JPH0519159A - カメラの測距装置 - Google Patents
カメラの測距装置Info
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- JPH0519159A JPH0519159A JP3198836A JP19883691A JPH0519159A JP H0519159 A JPH0519159 A JP H0519159A JP 3198836 A JP3198836 A JP 3198836A JP 19883691 A JP19883691 A JP 19883691A JP H0519159 A JPH0519159 A JP H0519159A
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- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
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- G02B7/28—Systems for automatic generation of focusing signals
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- General Physics & Mathematics (AREA)
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- Measurement Of Optical Distance (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 外光の強さに影響されることなく、正確に測
距することができるカメラの測距装置を提供すること。 【構成】 マイクロコンピュータ101により駆動回路
102を駆動制御して発光素子103を発光させること
により、被写体105にパルス光を照射する。その反射
光をPSD5で受光し、被写体距離に対応する受光位置
に応じて相互電流比を有する第1、第2の電流出力をA
F信号処理回路107内の第1、第2の検出回路9,1
0に入力し、第1、第2の電流出力の変動分を対数変換
させる。この第1、第2の検出回路9,10の出力の変
動分の差を差分検出回路11でとって測距信号をマイク
ロコンピュータ101に出力する。一方、外光を受光素
子110で測定してその測定結果を記憶装置108に記
憶させる。上記測距信号の外光による誤差は、上記の測
光結果に基いてマイクロコンピュータ101によって正
確に補正される。
距することができるカメラの測距装置を提供すること。 【構成】 マイクロコンピュータ101により駆動回路
102を駆動制御して発光素子103を発光させること
により、被写体105にパルス光を照射する。その反射
光をPSD5で受光し、被写体距離に対応する受光位置
に応じて相互電流比を有する第1、第2の電流出力をA
F信号処理回路107内の第1、第2の検出回路9,1
0に入力し、第1、第2の電流出力の変動分を対数変換
させる。この第1、第2の検出回路9,10の出力の変
動分の差を差分検出回路11でとって測距信号をマイク
ロコンピュータ101に出力する。一方、外光を受光素
子110で測定してその測定結果を記憶装置108に記
憶させる。上記測距信号の外光による誤差は、上記の測
光結果に基いてマイクロコンピュータ101によって正
確に補正される。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、カメラの測距装置に関
し、より詳細には、投光型の測距システムにおける外光
の強度に応じて測距誤差を補正してより正確に測距を行
うことができるようにしたカメラの測距装置に関するも
のである。
し、より詳細には、投光型の測距システムにおける外光
の強度に応じて測距誤差を補正してより正確に測距を行
うことができるようにしたカメラの測距装置に関するも
のである。
【0002】
【従来の技術】いわゆるコンパクトカメラ等におけるオ
ートフォーカス(自動焦点調整)の測距方式としては、
外光を利用するパッシブ方式による二重像合致方式があ
る。
ートフォーカス(自動焦点調整)の測距方式としては、
外光を利用するパッシブ方式による二重像合致方式があ
る。
【0003】しかしながら、このパツシブ方式による二
重像合致方式は、一方の像の他方の像に対する相対位置
を変化させるための可動ミラーを用いることが不可欠な
要素となっており、この可動ミラーを用いることによる
耐久性の低さ、および二重像合致方式であるため被写体
