JPH0532902B2 - - Google Patents

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JPH0532902B2
JPH0532902B2 JP63157701A JP15770188A JPH0532902B2 JP H0532902 B2 JPH0532902 B2 JP H0532902B2 JP 63157701 A JP63157701 A JP 63157701A JP 15770188 A JP15770188 A JP 15770188A JP H0532902 B2 JPH0532902 B2 JP H0532902B2
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JP
Japan
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wafer
heating section
heating
vapor phase
phase growth
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JP63157701A
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JPH027419A (ja
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Kichizo Komyama
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Shibaura Machine Co Ltd
Original Assignee
Toshiba Machine Co Ltd
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Publication date
Application filed by Toshiba Machine Co Ltd filed Critical Toshiba Machine Co Ltd
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Publication of JPH027419A publication Critical patent/JPH027419A/ja
Publication of JPH0532902B2 publication Critical patent/JPH0532902B2/ja
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Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の目的〕 (産業上の利用分野) 本発明は、気相成長装置に係り、特に気相成長
を施こされるウエハの均一加熱に関するものであ
る。
(従来の技術) 従来の気相成長装置、特にエピタキシヤル気相
成長装置におけるウエハの加熱にはRF加熱と輻
射加熱とが用いられている。RF加熱はカーボン
製のサセプタ上にウエハを載置してサセプタを
RFコイルにより誘導加熱してウエハを裏面から
加熱するものであり、輻射加熱は同じくサセプタ
上にウエハを載置し、ウエハおよびサセプタの表
面側から赤外線ランプ等によつて輻射加熱するこ
とによりウエハを表面側から直接輻射加熱すると
共に裏面側からサセプタによつて加熱したり、特
公昭63−6627号のように赤外線を発する平行な2
枚の加熱板間にウエハを置いて表裏両面から直接
輻射加熱したりするものがある。
(発明が解決しようとする課題) 上記RF加熱は周知のようにウエハが裏面から
加熱されるために、特に表裏の温度差を生ずる欠
点があり、このため表面から輻射加熱を付加する
ことが行なわれている。上記特公昭63−6627号は
ウエハの表裏内面加熱をより均一に行なうことの
できるものであるが、これを用いられているよう
な平板状の加熱板は周辺部での放熱が大きいた
め、中央部より外周部の方が温度が低い傾向を示
す。そこで、加熱板の面積をウエハ載置部より相
当大きくする必要がある。特に、ウエハを一方の
加熱板上に間隔を置かずに実質的に接触させた状
態で載置する場合には、ウエハは加熱板の温度に
敏感に左右されるため、ウエハ載置部の温度をよ
り完全に均一にする必要性から該加熱板の面積を
より一層大きくする必要がある。
本発明は、より小型の装置でウエハの均一加熱
を達成することのできる気相成長装置を提供する
ことを目的とするものである。
〔発明の構成〕
(課題を解決するための手段) 上記目的を達成するための本発明の気相成長装
