1bには、半導体素子6が設けられている。溝
2は一の主面1aの周縁部を残すようにして、所定の間
隔でほぼ平行に設けられている。
【0005】また、半導体基板1の一の主面1a上に
は、そのほぼ全面を覆うように、カバープレート3が張
り合わされており、このカバープレート3には、上記し
た各溝2の両端部に対応し、各溝2の長手方向と直交す
る方向に延びた貫通孔4,5が形成されている。これら
の貫通孔4,5には、接続カバー(図示省略)が取り付
けられ、それぞれ冷媒供給口、冷媒排出口として、異な
る冷媒流路(図示省略)に接続される。そして冷媒供給
源(図示省略)から一の冷媒流路に供給された冷媒は、
一の冷媒流路から一方の貫通孔4に流れ、ここで半導体
基板1に設けられた複数の溝2の一端に分配されるよう
に送り込まれる。送り込まれた冷媒は、各溝2内を他端
側に流れ、他方の貫通孔5で集約されて、他の冷媒流路
に送り出される。このように、半導体基板1の一の主面
に設けられた複数の溝2を冷媒流路として、そこに冷媒
を流すことにより、他の主面1bに設けられた半導体素
子6が冷却される。
【0006】しかし、上記した従来技術において、複数
の溝2により構成される各冷媒流路は、その流路断面が
非常に小さく、流路長さが比較的長いことから、冷媒を
流す際の圧力損失が大きくなる。したがって、冷媒は冷
媒流路内を流動しにくくなり、所定の冷却性能が得られ
ず、そのために半導体素子が破壊されおそれがあった。
【0007】以上、半導体素子の冷却装置について説明
したが、かかる問題は半導体素子のみならず、他の電子
部品あるいは冷却を必要とする発熱体に用いられる冷却
装置に共通するものである。
【0008】次に、半導体素子を冷却するための冷却装
置の実装構造に関する従来技術について説明する。図1
0は、従来の冷却装置の実装構造を示した断面図であ
る。従来は、半導体素子を搭載した半導体チップ31の
裏面にバネ32によって金属スタッド33を押し付ける
ことにより、半導体チップ31で発生した熱を金属スタ
ッド33から熱伝導板34へと伝え、最終的には冷媒3
5により冷却を行っていた。
【0009】ところが、この場合、半導体チップの大き
さに比べて、金属スタッド33等からなる冷却装置が大
きな構造となり、電子機器全体のコンパクト化に支障を
来たしていた。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】以上説明したように、
従来の冷却装置では、冷媒を流す際の圧力損失が大きい
ため、所定の冷却性能が得られず、半導体素子等が破壊
されるおそれがあった。そこで、本発明では、かかる欠
点を除去し、冷媒を流す際の圧力損失を低減し、半導体
素子等の破壊防止が可能な冷却装置を提供するととも
に、電子機器全体のコンパクト化を可能にする冷却装置
の実装構造をも併せて提供することを目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明では、基板と、この基板の少なくとも一方の
主面側に取着されるカバープレートと、このカバープレ
ートに冷媒供給口として設けられる前記基板に対して垂
直方向に貫通した第1の貫通孔と、前記カバープレート
に冷媒排出口として設けられる前記基板に対して垂直方
向に貫通した第2の貫通孔とを具備し、前記基板あるい
は前記カバープレートの対向面のうち少なくとも一方に
凹凸形状が形成され、この凹凸形状を構成する凸部の一
部もしくは全部と前記基板あるいは前記カバープレート
のいずれかの対向面との間に間隙が形成され、前記基板
と前記カバープレートとの間に形成される領域が冷媒流
路として利用されることを特徴とする冷却装置を提供す
る。
【0012】
【作用】上記した本発明の構成によれば、例えば、基板
の一の主面側に凹凸形状を形成し、カバープレートが基
板に取着された際、この凹凸形状を構成する凸部と、カ
バープレートの対向面との間に間隙を形成することによ
り、前記基板と前記カバープレートとの間に形成される
領域を冷媒流路として利用する際の流路面積を拡大する
ことができるため、冷媒が流れる際の圧力損失を低減す
ることができる。また、本発明にかかる冷却装置を用い
ることにより、冷却装置のコンパクトな実装が実現でき
る。
【0013】
