JPH06250480A - 転写形カラ−プリンタのトナ−付着量測定装置 - Google Patents
転写形カラ−プリンタのトナ−付着量測定装置Info
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- JPH06250480A JPH06250480A JP5059328A JP5932893A JPH06250480A JP H06250480 A JPH06250480 A JP H06250480A JP 5059328 A JP5059328 A JP 5059328A JP 5932893 A JP5932893 A JP 5932893A JP H06250480 A JPH06250480 A JP H06250480A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 感光ドラムに付着するカラ−用トナ−の付着
量を正確に測定することができる転写形カラ−プリンタ
のトナ−付着量測定装置を開発すること。 【構成】 感光ドラム５０に付着したトナ−５１に単一
偏光光を投光する投光手段（光源５２、偏光フィルタ５
３）と、トナ−５１への投光によって反射する光のうち
投光手段と同一の偏光光を選択して受光する第１の受光
手段（受光素子５４、偏光フィルタ５５）と、トナ−５
１への投光によって反射する光のうち投光手段と異なる
偏光光を選択して受光する第２の受光手段（受光素子５
６、偏光フィルタ５７）と、第２の受光手段の受光出力
に一定係数を乗じ、第１の受光手段の受光出力からこの
一定係数を乗じた値を減算して測定情報を出力する信号
処理回路５８とより構成してある。
量を正確に測定することができる転写形カラ−プリンタ
のトナ−付着量測定装置を開発すること。 【構成】 感光ドラム５０に付着したトナ−５１に単一
偏光光を投光する投光手段（光源５２、偏光フィルタ５
３）と、トナ−５１への投光によって反射する光のうち
投光手段と同一の偏光光を選択して受光する第１の受光
手段（受光素子５４、偏光フィルタ５５）と、トナ−５
１への投光によって反射する光のうち投光手段と異なる
偏光光を選択して受光する第２の受光手段（受光素子５
６、偏光フィルタ５７）と、第２の受光手段の受光出力
に一定係数を乗じ、第１の受光手段の受光出力からこの
一定係数を乗じた値を減算して測定情報を出力する信号
処理回路５８とより構成してある。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、カラ−用トナ−の付
着量を測定する装置で、例えば、転写形カラ−プリンタ
を備えたコピ−やファックスなどにおけるトナ−の付着
量を測定するのに利用されるカラ−用トナ−の付着量測
定装置に関する。
着量を測定する装置で、例えば、転写形カラ−プリンタ
を備えたコピ−やファックスなどにおけるトナ−の付着
量を測定するのに利用されるカラ−用トナ−の付着量測
定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】図６は従来のカラ−用トナ−の付着量測
定装置で、１は測定光を投光するＬＥＤ等の光源、２は
フォト・ダイオ−ドなどの受光器である。３は金属製材
料の回転ドラムで、この回転ドラム３は表面にシリコ
ン、セレン等の感光体４を備えている。感光体４の表面
にはコピ−用紙にカラ−文字等を転写するのに必要な黄
色、マゼンタ、シアンの各色を有するカラ−用トナ−５
が帯電によって付着している。
定装置で、１は測定光を投光するＬＥＤ等の光源、２は
フォト・ダイオ−ドなどの受光器である。３は金属製材
料の回転ドラムで、この回転ドラム３は表面にシリコ
ン、セレン等の感光体４を備えている。感光体４の表面
にはコピ−用紙にカラ−文字等を転写するのに必要な黄
色、マゼンタ、シアンの各色を有するカラ−用トナ−５
が帯電によって付着している。
【０００３】光源１からトナ−５に対し測定光を投光す
