JPH06258257A - コンピュータ断層撮影装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 被検体に応じてＸ線源から発生するＸ線エネ
ルギを切り換えても最良の断層像を常に得ることができ
るコンピュータ断層撮影装置を提供する。 【構成】 Ｘ線源切り換え手段で切り換えられたＸ線源
１からのＸ線エネルギに対応して主検出器７および比較
検出器９に入射するＸ線量をそれぞれ調整する主検出器
用フィルタ、比較検出器用フィルタをＸ線源切り換え手
段の切り換え動作に応じてフィルタ切り換え機構８によ
って同時に切り換えることができる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、Ｘ線源から発生するＸ
線を被検体に照射し、該被検体を透過したＸ線データか
ら被検体の断層像を構成するコンピュータ断層撮影装置
に関する。

【０００２】

【従来の技術】コンピュータ断層撮影装置、所謂ＣＴス
キャナは、医療用として普及しているが、産業用として
もここ１０年間で徐々に普及し始めている。

【０００３】産業用ＣＴスキャナは、検査対象である被
検体が千差万別であるため、被検体に応じてＸ線源のＸ
線エネルギを切り換え、これによりＸ線が透過し得る透
過厚を可変し得るようにしている。例えば、特開平２−
８７０４９号公報に記載のＣＴスキャナは、Ｘ線源から
発生するＸ線エネルギを被検体に応じて切り換えられ得
るとともに、Ｘ線強度変化を測定する比較検出器のＸ線
フィルタも切り換えられるようにし、これにより比較検
出器に入射するＸ線量を調整し、高品位な画像を得るよ
うにしている。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】上述した従来のＣＴス
キャナでは、Ｘ線源から発生するＸ線エネルギの切り換
え、すなわちＸ線管電圧の切り換えに応じて比較検出器
のＸ線フィルタは切り換えているが、被検体を透過した
Ｘ線を検出する主検出器のフィルタは同時に切り換えて
いないため、最良の画像を得ることができないという問
題がある。

【０００５】更に詳しく説明すると、主検出器用のＸ線
フィルタは、軟Ｘ線成分を除去して線質硬化現象を緩和
させ、断面像の画質を向上させるために使用されるもの
であるが、フィルタ材の厚さを厚くするほど、緩和度は
高くなるが、厚くしすぎると、Ｘ線量が低下し、画像ノ
イズが増大する。従って、Ｘ線管電圧を切り換えると、
適切なフィルタ厚も変化することになるが、従来のＣＴ
スキャナにおいては、Ｘ線管電圧を切り換えても、主検
出器のフィルタを切り換えず、１つのフィルタで間に合
わせていたため、Ｘ線管電圧を切り換えても、最良の画
像を得ることができないという問題がある。

【０００６】また、ＣＴスキャナでは、Ｘ線源から発生
するＸ線を遮蔽するＸ線シャッタがフィルタ機構とは、
別の独立した機構として設けられているため、機構が複
雑化するとともに、機構部のスペースも大きくなり、被
検体を載置するスペースを大きくすることができないと
いう問題がある。

【０００７】更に、従来のＣＴスキャナでは、比較検出
器の厚さが比較的大きく、すなわち比較検出器のＸ線経
路に沿った厚さが大きいため、Ｘ線源とＸ線源側コリメ
ータとの間の距離が長くなり、被検体を載置するスペー
スを大きくとることができないという問題がある。

【０００８】また更に、従来のＣＴスキャナでは、比較
検出器を構成している光電変換手段であるフォトダイオ
ードおよび検出回路がＸ線源からのＸ線経路に近い位置
に配設されているため、散乱Ｘ線の影響でフォトダイオ
ードや検出回路の寿命が比較的短いという問題がある。

【０００９】本発明は、上記に鑑みてなされたもので、
その目的とするところは、被検体に応じてＸ線源から発
生するＸ線エネルギを切り換えても最良の断層像を常に
得ることができるコンピュータ断層撮影装置を提供する
ことにある。

【００１０】また、本発明の他の目的は、フィルタ機構
およびＸ線遮蔽機構を同一の切り換え手段で制御し、機
構部の小型化を図り、被検体の載置スペースを大きくし
たコンピュータ断層撮影装置を提供することにある。