【実施例】本発明の実施例について、図面を参照しつつ
詳細に説明する。ここでは、主に、半導体素子の冷却装
置について説明するが、本発明は、この場合に限定され
ず、他の電子部品あるいは冷却を必要とする種々の発熱
体にも適用が可能である。
【0014】図1及び図2は、本発明に係る冷却装置の
第1実施例を示したものである。図1(a)は分解斜視
図、図1(b)は外観斜視図、図2(a)乃至(d)
は、図1(b)のA−A断面を示した部分断面図であ
る。ここで、図9に示した部分と同一部分または同一機
能を有する部分については同一番号を付すこととする。
【0015】本実施例に係る冷却装置は、例えば一辺が
約15mmの方形の基板1の一の主面1aに、複数の溝
2を化学エッチング等の公知の手法により形成すること
により、複数のフィン7を構成する。溝2は、例えば、
幅が50μm程度で、深さが300μm程度に設定され
ており、各溝2は、ほぼ等間隔で平行に形成されてい
る。ここで、基板1の周縁部は残し、フィン7の頂面
は、例えば図1(a)に示すように、この周縁部よりも
高さが低くなるようにする。
【0016】また、基板1の一の主面1a上には、その
全面を覆うようにカバープレート3が張り合わされてお
り、このカバープレート3には、貫通孔4,5が形成さ
れている。これらの貫通孔4,5には、接続カバー(図
示省略)が取り付けられ、それぞれ冷媒供給口、冷媒排
出口として、異なる冷媒流路(図示省略)に接続され
る。そして冷媒供給源(図示省略)から一の冷媒流路に
供給された冷媒は、一の冷媒流路から一方の貫通孔4に
送り込まれ、基板1とカバープレート3との間の領域を
経て、他方の貫通孔5から他の冷媒流路に送り出され
る。これにより、基板1の他の主面1b上に設けられた
半導体素子6が冷却される。
【0017】図2は、基板1とカバープレート3との間
の領域、即ち冷却装置に設けられた冷媒流路の断面を示
す部分断面図である。本実施例に係る冷却装置において
は、例えば、図2(a)に示すように、フィン7の頂面
とカバープレート3との間に一定の間隙を設け、複数の
溝2により構成される微小な冷媒流路を連結して流路面
積を拡大することにより、冷媒が流れる際の圧力損失の
低減を図っている。これにより、冷媒が冷却装置に設け
られた冷媒流路内をスムーズに流動するようになり、十
分な冷却効果が発揮されるようになるため、冷却対象で
ある半導体素子が破壊される心配もなくなる。
【0018】図2(b)乃至(d)は、上記した図2
(a)において示した冷媒流路の変形例を示したもので
ある。フィン7の頂面とカバープレート3との間の間隙
は、すべてフィン7について設ける必要はなく、図2
(b)に示すように、フィン7bのようにその頂面がカ
バープレート3に接触して冷媒流路をいくつかに区分す
るようにしても良い。この場合、圧力損失は多少増大す
るが、従来に比べればその値を低減でき、所望の効果を
得ることができる。また、図2(c)に示すように、フ
ィン7の高さ、即ち、フィン7の頂面とカバープレート
3との間の間隙は一定でなくても良く、フィン7a,7
cのように高さを適宜変えた構成としても良い。図2
(d)は、(b)と(c)を組み合わせたものであり、
このような構成でも同様の作用・効果が得られる。
【0019】なお、本実施例では、基板1側に溝2を設
けることによりフィン7を形成しているが、これをカバ
ープレート3側に設けてもやはり同様の効果が得られ
る。また、冷却を必要とする半導体素子6を、カバープ
レート3側に設けても良い。
【0020】図3は、本発明に係る冷却装置の第2実施
例を示したものである。図3(a)は分解斜視図、図3
(b)は外観斜視図である。ここで、図1に示した部分
と同一部分または同一機能を有する部分については同一
番号を付すことにより、重複説明を省略する。本実施例
は、第1実施例におけるカバープレート3に改良を加え
たものである。つまり、カバープレート3には、冷媒の
供給口及び排出口を形成するため、3箇所に貫通孔4
a,4b,5が設けられている。この貫通孔のうち、カ
バープレート3の両端側に位置する貫通孔4a,4bを
冷媒供給口として適用すれば、供給された冷媒は、基板
1の周縁部から中心部に向かって流れる。そして、残り
