JPH0543068B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、偏平な回路基板に各種の電子部品を
装着して組立てられた被検査体としての実装回路
基板（以下、たんに回路基板という）を最終的に
導通検査する回路基板検査装置に係り、特に、各
種の電子部品を回路基板の両面に装着した被検査
体を検査する両面回路基板検査装置に関する。

〔従来の技術〕

既に提案されているこの種の回路基板検査装置
は、回路基板の片面のみに各種の電子部品を装着
した被検査体として回路基板に多数のコンタクト
ピンすなわちコンタクトプロープを接触させて導
通検査している。

すなわち、上述した回路基板検査装置は、ピン
ボードに多数のコンタクトピンに弾発的に植設
し、これらのコンタクトピンを、回路基板の一面
に装着された各電子部品から回路基板の他面へ突
出する導体部分に上方または下方から前進させて
圧接し、これによつて電気的導通検査を施すよう
になつている。

このように、被検査体としての回路基板は、そ
の一面に各種電子を装着し、回路基板の他面が検
査回路面を形成している関係上、コンタクトピン
を被検査体の他面側から回路基板に接触導通させ
て測定検査が行われる。

〔発明が解決しようとする問題点〕

しかしながら、最近の回路基板に使用される各
種の電子部品はますます小型化されているので、
高密度配置を予儀なくされ、これに起因して、回
路基板の表裏、つまり、両面にそれぞれ装着して
使用されるため、これらの両面回路基板の導通検
査は、両面回路基板の上・下方向から一挙に一工
程で導通検査することが望まれている。

一方、電子部品の高密度配置に伴いコンタクト
ピンの配置も高密度化されかつコンタクトピン自
体が細くなつている。したがつて、回路基板とコ
ンタクトピンの相対的位置に少しでも狂いがある
と、コンタクトピンは接触すべき回路パターン上
の検査点とは異なる位置へ接触してしまう。

ところが、回路基板の位置決めのために用いる
位置決め孔は、いかに正確に加工しても、回路基
板の回路パターンの製作時点とは異なる時点に作
られるので、回路パターンに対する相対位置に製
作上の誤差が発生し易い。

本発明の前述の問題点に鑑みなされたもので、
その目的は、両面回路基板の両面の導通検査を同
時に行うことができ、しかも、高密度化された回
路基板パターンに対し正確にコンタクトピンの先
端を接触させることができる回路基板検査装置を
得ることにある。

〔問題点を解決するための手段〕

本発明の回路基板検査装置は、支持ベースに複
数の案内支柱を樹立し、各案内支柱の上部に、下
向きのコンタクトピンを有する上部ピンボードを
備えた固定板を支持し、この固定板と支持ベース
の間には、上向きのコンタクトピンを有する下部
ピンボードを備えた可動板を、上方へ向かつて移
動自在に各案内支柱により支持し、前記下部ピン
ボートの上位でしかも前記上部ピンボートの下位
において、前記各案内支柱に上下に摺動自在に枠
状の保持部材を嵌装し、固定板と保持部材との間
および可動板と保持部材との間にそれぞれ弾性材
を介在させ、保持部材上には、検査すべき両面回
路基板をその上下面が上下に露出する状態で位置
決めし支持する回路基板支持テーブルを、水平方
向に前後左右に微調整可能に支承し、回路基板支
持テーブル上方位置には、それにより位置決め支
持された両面回路基板上面の指標の位置を検知す
る回路基板位置検知装置を設け、前記保持部材に
は、それに対する回路基板支持テーブルの前後左
右位置の微調整を行う微調整装置を設けたことを
特徴とする。

〔作用〕

上記構成により、本発明では下部ピンボードの
上昇により、それと上部ピンボードとの間に回路
基板が挟まれて、その両面の検査が同時に行われ
る。また、回路基板への回路パターンの製作と同
時に、回路基板に適当なマークすなわち指標を形
成しておき、その回路基板を回路基板支持テーブ
ル上に装着した後、該支持テーブルを前後左右に
微調整して指標が所定の位置へ来るようにし、そ
れを回路基板位置検知装置により検出した後検査
が行われる。