【００１１】更に、本発明の別の目的は、比較検出器の
構成要素に散乱Ｘ線が当り難くして、寿命を長くしたコ
ンピュータ断層撮影装置を提供することにある。

【００１２】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明のコンピュータ断層撮影装置は、Ｘ線源から
Ｘ線を発生し、このＸ線を被検体に向けて照射し、被検
体を透過したＸ線を主検出器で検出するとともに、Ｘ線
源から発生するＸ線の強度を検出すべく被検体を透過し
ないＸ線源からのＸ線を比較検出器で検出し、該比較検
出器で検出したＸ線強度データを参照しながら前記主検
出器で検出したＸ線透過データに基づいて被検体の断層
像を構成するコンピュータ断層撮影装置であって、前記
Ｘ線源から発生するＸ線エネルギを切り換えるＸ線源切
り換え手段と、該Ｘ線源切り換え手段で切り換えられた
Ｘ線源からのＸ線エネルギに対応して前記主検出器およ
び前記比較検出器に入射するＸ線量をそれぞれ調整する
主フィルタ手段および比較フィルタ手段と、前記Ｘ線源
切り換え手段の切り換え動作に応じて前記主フィルタ手
段および比較フィルタ手段をそれぞれ同時に切り換える
フィルタ切り換え手段とを有することを要旨とする。

【００１３】また、本発明のコンピュータ断層撮影装置
は、Ｘ線源からＸ線を発生し、このＸ線を被検体に向け
て照射し、被検体を透過したＸ線を主検出器で検出し、
前記主検出器で検出したＸ線透過データに基づいて被検
体の断層像を構成するコンピュータ断層撮影装置であっ
て、前記Ｘ線源から発生するＸ線エネルギを切り換える
Ｘ線源切り換え手段と、該Ｘ線源切り換え手段で切り換
えられたＸ線源からのＸ線エネルギに対応して前記主検
出器に入射するＸ線量を調整する主フィルタ手段と、前
記Ｘ線源からのＸ線を遮蔽する遮蔽手段と、前記Ｘ線源
切り換え手段の切り換え動作に応じて前記主フィルタ手
段を切り換え得るとともに、該主フィルタ手段を前記遮
蔽手段に切り換え得るフィルタ切り換え手段とを有する
ことを要旨とする。

【００１４】更に、本発明のコンピュータ断層撮影装置
は、Ｘ線源からＸ線を発生し、このＸ線を被検体に向け
て照射し、被検体を透過したＸ線を主検出器で検出する
とともに、Ｘ線源から発生するＸ線の強度を検出すべく
被検体を透過しないＸ線源からのＸ線を比較検出器で検
出し、該比較検出器で検出したＸ線強度データを参照し
ながら前記主検出器で検出したＸ線透過データに基づい
て被検体の断層像を構成するコンピュータ断層撮影装置
であって、前記比較検出器は、前記Ｘ線源からのＸ線を
可視光に変換するシンチレータと、該シンチレータから
の可視光を電気信号に変換する光電変換手段と、前記シ
ンチレータから発生する可視光を前記光電変換手段に導
くライトガイドとを有することを要旨とする。

【００１５】

【作用】本発明のコンピュータ断層撮影装置では、Ｘ線
源切り換え手段で切り換えられたＸ線源からのＸ線エネ
ルギに対応して主検出器および比較検出器に入射するＸ
線量をそれぞれ調整する主フィルタ手段および比較フィ
ルタ手段をＸ線源切り換え手段の切り換え動作に応じて
同時に切り換えている。

【００１６】また、本発明のコンピュータ断層撮影装置
では、主検出器に入射するＸ線量を調整する主フィルタ
手段をＸ線源切り換え手段の切り換え動作に応じて切り
換え得るとともに、該主フィルタ手段をＸ線源からのＸ
線を遮蔽する遮蔽手段に切り換えることができる。

