JPH0630370B2 - プローブ装置 - Google Patents

プローブ装置

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JPH0630370B2
JPH0630370B2 JP21455787A JP21455787A JPH0630370B2 JP H0630370 B2 JPH0630370 B2 JP H0630370B2 JP 21455787 A JP21455787 A JP 21455787A JP 21455787 A JP21455787 A JP 21455787A JP H0630370 B2 JPH0630370 B2 JP H0630370B2
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wafer
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suction
chuck
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芳彦 中村
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Tokyo Electron Ltd
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  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は、被搬送体を吸着して搬送する機構を有するプ
ローブ装置に関する。
(従来の技術) この種のプローブ装置は、ウエハの搬送、例えば、半導
体ウエハなどの被検査体の電気的特性を検査する際の被
検査体の搬送機構としてローダ部が準備されている。
このプローブ装置は、第5図に示すように、ローダ部1
と測定部7とから構成されている。そして、前記ローダ
部1とは、ウエハカセット2よりウエハ3を搬送チャッ
ク4によって取り出し搬送し、このウエハ3をアライメ
ントステージ5でプリアライメントするものである。
この後、真空チャック6によって前記ウエハ3を前記測
定部7の測定ステージ8に受渡し、ここで最終的なアラ
イメントを実行して、プローブカード等によって前記ウ
エハ3の電気的特性を検査するようになっている。
ここで、前記搬送チャック4は、同図に示すように略コ
字状に形成され、その載置面に前記ウエハ3を真空吸着
して同図の矢印方向に移動自在となっている。そして、
その中央切欠部を介して前記アライメントステージ5が
上昇することで、前記搬送チャック4よりウエハ3を受
けとるようになっている。
尚、前記搬送チャック4の載置面には、コ字状の外形に
沿って溝4aが形成され、この溝4aを介して前記ウエ
ハ3を真空吸着するようになっている。
(発明が解決しようとする問題点) 前記ウエハ3は、通常その平面度が極めて高くなってい
るので、前記搬送チャック4上に載置された場合、前記
溝4aを完全に密閉するので、十分な吸着効果が得ら
れ、この場合には搬送上問題点はない。
しかし、中には平面度が悪く、第6図(A),(B)に
示すように反り返ったウエハ3もある。
このような反りのあるウエハ3が前記搬送チャック4に
載置された場合、前記溝4aを完全に密閉することが出
来ず、十分な吸着効果が得られないという問題があっ
た。
このことは、第6図(A)のように上側に反り返ったウ
エハ3の場合に特に問題であり、従来よりこの種のウエ
ハ3をも確実に真空吸着して搬送する吸着搬送機構を備
えたプローブ装置が提供されていなかった。
そこで、本発明の目的とするところは、上述した従来の
問題点を解決し、反りのある被搬送体であっても、十分
な吸着力で吸着して搬送することができる着搬送機構を
備えたプローブ装置を提供することにある。
[発明の構成] (問題点を解決するための手段) 本発明は、被検査体を収納する収納部と、上記収納部内
の被検査体を略コ字状の載置面で真空吸着して搬送する
搬送チャックと、この搬送チャックの搬送経路上で昇降
かつ回動自在に配置され、前記搬送チャックの前記載置
面の中央切欠部を介して上昇して前記被検査体を受け取
り、これを真空吸着して回動することにより、前記被検
査体をアライメントするアライメントステージと、アラ
イメントされた被検査体をプローブ測定する測定ステー
ジとを有するプローブ装置であって、 前記搬送チャックは、前記載置面より僅かに高い位置に