〔実施例〕

以下、本発明を図示の一実施例について説明す
る。

第１図において、符号２は、偏平な四角形状支
持ベースであつて、この支持ベース２上の各角隅
部には、４本の案内支柱３が植設されており、こ
の案内支柱３の上部には、多数の下向きのコンタ
クトピン４を有する上部ピンボード６ａを支持す
る固定板６が水平に固着されている。上部ピンボ
ード６ａは固定板６の下面にスペーサ板７等を介
して支持されている。コンタクトピン４の上端は
導電線４ａを介して図示しない上部コネクタに接
続されている。このコネクタは図示しない導通検
査用計器に接続される。

一方、上記固定板６の下方において、上記各案
内支柱３には、下部ピンボード８ａをスペーサ板
５を介して支持する可動板８が上、下方向に摺動
自在に嵌装されており、この下部ピンボード８ａ
の上面には多数のコンタクトピン９が上向きに、
しかも弾発的に昇降するように設けられている。
なお、コンタクトピン９の下端は、図示しない下
部コネクタ２に導電線９ａを通して接続されてい
る。可動板８は案内支柱３に対しベアリング８ｂ
により支持される。また、導電線９ａは前述の計
器に接続される。

前記上部ピンボード６ａの下部ピンボード８ａ
の間において、各案内支柱３には、中央部に大き
な開口１０ａを有する扁平な枠状保持部材１０が
ベアリング１０ｂを介して上、下方向に摺動自在
に嵌装されており、この保持部材１０は、第２図
に示すように、それと可動板８の間、およびそれ
と固定板６の間にそれぞれ介装した弾性材、たと
えば圧縮コイルばね１４，１５によつて浮動状態
に保持されている。すなわち、可動板８上には、
各一対をなすガイドピン１１が上方へ向かつて立
設されており、この各ガイドピン１１の直上に位
置する上記保持部材１０には各一対をなすガイド
ピン１２が上下に貫通して植切されている。さら
に、各ガイドピン１２の直上に位置する上記固定
板６の部分には、各一対のなすガイドピン１３が
垂設されている。そして、各ガイドピン１１と各
ガイドピン１２の下側への突出部との間には、保
持部材１０と可動板８との間に介在するように前
記コイルばね１４が弾発的に介装されており、上
記各ガイドピン１２の上側突出部とガイドピン１
３との間には、保持部材１０と固定板６との間に
介在するように、前記コイルばね１５が弾発的に
介装されており、特に、上部のコイルばね１５は
下部のコイルばね１４の弾力より弱く形成されて
いる。

第３図に示すように、上部ピンボード６ａには
案内スリーブ１７が固定され、このスリーブ１７
内に摺動ピン１６が上下に変位自在に設けられ、
スリーブ１７は、スリーブ１７の上部端壁との間
に介装した圧縮コイルばね１８によつて下降の限
度まで弾圧されている。そして、このような摺動
ピン１６は上部ピンボード６ａの他の個所にも設
けられ、これらの摺動ピン１６の下端に、上部コ
ンタクトピン４の先端すなわち下端を保護する保
護板１９が固定されている。保護板１９には上部
コンタクトピン４の下端部が摺動自在に挿通され
ている。

同様に、下部ピンボード８ａにも、同じような
機能をもつ案内スリーブ２０、摺動ピン２１およ
び圧縮コイルばね２２が設けられ、摺動ピン２１
はばね２２により上昇の限度まで弾圧されてい
る。そして、摺動ピン２１の上端には下部コンタ
クトピン９の先端すなわち上端を保護する保護板
２３が固定されており、下部コンタクトピン９の
上端が保護板２３に摺動自在に挿通されている。

第３図において、保持部材１０には、回路基板
支持テーブル２５が水平方向に前後左右に微調整
可能に支持される。微調整のための構造について
は後述する。回路基板支持テーブル２５は、上面
に複数の位置決めピン２６を植設され、このピン
２６に両面を検査される回路基板Ｗの位置決め孔
がはめ込まれて、支持テーブル２５に対する回路
基板Ｗの位置決めがなされる。回路基板支持板２
５は四角形の枠状をなし、その四辺部下側に基枠
２７を固定してある。また、基板２７を収容し支
持するために基枠２７のまわりに支枠２８が設け
られて、前記保持部材１０にボルト２９により固
定されている。

第４図に示すように、前記支枠２８は四角形板
状の枠体で、その内側の回路基板支持テーブル２
５も、それに支持される回路基板Ｗの下面を下向
きに露出させうるように中心部に開口を有し、同
様に四角形状の枠体をなす板体である。

