JPH06265594A - Ｉｃ試験装置 - Google Patents
Ｉｃ試験装置Info
- Publication number
- JPH06265594A JPH06265594A JP5053866A JP5386693A JPH06265594A JP H06265594 A JPH06265594 A JP H06265594A JP 5053866 A JP5053866 A JP 5053866A JP 5386693 A JP5386693 A JP 5386693A JP H06265594 A JPH06265594 A JP H06265594A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- dut
- circuit
- test
- scanner
- pins
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
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- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 ＤＵＴボード診断機能をもたせる。
【構成】 この発明の診断装置には、スキャナーモジュ
ール１１，ＤＵＴボード診断回路ソニット１２及びそれ
らの間を結ぶ接続コード１３が設けられる。スキャナー
モジュール１１は、ＤＵＴの複数のピンと対応するピン
１１ａが導出され、それらのピンをＤＵＴソケット５に
着脱自在に嵌合可能とされ、ピン１１ａを選択するスキ
ャナー回路を内蔵している。前記ユニット１２は、スキ
ャナーモジュール１１を介してＤＵＴソケット５の各端
子及びその端子に接続されたＩＣ周辺回路６に試験信号
を印加する回路１６と、その各端子に発生した信号を測
定する回路１７と、前記スキャナー回路を制御する回路
１８を有し、テストヘッド３内に実装される。ＤＵＴボ
ード４の診断は、ＤＵＴの代わりにスキャナーモジュー
ル１１をＤＵＴソケット５に嵌合させて行われる。
ール１１，ＤＵＴボード診断回路ソニット１２及びそれ
らの間を結ぶ接続コード１３が設けられる。スキャナー
モジュール１１は、ＤＵＴの複数のピンと対応するピン
１１ａが導出され、それらのピンをＤＵＴソケット５に
着脱自在に嵌合可能とされ、ピン１１ａを選択するスキ
ャナー回路を内蔵している。前記ユニット１２は、スキ
ャナーモジュール１１を介してＤＵＴソケット５の各端
子及びその端子に接続されたＩＣ周辺回路６に試験信号
を印加する回路１６と、その各端子に発生した信号を測
定する回路１７と、前記スキャナー回路を制御する回路
１８を有し、テストヘッド３内に実装される。ＤＵＴボ
ード４の診断は、ＤＵＴの代わりにスキャナーモジュー
ル１１をＤＵＴソケット５に嵌合させて行われる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明はＩＣ試験装置に関し、
特にＤＵＴ(Device Under Test) ボードを診断する機能
を備えた装置に関する。
特にＤＵＴ(Device Under Test) ボードを診断する機能
を備えた装置に関する。
【０００２】
【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】ＩＣ試
験装置は図２に示すように、テストシステムメインフレ
ーム１と、そのメインフレームと接続ケーブル２で接続
されたテストヘッド３と、そのテストヘッド３上に接続
用部材（コネクタや接続用ピンなど）を介して装着され
たＤＵＴボード４とで構成される。テストヘッド３には
一般に試験装置の中で被試験ＩＣのできるだけ近くに設
けたい回路が実装される。被試験ＩＣの各ピンに印加す
る電圧または電流の発生回路や、その印加によりそれら
のピンに発生した電流または電圧を基準値と比較する回
路などをテストヘッド３に実装する場合が多い。また、
テストヘッド３は位置や姿勢を可変できるようにされて
いる場合も多い。
験装置は図２に示すように、テストシステムメインフレ
ーム１と、そのメインフレームと接続ケーブル２で接続
されたテストヘッド３と、そのテストヘッド３上に接続
用部材（コネクタや接続用ピンなど）を介して装着され
たＤＵＴボード４とで構成される。テストヘッド３には
一般に試験装置の中で被試験ＩＣのできるだけ近くに設
けたい回路が実装される。被試験ＩＣの各ピンに印加す
る電圧または電流の発生回路や、その印加によりそれら
のピンに発生した電流または電圧を基準値と比較する回
路などをテストヘッド３に実装する場合が多い。また、
テストヘッド３は位置や姿勢を可変できるようにされて
いる場合も多い。
【０００３】ＩＣ、特にアナログＩＣは単体では機能せ