吸着面を具備した吸着パッドを略コ字状の載置面の少な
くとも2ヵ所の位置に配置したことを特徴としている。
(作用) 本発明では略コ字状の載置面に被検査体を真空吸着する
場合、吸着パッドを略コ字状の載置面の少なくとも2ヵ
所に配置することで、被検査体に対する集中的な吸着が
行われる。つまり、略コ字状の載置面に沿って、長手状
の溝を形成した場合に比べ、吸着領域を小さくすること
ができ、これによって、仮令、第6図(A),(B)に
示すように被検査体が反り返っていても、局部的な吸着
が可能となり、確実に真空吸着することができる。
また、搬送チャックが、アライメントステージとの干渉
を防ぐために略コ字状に形成されている場合、前記吸着
パッドは、被検査体の中心とは離れた位置で吸着せざる
を得ないので、一つの吸着パッドでは、不安定であり、
このため少なくとも2箇所にこのような吸着パッドを設
けて、確実な吸着を図ることができる。
(実施例) 以下、本発明装置を半導体ウエハのプローブ装置におけ
るローダ部に適用した一実施例を、図面を参照して具体
的に説明する。
先ず、本発明が適用されるプローブ装置の全体構成につ
いて、第3図,第4図を参照して説明すると、このプロ
ーブ装置は大別してローダ部10と測定部40とから構
成されている。
ローダ部10の内部構成として、その前面側にはカセッ
ト収納部11が設けられている。この収納部11にはモ
ータ12によって回動可能な例えば4本のガイド軸13
が垂直に設置され、2つのカセット載置台14が2本の
ガイド軸15にそれぞれ支持されている。そして、前記
ガイド軸15の回動によって載置台14を昇降移動する
ようになっている。また、このカセット載置台14には
カセット16が載置され、このカセット16には被検査
体であるウエハ18が各々適当な間隔を設けて25枚収
納されるようになっている。
このカセット17からウエハ18を搬出入するための搬
送チャック30は、モータ20に連結した水平に配置さ
れたボルト軸21にナット部22を介して支持棒23を
垂直に設け、ボルト軸21の回転により該軸方向に沿っ
て移動する支持棒23に取り付けられている。そして、
この搬送チャック30は、ウエハ18の受け渡しの相対
関係から略コ字状に形成されいる。
前記搬送チャック30のスライド移動経路途上には、ウ
エハ18を載置可能なアライメントステージ24が設け
られ、モータ25の駆動によってZ方向,θ方向の移動
が可能となっている。尚、前記搬送チャック30および
前記アライメントステージ24については詳細を後述す
る。
アライメントステージ24より前記測定部40の測定ス
テージ41にウエハ18を回転搬送する真空吸着アーム
26が設けられ、このアーム26はモータ27の駆動に
よって水平に360°回転可能となっている。
ローダ部10の筐体上部には、支柱28aが垂直に立設
され、この支柱28aには水平に回転可能なアーム28
bが懸架されている。そして、このアーム28bの先端
にはチップを拡大して見るためのマイクロスコープ28
cが設置され、垂直方向に例えば20mm上下動可能とな
っている。また、ローダ部10の動作を制御するために
CPU(図示せず)が内蔵され、ローダ部10の筐体上
部に着脱自在に配置されたキーボード29に接続されて
いる。
前記測定ステージ41は周知の手段によってX方向,Y
方向,Z方向及びθ方向の駆動が可能であり、また、測
定位置において、測定ステージ41と対向した位置に
は、プローブカード(図示せず)が設定されていて、周
知の手段でウエハ18の電気的特性の測定を行うように
なっている。
次に、前記搬送チャック30およびアライメントステー
ジ24について、第1図(A),(B)および第2図
(A),(B)を参照して説明する。
前記搬送チャック30は、前記アライメントステージ2
4の昇降移動時の干渉を防ぐため、中央切欠部31を具
備した略コ字状の載置面32を具備し、例えば直角に折
れ曲がる角部に円弧状の逃げ部33を形成している。
前記載置面32の内部には、真空通路34が形成され、
この真空通路34と連通するピン35が前記逃げ部33
の中央に向けて突出形成されている。尚、このピン35
の先端には多数の小孔(図示せず)が穿設されている。
そして、前記逃げ部33において前記ピン35に嵌入さ
れて吸着パッド36が支持されている。この吸着パッド
36は、柔軟剤例えばシリコーンゴム等で形成され、前
記ピン35を嵌合する孔部37と、この孔部37に連通