ると、図６中における光Ｌ1はトナ−５によって反射さ
れる光Ｌ2と回転ドラム３の表面によって反射される光
Ｌ3となって受光器２に入射する。そして、受光器２は
これら２つの光Ｌ2、Ｌ3を受光して受光信号を出力す
る。
ると、図６中における光Ｌ1はトナ−５によって反射さ
れる光Ｌ2と回転ドラム３の表面によって反射される光
Ｌ3となって受光器２に入射する。そして、受光器２は
これら２つの光Ｌ2、Ｌ3を受光して受光信号を出力す
る。
【０００４】トナ−５の付着量が多い場合、反射光Ｌ3
がトナ−５によって遮光されるので受光器２の受光量が
減少し、トナ−５の付着量が少ない場合、上記とは逆に
反射光Ｌ3が多くなるので受光器２の受光量が増大す
る。この結果、受光器２の受光信号より感光体４に付着
しているトナ−量を測定することができる。
がトナ−５によって遮光されるので受光器２の受光量が
減少し、トナ−５の付着量が少ない場合、上記とは逆に
反射光Ｌ3が多くなるので受光器２の受光量が増大す
る。この結果、受光器２の受光信号より感光体４に付着
しているトナ−量を測定することができる。
【０００５】一方、光源からの投光光Ｌ1を図７に示す
ように感光体４に対する法線方向として、トナ−５によ
って乱反射する光の一部を上記と同様にトナ−５からの
反射光Ｌ2とし、この反射光Ｌ2を受光器２によって受光
してトナ−量を測定することもできる。
ように感光体４に対する法線方向として、トナ−５によ
って乱反射する光の一部を上記と同様にトナ−５からの
反射光Ｌ2とし、この反射光Ｌ2を受光器２によって受光
してトナ−量を測定することもできる。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】上記した測定装置で測
定したトナ−５の測定量は前者の場合が図８に示す測定
曲線となり、後者の場合が図９に示す測定曲線となる。
つまり、前者の場合は、トナ−５による反射光Ｌ2と回
転ドラム３の表面による反射光Ｌ3とによってトナ−量
を測定しているため、トナ−が所定の付着量となるまで
は受光器２の受光量が減少し、その受光量から測定する
ことができるが、トナ−５の付着量が多くなるとトナ−
５による反射光Ｌ2が増加して受光器２が飽和状態とな
り、受光量が上昇して測定することができないことにな
る。図８におけるＰ点はその分岐点である。
定したトナ−５の測定量は前者の場合が図８に示す測定
曲線となり、後者の場合が図９に示す測定曲線となる。
つまり、前者の場合は、トナ−５による反射光Ｌ2と回
転ドラム３の表面による反射光Ｌ3とによってトナ−量
を測定しているため、トナ−が所定の付着量となるまで
は受光器２の受光量が減少し、その受光量から測定する
ことができるが、トナ−５の付着量が多くなるとトナ−
５による反射光Ｌ2が増加して受光器２が飽和状態とな
り、受光量が上昇して測定することができないことにな
る。図８におけるＰ点はその分岐点である。
【０００７】一方、後者の場合は、トナ−５によって乱
反射する光をとらえてトナ−量を測定しているため、ト
ナ−５の付着量が多くなると、やはり、受光器２が飽和
状態となり測定値の変化率が小さくなってしまう。した
がって、上記したいずれの測定装置の場合も正確な測定
量を得ることができない。
反射する光をとらえてトナ−量を測定しているため、ト
ナ−５の付着量が多くなると、やはり、受光器２が飽和
状態となり測定値の変化率が小さくなってしまう。した
がって、上記したいずれの測定装置の場合も正確な測定
量を得ることができない。
【０００８】そこで、本発明は、トナ−の付着量を正確
に測定することができるカラ−用トナ−の付着量測定装
置を開発することを目的とする。
に測定することができるカラ−用トナ−の付着量測定装
置を開発することを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】上記した目的を達成する
ため、本発明では、感光ドラムに付着した誘電体である