ず、Ｌ，Ｃ，Ｒやバッファやスイッチなどの外付け部品
を含む周辺回路を付加して機能する場合が多く、これら
の周辺回路６はＤＵＴボード４に実装される。ＤＵＴボ
ード４は被試験ＩＣの種類に合わせて一般にユーザ側で
用意するのが普通であり、ＤＵＴをＩＣ試験装置で試験
する場合、ＤＵＴ単品ではなく、このＤＵＴボード４を
含めた形で試験が行われる。従って、ＤＵＴボード４自
身の良否が試験結果に大きく影響する。それにもかかわ
らず、ＩＣ試験装置を使って、ＤＵＴボード４自身を診
断する実用的な方法はこれまで知られていなかった。
ず、Ｌ，Ｃ，Ｒやバッファやスイッチなどの外付け部品
を含む周辺回路を付加して機能する場合が多く、これら
の周辺回路６はＤＵＴボード４に実装される。ＤＵＴボ
ード４は被試験ＩＣの種類に合わせて一般にユーザ側で
用意するのが普通であり、ＤＵＴをＩＣ試験装置で試験
する場合、ＤＵＴ単品ではなく、このＤＵＴボード４を
含めた形で試験が行われる。従って、ＤＵＴボード４自
身の良否が試験結果に大きく影響する。それにもかかわ
らず、ＩＣ試験装置を使って、ＤＵＴボード４自身を診
断する実用的な方法はこれまで知られていなかった。
【０００４】この発明は、このような背景のもとにため
されたものであり、その目的とするところは、ＤＵＴボ
ード診断機能を備えたＩＣ試験装置を提供することにあ
る。
されたものであり、その目的とするところは、ＤＵＴボ
ード診断機能を備えたＩＣ試験装置を提供することにあ
る。
【０００５】
【課題を解決するための手段】メインフレームと、その
メインフレームにケーブルで接続されたテストヘッド
と、そのテストヘッド上に装着され、ＤＵＴ(Device Un
der Test) ソケット及びＩＣ周辺回路を実装したＤＵＴ
ボードとより成るＩＣ試験装置において、この発明で
は、下記のスキャナーモジュール、ＤＵＴボード診断回
路ユニット及び接続コードが設けられる。
メインフレームにケーブルで接続されたテストヘッド
と、そのテストヘッド上に装着され、ＤＵＴ(Device Un
der Test) ソケット及びＩＣ周辺回路を実装したＤＵＴ
ボードとより成るＩＣ試験装置において、この発明で
は、下記のスキャナーモジュール、ＤＵＴボード診断回
路ユニット及び接続コードが設けられる。
【０００６】スキャナーモジュールは、被試験ＩＣの複
数のピンとそれぞれ対応するピンが導出され、それらの
ピンを前記ＤＵＴソケットに着脱自在に嵌合可能とさ
れ、前記導出されたピンを選択するスキャナー回路を内
蔵している。前記ＤＵＴボード診断回路ユニットは、前
記スキャナーモジュールを介して前記ＤＵＴソケットの
各端子及びその端子に接続された前記ＩＣ周辺回路に試
験信号を印加する回路と、その試験信号の印加により前
記各端子に発生した信号を測定する回路と、前記スキャ
ナー回路を制御する回路とを有し、前記テストヘッド内
に実装される。前記接続コードは、そのＤＵＴボード診
断回路ユニットと、前記スキャナーモジュールとを接続
するものである。
数のピンとそれぞれ対応するピンが導出され、それらの
ピンを前記ＤＵＴソケットに着脱自在に嵌合可能とさ
れ、前記導出されたピンを選択するスキャナー回路を内
蔵している。前記ＤＵＴボード診断回路ユニットは、前
記スキャナーモジュールを介して前記ＤＵＴソケットの
各端子及びその端子に接続された前記ＩＣ周辺回路に試
験信号を印加する回路と、その試験信号の印加により前
記各端子に発生した信号を測定する回路と、前記スキャ
ナー回路を制御する回路とを有し、前記テストヘッド内
に実装される。前記接続コードは、そのＤＵＴボード診
断回路ユニットと、前記スキャナーモジュールとを接続
するものである。
【０００７】
【実施例】従来の問題を解決するために最初に考えられ
たのが、図３に示すように、ＤＵＴソケット５の各端子
と各端子に接続された周辺回路とを含めた回路（簡単に
周辺回路と言う場合もある）を１つずつ選択するための
リレー回路９や、そのリレー回路９で選択された各周辺
回路を診断するための診断回路１０をＤＵＴボード４に
実装する方法であった。しかし、この方法はＤＵＴ（被
試験ＩＣ）の端子ピンが多いと、リレーの個数が多くな
り、ＤＵＴボード４の実装設計やパターン設計が複雑と
なり、それに要するユーザの工数がかなり大きくなる欠
点があった。
たのが、図３に示すように、ＤＵＴソケット５の各端子
と各端子に接続された周辺回路とを含めた回路（簡単に
周辺回路と言う場合もある）を１つずつ選択するための
リレー回路９や、そのリレー回路９で選択された各周辺
回路を診断するための診断回路１０をＤＵＴボード４に
実装する方法であった。しかし、この方法はＤＵＴ（被
試験ＩＣ）の端子ピンが多いと、リレーの個数が多くな
り、ＤＵＴボード４の実装設計やパターン設計が複雑と
なり、それに要するユーザの工数がかなり大きくなる欠