(測距対象)のコントラスト情報により測距を行ってい
るので、被写体依存性が強く、コントラストの悪い被写
体の測距や暗いときの測距能力の低さといった問題点が
あった。また、このような可動部をもつ方式は、調整が
複雑化し調整に多くの手間を要するという欠点をもって
いる。
重像合致方式は、一方の像の他方の像に対する相対位置
を変化させるための可動ミラーを用いることが不可欠な
要素となっており、この可動ミラーを用いることによる
耐久性の低さ、および二重像合致方式であるため被写体
(測距対象)のコントラスト情報により測距を行ってい
るので、被写体依存性が強く、コントラストの悪い被写
体の測距や暗いときの測距能力の低さといった問題点が
あった。また、このような可動部をもつ方式は、調整が
複雑化し調整に多くの手間を要するという欠点をもって
いる。
【0004】また、測距側の装置自体から光等を発する
アクティブ方式による三角測量方式を用いたものは、上
述した被写体依存性については改善されるものの、赤外
光等の発光部または受光部を回動させるなどの可動部を
有するものは、やはり上述の耐久性の低さ、調整の複雑
化等の問題を避けられない。
アクティブ方式による三角測量方式を用いたものは、上
述した被写体依存性については改善されるものの、赤外
光等の発光部または受光部を回動させるなどの可動部を
有するものは、やはり上述の耐久性の低さ、調整の複雑
化等の問題を避けられない。
【0005】これに対して、アクティブ方式による三角
測量方式を用いたもので、可動部のないものとして図3
に示すようなものがある。これは、発光部1から投射し
た赤外光等の光を測距対象2(2a,2b,2c,2d
等)で反射させ、この反射光が複数個、例えば4個の受
光素子3a,3b,3c,3dからなる受光部3のどの
受光素子で受光されたかによって測距対象の距離を知る
ものである。
測量方式を用いたもので、可動部のないものとして図3
に示すようなものがある。これは、発光部1から投射し
た赤外光等の光を測距対象2(2a,2b,2c,2d
等)で反射させ、この反射光が複数個、例えば4個の受
光素子3a,3b,3c,3dからなる受光部3のどの
受光素子で受光されたかによって測距対象の距離を知る
ものである。
【0006】この方式は、可動部もなく、耐久性、調整
等の点でもほとんど問題がないといえる。しかしなが
ら、この場合は、受光部3が量子化されているため距離
分解能がそれで制限されてしまうという致命的な問題が
ある。
等の点でもほとんど問題がないといえる。しかしなが
ら、この場合は、受光部3が量子化されているため距離
分解能がそれで制限されてしまうという致命的な問題が
ある。
【0007】例えば、図3のように4個の受光素子3a
〜3dからなる受光部3とした場合、仮に各受光素子3
a〜3dの中間位置を含めても7個のゾーンしかとるこ
とができず、誤差を考慮すればこれよりもさらに分解能
は悪くなると予想される。
〜3dからなる受光部3とした場合、仮に各受光素子3
a〜3dの中間位置を含めても7個のゾーンしかとるこ
とができず、誤差を考慮すればこれよりもさらに分解能
は悪くなると予想される。
【0008】一方、アクティブ方式の一種として、超音
波を発射し測距対象による反射を受信し送受に要する時
間から測距対象の距離を測定する超音波方式があり、こ
れは純電気的な処理のみによって測定するため処理は容
易であるが、高出力の発信が必要で大きな電源を必要と
し、例えばコンパクトカメラ等に用いられる電源では、
有効な超音波の発信が困難である。
波を発射し測距対象による反射を受信し送受に要する時
間から測距対象の距離を測定する超音波方式があり、こ
れは純電気的な処理のみによって測定するため処理は容
易であるが、高出力の発信が必要で大きな電源を必要と
し、例えばコンパクトカメラ等に用いられる電源では、
有効な超音波の発信が困難である。
【0009】また、超音波が測距対象以外の物体にあた
って測距精度が低下するのを防止するためには指向性を
よくする必要があるが、そのためには超音波の送受信面
の面積を大きくしなければならなず、この点もコンパク
トカメラ等には大きな問題となる。
って測距精度が低下するのを防止するためには指向性を
よくする必要があるが、そのためには超音波の送受信面
の面積を大きくしなければならなず、この点もコンパク
トカメラ等には大きな問題となる。
【0010】これに対して、さほど大きな電力を要せず
調整も容易、耐久性も良好でしかも高い距離分解能が得
られるものとして、次に述べるような距離検出装置があ
る。
調整も容易、耐久性も良好でしかも高い距離分解能が得
られるものとして、次に述べるような距離検出装置があ
る。
【0011】すなわち、この距離検出装置は、測距対象