支枠２８の手前側および奥側には１対の対向す
る細長いＸ軸方向ガイド部材３０，３１が固定さ
れている。これらのガイド部材３０，３１は、第
４図の−断面を示す第５図の左右寄り部分に
も示されている。そして、これらガイド部材３
０，３１のそれぞれの内側に沿つてＸ軸方向（第
４図の左右方向）に案内されつつ摺動するように
細長い被案内部材３２，３３が設けられており、
これら被案内部材３２，３３は四角形枠３４の対
向する２辺に固着されている。したがつて、四角
形枠３４はＸ軸方向ガイド部材３０，３１に案内
されつつ支枠２８に対してＸ軸方向に変位可能で
ある。

四角形枠３４の他の対向する２辺の外側には、
細長いＹ軸方向ガイド部材３５，３６が固着され
ている。また、第４図の−断面を示す第６図
の左側よりに示すように、四角形枠３４と一体を
なす部材３８と支枠２８に突設したピン４０との
間には圧縮ばね４１が介装されている。また、第
６図の右側に示すように、四角形枠３４と一体を
なす取付部材４２から一体的に立上るように当接
板４３が設けられている。一方、支枠２８上の取
付板４４にはマイクロメータヘツドMCXが取付
けられ、その先端に測定子４５が接触している。
四角形枠３４のＸ軸方向左方（第６図における）
への変位は、圧縮ばね４１の弾力に抗して行われ
る。

四角形枠３４の左右のＹ軸方向ガイド部材３
５，３６の外側には、それに案内されつつＹ軸方
向に摺動変位する被案内部材４７，４８が位置し
ている。これらの被案内部材４７，４８は、第６
図に示すように回路基板支持テーブル２５の基枠
２７の下側に固定されている。したがつて、回路
基板支持テーブル２５は、Ｙ軸方向ガイド部材３
５，３６に案内されつつＹ軸方向に摺動変位可能
である。一方、回路基板支持テーブル２５を支承
する四角形枠３４がＸ軸方向ガイド部材３０，３
１に沿つてＸ軸方向に摺動変位自在であることに
より、回路基板支持テーブルはＸ軸方向にも摺動
変位可能である。

回転基板支持テーブル２５のＸ軸方向の微量調
節はＸ軸用マイクロメータヘツドMCXの回路操
作により行われる。マイクロメータヘツドMCX
の回動調整により、第６図において、当接板４３
が圧縮ばね４１を圧縮しつつ左方へ、また圧縮ば
ね４１の伸長力により右方へ変位する。

一方、回転基板支持テーブル２５のＹ軸方向の
微量調節は、第５図に示すＹ軸用マイクロメータ
ヘツドMCYの回動操作により行われる。同図に
示すように、四角形枠３４と一体的な部材５０か
ら立上り状に突設した取付部材５１に、上記マイ
クロメータヘツドMCYが取付けられ、また回転
基板支持テーブル２５の下面に固定した部材５２
には、先端に測定子５３を有する柱状部材５４の
基端が螺入により固定されている。また、マイク
ロメータヘツドMCYと反対の側にある四角形枠
３４の辺の内側と、回転基板支持テーブル基枠２
７のピン５６との間には圧縮ばね５７が介装され
ている。回転基板支持テーブル２５とＹ軸方向の
微量調節は、Ｙ軸用マイクロメータヘツドMCY
の回転操作によりＸ軸の場合に同様にして行うこ
とができる。

第２図に示すように、前記支持ベース２の後部
上面には、ブレーキ付のモータＭ１が設置されて
おり、このモータＭ１の出力軸６０には、逆ハー
ト形の第１カム部材６１および同軸的な２個の第
２カム部材６２ａ，６２ｂが取付けられている。

各第２カム部材６２ａ，６２ｂは基本的には円
形をなすが、その周縁上の一部に後述の上限スイ
ツチおよび下限スイツチに当接してそれを作動さ
せる突部を有している。突部の角度位置は２個の
第２カム部材でそれぞれ異なつている。

