JPS5950093A - 拡散炉型減圧気相成長装置 - Google Patents

拡散炉型減圧気相成長装置

Info

Publication number
JPS5950093A
JPS5950093A JP15779182A JP15779182A JPS5950093A JP S5950093 A JPS5950093 A JP S5950093A JP 15779182 A JP15779182 A JP 15779182A JP 15779182 A JP15779182 A JP 15779182A JP S5950093 A JPS5950093 A JP S5950093A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
reaction vessel
inner tube
samples
diffusion furnace
reduced pressure
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP15779182A
Other languages
English (en)
Inventor
Taisan Goto
後藤 泰山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shibaura Machine Co Ltd
Original Assignee
Toshiba Machine Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Machine Co Ltd filed Critical Toshiba Machine Co Ltd
Priority to JP15779182A priority Critical patent/JPS5950093A/ja
Publication of JPS5950093A publication Critical patent/JPS5950093A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B25/00Single-crystal growth by chemical reaction of reactive gases, e.g. chemical vapour-deposition growth
    • C30B25/02Epitaxial-layer growth
    • C30B25/10Heating of the reaction chamber or the substrate

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、気相成長装置に係り、特に筒状の反応答器内
にこれと垂直に比較的小さな間隔を置いて多数の試料を
配置するいわゆる拡散炉型を採用した気相成長装置に関
するものである。
気相成長装置には、従来、縦型、横型、バレル型の3つ
の方式が一般的に採用されているが、これらは構造的に
一回の処理枚数が少なく、その増加も現在限界に達して
きており、新たに拡散炉型、インライン型装置の開発が
急務となってきている。
しかしながら、拡散炉型装置においては、コールドウオ
ールによる加熱方式として、ランプ加熱方式、誘導加熱
方式等が考えられるが、均熱および熱効率の点で十分な
ものが々かった。
本発明の目的は、反応容器内にこれと垂直に配置された
試料をより均等に加熱して1つの試料内におけるエピタ
キシャル層の均一性および各試料間の均一性をはかると
共に、熱効率をも向上させるようにした拡散炉型減圧気
相成長装置を提供するにある。
かかる目的を達成するための本発明は、筒状の反応容器
と、同反応容器内に設けられた発熱源となるインナーチ
ー−ブと、同インナーチーーブ内に配置され試料をイン
ナーチー−プの長手方向に対して垂直に位置させて保持
するようにしたサセプタと、前記反応容器の外周に設け
られ前記インナーチー−プを誘導加熱またはランプ加熱
などにより加熱する加熱源と、前記反応容器に対するガ
スの給排手段とからなり、前記サセプタにより比較的小
さな間隔を置いて多数配列されている試料を、反応容器
内にあって前記試料の周囲を囲んでいるインナーチュー
ブの発熱によって加熱することにより、前記試料を均一
にかつ熱効率よく加熱し得るようにしたものである。
以下本発明の一実施例を示す第1図について説明する。
1は反応容器で、石英などの絶縁物で形成され、図にお
いて右端はフタ2にょシ開閉可能になされ、左端には排
気口3が設けられている。
反応容器1内には、はぼ同心的にインナーチー−ブ4が
設けられている。このインナーチューブ4は黒鉛等の導
電性物質で形成されている。インナーチューブ4内には
サセプタ5が設けられている。
このサセプタ5は、試料6をインナーチューブ4の長手