点があった。
【０００８】そこで、この発明では、ＤＵＴボード設計
に当たって、ＤＵＴボード診断のために特に設計工数が
大幅に増加することのない方法を採用する。即ち、ＤＵ
Ｔボード４には図３のリレー回路９や診断回路１０など
の自己診断のための回路は特に追加させない。その代わ
り図１に示すように、リレー回路９に対応するスキャナ
ーモジュール１１をＤＵＴソケット５に着脱自在に嵌合
させ、診断回路ユニット１２をテストヘッド３に実装
し、それらの間を接続コード１３で接続するようにして
いる。
に当たって、ＤＵＴボード診断のために特に設計工数が
大幅に増加することのない方法を採用する。即ち、ＤＵ
Ｔボード４には図３のリレー回路９や診断回路１０など
の自己診断のための回路は特に追加させない。その代わ
り図１に示すように、リレー回路９に対応するスキャナ
ーモジュール１１をＤＵＴソケット５に着脱自在に嵌合
させ、診断回路ユニット１２をテストヘッド３に実装
し、それらの間を接続コード１３で接続するようにして
いる。
【０００９】スキャナーモジュール１１にはＤＵＴのピ
ンとそれぞれ対応するピン１１ａが導出され、それらの
ピン１１ａをＤＵＴソケット５に着脱自在に嵌合できる
と共に、それらのピンを１本ずつ順次選択するスキャナ
ー回路１１ｂが実装されている。診断回路ユニット１２
には、ＤＵＴソケット５の各端子及び各端子に接続され
た周辺回路にロジックまたはアナログの試験電圧または
電流を印加するための試験信号発生回路１６，ＤＵＴソ
ケットの各端子に発生した信号（電流または電圧）を測
定するための測定用回路１７及びスキャナー回路の切替
えを制御するスキャナー制御回路１８等が実装される。
ンとそれぞれ対応するピン１１ａが導出され、それらの
ピン１１ａをＤＵＴソケット５に着脱自在に嵌合できる
と共に、それらのピンを１本ずつ順次選択するスキャナ
ー回路１１ｂが実装されている。診断回路ユニット１２
には、ＤＵＴソケット５の各端子及び各端子に接続され
た周辺回路にロジックまたはアナログの試験電圧または
電流を印加するための試験信号発生回路１６，ＤＵＴソ
ケットの各端子に発生した信号（電流または電圧）を測
定するための測定用回路１７及びスキャナー回路の切替
えを制御するスキャナー制御回路１８等が実装される。
【００１０】ＤＵＴボード４を診断する場合には、スキ
ャナーモジュール１１をＤＵＴソケット５に嵌合させ、
スキャナー回路を切替えて、ＤＵＴソケット５の各端子
へ試験信号を印加し、そして発生した信号を測定し、Ｄ
ＵＴソケット５の各端子及び各端子に接続された周辺回
路の性能を診断することによってＤＵＴボード４の診断
が行える。なお、ＤＵＴボードの診断プログラムをメイ
ンフレーム１のメモリに格納させておけば、メインフレ
ームのＣＰＵ（中央演算処理装置）がプログラムを解読
実行して、ＤＵＴボード４の診断を自動的に行える。
ャナーモジュール１１をＤＵＴソケット５に嵌合させ、
スキャナー回路を切替えて、ＤＵＴソケット５の各端子
へ試験信号を印加し、そして発生した信号を測定し、Ｄ
ＵＴソケット５の各端子及び各端子に接続された周辺回
路の性能を診断することによってＤＵＴボード４の診断
が行える。なお、ＤＵＴボードの診断プログラムをメイ
ンフレーム１のメモリに格納させておけば、メインフレ
ームのＣＰＵ（中央演算処理装置）がプログラムを解読
実行して、ＤＵＴボード４の診断を自動的に行える。
【００１１】
【発明の効果】以上説明したように、この発明では、従
来のＤＵＴボード４のＤＵＴソケット５にスキャナーモ
ジュール１１を嵌合させ、そのスキャナーモジュール１
１を介して、ＤＵＴソケット５の各端子及びその端子に
接続されたＩＣ周辺回路に順次試験信号を印加し、そし
て発生した信号を測定するための診断回路ユニット１２
をテストヘッド３内に実装したので、ＤＵＴボードの診
断を容易に行うことができる。
来のＤＵＴボード４のＤＵＴソケット５にスキャナーモ
ジュール１１を嵌合させ、そのスキャナーモジュール１
１を介して、ＤＵＴソケット５の各端子及びその端子に
接続されたＩＣ周辺回路に順次試験信号を印加し、そし
て発生した信号を測定するための診断回路ユニット１２
をテストヘッド３内に実装したので、ＤＵＴボードの診
断を容易に行うことができる。
【００１２】この発明によれば、ＤＵＴボードの診断が
できるように、ユーザがかなりの工数をかけてＤＵＴボ
ードを設計するような必要はなくなり、ＩＣ試験装置の
使い勝手を大幅に向上できる。
できるように、ユーザがかなりの工数をかけてＤＵＴボ
ードを設計するような必要はなくなり、ＩＣ試験装置の
使い勝手を大幅に向上できる。
【図１】Ａはこの発明の実施例を示す原理的な構成図、
ＢはＡの要部のブロック図。
ＢはＡの要部のブロック図。
【図２】Ａは従来のＩＣ試験装置の構成図、ＢはＡのＤ