【００１７】更に、本発明のコンピュータ断層撮影装置
では、比較検出器はシンチレータからの可視光をライト
ガイドを使用して光電変換手段に導いている。

【００１８】

【実施例】以下、図面を用いて本発明の実施例を説明す
る。

【００１９】図１（ａ），（ｂ）は、本発明の一実施例
に係わるコンピュータ断層撮影装置の構成をそれぞれ示
す平面図および正面図である。同図に示すコンピュータ
断層撮影装置（以下、ＣＴスキャナと称する）は、トラ
バース／ローテーション方式の所謂第２世代のＣＴスキ
ャナであり、Ｘ線を発生するＸ線源１を有し、このＸ線
源１から発生するＸ線は１次コリメータ２、フィルタ切
り換え機構８、線源側コリメータ５を介してＸ線ファン
ビーム３として被検体１３を照射し、該被検体１３を透
過したＸ線が検出器側コリメータ６を介して主検出器７
に当り、該主検出器７により検出されるようになってい
る。

【００２０】被検体１３は、回転テーブル１０上に載置
され、該回転テーブル１０はその下方に設けられている
回転機構１１によって垂直軸の周りを回転し得るととも
に、またトラバース機構１２によって水平方向にＸ線フ
ァンビーム３を横切ってトラバースするように構成され
ている。

【００２１】また、Ｘ線源１から発生したＸ線は、１次
コリメータ２によってＸ線ファンビーム３として形成さ
れる以外に、比較検出器用Ｘ線ビーム４が取り出され、
比較検出器９に入射するように構成されている。

【００２２】前記フィルタ切り換え機構８は、Ｘ線源１
と比較検出器９との間およびＸ線源１と線源側コリメー
タ５との間に設けられ、後述するようにＸ線ファンビー
ム３と比較検出器用Ｘ線ビーム４のそれぞれの経路に挿
入されるフィルタを同時に切り換えたり、またはＸ線源
１からのＸ線を遮蔽するようになっている。

【００２３】なお、図１に示すＣＴスキャナでは、Ｘ線
制御装置、コンソール、機構制御装置、データ収集装置
（ＤＡＳ）、再構成装置、ＣＲＴディスプレイ等は図示
されずに省略されているが、これらの各装置も通常のＣ
Ｔスキャナのように設けられているものであり、これに
より例えばＸ線制御装置によってＸ線源１から発生する
Ｘ線エネルギを被検体１３に応じて切り換え、機構制御
装置によって回転機構１１およびトラバース機構１２を
制御して被検体１３を回転させながらＸ線ファンビーム
３を横切ってトラバースするとともに、主検出器７で検
出した被検体透過データをデータ収集装置に供給し、更
に再構成装置で被検体の断層像を再構成して、ＣＲＴデ
ィスプレイに表示するようになっているものである。

【００２４】図２（ａ），（ｂ）は、前記フィルタ切り
換え機構８を構成している回転板８１の構造および該回
転板８１を回転させる機構部の構造をそれぞれ示してい
る図である。

【００２５】図２（ａ）に示すように、フィルタ切り換
え機構８の回転板８１には、主検出器用第１フィルタ８
３ａに隣接して比較検出器用第１フィルタ８３ｂが設け
られるとともに、これらの主検出器用第１フィルタ８３
ａおよび比較検出器用第１フィルタ８３ｂの対角線上に
主検出器用第２フィルタ８４ａに隣接した比較検出器用
第２フィルタ８４ｂが設けられている。また、これらの
間には、シャッタ板８２ａおよびシャッタ板８２ｂが対
角線上で対向するように設けられている。

【００２６】主検出器用第１フィルタ８３ａおよび比較
検出器用第１フィルタ８３ｂは、Ｘ線源１に供給される
管電圧が４００ｋＶに切り換えられた場合に使用される
ものであり、例えば主検出器用第１フィルタ８３ａは２
ｍｍの鋼板で構成され、比較検出器用第１フィルタ８３
ｂは１０ｍｍの鋼板で構成されている。また、主検出器
用第２フィルタ８４ａおよび比較検出器用第２フィルタ
８４ｂは、Ｘ線源１に供給される管電圧が２６０ｋＶに
切り換えられた場合に使用されるものであり、例えば主
検出器用第２フィルタ８４ａは１ｍｍの鋼板で構成さ
れ、比較検出器用第２フィルタ８４ｂは４ｍｍの鋼板で
構成されている。

【００２７】また、フィルタ切り換え機構８は、図２
（ｂ）に示すように、回転板８１がモータ８６によって
回転制御されるとともに、その回転位置が位置センサ８
５によって検出されるように構成され、これにより前記
主検出器用第１フィルタ８３ａ、比較検出器用第１フィ
ルタ８３ｂ、主検出器用第２フィルタ８４ａ、比較検出
器用第２フィルタ８４ｂ、シャッタ板８２ａ、シャッタ
板８２ｂのいずれかがＸ線源１から発生するＸ線をフィ
ルタまたは遮蔽するようになっている。