方向に対して垂直に位置させ、図示のように多数の試料
6を比較的小さな間隔を置いて拡散炉の場合と同様に配
列するようになっている。前記反応容器1の第1図にお
いて右端寄りにはノズル7が挿入されている。
反応容器1の外周には冷却配管8が設けられると共に、
その外方に前記インナーチー−プ4を誘導加熱するため
の加熱源である高周波誘導加熱コイル(以下、ワークコ
イルという)9が巻回されている。また、反応容器1の
外表面(内表面でもよい)には、インナーチューブ4か
らの輻射熱を反応容器1の内部へ反射させるために、M
gOなどの赤外光反射率の良い絶縁性の反射膜10が設
けられている。
次いで本装置の作用について説明する。フタ2を開き、
図示のように試料6を配列したサセプタ5をインナーチ
ー−プ4内にセットし、フタ2を閉じる。次に、排気口
3から排気しつつノズル7からパージガスを供給して空
気を排出すると共にワークコイル9に高周波電力を供給
し、気相成長のための一連の作業を開始する。
ワークコイル9への給電によりインナーチューブ4が誘
導加熱されて発熱する。このインナーチューブ40発熱
により試料6が加熱される。このとき、インナーチュー
ブ4はその名のとおりチューブ状をしているため、その
内部へ向かう輻射熱は該インナーチュープ4内で反射を
繰り返し、インナーチー−ブ4内を効率よく、かつ均一
に加熱すると共に試料6に対して有効に作用する。イン
ナーチー−プ4から外方へ向かう輻射熱は、反射膜10
によって反射され、反応容器i内へ戻されるので、外部
の昇温を防ぐと共に試料6に対してより有効に作用する
なお、前記ワークコイル9への給電と共に冷却配管8に
冷却水を流し、ワークコイル9および反応容器1の周囲
の昇温をより低く押える。
試料6が所定温度に達したならば、ノズル7から反応容
器1内へ反応ガスを供給し、試料6の表面にエピタキシ
ャル層を生成する。このとき、試料6は、前記のように
それぞれ均一に加熱されているため、それぞれの試料6
間でのバラツキや各試料6内での厚さむらを押えてより
均一な厚さのエピタキシャル層を形成することができる
。なお、反応後の排気ガスおよび未反応の反応ガスは排
気口3から排出される。
第2図は本発明の他の実施例を示すもので、インナーチ
ューブ4に多数の孔(スリットも含む)11を設け、こ
れらの孔11から反応ガスなどがインナーチー−プ4内
へ流入するようにし、各試料6の表面に対する反応ガス
の供給濃度をより均一にし得るようにしたものである。
また、ノズル7は、反応容器1とインナーチー−プ4と
の間の空間内のほぼ全長にわたるように設けられ、その
長手方向に沿って設けられた適宜個数のノズル孔12か
ら前記空間の長手方向のほぼ全域に一様に反応ガスを供
給するようになっている。さらにまた、反応容器1とイ
ンナーチー−プ4との間の空間の排気口3側の端部には
、石英々どで形成されたバッファ13が設けられ、前記
空間内から排気口3へ反応ガスが直接流れてしまわない
ようになっている。
なお、このバッファ13は、ノズル7からパージガスを
供給したとき、前記空間内のガスをより完全にパージガ
スに置換するため、完全に閉塞せずに若干ガスが通過す
るように形成することが好ましい。
第3図は本発明のさらに他の実施例を示すもので、イン
ナーチューブ4の外側にガス流制御用チー−プ14を設
け、これら両者によってインナーチー−プ4の外周に適
宜な断面積を有する環状のガス流路15を形成し、ノズ
ル7によって反応ガスを該ガス流路15へ供給して番孔
11からより均一に反応ガスが流入し得るようにしたも
のであり、さらに加熱源としてワークコイル9の代りに
赤外光ランプ16を用いたものである。17は赤外光反
射板である。この場合、反応容器1およびガス流制御用
チー−プ14は石英などの赤外光を透過する物質で形成
し、インナーチー−ブ4は黒鉛などの赤外光を吸収して
発熱する物質で形成する必要があり、第1図および第2
図に示した反射膜10は無用で、この反射膜10の代り
は赤外光反射板17が行なう。
また、冷却配管8などの冷却手段は、図示のように、赤
外光反射板17の外側に設ければよい。
以上述べたように本発明によれば、より多くの試料を均
一に加熱することができ、これにより多数の試料に対し
てより均一な気相成長を行なわせることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図ないし第3図は本発明のそれぞれ異なる実施例を
示す概要縦断面図である。 1・・・反応容器、  2・・・フタ、3・・・排気口
、 4・・・インナーチューブ5・・・サセプタ、  
6・・・試料、  7・・・ノズル、10・・・反射膜
、II ・・・孔、12・・・ノズル孔、I3 ・ ・
・バッファ、14・ ・ ・ガス流制御用チー−プ、1
5・ ・ ・ガス流路、16 ・ ・ ・赤外光ランプ
(加熱源)、17・・・赤外光反射板。 出願人 東芝機械株式会社 9−