ＵＴボード４の原理的なブロック図。
ＵＴボード４の原理的なブロック図。
【図３】この発明を得る前の段階で考えられたＤＵＴボ
ードのブロック図。
ードのブロック図。
Claims (1)
- 【請求項１】 メインフレームと、そのメインフレーム
にケーブルで接続されたテストヘッドと、そのテストヘ
ッド上に装着され、ＤＵＴ(Device Under Test) ソケッ
ト及びＩＣ周辺回路を実装したＤＵＴボードとより成る
ＩＣ試験装置において、 被試験ＩＣの複数のピンとそれぞれ対応するピンが導出
され、それらの導出されたピンを選択するスキャナー回
路を内蔵し、前記ＤＵＴソケットに着脱自在に嵌合され
るスキャナーモジュールと、 前記スキャナーモジュールを介して前記ＤＵＴソケット
の各端子及びその端子に接続された前記ＩＣ周辺回路に
試験信号を印加する回路と、その試験信号の印加により
前記各端子に発生した信号を測定する回路と、前記スキ
ャナー回路を制御する回路とを有し、前記テストヘッド
内に実装されるＤＵＴボード診断回路ユニットと、 そのＤＵＴボード診断回路ユニットと、前記スキャナー
モジュールとを接続するコードとを具備することを特徴
とする、 ＩＣ試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5053866A JPH06265594A (ja) | 1993-03-15 | 1993-03-15 | Ｉｃ試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5053866A JPH06265594A (ja) | 1993-03-15 | 1993-03-15 | Ｉｃ試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06265594A true JPH06265594A (ja) | 1994-09-22 |
Family
ID=12954695
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5053866A Withdrawn JPH06265594A (ja) | 1993-03-15 | 1993-03-15 | Ｉｃ試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06265594A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2004086071A1 (ja) * | 2003-03-27 | 2004-10-07 | Advantest Corporation | 試験装置 |
| WO2008122016A1 (en) * | 2007-04-02 | 2008-10-09 | Credence Systems Corporation | A multi-type test interface system and method |
| JP2009085770A (ja) * | 2007-09-28 | 2009-04-23 | Yokogawa Electric Corp | 信号測定装置 |
-
1993
- 1993-03-15 JP JP5053866A patent/JPH06265594A/ja not_active Withdrawn
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2004086071A1 (ja) * | 2003-03-27 | 2004-10-07 | Advantest Corporation | 試験装置 |
| US7185255B2 (en) | 2003-03-27 | 2007-02-27 | Advantest Corporation | Test apparatus |
| KR100717480B1 (ko) * | 2003-03-27 | 2007-05-14 | 주식회사 아도반테스토 | 시험 장치 |
| CN100442073C (zh) * | 2003-03-27 | 2008-12-10 | 爱德万测试株式会社 | 测试装置 |
| WO2008122016A1 (en) * | 2007-04-02 | 2008-10-09 | Credence Systems Corporation | A multi-type test interface system and method |
| JP2009085770A (ja) * | 2007-09-28 | 2009-04-23 | Yokogawa Electric Corp | 信号測定装置 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20000530 |