【００２８】図３は、前記比較検出器９の内部構成を示
す図である。同図に示すように、比較検出器９は、Ｘ線
源１からの比較検出器用Ｘ線ビーム４を例えばＣｄＷＯ
₄ 単結晶からなるシンチレータ９１で受けて、可視光に
変換し、シンチレータ９１からの可視光を鉛ガラスで形
成されたライトガイド９２を介してフォトダイオード９
５に導いている。そして、フォトダイオード９５はライ
トガイド９２を介して導かれたシンチレータ９１からの
可視光を電気信号に変換し、この電気信号を検出器回路
９６に供給している。

【００２９】なお、シンチレータ９１はシリコンオイル
によってライトガイド９２の一端に接合され、ライトガ
イド９２の他端はシリコン系の透明な接着剤によってフ
ォトダイオード９５に接合されている。検出器回路９６
は例えば増幅器、積分器、サンプルアンドホールド回路
等で構成されている。

【００３０】また、シンチレータ９１の外周は白色塗料
およびアルミ箔層からなる反射遮光膜９３で覆われ、ラ
イトガイド９２の外周も同様にアルミ蒸着層とアルミ箔
層からなる反射遮光膜９３で覆われている。これらの外
側にＸ線遮蔽部９４が設けられ、そして全体がハウジン
グ９７内に収納されている。なお、図３では、シンチレ
ータ９１、ライトガイド９２、検出器回路９６の保持部
材は省略されている。

【００３１】上述したようにライトガイド９２を使用し
て、フォトダイオード９５および検出器回路９６をシン
チレータ９１等から離隔して設けるように比較検出器９
を構成することにより、シンチレータ９１および比較検
出器９の構造体等のＸ線ビームの通路の周辺からの散乱
Ｘ線がフォトダイオード９５および検出器回路９６に届
き難くなり、これによりフォトダイオード９５および検
出器回路９６の寿命を長くすることができるのである。

【００３２】以上のように構成されるＣＴスキャナの作
用を次に説明する。

【００３３】本実施例のＣＴスキャナは上述したように
Ｘ線源１の管電圧を４００ｋＶと２６０ｋＶの２段階に
切り換えて使用することができる。まず、図示しないコ
ンソールの切り替えスイッチによってＸ線源１の管電圧
を４００ｋＶに切り換えると、この４００ｋＶが図示し
ないＸ線制御装置に設定されるとともに、図示しない機
構制御装置によってフィルタ切り換え機構８が回転制御
され、これにより主検出器用第１フィルタ８３ａおよび
比較検出器用第１フィルタ８３ｂが選択されて、Ｘ線フ
ァンビーム３および比較検出器用Ｘ線ビーム４の経路に
挿入される。この結果、Ｘ線ファンビーム３および比較
検出器用Ｘ線ビーム４がＸ線源１の管電圧４００ｋＶに
対応した主検出器用第１フィルタ８３ａ、比較検出器用
第１フィルタ８３ｂによってフィルタされ、これにより
Ｘ線源１の管電圧に対応したフィルタを介して適切なＸ
線が被検体に供給されるようになっている。

【００３４】また、Ｘ線源１の管電圧を２６０ｋＶに切
り換えると、この２６０ｋＶがＸ線制御装置に設定され
るとともに、機構制御装置によってフィルタ切り換え機
構８が回転制御され、これにより主検出器用第２フィル
タ８４ａ、比較検出器用第２フィルタ８４ｂが選択され
て、Ｘ線ファンビーム３および比較検出器用Ｘ線ビーム
４の経路に挿入される。

【００３５】上述したように、Ｘ線源１の管電圧が設定
されると、操作者がコンソールのスキャンスタートスイ
ッチを操作することによりスキャンが開始される。スキ
ャンは従来のトラバース／ローテーション方式のＣＴス
キャナと全く同じであり、上述したように機構制御装置
によって回転機構１１およびトラバース機構１２を制御
して被検体１３を回転させながらＸ線ファンビーム３を
横切ってトラバースする動作に従ってＸ線源１からのＸ
線を被検体１３に照射し、被検体１３を透過したＸ線を
主検出器７で検出するとともに、Ｘ線源１からの被検体
１３を透過しないＸ線を比較検出器９で検出したＸ線強
度データを参照しながら前記主検出器７で検出したＸ線
透過データをデータ収集装置で収集して再構成装置に供
給することにより被検体１３の断層像を構成している。