にパルス光を投射する光源と、前記測距対象による前記
パルス光の反射光スポットが結像される個所に設けられ
前記光源との視差に基づく前記測距対象の距離に応じた
入射スポットの位置を前記距離の変化による位置変化方
向について連続的に検出し検出位置に応じた相互電流比
を有する第1および第2の電流出力を得る半導体光位置
検出器(以下「PSD」と略称する)と、このPSDの
前記第1の電流出力を受け前記パルス光による前記第1
の電流出力の変動分を対数変換して出力する第1の検出
回路と、前記PSDの前記第2の電流出力を受け前記パ
ルス光による前記第2の電流出力の変動分を対数変換し
て出力する第2の検出回路、これら第1および第2の検
出回路から出力され且つ対数変換された前記第1および
第2の電流出力の変動分の差をとって距離検出信号を得
る差分検出回路とを具備している。
にパルス光を投射する光源と、前記測距対象による前記
パルス光の反射光スポットが結像される個所に設けられ
前記光源との視差に基づく前記測距対象の距離に応じた
入射スポットの位置を前記距離の変化による位置変化方
向について連続的に検出し検出位置に応じた相互電流比
を有する第1および第2の電流出力を得る半導体光位置
検出器(以下「PSD」と略称する)と、このPSDの
前記第1の電流出力を受け前記パルス光による前記第1
の電流出力の変動分を対数変換して出力する第1の検出
回路と、前記PSDの前記第2の電流出力を受け前記パ
ルス光による前記第2の電流出力の変動分を対数変換し
て出力する第2の検出回路、これら第1および第2の検
出回路から出力され且つ対数変換された前記第1および
第2の電流出力の変動分の差をとって距離検出信号を得
る差分検出回路とを具備している。
【0012】この距離検出装置の一例について、図4〜
図8を参照して詳細に説明する。
図8を参照して詳細に説明する。
【0013】図4において、4はパルス発光器である。
このパルス発光器4としては、眼に見えないことと、P
SDの感度の点から赤外光を発生するものが望ましい。
パルス発光器4から発したパルス光は、投光レンズ6を
通して測距対象である被写体7(7a,7b,7c等)
に投射される。
このパルス発光器4としては、眼に見えないことと、P
SDの感度の点から赤外光を発生するものが望ましい。
パルス発光器4から発したパルス光は、投光レンズ6を
通して測距対象である被写体7(7a,7b,7c等)
に投射される。
【0014】被写体7で反射されたパルス光すなわち反
射光は、受光レンズ8を介して前記PSD5に入射結像
される。このPSD5は、イオン注入技術を用いて製造
された一次元の連続的な位置分解能を有するプレナー型
のPINフォトダイオードであり、“position
sensitive detectors”と称され
るものである。
射光は、受光レンズ8を介して前記PSD5に入射結像
される。このPSD5は、イオン注入技術を用いて製造
された一次元の連続的な位置分解能を有するプレナー型
のPINフォトダイオードであり、“position
sensitive detectors”と称され
るものである。
【0015】この種の素子としては、一次元タイプと二
次元タイプとがあるが、要は一次元の位置検出を行えば
よいのでいずれのタイプでもよい。図示のように被写体
7の位置7aに対してPSD5の5a,7bに対して5
b、7cに対して5c、無限遠に対して5dの位置にそ
れぞれ反射光スポットが結像される。
次元タイプとがあるが、要は一次元の位置検出を行えば
よいのでいずれのタイプでもよい。図示のように被写体
7の位置7aに対してPSD5の5a,7bに対して5
b、7cに対して5c、無限遠に対して5dの位置にそ
れぞれ反射光スポットが結像される。
【0016】このPSD5は、光スポットの入射位置を
2つの電流出力の割分から知ることができるものであ
り、例えば図5のようにPSD5の受光面の中央位置S
1に光スポットが入射した場合、2つの電流出力IL1
とIL2の割合は、IL1/IL2=1となり、図6の
ような位置S2に入射した場合は、IL1/IL2=
2、図7のような位置S3に入射した場合IL1/I
L2=1/2となる。
2つの電流出力の割分から知ることができるものであ
り、例えば図5のようにPSD5の受光面の中央位置S
1に光スポットが入射した場合、2つの電流出力IL1
とIL2の割合は、IL1/IL2=1となり、図6の
ような位置S2に入射した場合は、IL1/IL2=
2、図7のような位置S3に入射した場合IL1/I
L2=1/2となる。
【0017】今、図4において、投光レンズ6と受光レ
ンズ8との間の距離つまり基線長dとし、受光レンズ8
からPSD5までの距離をf、投光レンズ6から被写体