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、 筒状の反応容器と、同反応容器内に設けられた発
    熱源となるインナーチューブと、同インナーチーープ内
    に配置され試料をインナーチー−プの長手方向に対して
    垂直に位置させて保持するサセプタと、前記反応容器の
    外周に設けられたインナーチューブ加熱源と、前記反応
    容器に対するガスの給排手段とからなる拡散炉型減圧気
    相成長装置。 26  反応容器が絶縁物製で′あり、インナーチュー
    ブが導電性物質製であシ、インナーチー−ブ加熱源が高
    周波誘導加熱コイルである特許請求の範囲第1項記載の
    拡散炉型減圧気相成長装置。 3、 反応容器が赤外光を透過する物質で形成され、イ
    ンナーチー−ブが赤外光を吸収する物質で形成され、イ
    ンナーチューブ加熱源が赤外光ランプでちる特許請求の
    範囲第1項記載の拡散炉型減圧気相成長装置。 4、 反応容器がその内部に向って赤外光反射率を良く
    する処置を施こされている特許請求の範囲第1または2
    項記載の拡散炉型減圧気相成長装置。 5、 反応容器がその外側に設けた冷却手段によって冷
    却可能になされている特許請求の範囲第1.2または4
    項記載の拡散炉型減圧気相成長装置。 6、 インナーチューブが多数の孔を有し、この孔から
    インナーチューブ内へガスが流入するようになされてい
    る特許請求の範囲第1ないし5項のいずれか1項に記載
    の拡散炉型減圧気相成長装置。 7 反応容器とインナーチューブとの間のガス排出側が
    ほぼ全面にわたって閉じられている特許請求の範囲第1
    ないし6項のいずれか1項に記載の拡散炉型減圧気相成
    長装置。 8、 インナーチー−プと反応容器との間にガス流制御
    用チー−プが介在されている特許請求の範囲第1ないし
    7項のいずれか1項に記載の拡散炉型減圧気相成長装置
JP15779182A 1982-09-10 1982-09-10 拡散炉型減圧気相成長装置 Pending JPS5950093A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP15779182A JPS5950093A (ja) 1982-09-10 1982-09-10 拡散炉型減圧気相成長装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP15779182A JPS5950093A (ja) 1982-09-10 1982-09-10 拡散炉型減圧気相成長装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS5950093A true JPS5950093A (ja) 1984-03-22

Family

ID=15657364

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP15779182A Pending JPS5950093A (ja) 1982-09-10 1982-09-10 拡散炉型減圧気相成長装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS5950093A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH027419A (ja) * 1988-06-24 1990-01-11 Toshiba Mach Co Ltd 気相成長装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH027419A (ja) * 1988-06-24 1990-01-11 Toshiba Mach Co Ltd 気相成長装置
JPH0532902B2 (ja) * 1988-06-24 1993-05-18 Toshiba Machine Co Ltd

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI497023B (zh) 立式熱處理設備及此設備之冷卻方法
KR880000472B1 (ko) 화학 증착 장치 및 방법
CN102077320B (zh) 等离子体处理装置、等离子体处理方法和介电体窗的温度调节机构
NL2017558B1 (en) A chemical vapour deposition apparatus and use thereof
US8354623B2 (en) Treatment apparatus, treatment method, and storage medium
JPH0620053B2 (ja) 半導体基板加熱方法及び装置
JPS6258639A (ja) 化学的蒸着装置及びその方法
KR100380213B1 (ko) 반도체 처리 시스템 및 기판 처리 장치
JP2006324023A (ja) プラズマ処理装置
TW200405415A (en) Wafer batch processing system and method
JP2011204819A (ja) 基板処理装置及び基板処理方法
JP2009295905A (ja) 基板処理装置
JP7321032B2 (ja) 熱処理方法及び熱処理装置
JPS5950093A (ja) 拡散炉型減圧気相成長装置
JP2016009796A (ja) 基板加熱装置、基板支持装置、基板処理装置及び基板処理方法
JP2697250B2 (ja) 熱cvd装置
JPS60189927A (ja) 気相反応容器
JPS5950094A (ja) 気相成長方法
JPH0338029A (ja) 気相成長装置
JP2005072468A (ja) 半導体ウエハの熱処理装置
JPH05166736A (ja) 薄膜気相成長装置
JPH0532902B2 (ja)
JPH0518452B2 (ja)
JPS60253212A (ja) 気相成長装置
US20020000200A1 (en) Chemical vapor deposition apparatus