【００３６】また、フィルタ切り換え機構８に設けられ
ている一方のシャッタ板８２ａは、連続スキャンを行う
場合に、スキャンとスキャンとの間にフィルタ切り換え
機構８の制御によってＸ線ファンビーム３および比較検
出器用Ｘ線ビーム４の経路に挿入され、これによりＸ線
ファンビーム３および比較検出器用Ｘ線ビーム４をそれ
ぞれ主検出器７および比較検出器９に対して遮断し、こ
の場合の主検出器７、比較検出器９のオフセットデータ
を収集するために使用される。オフセットデータとは、
検出器にＸ線が入射しない時の出力データであり、オフ
セット補正に使用される。このようにシャッタ板８２ａ
を使用して検出器に対するＸ線を遮断することによって
Ｘ線源をオフにすることなく、連続的にスキャンを行う
ことができる。

【００３７】更に、他方のシャッタ板８２ｂは、被検体
を交換する時に使用されるものであり、被検体を次々と
交換しながら検査を行いたい場合に、フィルタ切り換え
機構８によってシャッタ板８２ｂをＸ線ファンビーム３
および比較検出器用Ｘ線ビーム４の経路に挿入し、これ
によりＸ線源１からのＸ線を遮断し、この状態で被検体
を交換することにより、Ｘ線源１をいちいちオフにする
ことなく、また操作者が被爆することなく、被検体を交
換することができる。

【００３８】図４（ａ），（ｂ）は、図１のＣＴスキャ
ナに使用され得る他のフィルタ切り換え機構の構成をそ
れぞれ示す正面図および側断面図である。

【００３９】この図４に示すフィルタ切り換え機構は、
板状のフィルタホルダー３１の下端部寄りに前記主検出
器用第１フィルタ８３ａ、比較検出器用第１フィルタ８
３ｂ、シャッタ板８２ａ、主検出器用第２フィルタ８４
ａ、比較検出器用第２フィルタ８４ｂにそれぞれ対応す
る主検出器用第１フィルタ８３ａａ、比較検出器用第１
フィルタ８３ｂｂ、シャッタ板８２ａａ、主検出器用第
２フィルタ８４ａａ、比較検出器用第２フィルタ８４ｂ
ｂを設け、このフィルタホルダー３１をガイドレール３
２、ベース３３、ねじ３４、ナット３５、モータ３６に
よって垂直方向に上下動させることによりフィルタおよ
びシャッタ板を切り換えるように構成したものである。

【００４０】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
Ｘ線源切り換え手段で切り換えられたＸ線源からのＸ線
エネルギに対応して主検出器および比較検出器に入射す
るＸ線量をそれぞれ調整する主フィルタ手段および比較
フィルタ手段をＸ線源切り換え手段の切り換え動作に応
じて同時に切り換えているので、高品質の断層像を得る
ことができるとともに、切り換え間違いも発生しにくい
上に、構造も簡単になり、全体のスペースを小さくで
き、また被検体を載置するスペースを大きくすることが
できる。

【００４１】また、本発明によれば、主検出器に入射す
るＸ線量を調整する主フィルタ手段をＸ線源切り換え手
段の切り換え動作に応じて切り換え得るとともに、該主
フィルタ手段をＸ線源からのＸ線を遮蔽する遮蔽手段に
切り換えることができるので、フィルタ切り換え機構が
遮蔽手段切り換え機構を兼用することができ、全体のス
ペースを小さくでき、また被検体を載置するスペースを
大きくすることができる。更に、被検体をＸ線源に近い
位置に設置するように構成することも可能となるので、
断層像の分解能や欠陥検出能力を増大することができ
る。更に、遮蔽手段によってＸ線源をオフにすることな
く、オフセットデータを取ったり、被検体を交換するこ
とができ、Ｘ線源の立ち上げや立ち下げを待つ必要がな
いので、スキャンの無駄がなくなり、検査時間を短縮す
ることができる上に、Ｘ線源の寿命を長くすることがで
きる。