7までの距離をT、それに対するPSD5上の光スポッ
トの無限遠に対応する位置5dから距離の距離をPとす
れば
ンズ8との間の距離つまり基線長dとし、受光レンズ8
からPSD5までの距離をf、投光レンズ6から被写体
7までの距離をT、それに対するPSD5上の光スポッ
トの無限遠に対応する位置5dから距離の距離をPとす
れば
【0018】
【数1】
が成立する。PSD5に結像されたスポットの位置が、
PSD5から得られる2つの電流出力の割合に対応して
いることから、これら2つの電流出力から被写体距離T
の情報を得ることができる。
PSD5から得られる2つの電流出力の割合に対応して
いることから、これら2つの電流出力から被写体距離T
の情報を得ることができる。
【0019】ここで、被写体距離TとPSD5の検出電
流比IL1/IL2との関係を求めてみると、PSD5
の全長を単位長(つまり1)とすれば、
流比IL1/IL2との関係を求めてみると、PSD5
の全長を単位長(つまり1)とすれば、
【0020】
【数2】
より、
【0021】
【数3】
となり、図6に示すようなy=(1/x)+Kの関係で
あることがわかる。
あることがわかる。
【0022】ところで、真暗な場所における測距であれ
ば問題はないが、一般の写真撮影時等にはパルス発光器
4によるパルス光よりもはるかに高い光量の定常光が存
在するため前記パルス光の反射光の抽出ができなくなっ
てしまう。
ば問題はないが、一般の写真撮影時等にはパルス発光器
4によるパルス光よりもはるかに高い光量の定常光が存
在するため前記パルス光の反射光の抽出ができなくなっ
てしまう。
【0023】そこでこの場合、PSD5の第1の電流出
力を受ける第1の検出回路9およびPSD5の第2の電
流出力を受ける第2の検出回路10により定常光の影響
を除去し、パルス光の反射光のみによる光電流の変動分
をそれぞれ対数変換して抽出し差分検出回路11でこれ
らの差を取ってPSD5の第1と第2の電流出力の電流
比に対応する距離検出信号を出力するようにしている。
力を受ける第1の検出回路9およびPSD5の第2の電
流出力を受ける第2の検出回路10により定常光の影響
を除去し、パルス光の反射光のみによる光電流の変動分
をそれぞれ対数変換して抽出し差分検出回路11でこれ
らの差を取ってPSD5の第1と第2の電流出力の電流
比に対応する距離検出信号を出力するようにしている。
【0024】図9に、PSD5と第1,第2の検出回路
10,11の検出ヘッド部の一例を示す。
10,11の検出ヘッド部の一例を示す。
【0025】図9では、PSD5を等価回路で示してお
り、5−1は表面抵抗、5−2は並列抵抗、5−3は接
合容量、5−4は理想ダイオード、5−5は電流電であ
る。PSD5から発生した光電流IL1およびI
L2は、それぞれ対数変換トランジスタTr1と演算増
幅器OA1および対数変換トランジスタTr2と演算増
幅器OA2からなる対数変換部LA1およびLA2で対
数変換され、次のような出力VL1およびVL2として
出力される。
り、5−1は表面抵抗、5−2は並列抵抗、5−3は接
合容量、5−4は理想ダイオード、5−5は電流電であ
る。PSD5から発生した光電流IL1およびI
L2は、それぞれ対数変換トランジスタTr1と演算増
幅器OA1および対数変換トランジスタTr2と演算増
幅器OA2からなる対数変換部LA1およびLA2で対
数変換され、次のような出力VL1およびVL2として
出力される。
【0026】
【数4】
【0027】
【数5】
(但し、k:ボルツマン定数、T:絶対温度、q:電子
の電荷、Is:トランジスタTr1,Tr2のエミッタ
飽和電流である。)このように対数変換を行う理由は、
ダイナミックレンジを広くとれるようにするためと、単
に差をとることによって容易に両出力の割合を算出でき
るようにするためである。
の電荷、Is:トランジスタTr1,Tr2のエミッタ
飽和電流である。)このように対数変換を行う理由は、
ダイナミックレンジを広くとれるようにするためと、単
に差をとることによって容易に両出力の割合を算出でき
るようにするためである。
【0028】次に、このようにして得られる対数変換出
力VL1,VL2から定常光による影響を除去するため
の回路を含む検出回路の一例の構成を図10に示す。
力VL1,VL2から定常光による影響を除去するため
の回路を含む検出回路の一例の構成を図10に示す。
【0029】図10は、PSD5の第1の電流出力I
L1および第2の電流出力IL2のいずれに対しても設
けられるが、ここでは一方のIL1側の第1の検出回路
9のみを示す。IL2側についてもこれと全く同様の構
成を有する第2の検出回路10が設けられる。