カラ−用トナ−に単一偏光光を投光する投光手段と、上
記トナ−への投光によって反射する光のうち投光手段と
同一の偏光光を選択して受光する第１の受光手段と、上
記トナ−への投光によって反射する光のうち投光手段と
異なる偏光光を選択して受光する第２の受光手段と、第
１、第２の受光手段の受光出力にもとづく信号差に応じ
てトナ−付着情報を出力する信号処理手段とを備えて構
成したことを特徴とする転写形カラ−プリンタのトナ−
付着量測定装置を提案する。
ため、本発明では、感光ドラムに付着した誘電体である
カラ−用トナ−に単一偏光光を投光する投光手段と、上
記トナ−への投光によって反射する光のうち投光手段と
同一の偏光光を選択して受光する第１の受光手段と、上
記トナ−への投光によって反射する光のうち投光手段と
異なる偏光光を選択して受光する第２の受光手段と、第
１、第２の受光手段の受光出力にもとづく信号差に応じ
てトナ−付着情報を出力する信号処理手段とを備えて構
成したことを特徴とする転写形カラ−プリンタのトナ−
付着量測定装置を提案する。
【００１０】
【作用】感光ドラムに付着しているカラ−用トナ−に対
し投光手段から単一の偏光光を投光すると、この投光光
の一部がトナ−の表面によって反射し、残りがトナ−を
透過して感光ドラムによって反射する。また、トナ−に
よって反射される光はトナ−が誘電体であることから投
光手段とは異なる偏光光を含んでいる。
し投光手段から単一の偏光光を投光すると、この投光光
の一部がトナ−の表面によって反射し、残りがトナ−を
透過して感光ドラムによって反射する。また、トナ−に
よって反射される光はトナ−が誘電体であることから投
光手段とは異なる偏光光を含んでいる。
【００１１】これら反射光のうち、第１の受光手段が投
光手段から投光される偏光光と同一の偏光光を選択して
受光する。つまり、トナ−からの反射光のうちの投光手
段と同一偏光の光と感光ドラムからの反射光を受光す
る。また、第２の受光手段が投光手段から投光される偏
光光と異なる偏光光を選択して受光する。つまり、トナ
−からの反射光のうちの投光手段と異なる偏光の光のみ
を受光する。
光手段から投光される偏光光と同一の偏光光を選択して
受光する。つまり、トナ−からの反射光のうちの投光手
段と同一偏光の光と感光ドラムからの反射光を受光す
る。また、第２の受光手段が投光手段から投光される偏
光光と異なる偏光光を選択して受光する。つまり、トナ
−からの反射光のうちの投光手段と異なる偏光の光のみ
を受光する。
【００１２】第１、第２の受光手段で受光したトナ−か
らの反射光は互いに比例関係にあり、第２の受光手段の
受光出力に一定係数を乗じることにより第１の受光手段
におけるトナ−からの反射光を算出できる。第１の受光
手段の受光出力から第２の受光手段の受光出力に一定係
数を乗じた値を引くと感光ドラムからの反射光の受光出
力となる。
らの反射光は互いに比例関係にあり、第２の受光手段の
受光出力に一定係数を乗じることにより第１の受光手段
におけるトナ−からの反射光を算出できる。第１の受光
手段の受光出力から第２の受光手段の受光出力に一定係
数を乗じた値を引くと感光ドラムからの反射光の受光出
力となる。
【００１３】感光ドラムからの反射光はトナ−の反射光
以外の光であり、トナ−の付着量が多いと減光し、トナ
−の付着量が少ないと増光する。これより、感光ドラム
の反射光からトナ−の付着量を測定することができる。
上記した演算処理は、第１、第２の受光手段からの受光
出力をもとに信号処理手段によって行なわれる。
以外の光であり、トナ−の付着量が多いと減光し、トナ
−の付着量が少ないと増光する。これより、感光ドラム
の反射光からトナ−の付着量を測定することができる。
上記した演算処理は、第１、第２の受光手段からの受光
出力をもとに信号処理手段によって行なわれる。
【００１４】
【実施例】次に、本発明の実施例について図面に沿って
説明する。図１及び図２は本発明の第１実施例を示し、