また、第１カム部材６１の回転領域に近接する
上記支持ベース２上の位置には、ブラケツト６２
が固設されており、このブラケツト６２には作動
レバー６３が支軸６４によつて枢着されている。
さらに、この作動レバー６３の一端部６３ａにあ
るローラは上記第１カム部材６１の周縁に接触し
ており、作動レバー６３の他端部６３ｂは、可動
板８の下側板体８ｃの底面に付設された当接部材
６６に前記コイルばね１４，１５の伸長しようと
する弾力によつて弾発的に当接している。さらに
また、上記第２カム部材６２ａ，６２ｂの回転軌
跡上には、第１図に示すように上限スイツチSa
と下限スイツチSbとが設けられており、上限ス
イツチSaは、後述のように下部ピンボード８ａ
および可動板８が上限位置に上昇したときにカム
６２ａの突部により作動してモータＭ１を停止さ
せるようになつており、下限スイツチSbは、後
述のように下部ピボード８ａおよび可動板８が下
限位置に下降したときにカム６２ｂの突部により
作動するようになつている。

第２図に示すように、上部ピンポード６ａおよ
びその下側に支持されるコンタクトピン先端保護
板１９は、同図で実線で示す作用位置とそれから
後退し鎖線位置との間で移動自在となつている。
このような移動を可能とするために、上部ピンボ
ード６ａの両端のスペーサ板７の上端は、第１図
に示すように移動板７０に連結され、移動板７０
はその上面に固定した金具７１を介して、固定板
６の下面に前後方向に固定したガイド７２に沿い
移動自在に支持されている。

第２図に示すように、固定板６の下面の前部と
後部には、移動板７０の前進位置および後退位置
を規定するために移動板の図示しない突起に当接
するストツパ７４，７５が固定されている。ま
た、移動板７０の前進端位置および後退端位置を
検出するために検出スイツチ７６，７７が固定板
６の下面に取付けられている。

上部ピンボード６ａを第２図の実線位置と鎖線
位置との間で移動させるために、固定板６の後方
への延長部上に可逆転モータＭ２が設置されてい
る。可逆転モータＭ２の回転駆動軸は固定板６の
下側へ突出し、それに、第７図の平面図に示すよ
うに駆動プーリ８０が固定されている。一方、固
定板６の前部の下側には遊動プーリ８１が取付け
られており、これらのプーリ８０，８１に掛け渡
したワイヤロープ８２の両端は前記金具７１の側
面に８３，８４で示す位置でそれぞれ連結されて
いる。したがつて、モータＭ２の一方向への回転
により、移動板７０および上部ピンボード６ａは
前進し、モータＭ２の他方向への回転により移動
板７０および上部ピンボード６ａは後退する。

上部ピンボード６ａは、前進端位置へ達すると
ストツパ７４への当接により停止し、検出スイツ
チ７６の検出動作によりモータＭ２の一方向への
回転は停止する。一方、上部ピンボード６ａは、
後退端位置へ達するとストツパ７５への当接によ
り停止し、検出スイツチ７７の検出動作によりモ
ータＭ２の他方向への回転は停止する。

固定板６の上面の両側部には、第２図に示すよ
うにブラケツト８６が固定され、それにピン８７
によつてレバー８８の中程が枢着されている。レ
バー８８の一端はソレノイド駆動装置SL（第１
図、第２図）のプランジヤ９０にリンク９１を介
して連結されている。レバー８８の上記一端の下
降の限度はクツシヨンストツパ９２により定めら
れる。レバー８８の他端は位置決めピン９３の上
端に当接している。位置決めピン９３はそれを受
けるスリーブ９４内で上下に摺動自在とされかつ
コイルばね９５により常時上方に付勢されてい
る。

一方、移動板７０には上向き穴を有する位置決
めピン受け９６が固定されている。

上部ピンボード６ａが第２図に実線で示す前進
位置に達して停止すると、近接スイツチ９８（第
１図の右上方）が作動して両ソレノイド駆動装置
SLを作動させる。これにより、そのプランジヤ
９０が後退し、レバー８８は第２図において反時
計方向に回動し、レバー８８の端部が前記位置決
めピン９３を、ばね９５の力に抗して押し下げ、
位置決めピン受け９６の上向き穴内へ係合させ
る。これにより、移動板７０および上部ピンボー
ド６ａ所定の前進位置にロツクされる。また、上
部ピンボード６ａの後退時には、ソレノイド駆動
装置SLが切られ、位置決めピン９３はばね９５
で押上げられて上部ピンボード６ａの移動板７０
のロツクが解かれる。