【００４２】更に、本発明によれば、比較検出器はシン
チレータからの可視光をライトガイドを使用して光電変
換手段に導いているので、比較検出器の寿命を長くする
ことができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例に係わるコンピュータ断層撮
影装置の構成を示す平面図および正面図である。

【図２】図１のコンピュータ断層撮影装置に使用されて
いるフィルタ切り換え機構の構成を示す図である。

【図３】図１のコンピュータ断層撮影装置に使用されて
いる比較検出器の構成を示す図である。

【図４】図１のコンピュータ断層撮影装置に使用し得る
他のフィルタ切り換え機構の構成を示す図である。

【符号の説明】

１ Ｘ線源 ３ Ｘ線ファンビーム ４ 比較検出器用Ｘ線ビーム ７ 主検出器 ８ フィルタ切り換え機構 ９ 比較検出器 １０ 回転テーブル １３ 被検体 ８２ａ，８２ｂ シャッタ板 ８３ａ 主検出器用第１フィルタ ８３ｂ 比較検出器用第１フィルタ ８４ａ 主検出器用第２フィルタ ８４ｂ 比較検出器用第２フィルタ ９１ シンチレータ ９２ ライトガイド ９５ フォトダイオード ９６ 検出器回路

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 Ｘ線源からＸ線を発生し、このＸ線を被
   検体に向けて照射し、被検体を透過したＸ線を主検出器
   で検出するとともに、Ｘ線源から発生するＸ線の強度を
   検出すべく被検体を透過しないＸ線源からのＸ線を比較
   検出器で検出し、該比較検出器で検出したＸ線強度デー
   タを参照しながら前記主検出器で検出したＸ線透過デー
   タに基づいて被検体の断層像を構成するコンピュータ断
   層撮影装置であって、 前記Ｘ線源から発生するＸ線エネルギを切り換えるＸ線
   源切り換え手段と、 該Ｘ線源切り換え手段で切り換えられたＸ線源からのＸ
   線エネルギに対応して前記主検出器および前記比較検出
   器に入射するＸ線量をそれぞれ調整する主フィルタ手段
   および比較フィルタ手段と、 前記Ｘ線源切り換え手段の切り換え動作に応じて前記主
   フィルタ手段および比較フィルタ手段をそれぞれ同時に
   切り換えるフィルタ切り換え手段とを有することを特徴
   とするコンピュータ断層撮影装置。
2. 【請求項２】 Ｘ線源からＸ線を発生し、このＸ線を被
   検体に向けて照射し、被検体を透過したＸ線を主検出器
   で検出し、前記主検出器で検出したＸ線透過データに基
   づいて被検体の断層像を構成するコンピュータ断層撮影
   装置であって、 前記Ｘ線源から発生するＸ線エネルギを切り換えるＸ線
   源切り換え手段と、 該Ｘ線源切り換え手段で切り換えられたＸ線源からのＸ
   線エネルギに対応して前記主検出器に入射するＸ線量を
   調整する主フィルタ手段と、 前記Ｘ線源からのＸ線を遮蔽する遮蔽手段と、 前記Ｘ線源切り換え手段の切り換え動作に応じて前記主
   フィルタ手段を切り換え得るとともに、該主フィルタ手
   段を前記遮蔽手段に切り換え得るフィルタ切り換え手段
   とを有することを特徴とするコンピュータ断層撮影装
   置。
3. 【請求項３】 Ｘ線源からＸ線を発生し、このＸ線を被
   検体に向けて照射し、被検体を透過したＸ線を主検出器
   で検出するとともに、Ｘ線源から発生するＸ線の強度を
   検出すべく被検体を透過しないＸ線源からのＸ線を比較
   検出器で検出し、該比較検出器で検出したＸ線強度デー
   タを参照しながら前記主検出器で検出したＸ線透過デー
   タに基づいて被検体の断層像を構成するコンピュータ断
   層撮影装置であって、 前記比較検出器は、前記Ｘ線源からのＸ線を可視光に変
   換するシンチレータと、該シンチレータからの可視光を
   電気信号に変換する光電変換手段と、前記シンチレータ
   から発生する可視光を前記光電変換手段に導くライトガ
   イドとを有することを特徴とするコンピュータ断層撮影
   装置。