図１は付着量測定装置の簡略的な斜視図であり、図２は
同装置の簡略的な部分図である。
説明する。図１及び図２は本発明の第１実施例を示し、
図１は付着量測定装置の簡略的な斜視図であり、図２は
同装置の簡略的な部分図である。
【００１５】金属製の回転ドラム５０ａをセレン、アモ
ルファスシリコン等の感光体５０ｂで表装した感光ドラ
ム５０の表面には転写するためのカラ−用トナ−５１が
付着している。このトナ−５１は誘電体で帯電により付
着する。
ルファスシリコン等の感光体５０ｂで表装した感光ドラ
ム５０の表面には転写するためのカラ−用トナ−５１が
付着している。このトナ−５１は誘電体で帯電により付
着する。
【００１６】感光ドラム５０の表面に測定光を投光する
投光手段と、投光手段の投光によって反射する光を受光
する２つの受光手段とが設けられている。投光手段は、
ＬＥＤなどの光源５２とＰ偏光の光を透過させる偏光フ
ィルタ５３とから構成されている。
投光手段と、投光手段の投光によって反射する光を受光
する２つの受光手段とが設けられている。投光手段は、
ＬＥＤなどの光源５２とＰ偏光の光を透過させる偏光フ
ィルタ５３とから構成されている。
【００１７】また、２つの受光手段のうち第１の受光手
段は受光素子５４とＰ偏光の光を透過させる偏光フィル
タ５５とから構成され、第２の受光手段は受光素子５６
とＳ偏光の光を透過させる偏光フィルタ５７とから構成
されている。なお、上記した第２の受光手段は、感光ド
ラム５０の法線方向からの入射光を受光するように受光
素子５６と偏光フィルタ５７とが配置されている。
段は受光素子５４とＰ偏光の光を透過させる偏光フィル
タ５５とから構成され、第２の受光手段は受光素子５６
とＳ偏光の光を透過させる偏光フィルタ５７とから構成
されている。なお、上記した第２の受光手段は、感光ド
ラム５０の法線方向からの入射光を受光するように受光
素子５６と偏光フィルタ５７とが配置されている。
【００１８】光源５２から感光ドラム５０に付着したト
ナ−５１に測定光を投光すると、Ｐ偏光の光Ｐ1と、Ｓ
偏光の光Ｓ1とを含んだ測定光はＰ偏光フィルタ５３を
通過することにより、光Ｓ1がカットされ、光Ｐ1のみが
トナ−５１に投光される。
ナ−５１に測定光を投光すると、Ｐ偏光の光Ｐ1と、Ｓ
偏光の光Ｓ1とを含んだ測定光はＰ偏光フィルタ５３を
通過することにより、光Ｓ1がカットされ、光Ｐ1のみが
トナ−５１に投光される。
【００１９】トナ−５１の入射光Ｐ1は、誘電体である
トナ−５１の表面で一部が反射し、一部がトナ−５１を
透過する。トナ−５１を透過した光はさらに感光体５０
ｂの表面でその一部が反射し、一部が感光体５０ｂを透
過する。そして、感光体５０ｂを透過した光は回転ドラ
ム５０ａの表面で全て反射する。
トナ−５１の表面で一部が反射し、一部がトナ−５１を
透過する。トナ−５１を透過した光はさらに感光体５０
ｂの表面でその一部が反射し、一部が感光体５０ｂを透
過する。そして、感光体５０ｂを透過した光は回転ドラ
ム５０ａの表面で全て反射する。
【００２０】上記した各々の反射光は、トナ−５１の表
面で反射した光が、誘電体であるトナ−５１によって偏
光が乱され、Ｐ偏光の光とＳ偏光の光とを含むようにな
り、また、感光体５０ｂの表面で反射した光は、感光体
５０ｂが光の入射時に導通性をもち非誘電体となること
から偏光は乱されることなくＰ偏光の光となる。また、
回転ドラム５０ａの表面で反射した光は、回転ドラム５
０ａが金属製であることから非誘電体であり偏光は乱さ
れることなくＰ偏光の光となる。
面で反射した光が、誘電体であるトナ−５１によって偏
光が乱され、Ｐ偏光の光とＳ偏光の光とを含むようにな
り、また、感光体５０ｂの表面で反射した光は、感光体
５０ｂが光の入射時に導通性をもち非誘電体となること
から偏光は乱されることなくＰ偏光の光となる。また、
回転ドラム５０ａの表面で反射した光は、回転ドラム５
０ａが金属製であることから非誘電体であり偏光は乱さ