回路基板Ｗはその両面が検査されるものであつ
て、そのパターンを形成と同時に、その両端部寄
り位置にマークすなわち指標（例えば十印）が施
される。この指標は、パターンと同時に形成され
るのでパターンに対しては常に一定の位置関係に
ある。パターンと指標の形成時とは別に、回路基
板Ｗの適当位置に、第３図に示す回路基板位置決
めピン２６が挿入される位置決め孔が形成され
る。

回路基板Ｗの指標の位置を検知するために、固
定板６の両端部に回路基板位置検知装置１００が
取付部材１０１を介して設置される。第７図から
明らかなように、固定板６はその前部中央部が１
０２で示すように開放され、回路基板位置検知装
置１００はその開放部から下方へ突出するように
設けられている。

回路基板位置検知装置１００は例えば顕微鏡で
あり、そのレンズの光学系には回路基板に形成し
た指標を同じような十印が付されている。レンズ
の指標は、回路基板Ｗの回路パターンがコンタク
トピン４，９に対して所定の相対位置をとつた時
に、回路基板上の指標の位置と正確に合うように
設けられている。

回路基板Ｗ上の指標と回路基板位置検出装置１
００の指標の一致は、顕微鏡をその上方から肉眼
で覗くことにより検知することができる。

一方、顕微鏡で直接覗く代りに、第８図および
第９図に示すように、前記回路基板検査装置を収
めたケーシング１０４の上部にCRT装置１０５
をそれぞれ顕微鏡１００に対応させて設け、
CRT装置１０５の画面を見ることにより指標の
一致を確認するようにしてもよい。

つぎに、以上に説明した回路基板検査装置の作
用につき説明する。

この装置による検査の開始前には、上部ピンボ
ード６ａは第２図に鎖線で示す後退位置にあり、
したがつて、第７図に示す固定板６の前部開放部
１０２の下側に回路基板支持テーブル２５の上面
が露出している。よつて、回転基板支持テーブル
２５の上面にその位置決めピン２６（第３図）を
利用して回路基板Ｗを位置決めしつつ容易に載置
することができる。

このように回路基板Ｗを位置決め載置しても、
その回路パターンと位置決め孔とは加工誤差によ
り相対位置が必ずしも常に一定ではない。したが
つて、回路基板Ｗの回路パターンに対し正確な相
対位置にある指標が回路基板位置検出装置である
顕微鏡の光学系の指標と一致するまで、顕微鏡を
覗きつつ、またはCRT装置を見つつ、回路基板
支持テーブル２５を前後、左右、すなわちＹ軸方
向およびＸ軸方向に微量調節する。これはマイク
ロメータヘツドMCY，MCXの手による回動によ
り行うことができる。

以上のようにして、回路基板の位置決めが完了
したところで、モータＭ２を駆動して、後退位置
にある上部ピンボード６ａを第２図の実線位置へ
前進させて、回路基板Ｗの上方に位置させる。こ
れにより、ソレノイド駆動装置SLが作動し、位
置決めピン９３が下降して移動板７０および上部
ピンボード６ａを所定位置にロツクする。

これによつて、モータＭ１が駆動され、その出
力軸６０に固定された第１カム部材６１と第２カ
ム部材６２ａ，６２ｂが共に回転するので、逆ハ
ート形第１カム部材６１の***部は、作動レバー
６３を支軸６４の周りに第２図において時計方向
に旋回させる。これによつて、この作動レバー６
３の一端部６３ａが下方へ押され、その他端部６
３ｂが当接部材６６を介して可動板８を上方へ押
し上げる。

この押し上げによる可動板８の上昇により、下
部のコイルばね１４は押し上げ力を保持部材１０
に伝達し、保持部材１０をも上昇させる。押し上
げ力はさらに保持部材１０から上部のコイルばね
１５に伝達される。ところで、上部のコイルばね
１５の上端は固定板６に接触しており、しかも上
部のコイルばね１５は下部のコイルばね１４より
も弱いから可動板８の上昇開始により、まず上部
のコイルばね１５が圧縮され始める。この時、下
部のコイルばね１４の圧縮は殆んどなされず、し
たがつて可動板８上の下部ピンボード８ａの上向
きコンタクトピン９と、保持部材１０上の回路基
板Ｗとの相対距離の変化は殆んどない。これに対
し、上部コイルばね１５の圧縮によつて保持部材
１０上の回路基板Ｗと上部ピンボード６ａの下向
きコンタクトピン４の距離は漸次縮まり、遂に
は、回路基板Ｗの上面の検査点が下向きコンタク
トピン４に接する。