置は、反応室の外壁を強制冷却するコールドウオ
ール式の気相成長装置において、反応室内に配置
され一方をガス導入側とし他方を排気側とする開
口を有し内部にウエハを直接または間接的に載置
する偏平な筒状の加熱部と、この加熱部の全外周
面を加熱するように反応室外に設けられた輻射加
熱手段とを備え、少なくとも加熱部内に反応ガス
を流すようにしたものである。
加熱部は、実質的に偏平な角筒状とし、輻射加
熱手段を角筒状の外周4面にそれぞれ対応して設
けることが好ましい。
また、加熱部内におけるウエハの載置は、通常
の気相成長装置においてウエハをサセプタ上に載
置するのと同様にウエハを加熱部内壁上に載置す
るようにしてもよいし、また加熱部内に別に支持
部材を設けてこの上に載置してもよく、さらにま
たウエハの表裏両面の外周近くを除く大部分ない
し全体を加熱部の対向する2面の内壁に対しそれ
ぞれ間隔を置いて対向させるように載置してもよ
い。
(作 用) ウエハは、偏平な筒状の加熱部内に載置され、
加熱部の内壁からの熱伝導と輻射による加熱また
は実質的に輻射のみによる加熱を表裏および周囲
から受ける。このとき、加熱部はウエハの表裏に
対応する外周面部分のみなならず側方部分をも含
む実質的に全外周面を加熱されるため、加熱部内
部は中央から端部までより均一な温度となり、該
加熱部の内部空間の特にガス流と直交する方向の
幅をウエハの直径に近付けてもウエハ全体を高精
度で均一に加熱する。
加熱部内部空間の高さは、できるだけ小さな寸
法であることが好ましく、これにより加熱効率が
高まると共にウエハ温度が安定し、さらに反応室
全体の断面積を小さくできるため、ガスの有効利
用と使用量の低減が図られる。
(実施例) 以下本発明の一実施例を示す第1図および第2
図をを参照して説明する。11は、反応室10を
形成する石英ガラス製の反応容器で、横断面形状
が第2図に示すように偏平角筒状をしており、第
1図において左端のフランジ部11aを締付け板
12で締付けることにより装置フレーム13に固
定されている。
締付け板12には、反応容器11の内壁と略一
致する穴12aが明けられ、この穴12aにステ
ンレス鋼製のガス供給部材14が嵌着されてい
る。ガス供給部材14の中央には、反応ガスおよ
びパージガスを供給するための偏平な段付き穴1
5が明けられると共に、締付け板12との係合部
外周にはパージガスを供給するための環状溝16
が設けられている。前記段付き穴15および環状
溝16には、締付け板12に設けた流路17,1
8を介して第1、第2配管19,20から反応ガ
スまたはパージガスが供給されるようになつてい
る。
締付け板12の第1図において左端には、フタ
21が着脱可能に取付けられ、このフタ21によ
つて前記段付き穴15の左端側を密閉するように
なつている。フタ21には、段付き穴15の段部
に対応すべく複数本のロツド22を介して整流板
23が取付けられている。この整流板23は多数
の小孔を有するパンチメタル状のものである。
段付き穴15の第1図において右端には、石英
ガラス製の偏平なガス導入管24が接続されてい
る。また、ガス供給部材14には、環状溝16を
反応室10の内壁とガス導入管24の外周との間
の空間に接続させる多数のガス導入口25が明け
られている。
反応室10内には、カーボン製で表面にSiCコ
ートを施こした加熱部26が石英ガラス製のトレ
イ27を介して設置されている。この加熱部26
は、第1図において左右方向に伸びる断面状
(第2図参照)の下加熱体26aと、この上にか
ぶせられる上加熱体26bとからなり、全体とし
て偏平な角筒状をし、底面上にウエハWを載置す
るようになつている。なお、この加熱部26は一
体形成してもよいし、また上下左右に4分割して
もよいなど、適宜に形成できる。この加熱部26
は、上加熱体26bが水平であるとき、下加熱体
26aの底壁は第1図において左より右が2゜程度
高くなるように勾配を付与されている。加熱部2
6の第1図において左側の開口は、上記ガス導入
管24に若干すき間を有するように接続され、右
側の開口は、反応容器11の右端の排気口28に
向けて開放されている。ここに、前記段付き穴1
5、ガス導入管24ならびに加熱部26の内部横
断面形状は略一致するように形成されている。
反応容器11の周囲はカバー29で被われ、そ
の内部の加熱部26に対向する部分に輻射加熱手
段30,31,32,33(第2図参照)が設け
られている。第1,2図において、上下に位置す
る輻射加熱手段30,31は加熱部26の上下の
外周面に対向し、棒状の赤外線ランプ34を第2
図において左右方向に向け、第1図において左右
方向に間隔を置いて複数本配列されている。これ
らの複数本の赤外線ランプ34は第1図におい