れることなくＰ偏光の光となる。
【００２１】第１の受光手段として備えた受光素子５４
に向かう光は、図２に示す如く、トナ−５１の表面で反
射したＰ偏光の光Ｐ2とＳ偏光の光Ｓ2、感光体５０ｂの
表面で反射したＰ偏光の光Ｐ3及び回転ドラム５０ａの
表面で反射したＰ偏光の光Ｐ4となる。そして、これら
の光の中からＰ偏光フィルタ５５によってＳ偏光の光Ｓ
2がカットされ、受光素子５４に入射する光はＰ偏光の
光Ｐ2、Ｐ3、Ｐ4となる。
に向かう光は、図２に示す如く、トナ−５１の表面で反
射したＰ偏光の光Ｐ2とＳ偏光の光Ｓ2、感光体５０ｂの
表面で反射したＰ偏光の光Ｐ3及び回転ドラム５０ａの
表面で反射したＰ偏光の光Ｐ4となる。そして、これら
の光の中からＰ偏光フィルタ５５によってＳ偏光の光Ｓ
2がカットされ、受光素子５４に入射する光はＰ偏光の
光Ｐ2、Ｐ3、Ｐ4となる。
【００２２】一方、第２の受光手段として備えた受光素
子５６に向かう光は、この受光素子５６が感光体５０ｂ
の法線方向に備えられていることから、トナ−５１によ
って反射されたＰ偏光の光Ｐ5とＳ偏光の光Ｓ3となる
が、感光体５０ｂの表面状態によっては、この感光体５
０ｂの表面からの反射光にＰ偏光の光Ｐ6が含まれる。
そして、これらの光の中からＳ偏光フィルタ５７によっ
てＰ偏光の光Ｐ5、Ｐ6がカットされ、受光素子５６の入
射する光はＳ偏光の光Ｓ3だけとなる。
子５６に向かう光は、この受光素子５６が感光体５０ｂ
の法線方向に備えられていることから、トナ−５１によ
って反射されたＰ偏光の光Ｐ5とＳ偏光の光Ｓ3となる
が、感光体５０ｂの表面状態によっては、この感光体５
０ｂの表面からの反射光にＰ偏光の光Ｐ6が含まれる。
そして、これらの光の中からＳ偏光フィルタ５７によっ
てＰ偏光の光Ｐ5、Ｐ6がカットされ、受光素子５６の入
射する光はＳ偏光の光Ｓ3だけとなる。
【００２３】ここで、受光素子５４の受光する光Ｐ2、
Ｐ3、Ｐ4のうち、光Ｐ3、Ｐ4はトナ−５１によって遮光
された光であるから、これらの光Ｐ3、Ｐ4はトナ−５１
の付着量によって変化する。つまり、トナ−５１の付着
量が多い時は、光Ｐ3、Ｐ4は減少し、トナ−５１の付着
量が少ない時は、光Ｐ3、Ｐ4は増加する。そこで、光Ｐ
3、Ｐ4を計測することにより、トナ−５１の付着量を知
ることができる。
Ｐ3、Ｐ4のうち、光Ｐ3、Ｐ4はトナ−５１によって遮光
された光であるから、これらの光Ｐ3、Ｐ4はトナ−５１
の付着量によって変化する。つまり、トナ−５１の付着
量が多い時は、光Ｐ3、Ｐ4は減少し、トナ−５１の付着
量が少ない時は、光Ｐ3、Ｐ4は増加する。そこで、光Ｐ
3、Ｐ4を計測することにより、トナ−５１の付着量を知
ることができる。
【００２４】上記した受光素子５４の受光する光Ｐ2、
Ｐ3、Ｐ4のうち、光Ｐ2はトナ−５１によって反射した
光であり、受光素子５６の受光するトナ−５１によって
反射した光Ｓ3と比例関係にある。したがって、受光素
子５６の出力信号に一定係数Ｋを乗じることにより、光
Ｐ2と近似な値を求めることができる。
Ｐ3、Ｐ4のうち、光Ｐ2はトナ−５１によって反射した
光であり、受光素子５６の受光するトナ−５１によって
反射した光Ｓ3と比例関係にある。したがって、受光素
子５６の出力信号に一定係数Ｋを乗じることにより、光
Ｐ2と近似な値を求めることができる。
【００２５】この結果、受光素子５４の出力信号から受
光素子５６の出力信号に一定係数Ｋを乗じた値を引くこ
とにより光Ｐ3、Ｐ4が求められる。つまり、トナ−５１
の付着量をＴ、受光素子５４の出力信号をａ、受光素子
５６の出力信号をｂとすると、Ｔ∝ａ−Ｋｂとなる。
光素子５６の出力信号に一定係数Ｋを乗じた値を引くこ
とにより光Ｐ3、Ｐ4が求められる。つまり、トナ−５１
の付着量をＴ、受光素子５４の出力信号をａ、受光素子
５６の出力信号をｂとすると、Ｔ∝ａ−Ｋｂとなる。
【００２６】受光素子５４、５６は、各々の反射光を光
電変換して出力信号ａ、ｂを出力し、この出力信号ａ、