このような状態になつた後は上部コイルばね１
５の圧縮は止まる。また上部コイルばね１５はそ
の弱い弾力で、下向きコンタクトピン４と回路基
板Ｗの上面の電子部品との最初の接触時に軟い緩
衝作用を果たし、部品を保護する。回路基板Ｗの
上面の電子部品はフラツトパツケージであること
が多く、そのまわりに突出する多数の折曲導電腕
はきわめて弱く、例べば30グラムを越える力で変
形する。上部コイルばね１５の軟い緩衝作用は、
フラツトパツケージの弱い導電腕に所定の弱い力
でコンタクトピン４を接触させることを可能に
し、導電接着面の剥離等の事故を防ぎ正確な加圧
力を確保する。

このようにして所定の力で緩衝作用を伴なつて
下向きのコンタクトピン４と回路基板上面部品と
の接触を行ない、無理な応力なしに所定の導通関
係を確保した後、下部コイルばね１４の圧縮変形
を起しつつ可動板８がさらに上昇を続く、遂には
上向きコンタクトピン９の上端が、回路基板Ｗの
下面の電子部品に接触して、所定の導通関係を作
るので、それを検査表示計器により読取ることが
できる。

このようにして、可動板８が上限位置を達する
と、上限スイツチSa（第１図）が第２カム６２ａ
の突部により押されて閉じる。すると、モータＭ
１にブレーキがかかつてモータＭ１は停止する。

一方、これにより図示しない測定検査時間の規
制用タイマが作用し、数秒ないし数十秒の測定検
査時間の経過によつて、モータＭ１は再び回転を
開始する。

したがつて、第１カム部材６１は、下部ピンボ
ード８ａ、可動板８および保持部材１０等の自重
によつて作動レバー６３が第２図において反時計
方向に回動することを許す。ピンボード８ａ、可
動板８になどの下限位置への下降時に第２カム部
材６２ｂの突部が下限スイツチSbを閉じる。こ
れによつて、モータＭ１が停止し、それにブレー
キがかかる。

これによりすべての部材は検査開始前の状態に
戻る。この状態では、逆ハート形第１カム部材６
１の***部の反対側にある凹部に、作動レバー６
３の一端部６３ａにあるローラが係合し、その状
態が安定して維持される。

以上のようにして、回路基板は、上下のコンタ
クトピン４，９による所定の検査点への接触を受
けて上下両側同時に導通検査される。なお、コン
タクトピン４，９の先端が回路基板の検査点に接
触する直前に、第３図に示す保護板１９，２３が
回路基板の面に接し、それらのばね１８，２２の
力に抗して後退した後、コンタクトピン４，９の
先端が回路基板に接触する。このようにして、コ
ンタクトピン４，９の先端接触部は常に保護板１
９，２３により保護される。

このようにして、検査完了後、上部ピンボード
６ａは再び第２図の鎖線位置へ後退するので、回
路基板支持テーブル２５の上方が開放される。し
たがつて、検査ずみ回路基板Ｗを容易に取外すこ
とができる。