て、2本づつ左、中央、右に3区分されて出力調
整可能になされている。また、第2図において、
加熱部26の左右の外周面に対向している輻射加
熱手段32,33は、棒状の赤外線ランプ34を
左右の外周面の長手方向に沿うように取付けられ
ている。
それぞれの赤外線ランプ34は反射と冷却機能
を有するランプハウジング35にそれぞれ取付け
られており、各供給ポート36から冷却空気を供
給され、ランプハウジング35、赤外線ランプ3
4および反応容器11を冷却するようになつてい
る。また、カバー29の第1図において右端寄り
にも供給ポート37が設けられ、冷却空気をカバ
ー29内すなわち反応容器11の周囲に供給する
ようになつている。なお、第1図においてカバー
29の左端寄りには排気ポート38が設けられて
いる。
次いで本装置の作用について説明する。ウエハ
Wの搬出入は、フタ21を外して行なう。フタ2
1を外すことにより段付き穴15の段部にあつた
整流板23が外され、段付き穴15、ガス導入管
24を介して加熱部26の内部空間が第1図にお
いて左端側に開放される。そこで、段付き穴15
側から図示しない搬送装置によりウエハWの搬出
入を行なう。
ウエハWを搬入したならば、第1、第2配管1
9,20から共にN2ガス、H2ガス等のパージガ
スを供給し、輻射加熱手段30〜33によつて昇
温を開始する。この加熱において、加熱部26の
第1図において左右(長手)方向の温度分布は、
輻射加熱手段30,31の各赤外線ランプ34の
出力を左、中央、右の各区分毎に調整することに
よつて均一化し、他方、加熱部26の第2図にお
いて左右(幅)方向の温度分布は、輻射加熱手段
32,33の出力を調整することによつて均一に
なされる。また、第1,2図に示すように、ウエ
ハWを加熱部26の底壁上に直接載置する場合に
は、ウエハWの裏面は実質的に熱伝導によつて加
熱され、表面は加熱部26の上内壁からの輻射に
よつて加熱されるため、上下の輻射加熱手段3
0,31の出力を独立して調整し、ウエハWの表
裏の温度差をより小さく押えることが好ましい。
なお、左右の輻射加熱手段32,33も別々出力
を調整できるようにしておくことが好ましい。
加熱部26が気相成長温度に達したならば、
H2ガスに変えて反応ガスを第1配管19から供
給し、段付き穴15、整流板26、ガス導入管2
4を介して加熱部26内に層流で反応ガスを流し
て、ウエハWの表面に気相成長を行なう。他方、
第2配管18からはパージガスとしてのH2ガス
を供給し続け、反応ガスが直接反応容器11の内
壁に接触することを極力防止する。なお、ガス供
給部材14および加熱部26とガス導入管24と
の接続は、熱膨脹の関係などから若干すき間を有
するように形成されているため、この接続部から
反応ガスが漏れ出すが、その量はわずかであり、
反応容器11の内壁に沿つてパージガスが流れて
いるため、反応容器11の内壁にウオールデポを
生じることはほとんどない。
前記加熱部26内を流れる反応ガスによる気相
成長は、加熱部26の内部空間が比較的狭く囲ま
れ、均一な温度分布になされているため、ウエハ
Wは全体がより均一に加熱され、スリツプを生じ
ないと共に膜厚分布も均一になり、かつより少な
い反応ガスによつて効率のよい気相成長が行なわ
れる。また、加熱部26の断面形状の小形化によ
り反応容器11の断面形状も小形になり、そのた
め、第2配管20から供給するパージガスの流量
も少なくできる。
第3図は、本発明の他の実施例の要部を示すも
ので、加熱部26の内部空間の高さを低くし、か
つ底面にはウエハWの外周付近のみを支持する浅
い段部40を有する深いザグリ41を設け、ウエ
ハWの表裏両面ほぼ全体を輻射によつて加熱する
ようにしたものである。また、この実施例では、
ガス導入管24を加熱部26の左端外周に若干す
き間を持たせて係合させたものである。この実施
例によれば、ウエハWの表面両面が共に輻射加熱
されるため、容易にウエハWの均一加熱が可能で
ある。
第4図は、本発明のさらに他の実施例の要部を
示すもので、加熱部26内にSiCコーテイングし
たカーボンまたは石英ガラス製の支持部材42を
設け、この上にウエハWを載置したもので、これ
によつても第1,2図に示した実施例と同様の気
相成長を行なうことができる。
前述した実施例は、ガス導入管24を石英ガラ
ス製として例を示したがSiCコーテイングしたカ
ーボン製としてもよい。なお、このガス導入管2
4は第5図に示すように省略してもよい。この場
合は反応容器11をより強く冷却することにより
ウオールデポを押えることができる。またこの実
施例においては、支持部材42または加熱部26
を反応容器11外へ搬出してウエハWの搬出入を
行なうことが可能となる。
また、加熱部26と排気口28の間に図示しな