ｂは図３に示す信号処理手段として備えた信号処理回路
５８に送られる。信号処理回路５８は、増幅器５８ａ、
５８ｂと差動増幅器５８ｃとからなり、増幅器５８ａは
受光素子５４の出力信号ａをそのまま出力し、増幅器５
８ｂは受光素子５６の出力信号ｂに一定係数Ｋを乗じた
ｂＫの出力信号を出力するようにゲイン調整する。そし
て、増幅器５８ａ、５８ｂの出力信号ａ、ｂＫを入力す
る差動増幅器５８ｃがその差信号を算出し、測定デ−タ
Ｔとして出力する。このようにしてトナ−５１の付着量
が測定される。なお、出力信号ａが小さい場合は、増幅
器５８ａ、５８ｂに一定増幅率を与えればよい。
電変換して出力信号ａ、ｂを出力し、この出力信号ａ、
ｂは図３に示す信号処理手段として備えた信号処理回路
５８に送られる。信号処理回路５８は、増幅器５８ａ、
５８ｂと差動増幅器５８ｃとからなり、増幅器５８ａは
受光素子５４の出力信号ａをそのまま出力し、増幅器５
８ｂは受光素子５６の出力信号ｂに一定係数Ｋを乗じた
ｂＫの出力信号を出力するようにゲイン調整する。そし
て、増幅器５８ａ、５８ｂの出力信号ａ、ｂＫを入力す
る差動増幅器５８ｃがその差信号を算出し、測定デ−タ
Ｔとして出力する。このようにしてトナ−５１の付着量
が測定される。なお、出力信号ａが小さい場合は、増幅
器５８ａ、５８ｂに一定増幅率を与えればよい。
【００２７】上記した実施例は、第２の受光手段を感光
ドラム５０の法線方向に備えて構成したが、これに限ら
ず、図４に示すように構成することもできる。この実施
例では、投光手段５９から投光される単一偏光の光Ｐに
対し、第１の受光手段６０に向かう反射光は上記実施例
と同様にトナ−の表面で反射するＰ偏光とＳ偏光の光、
感光ドラム６１の表面で反射するＰ偏光の光となり、こ
のうち、トナ−の表面で反射するＳ偏光の光はこの受光
手段６０によってカットされ、Ｐ偏光の光のみが第１の
受光手段６０によって受光される。
ドラム５０の法線方向に備えて構成したが、これに限ら
ず、図４に示すように構成することもできる。この実施
例では、投光手段５９から投光される単一偏光の光Ｐに
対し、第１の受光手段６０に向かう反射光は上記実施例
と同様にトナ−の表面で反射するＰ偏光とＳ偏光の光、
感光ドラム６１の表面で反射するＰ偏光の光となり、こ
のうち、トナ−の表面で反射するＳ偏光の光はこの受光
手段６０によってカットされ、Ｐ偏光の光のみが第１の
受光手段６０によって受光される。
【００２８】また、第２の受光手段６２に向かう反射光
は、この第２の受光手段６２の配置が感光ドラム６１に
対して法線方向でないことから第１の受光手段６０と同
様に、トナ−の表面で反射するＰ偏光とＳ偏光の光、感
光ドラム６１の表面で反射するＰ偏光の光となり、この
うち、Ｐ偏光の光はこの受光手段６２によってカットさ
れ、トナ−の表面で反射するＳ偏光の光のみが第２の受
光手段６２によって受光される。
は、この第２の受光手段６２の配置が感光ドラム６１に
対して法線方向でないことから第１の受光手段６０と同
様に、トナ−の表面で反射するＰ偏光とＳ偏光の光、感
光ドラム６１の表面で反射するＰ偏光の光となり、この
うち、Ｐ偏光の光はこの受光手段６２によってカットさ
れ、トナ−の表面で反射するＳ偏光の光のみが第２の受
光手段６２によって受光される。
【００２９】したがって、上記実施例と同様、第１の受
光手段６０の出力信号をａ、第２の受光手段６２の出力
信号をｂとすれば、トナ−の付着量Ｔを、Ｔ∝ａ−Ｋｂ
（Ｋは一定係数）で求めることができる。
光手段６０の出力信号をａ、第２の受光手段６２の出力
信号をｂとすれば、トナ−の付着量Ｔを、Ｔ∝ａ−Ｋｂ
（Ｋは一定係数）で求めることができる。
【００３０】図５は、本発明の第２実施例を示す付着量
測定装置の簡略的な部分図である。この実施例は、トナ
−５１への投光によって反射する光を偏光分離プリズム
６３でＰ偏光の光とＳ偏光の光とに分離し、これら分離
された光を第１、第２の受光手段６４、６５で受光する