した上面開口部38とを具備している。尚、前記吸着パ
ッド36の開口部38は、前記載置面32より僅かに高
くなっている。本実施例の場合、前記載置面32の直径
を13mmであり、この載置面32より前記吸着パッド3
6は例えば0.3mm高くなっている。
前記アライメントステージ24は、第2図(A)(B)
に示すように真空通路24aに連通する上面凹部24b
と、この凹部24bと連通して円形状に切り欠かれた溝
24cと、この溝24cに嵌入して支持されるOリング
24dと、前記凹部24b,溝24c以外の面に形成し
た梨地面24eとを具備して構成されている。
前記Oリング24dは、摩擦計数の高い部材例えはシリ
コーンゴムで形成され、かつ、その硬度は通常の値より
も低い例えば50度程度のものが選択されている。ま
た、このOリング24dは、アライメントステージ24
の前記梨地面24eよりも例えば0.1mm程度高くなっ
ている。
次に、作用について説明する。
ローダ部10でのウエハ18の搬送について説明する
と、先ず、アライメントステージ24を搬送チャック3
0の移動面よりも下方に下降させた状態で、搬送チャッ
ク30が2つのカセット16,16のうちのいずれか一
方に移動して、その載置面32上にウエハ18を一枚載
置する。
ここで、前記搬送チャック30は、2つの吸着パッド3
6によってウエハ18を吸着することになる。すなわ
ち、搬送チャック30の開口部38,ピン35,載置面
32内部の真空通路34によってバキューム経路が形成
されるので、ウエハ18が前記吸着パッド36に吸着さ
れて搬送チャック30に載置固定されることになる。
しかも、前記吸着パッド36は柔軟材で形成され、その
開口部38が載置面32よりも僅かに高くなっているの
で、第6図(A),(B)に示すような反り返ったウエ
ハであっても、吸着パッド36はその柔軟性によりウエ
ハ18の面に追従して変形し、開口部38が完全に密閉
されることになる。この結果、上述したような反り返っ
たウエハにあっても、十分な吸着力で吸着することがで
きる。
さらに、ウエハ18は、その中心が搬送チャック30の
中央切欠部31の中心と一致するように載置されるの
で、一つの吸着パッド36だけでは、載置面32上での
ウエハ18の載置固定を安定して実行することが困難で
あるが、本実施例のように2箇所の位置に吸着パッド3
6を配置しているので、ウエハ18を確実に載置固定す
ることが可能となる。
尚、本実施例では、吸着パッド36は、ピン35に嵌入
して支持する構成であるので、この吸着パッド36が摩
擦等によって損傷した場合には、中央切欠部31に向け
てこれを引き抜くだけで容易に交換可能である。
上述したようにしてカセット16内の一枚のウエハ18
を搬送チャック30に載置固定したら、この搬送チャッ
ク30をアライメントステージ24の上方まで移動させ
る。
ここで、前記搬送チャック30の吸着を解除すると共
に、前記アライメントステージ24を上昇移動させ、搬
送チャック30の中央切欠部31を介して搬送チャック
30の載置面32よりも上方の位置で停止する。この結
果、ウエハ18は搬送チャック30より離れてアライメ
ントステージ24上に載置されることになる。
この後、アライメントステージ24上で、ウエハ18を
真空吸着する。
ここで、本実施例では、アライメントステージ24にO
リング24dを設けている。この理由は、下記の通りで
ある。
すなわち、ウエハ18の種類としての外形の小さいもの
があり、これに合わせてアライメントステージ24の外
形も小さくするというニーズがある。
ここで、外形を小さくすると、ウエハ18との接続面積
が少なくなり、とくにプリアライメント動作としてウエ
ハ18を回転させなければならないが、アライメントス
テージ24との間の摩擦力が小さいため、この回動時に
すべりが生じてウエハ18が追従して回転しないという
問題があった。
そこで、本実施例では、Oリング24dによってアライ
メントステージ24の口径の小型化に伴う摩擦力の低減
を補償している。従って、Oリング24dとしては、摩
擦係数の大きいものほど好ましく、しかも真空吸着時に
はOリング24dが梨地面24eとほぼ面一にならなけ
れば十分な吸着効果が得られないので、比較的柔軟性の
高い材質を選択することが好ましい。尚、Oリング24
dを埋設する溝24cを真空通路24aと連通しておけ
ば、この溝24cでもウエハ18を吸着するので、Oリ
ング24dと梨地面24eとを面一とする動作を助長す
ることができる。
