JPH0547418Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本考案は回路板と回路テスタとの接続確認装置
に関する。

〔従来技術及びその問題点〕

一般に市販されているプリント回路板はその品
質を向上するためにしばしば詳細なテストを受け
る。回路板のテストに対する一案は回路テスタ上
に回路板を載置することである。この場合、回路
テスタは、“針のベツド”と呼ばれスプリング上
に配置されたピン状のコネクタ配列を含む接続表
面を具えている。そして回路板に対応したある種
のテンプレートがピン状のコネクタ配列の頂部に
載置されており、該コネクタのいくつかは押下げ
られ、一方ある選択されたコネクタのみが前記テ
ンプレートを貫通する。次に回路板は前記針のベ
ツド上に載置され、そしてピン状のコネクタのう
ち、テンプレートを貫通したものが回路板と回路
テスタとの間を電気的に接触される。一旦電気的
な接触が完成すると、回路テスタは回路板に電気
的信号を与え、そして回路板が正しく機能してい
るかが確認される。

ときどき、回路板と回路テスタとの間の正しい
接続が、ある選択された接触点では確定されない
ことがある。この現象が起つたとき回路テスタ
は、回路板に正しく電気信号を供給することがで
きず、すなわちそれは回路板に欠陥があるという
不正確な決定をする。この誤認操作を防ぐため
に、回路板と回路テスタとの間の電気的な接続を
確認する装置の実現が要望されていた。

電気的な接続を確認する一つの方法は、回路板
上の接触点に第１電気的プローブを置き、そして
第２電気的プローブを回路テスタ上の接触ピン上
に置くことである。これら２つのプローブ間のイ
ンピーダンスが測定され、その測定値から電気的
接触が達成されているか否かが決定される。しか
しながらこの方法は、操作者が回路板上の接触点
とこれに対応する回路テスタ内の接触ピンとを探
知するために無駄な時間を浪費する。しかも、一
度特定の接触点とこれに対応する接触ピンとが見
つかると、第１および第２プローブは、これらが
電気的に結合されているか否かを決定するために
これらの選択された接触点と接触ピンとに同時に
接続されることが必要である。

〔考案の目的〕

本考案は上述の２個のプローブによる複雑な操
作や欠点を除去するためになされたものである。

〔考案の概要〕

本考案の一実施例によれば、回路板上の第１接
触点と回路テスタ上の第１接触ピンとの間の電気
的結合を確認するための装置が与えられる。回路
テスタ内において、サンプルおよびホールド回路
例えば“１”の捕獲器は第１接触ビンに電気的に
結合される。先ず前記サンプルおよびホールド回
路は第１の電圧信号に初期化される。次に第２電
圧信号を有する電気的プローブは回路板における
前記第１接触点を含む複数の接触ピンを横切つて
移動される。もし、第１接触点が第１接触ピンに
電気的に結合されていると、第３の電圧信号が前
記サンプルおよびホールド回路の出力端に現わ
れ、それが保持される。これに対して、これらが
電気的に結合していないとき、第１電圧信号がサ
ンプルおよびホールド回路を再初期化し、そし
て、次の第２接触ピンに電気的に結合することに
より、第２接触点と第２接触ピンとの電気的結合
がテストされる。

〔考案の実施例〕

第２図は一連の接触ピン２１によつて形成され
た“針のベツド”を有する回路テスタ２０を示す
模形図である。回路板１０は前記接触ピン２１上
に載置されている。一連の接触点例えばIC素子
１２における一連の電気的なリード線１３は、一
連の電気的ノード２２において接触ピン２１に結
合する。前記接触ピン２１のうちの第１の接触ピ
ンが電気的リード線１３のうちの第１リード線と
電気的に結合しているか否かを決定するために、
回路テスタ２０は接触ピン２１からその第１接触
ピンを選択する。

第３図は本考案に含まれ、その一実施例による
信号捕獲器（キヤツチヤー）として使用される
JKフリツプフロツプを示す電気的回路図である。
ここで前記回路テスタ２０内の第１接触ピンは増
幅器３６を経てフリツプフロツプ３０のＪ入力端
に電気的に結合される。フリツプフロツプ３０は
サンプルおよびホールド回路としての機能をも
つ。サンプルおよびホールド回路はその出力が第
１電圧信号に初期化される回路である。次にサン
プルおよびホールド回路は入力信号を周期的にサ
ンプルする。もし第２電圧信号がＪ入力端にある
ならば、該サンプルおよびホールド回路の出力３
１が第３電圧信号に変化する。そして前記サンプ
ルおよびホールド回路は、それが第１電圧信号に
再初期化されるまで、Ｊ入力端の電圧値には関係
なしに第３電圧信号を保持する。