いガス導出管を置き、ガスの乱れをより確実に押
えるようにしてもよい。さらにまた、熱部26は
必ずしも水平である必要はなく、長手方向または
幅方向を上下にして立ててもよく、またウエハW
の載置は上記実施例のほかに、加熱部26の底面
上に石英ガラスやSiCコーテイングカーボン製の
リングを置くことにより、ウエハWの表裏両面の
外周近くを除く大部分ないし全体が加熱部26の
対向する2面の内壁に対しそれぞれ間隔を置いて
対向するようにし、第3図に示した実施例と同様
に表裏両面を伝導によらずに輻射加熱するように
してもよい。
次に、上記第1図および第2図に示した装置に
よる実験結果を示す。加熱部26のガス導入側の
外形寸法を幅212mm、高さ30mm、長さ230mmで各壁
の厚さ6mmとし、ガス排気側に向つて底面が2゜高
くなるようにした。底面にはウエハWを載置する
ザグリを1つ設け、この中に6インチのSiウエハ
Wを1枚載置した。赤外線ランプ34は、第2図
において上下を各6本、左右を各1本とし、加熱
部26の内壁の温度を熱電対で測定しつつ前記赤
外線ランプ34の出力調整を行なつて、1100℃に
加熱した。この結果、加熱部26の長手方向およ
び幅方向のいずれにおいてもほぼ全体にわたつて
均一な温度分布が得られた。
また、上記加熱状態において、第1配管19か
らSiH2Cl2B:H2が0.5:100の反応ガスを20/
minで供給すると共に、第2配管20からH2
スを10/minで供給して気相成長を行なつた結
果、膜成長速度は約1μ/min、膜厚分布誤差は約
2%であり、スリツプは肉眼検査はもちろん顕微
鏡検査でも見られなかつた。
さらにまた、反応容器11には、ウオールデポ
を全く生じず、ガス導入管24の加熱部26寄り
に若干ウオールデポを生じた程度であつた。
〔発明の効果〕
以上述べたように本発明によれば、小型の装置
で6インチウエハのような比較的大径のウエハに
対し高品位の気相成長を行なうことができ、装置
の小形化により加熱ウエネルギやガス使用量を低
く押えてランニングコストを下げることができ
る。なお、加熱部を実質的に偏平な角筒状とすれ
ば幅方向のガス流量の均一性を阻害することなく
加熱部をより薄くして加熱効率を高めることがで
きる。また、実質的に角筒状の場合は外周4面に
それぞれ対応して輻射加熱手段を設けることによ
つて加熱部の幅方向の温度分布を均一化できる。
さらにまた、ウエハは加熱部に直接または間接の
いずれによつて載置してもよいが、ウエハの表裏
両面の外周近くを除く大部分ないし全体が加熱部
内壁に対して間隔を有するようにすれば、表裏の
温度差をより小さくできる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す縦断面図、第
2図は第1図の−線による横断面図、第3図
ないし第5図は本発明のそれぞれ異なる他の実施
例を示す要部縦断面図である。 10……反応室、11……反応容器、14……
ガス供給部材、23……整流板、24……ガス導
入管、25……ガス導入口、26……加熱部、2
8……排気口、30,31,32,33……輻射
加熱手段、34……赤外線ランプ、42……支持
部材、W……ウエハ。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 反応室の外壁を強制冷却するコールドウオー
    ル式の気相成長装置において、反応室内に配置さ
    れ一方をガス導入側とし他方を排気側とする開口
    を有し内部にウエハを直接または間接的に載置す
    る偏平な筒状の加熱部と、同加熱部の全外周面を
    加熱するように前記反応室外に設けられた輻射加
    熱手段とを備え、少なくとも前記加熱部内に反応
    ガスを流すようにしたことを特徴とする気相成長
    装置。 2 加熱部が偏平な角筒状であり、輻射加熱手段
    が前記角筒状部の外周4面にそれぞれ対応して設
    けられていることを特徴とする請求項1記載の気
    相成長装置。 3 ウエハが加熱部の内壁上に直接載置されるよ
    うになつていることを特徴とする請求項1または
    2記載の気相成長装置。 4 加熱部内にウエハの支持部材が設けられてい
    ることを特徴とする請求項1または2記載の気相
    成長装置。 5 ウエハの表裏両面の外周近くを除く大部分な
    いし全体が、加熱部の対向する2面の内壁に対し
    それぞれ間隔を置いて対向するようにウエハを加
    熱部内に載置するようになつていることを特徴と
    する請求項1、2、3または4記載の気相成長装
    置。
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