構成としたものである。なお、この実施例の説明のなか
で、第１実施例と同様の部材については同一符号を付し
てその説明を省略してある。
測定装置の簡略的な部分図である。この実施例は、トナ
−５１への投光によって反射する光を偏光分離プリズム
６３でＰ偏光の光とＳ偏光の光とに分離し、これら分離
された光を第１、第２の受光手段６４、６５で受光する
構成としたものである。なお、この実施例の説明のなか
で、第１実施例と同様の部材については同一符号を付し
てその説明を省略してある。
【００３１】カラ−用トナ−５１には光源５２からの光
のうち、Ｐ偏光フィルタ５３によって選別されたＰ偏光
の光Ｐ1が投光される。トナ−５１に投光された光は、
一部が誘電体のトナ−５１によってＰ偏光の光Ｐ2とＳ
偏光の光Ｓ2とになって反射し、トナ−５１を透過した
光は一部が感光体５０ｂの表面でＰ偏光の光Ｐ3となっ
て反射する。また、感光体５０ｂを透過した残りの光は
全て回転ドラム５０ａの表面でＰ偏光の光Ｐ4となって
反射する。
のうち、Ｐ偏光フィルタ５３によって選別されたＰ偏光
の光Ｐ1が投光される。トナ−５１に投光された光は、
一部が誘電体のトナ−５１によってＰ偏光の光Ｐ2とＳ
偏光の光Ｓ2とになって反射し、トナ−５１を透過した
光は一部が感光体５０ｂの表面でＰ偏光の光Ｐ3となっ
て反射する。また、感光体５０ｂを透過した残りの光は
全て回転ドラム５０ａの表面でＰ偏光の光Ｐ4となって
反射する。
【００３２】これら反射光Ｓ2、Ｐ2、Ｐ3、Ｐ4は反射光
路上に備えた偏光分離プリズム６３に入射し、Ｐ成分の
光Ｐ2、Ｐ3、Ｐ4とＳ成分の光Ｓ2とに分離される。この
ようにして分離された光は、各々の光路上に備えた受光
素子６４、６５によって受光される。つまり、受光素子
６４はＰ偏光の光Ｐ2、Ｐ3、Ｐ4を受光し、受光素子６
５はＳ偏光の光Ｓ2を受光する。
路上に備えた偏光分離プリズム６３に入射し、Ｐ成分の
光Ｐ2、Ｐ3、Ｐ4とＳ成分の光Ｓ2とに分離される。この
ようにして分離された光は、各々の光路上に備えた受光
素子６４、６５によって受光される。つまり、受光素子
６４はＰ偏光の光Ｐ2、Ｐ3、Ｐ4を受光し、受光素子６
５はＳ偏光の光Ｓ2を受光する。
【００３３】そして、Ｐ偏光の光Ｐ2とＳ偏光の光Ｓ2と
は各々トナ−５１の表面による反射光であり、これらは
比例関係にあることから、受光素子６４の出力信号を
ａ、受光素子６５の出力信号をｂとすれば、トナ−５１
の付着量Ｔは、Ｔ∝ａ−Ｋｂ（Ｋは一定係数）として求
めることができる。上記したトナ−５１の付着量Ｔの算
出は、第１実施例と同様の信号処理回路５８で行なわれ
る。
は各々トナ−５１の表面による反射光であり、これらは
比例関係にあることから、受光素子６４の出力信号を
ａ、受光素子６５の出力信号をｂとすれば、トナ−５１
の付着量Ｔは、Ｔ∝ａ−Ｋｂ（Ｋは一定係数）として求
めることができる。上記したトナ−５１の付着量Ｔの算
出は、第１実施例と同様の信号処理回路５８で行なわれ
る。
【００３４】
【発明の効果】上記した通り、本発明に係るカラ−用ト
ナ−の付着量測定装置は、光の偏光を利用して測定する
ため、トナ−の付着量が多少に関係なく、その付着量を
正確に測定することができる。
ナ−の付着量測定装置は、光の偏光を利用して測定する
ため、トナ−の付着量が多少に関係なく、その付着量を
正確に測定することができる。
【図１】本発明の第１実施例であり、付着量測定装置の
簡略的な斜視図である。
簡略的な斜視図である。
【図２】図１に示す付着量測定装置の簡略的な部分図で
ある。
ある。
【図３】付着量測定装置に備えた信号処理回路を示す回
路図である。
路図である。
【図４】第１実施例の応用例を示し、付着量測定装置を
側面からみた簡略図である。
側面からみた簡略図である。
【図５】本発明の第２実施例であり、付着量測定装置の
簡略的な部分図である。
簡略的な部分図である。
【図６】従来例として示した付着量測定装置の簡略的な
部分図である。