の貫通孔5を冷媒排出口として適用することにより、基
板1の中心部近傍から冷媒を排出することができる。な
お、基板1上に設けられたフィン7の構成に関しては第
1実施例(図2参照)と同様であるため、ここでは重複
説明を省略する。
【0021】以上のような構成によれば、冷媒流路の長
さが従来の半分で済むことから、第1実施例に加えてさ
らに圧力損失を低減することが可能となる。したがっ
て、より冷却効率の高い冷却装置の構築が可能となる。
【0022】一方、上記とは逆に、カバープレート3の
中心部近傍に位置する貫通孔5を冷媒供給口とし、残り
の貫通孔4a,4bを冷媒排出口とすることにより、冷
媒を基板1の中心部近傍から供給し、基板1の周縁部か
ら排出するようにしても上記と同様の作用・効果が得ら
れる。
【0023】図4は、本発明に係る冷却装置の第3実施
例を示したものである。図4(a)は分解斜視図、図4
(b)は外観斜視図である。ここで、図1に示した部分
と同一部分または同一機能を有する部分については同一
番号を付すことにより、重複説明を省略する。本実施例
は、第1実施例における基板1及びカバープレート3の
双方に改良を加えたものである。本実施例においては、
基板1のほぼ中央で仕切壁8により、独立した溝2a,
2bを設け、冷媒流路を第1実施例のほぼ半分の長さと
している。これに対応して、カバープレート3には、冷
媒の供給口及び排出口を形成するため、4箇所に貫通孔
4a,4b,5a,5bが設けられている。即ち、これ
らの貫通孔のうち、仕切壁8で仕切られた2つの領域ご
とに各々2つの貫通孔を位置させ、その一方を冷媒供給
口、他方を冷媒排出口として適用する。例えば、カバー
プレート3の両端側に設けられた貫通孔4a,4bを冷
媒供給口として適用すれば、冷媒は基板1の周縁部から
中心部へ向かって流れる。そして、他方の貫通孔5a,
5bを冷媒排出口として適用することにより、基板1の
中心部近傍から冷媒を排出することができる。なお、基
板1上に設けられたフィン7a,7bの構成に関しては
第1実施例(図2参照)と同様であるため、ここでは重
複説明を省略する。
【0024】以上のような構成によれば、第2実施例と
同様に、冷媒流路の長さが従来の半分で済むことから、
第1実施例に加えてさらに圧力損失を低減することが可
能となる。
【0025】一方、上記とは逆に、カバープレート3の
中心部近傍に位置する貫通孔5a,5bを冷媒供給口と
し、残りの貫通孔4a,4bを冷媒排出口とすることに
より、冷媒を基板1の中心部近傍から供給し、基板1の
周縁部から排出するようにしても良い。また、一方の領
域では、冷媒を基板1の周縁部の貫通孔4a(4b)か
ら供給し、基板1の中心部近傍の貫通孔5a(5b)か
ら排出するようにし、他方の領域では、反対に基板1の
中心部近傍の貫通孔5b(5a)から供給し、基板1の
周縁部の貫通孔4b(4a)から排出するようにしても
良い。
【0026】図5及び図6は、本発明に係る冷却装置の
第4実施例を示したものである。図5(a)は分解斜視
図、図5(b)は外観斜視図、図6(a)及び(b)
は、図5(b)のA−A断面を示した部分断面図であ
る。ここで、図1に示した部分と同一部分または同一機
能を有する部分については同一番号を付すことにより重
複説明を省略することとする。
【0027】第1実施例においては、冷却装置内におけ
る冷媒の主流方向と、溝2及びフィン7の長手方向が一
致していたのに対し、本実施例では、カバープレート3
に設けられた貫通孔4,5が基板1上に形成される溝2
及びフィン7の長手方向と同一方向に延びた構成とし
て、冷却装置内における冷媒の主流方向が、溝2及びフ
ィン7の長手方向と直交するように構成されている。こ
のため、冷媒が冷媒流路内を流動する際、フィン7によ
って流れが撹乱され、熱伝達特性が向上する。また、図
6(a)及び(b)に示すように、本実施例において
は、すべてのフィン7の頂面とカバープレート3との間
に間隙を設ける必要がある。しかし、その間隙は一定で
なくても良く、フィン7a,7bのように高さを適宜変
えた構成としても良い。なお、その他の作用・効果に関
しては第1実施例と同様である。
【0028】図7は、本発明に係る冷却装置の第5実施
例を示したものである。図7(a)は分解斜視図、図7