尚、このような効果を得るためには、必ずしもOリング
を接着するものに限らず、摩擦係数の高い部材を接着等
によって張り付けることも可能であるが、摩耗等に起因
する交換の手間を考えれば、Oリング24dを嵌入する
構成が優れている。
上記のような動作によって、アライメントステージ24
でのウエハ18の吸着およびプリアライメントを実行し
た後、真空吸着アーム26をウエハ18下面に移動さ
せ、この状態でアライメントステージ24を下降するこ
とで、ウエハ18を真空吸着アーム26に受け渡す。そ
して、この真空吸着アーム26を測定部40の測定ステ
ージ41上に移動させ、ウエハ18を測定部40に受け
渡すことで、ローダ部10のウエハ供給動作が終了す
る。
そして、測定部40で測定終了後は、供給ルートとは逆
のルートによってウエハ18をカセット16に戻し搬送
し、以降これを繰り返してカセット16内の全ウエハ1
8の測定を実行することになる。
尚、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、本
発明の要旨の範囲内で種々の変形実施が可能である。
本発明は、吸着パッド36を搬送チャック30に2つ以
上設けるものであればよく、その安定性を高めるのであ
れば3つの吸着パッド36を配置するものが好ましい。
また、吸着パッド36の材質および取付け構造は、前記
実施例は一例にすぎず、柔軟性の高い他の材質を別の取
り付け構造により使用することもできる。
[発明の効果] 以上説明したように本発明によれば、たとえ被検査体の
平面度が悪く反り返っていても、このような被検査体を
十分な吸着力で搬送チャックに載置固定して搬送するこ
とができる。
【図面の簡単な説明】
第1図(A)は搬送チャックの平面図、第1図(B)は
吸着パッドの取り付け構造を示す断面図、第2図(A)
はアライメントステージの平面図、第2図(B)はアラ
イメントステージの断面図、第3図は本発明によるプロ
ーブ装置の一実施例の平面図、第4図は同上装置のロー
ダ部の内部構成図、第5図は従来のプローブ装置を示す
平面図、第6図(A),(B)はそれぞれ平面度が悪い
反り返った被検査体の概略説明図である。 24……アライメントステージ、 24a……真空通路、24c……溝、 24d……Oリング、 30……搬送チャック、31……中央切欠部、 32……載置面、33……逃げ部、34……真空通路、 35……ピン、36……吸着パッド。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 G01R 31/28 H01L 21/66 B 7377−4M

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】被検査体を収納する収納部と、上記収納部
    内の被検査体を略コ字状の載置面に真空吸着して搬送す
    る搬送チャックと、 この搬送チャックの搬送経路上で昇降かつ回動自在に配
    置され、前記搬送チャックの前記載置面の中央切欠部を
    介して上昇して前記被検査体を受け取り、これを真空吸
    着して回動することにより、前記被検査体をアライメン
    トするアライメントステージと、 アライメントされた被検査体をプローブ測定する測定ス
    テージと、 を有するプローブ装置であって、 前記搬送チャックは、前記載置面より僅かに高い位置に
    吸着面を具備した吸着パッドを略コ字状の載置面の少な
    くとも2ヵ所の位置に配置したことを特徴とするプロー
    ブ装置。
  2. 【請求項2】吸着パッドは略コ字状の載置面における角
    部に設けられている特許請求の範囲第1項記載の吸着搬
    送装置。
  3. 【請求項3】アライメントステージは、その中央部の真
    空通路に連通する円形の溝を載置面に具備し、かつ、こ
    の溝に摩擦係数の高い部材よりなるOリングを嵌入して
    構成した特許請求の範囲第1項記載の吸着搬送装置。
JP21455787A 1987-08-27 1987-08-27 プローブ装置 Expired - Lifetime JPH0630370B2 (ja)

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JPS6457633A JPS6457633A (en) 1989-03-03
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