部分図である。
【図７】従来における他の例として示した付着量測定装
置の簡略的な部分図である。
置の簡略的な部分図である。
【図８】図６に示した付着量測定装置の測定曲線を示す
図である。
図である。
【図９】図７で示した付着量測定装置の測定曲線を示す
図である。
図である。
５０ 感光ドラム ５１ トナ− ５２ 光源 ５３ Ｐ偏光フィルタ ５４ 受光素子 ５５ Ｐ偏光フィルタ ５６ 受光素子 ５７ Ｓ偏光フィルタ ５８ 信号処理回路
Claims (1)
- 【請求項１】 感光ドラムに付着した誘電体であるカラ
−用トナ−に単一偏光光を投光する投光手段と、上記ト
ナ−への投光によって反射する光のうち投光手段と同一
の偏光光を選択して受光する第１の受光手段と、上記ト
ナ−への投光によって反射する光のうち投光手段と異な
る偏光光を選択して受光する第２の受光手段と、第１、
第２の受光手段の受光出力にもとづく信号差に応じてト
ナ−付着情報を出力する信号処理手段とを備えて構成し
たことを特徴とする転写形カラ−プリンタのトナ−付着
量測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5059328A JP2729976B2 (ja) | 1993-02-25 | 1993-02-25 | 転写形カラープリンタのトナー付着量測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5059328A JP2729976B2 (ja) | 1993-02-25 | 1993-02-25 | 転写形カラープリンタのトナー付着量測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06250480A true JPH06250480A (ja) | 1994-09-09 |
| JP2729976B2 JP2729976B2 (ja) | 1998-03-18 |
Family
ID=13110172
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5059328A Expired - Fee Related JP2729976B2 (ja) | 1993-02-25 | 1993-02-25 | 転写形カラープリンタのトナー付着量測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2729976B2 (ja) |
Cited By (17)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| EP1231520A2 (en) | 2001-02-09 | 2002-08-14 | Canon Kabushiki Kaisha | Image forming apparatus |
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| US10719038B2 (en) | 2018-07-26 | 2020-07-21 | Canon Kabushiki Kaisha | Image forming apparatus adjusting light emission of light-emitting element |
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| JPS6057868A (ja) * | 1983-09-09 | 1985-04-03 | Canon Inc | 画像濃度制御方法 |
-
1993
- 1993-02-25 JP JP5059328A patent/JP2729976B2/ja not_active Expired - Fee Related
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