(b)は部分断面図である。本実施例においては、第1
実施例における基板1に相当する中板11の両主面に、
複数の溝12a,12bを化学エッチング等の公知の手
法により形成することにより、複数のフィン17a,1
7bを構成する。各溝12a,12bは、ほぼ等間隔で
平行に形成されている。ここで、中板11の周縁部は残
し、フィン17a,17bの頂面は、例えば図7
(a),(b)に示すように、この周縁部よりも高さが
低くなるようにする。
【0029】中板11の両主面上には、その全面を覆う
ようにカバープレート13a,13bが張り合わされて
おり、これらのカバープレート13a,13bには、冷
媒の供給口及び排出口を構成するするため、貫通孔14
a,15a並びに14b,15bがそれぞれ設けられて
いる。また、カバープレート13aの中板11に接続さ
れる主面と反対側の主面上には半導体素子16が設けら
れている。
【0030】本実施例においては、例えば、カバープレ
ート13aの貫通孔14a及びカバープレート13bの
貫通孔15bを冷媒供給口として適用し、残りの貫通孔
15a,14bを冷媒排出口として適用することによ
り、中板11の両主面とカバープレート13a,13b
との間に設けられた冷媒流路に、冷媒を対向流となるよ
うに流動させることができる。これにより、冷媒の流れ
方向の温度勾配が緩和され、冷却装置の内の温度分布を
平均化することが可能となる。
【0031】また、上記した各実施例と同様に、図7
(b)に示すようにフィン17a,17bの頂面とカバ
ープレート13a,13bとの間に一定の間隙を設け、
複数の溝12a,12bにより構成される微小な冷媒流
路を連結して流路面積を拡大することにより、冷媒が流
れる際の圧力損失の低減を図っている。これにより、冷
媒が冷却装置に設けられた冷媒流路内をスムーズに流動
するようになり、十分な冷却効果が発揮されるようにな
るため、冷却対象である半導体素子が破壊される心配も
なくなる。
【0032】なお、図7においては、半導体素子16を
一方のカバープレート13aのみに設けているが、他方
のカバープレート13bの中板11に接続される主面と
反対側の主面上にも半導体素子を設けて、同時に冷却す
るようにしても良い。また、フィン17a,17bの構
成に関しては第1実施例(図2参照)と同様に考えるこ
とが可能であり、ここでは重複説明を省略する。さら
に、本実施例と第2乃至第4実施例とを組み合わせた構
成としても良い。
【0033】図8は、本発明に係る冷却装置の第6実施
例を示したものである。図8(a)は分解斜視図、図8
(b)は部分断面図である。第5実施例においては、冷
却装置の冷媒流路を構成するために溝12a,12b及
びフィン17a,17bが中板11上に形成されていた
が(図7参照)、本実施例においては、それらが中板2
1の両主面に張り合わせられるカバープレート23a,
23bの対向面上に設けられている。即ち、カバープレ
ート23a,23bの周縁部の対面する2箇所に冷媒の
供給口及び排出口を構成する貫通孔24a,25a並び
に24b,25bが設けられており、カバープレート2
3a,23bの一主面上の上記貫通孔に挟まれた部分に
溝22a,22bを形成することにより、複数のフィン
27a,27bが構成されている。また、カバープレー
ト23aの中板21に接続される主面と反対側の主面上
には半導体素子16が設けられている。このような構成
によっても、第4実施例と同様の作用・効果が得られ
る。
【0034】次に、本発明にかかる冷却装置の実装構造
について図11を参照しつつ説明する。図11の(a)
は本発明にかかる冷却装置の実装構造の一実施例を示す
断面図、(b)はその部分拡大図である。
【0035】配線基板41に半田バンプ42を介して接
続されている半導体チップ43には、上述したような数
10μmオーダーの溝が複数形成されたチャンネルプレ
ート44aと、冷媒供給口および冷媒排出口を有するカ
バープレート44bを張り合わせることにより形成され
るマイクロチャンネル熱交換器44が熱的に接続されて
いる。かかる熱的接続は、マイクロチャンネル熱交換器
44がシリコン等の熱伝導性の良好な材料で形成されて
いれば、半導体チップに直接接着することにより達成で
き、接触部分の熱抵抗を充分小さくすることが可能であ