以上のようにして、両面回路基板Ｗの導通検査
は反復継続して行われる。

〔効果〕

以上述べたように本発明によれば、可動板を固
定板に向かつて移動させるだけで、回路基板の両
面の導通検査を一工程で一挙に、しかも、確実に
行うことがができるばかりでなく、弾性材により
緩衝作用を伴つてコンタクトビンと電子部品の接
触を行うので損傷を防ぐことができる。また、回
転基板支持テーブル上に回路基板を位置決めした
後、回転基板支持テーブルを前後左右に微調整し
て、回路基板のコンタクトピンに対する位置を正
確に定めることができるので、回路基板パターン
に対しコンタクトピンを常に正しい位置で接触さ
せることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に係る回路基板検査装置の一部
断面正面図、第２図は同じく一部断面側面図、第
３図は第１図の一部の拡大縦断面図、第４図は上
部の部材を取除いて示す第１図の平面図、第５図
は第４図の−線断面図、第６図は第４図の
−線断面図、第７図は第１図において上部の一
部の部材を取除いて示した平面図、第８図は本発
明の回路基板検査装置、ケーシングおよびCRT
装置の関係を示す正面図、第９図は同側面図であ
る。 ２……支持ベース、３……案内支柱、４……上
部コンタクトピンは、６……固定板、６ａ……上
部ピンボート、８……可動板、８ａ……下部ピン
ボード、９……下部コンタクトピン、１０……保
持部材、１４，１５……弾性材（コイルばね）、
１９，２３……コンタクトピンの先端保護板、２
５……回路基板支持テーブル、２６……回路基板
位置決めピン、Ｗ……回路基板、２７……回路基
板支持テーブルの基枠、２８……支枠、３０，３
１……Ｘ軸方向ガイド部材、３２，３３……被案
内部材、３４……四角形枠、３５，３６……Ｙ軸
方向ガイド部材、４０……ピン、４１……ばね、
MCX，MCY……マイクロメータヘツド、４７，
４８……被案内部材、Ｍ１……モータ、６１，６
２ａ，６２ｂ……カム、６３……レバー、６６…
…当接部材、７０……移動板、Ｍ２……モータ、
７４，７５……ストツパ、８０……駆動プーリ、
８１……遊動プーリ、８２……ワイヤ、SL……
ソレノイド駆動装置、８８……レバー、９３……
位置決めピン、９４……スリーブ、９６……位置
決めピン受け、１００……回路基板位置検出装置
（顕微鏡）、１０５……CRT装置。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 支持ベースに複数の案内支柱を樹立し、各案
   内支柱の上部に、下向きのコンタクトピンを有す
   る上部ピンボードを備えた固定板を支持し、この
   固定板と支持ベースの間には、上向きのコンタク
   トピンを有する下部ピンボードを備えた可動板
   を、上方へ向かつて移動自在に各案内支柱により
   支持し、前記下部ピンボードの上位でしかも前記
   上部ピンボードの下位において、前記各案内支柱
   に上下に摺動自在に枠状の保持部材を嵌装し、固
   定板と保持部材との間および可動板と保持部材と
   の間にそれぞれ弾性材を介在させ、保持部材上に
   は、検査すべき両面回路基板をその上下面が上下
   に露出する状態で位置決めし支持する回路基板支
   持テーブルを、水平方向に前後左右に微調整可能
   に支承し、回路基板支持テーブル上方位置には、
   それにより位置決め支持された両面回路基板上面
   の指標の位置を検知する回路基板位置検知装置を
   設け、前記保持部材には、それに対する回路基板
   支持テーブルの前後左右位置の微調整を行う微調
   整装置を設けてなる回路基板検査装置。 ２ 回路基板支持テーブル上に回路基板位置決め
   ピンを突設し、このピンに回路基板に設けた位置
   決め孔をはめることにより回路基板の位置決めを
   行う特許請求の範囲第１項記載の回路基板検査装
   置。 ３ 保持部材上に固定した支枠の対向する両辺部
   に１対の平行な対向状の細長いガイド部材を固定
   し、これらのガイド部材の間で対向する２辺が案
   内されるように四角形枠を設け、四角形枠の前記
   ガイド部材に対向しない他の２辺に他の細長いガ
   イド部材を固着し、この他のガイド部材によつて
   案内されるように該ガイド部材上に回路基板支持
   テーブルを載置した特許請求の範囲第１項記載の
   回路基板検査装置。 ４ 回路基板位置検知装置を、回路基板支持テー
   ブル上の回路基板上面の指標の上部に設けた顕微
   鏡により構成した特許請求の範囲第１項記載の回
   路基板検査装置。 ５ 回路基板支持テーブルの微調整装置を、回路
   基板支持テーブルを移動させるマイクロメータヘ
   ツドと、回路基板支持テーブルを支持する四角形
   枠を回路基板支持テーブルの移動方向に直交する
   方向に移動させるマイクロメータヘツドとにより
   構成した特許請求の範囲第３項記載の回路基板検
   査装置。 ６ 上部ピンポードを固定板の下側に前後に移動
   可能に装着してなる特許請求の範囲第１項記載の
   回路基板検査装置。