フリツプフロツプ３０は“１”の捕獲器として
知られている特殊のサンプルおよびホールド回路
である。“１”の捕獲器は、第１電圧信号が論理
０例えば０ボルトであり、そして第２電圧信号お
よび第３電圧信号が論理１例えば５ボルトである
サンプルおよびホールド回路である。フリツプフ
ロツプ３０はクリア入力端（CLR）３７への信
号により論理０に初期化されるＱ出力端３１を有
する。Ｋ入力端３３は例えば０ボルトに保持され
ている接地点に接続される。

第１図に示すように、電気的プローブ１４は
IC素子１２のリード線１３を横切つて移動する
（例えば矢印１５の方向）ことによつて電気的リ
ード線１３のそれぞれに一時的に結合される。プ
ローブ１４は線１６を介して電圧源１７に電気的
に接続されることにより、例えば0.3ボルトの電
圧に付勢される。プローブ１４が各リード線１３
に接触している第１周期の時間に、電気的リード
線１３の各リード線は0.3ボルトに上昇される。

もし、接触ピン２１の第１接触ピンが電気的リ
ード線１３の第１リード線に電気的に接触し、そ
して第１周期の間プローブ１４がその第１リード
線に接触したとき、増幅器３６は入力端３４を論
理１に上昇させる。クロツク源３５は、この第１
周期中に少なくとも一つのクロツクパルスがフリ
ツプフロツプ３０に到達するのを確実にするのに
十分な周波数（例えば2MHz）のクロツクパルス
を発生する。この第１周期中でフリツプフロツプ
３０がクロツクパルスを受信すると、フリツプフ
ロツプ３０はそのＪ入力端３４上の論理１信号を
検出し、そして出力端３１上に論理１信号を送り
だす。出力３１はその後回路テスタ２０または操
作者によつて再初期化されるまで論理１信号に保
持される。もし、第１の接触ピンが第１リード線
に電気的に結合していないときには、増幅器３６
は入力端を論理１信号に上昇させず、そして出力
端３１は論理０信号に残つたままである。

前述のようにサンプルおよびホールド回路に対
しての“１”の捕獲器を使用した場合を仮定し
た。なお、サンプルおよびホールド回路としては
他の形例えば“０”の捕獲器を使用してもよく、
そのとき第１電圧信号が論理１信号で、第２、第
３の電圧信号は論理０信号である。

更には、サンプルおよびホールド回路の複数個
を一度に使用することもできる。例えば、接触ピ
ン２１の第２接触ピンが第２捕獲器に結合されて
もよい。この場合には、プローブ１４が電気的リ
ード線１３を横切つて移動したとき、第２捕獲器
は第２接触ピンが電気的リード線１３の第２リー
ド線に電気的に結合しているかどうかを同時に確
認する。

【図面の簡単な説明】

第１図は回路基板と、その上のIC素子と、本
考案に含まれる電気的プローブとを示す概略図、
第２図は第１図の側面図で、回路基板と、該回路
基板のIC素子と、IC素子の電気的リード線と、
本考案に含まれる回路テスタと、該回路テスタの
“針のベツド”を形成する一連の接触ピンとを示
す側面図、第３図は本考案に含まれる、“１”の
捕獲器（キヤツチヤー）として使用されるJKフ
リツプフロツプの電気的回路図である。 １０……回路板、１２……IC素子、１３……
リード線、１４……プローブ、１７……電圧源、
２０……回路テスター、２１……接触ピン、３０
……サンプルおよびホールド回路、３４……増幅
器、３５……クロツク源。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) スプリングで支持された複数個の接触ピンが
   配列された接続表面を有する回路テスタと、前
   記接続表面に回路板を載置して、前記回路板に
   おける特定の接触点と前記接触ピンとを一時的
   に接触させる接触手段と、電圧源に接続される
   と共に、前記接触点に接触され、前記接触され
   た接触点と接触ピンにおける電圧を一時的に変
   更するプローブ手段と、前記回路テスタ内で前
   記接触ピンに接続されて前記接触ピンにおける
   電圧を検出すると共に、前記接触点と接触ピン
   とが電気的に接触しているときには第１電圧を
   記憶し、非接触のときには第２電圧を記憶する
   記憶手段とより成り、前記第１、第２電圧の区
   別により回路板の特定接触点と回路テスタとの
   接続を確認する装置。 (2) 前記記憶手段は各接触ピンにそれぞれ接続さ
   れている実用新案登録請求の範囲第１項に記載
   の装置。 (3) 前記記憶手段はJKフリツプフロツプで構成
   される実用新案登録請求の範囲第１項に記載の
   装置。