る。ただし、熱応力の発生等が予想される場合は、熱伝
導性グリス等の介在物を介して接続しても良い。
【0036】このような実装構造を有する複数のマイク
ロチャンネル熱交換器44を連結するとともに、それぞ
れに冷媒を供給するための冷媒流路45を有する冷媒供
給ホルダ46が設けられている。この冷媒供給ホルダ4
6は、カバープレート44bに接着等により接続される
が、カバープレート44bを設けず、直接チャンネルプ
レート44aに接続しても良い。冷媒供給ホルダ46に
設けられた冷媒流路46には、マイクロチャンネル熱交
換器44のカバープレート44bに設けられた冷媒供給
口及び冷媒排出口に連結される流路が設けられている。
【0037】このようにして、発熱体である半導体チッ
プ43に対して冷却装置であるマイクロチャンネル熱交
換器44が実装され、冷媒供給ホルダ46内の冷媒流路
45を流動する冷媒によって、半導体チップ43が冷却
される。
【0038】本実施例のように、マイクロチャンネル熱
交換器44を用いれば冷却装置自体を小型化できるとと
もに、冷媒の全流量も微小にすることができるため、冷
媒供給ホルダ46をも小型化することができ、冷却装置
のコンパクトな実装が可能となり、電子機器全体のコン
パクト化を実現することが可能となる。
【0039】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
冷却装置に設けられた冷媒流路内を冷媒が流れる際の圧
力損失を低減させることができるため、冷媒が冷媒流路
内をスムーズに流動するようになり、十分な冷却効果が
発揮されるようになり、冷却対象である半導体素子等の
破壊を防止することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る冷却装置の第1実施例を示す斜視
図。
【図2】本発明に係る冷却装置の第1実施例を示す部分
断面図。
【図3】本発明に係る冷却装置の第2実施例を示す斜視
図。
【図4】本発明に係る冷却装置の第3実施例を示す斜視
図。
【図5】本発明に係る冷却装置の第4実施例を示す斜視
図。
【図6】本発明に係る冷却装置の第4実施例を示す部分
断面図。
【図7】本発明に係る冷却装置の第5実施例を示す図。
【図8】本発明に係る冷却装置の第6実施例を示す図。
【図9】従来の冷却装置の概略を示す図。
【図10】従来の冷却装置の実装構造を示した断面図。
【図11】本発明にかかる冷却装置の実装構造を示す
図。
【符号の説明】
1 基板 2 溝 3 カバープレート 4,5 貫通孔 6 半導体素子 7 フィン 41 配線基板 42 半田バンプ 43 半導体チップ 44 マイクロチャンネル熱交換器 45 冷媒流路 46 冷媒供給ホルダ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 久野 勝美 神奈川県川崎市幸区小向東芝町1番地 株 式会社東芝研究開発センター内 (72)発明者 石塚 勝 神奈川県川崎市幸区小向東芝町1番地 株 式会社東芝研究開発センター内

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板と、この基板の少なくとも一方の主
    面側に取着されるカバープレートと、このカバープレー
    トに冷媒供給口として設けられる前記基板に対して垂直
    方向に貫通した第1の貫通孔と、前記カバープレートに
    冷媒排出口として設けられる前記基板に対して垂直方向
    に貫通した第2の貫通孔とを具備し、前記基板あるいは
    前記カバープレートの対向面のうち少なくとも一方に凹
    凸形状が形成され、この凹凸形状を構成する凸部の一部
    もしくは全部と前記基板あるいは前記カバープレートの
    いずれかの対向面との間に間隙が形成され、前記基板と
    前記カバープレートとの間に形成される領域が冷媒流路
    として利用されることを特徴とする冷却装置。
JP5327324A 1993-03-15 1993-12-24 冷却装置 Pending JPH06326226A (ja)

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