L1および第2の電流出力IL2のいずれに対しても設
けられるが、ここでは一方のIL1側の第1の検出回路
9のみを示す。IL2側についてもこれと全く同様の構
成を有する第2の検出回路10が設けられる。
【0030】図10において、定常状態において定常光
電流IL1rがトランジスタTr1に流れるが、トラン
ジスタTr3にもトランジスタTr4を介して同じ電流
が流れる。このとき、スイッチSW1は、閉じており、
演算増幅器OA3には、ボルテージフォロワを構成する
演算増幅器OA4、トランジスタTr5,Tr4を介し
てフィードバックがかかっているから図示A点の電位
は、Vbなる電圧の与えられている図示B点の電位に固
定されている。
電流IL1rがトランジスタTr1に流れるが、トラン
ジスタTr3にもトランジスタTr4を介して同じ電流
が流れる。このとき、スイッチSW1は、閉じており、
演算増幅器OA3には、ボルテージフォロワを構成する
演算増幅器OA4、トランジスタTr5,Tr4を介し
てフィードバックがかかっているから図示A点の電位
は、Vbなる電圧の与えられている図示B点の電位に固
定されている。
【0031】次にパルス発光器4によりパルス光を発生
させると同時にスイッチSW1を開く。このとき、トラ
ンジスタTr4のベース電位はコンデンサC1により上
記定常状態のときと等しい値に保持されており、定常光
電流IL1rが依然としてトランジスタTr4からトラ
ンジスタTr3に供給されたままとなる。
させると同時にスイッチSW1を開く。このとき、トラ
ンジスタTr4のベース電位はコンデンサC1により上
記定常状態のときと等しい値に保持されており、定常光
電流IL1rが依然としてトランジスタTr4からトラ
ンジスタTr3に供給されたままとなる。
【0032】そして、パルス光の反射光をとらえた光電
流IL1の変動分ΔIL1は、ダイオードD1を介して
B点からトランジスタTr3に供給される。よって、A
点の電位Va1は、
流IL1の変動分ΔIL1は、ダイオードD1を介して
B点からトランジスタTr3に供給される。よって、A
点の電位Va1は、
【0033】
【数6】
(但し、この場合Isは、ダイオードD1の逆方向電流
である。)となる。
である。)となる。
【0034】こうして、光電流IL1の変動分ΔIL1
のみを抽出することができる。このVa1と同様の光電
流IL2の変動分ΔIL2に対応するVa2がPSD5
の第2の光電流出力IL2側の第2の検出回路10で求
められるから、差分検出回路11でこれらの差をとるこ
とによって、
のみを抽出することができる。このVa1と同様の光電
流IL2の変動分ΔIL2に対応するVa2がPSD5
の第2の光電流出力IL2側の第2の検出回路10で求
められるから、差分検出回路11でこれらの差をとるこ
とによって、
【0035】
【数7】
となり、パルス光の反射光による光電流の割合のみが求
められる。
められる。
【0036】このような構成とすれば、パルス光による
光電流の変動分のみを検出して測距を行うことができ
る。
光電流の変動分のみを検出して測距を行うことができ
る。
【0037】しかしながら、上述の図10に示した構成
の第1の検出回路9は、理想的な状態では特に問題はな
いが、トランジスタTr4として用いているPNPトラ
ンジスタのコレクターエミッタ間電圧Vce−コレクタ
電流Ic特性は、図11に示すようにVceがΔVだけ
変化すると、Icも図示ΔIのようにわずかながら変化
する。
の第1の検出回路9は、理想的な状態では特に問題はな
いが、トランジスタTr4として用いているPNPトラ
ンジスタのコレクターエミッタ間電圧Vce−コレクタ
電流Ic特性は、図11に示すようにVceがΔVだけ
変化すると、Icも図示ΔIのようにわずかながら変化
する。
【0038】したがって、例えば定常状態でVbの電位
を0Vとしパルス発光時に前記PNPトランジスタTr
4のコレクタ電圧Vcが−2Vまで下ったとすれば、V
ceの変化分は2Vとなり、Icの変動は相当大きな値
となる。この現象は、定常光の光量が多ければ多きいほ
ど問題が大きくなる。
を0Vとしパルス発光時に前記PNPトランジスタTr
4のコレクタ電圧Vcが−2Vまで下ったとすれば、V
ceの変化分は2Vとなり、Icの変動は相当大きな値
となる。この現象は、定常光の光量が多ければ多きいほ
ど問題が大きくなる。
【0039】そこで本発明の出願人は、先にこのような
問題に対処したものとして次のような構成の距離検出装
置を提案した(特開昭57−192815号)。
問題に対処したものとして次のような構成の距離検出装
置を提案した(特開昭57−192815号)。
【0040】すなわち、PSD出力からパルス光による
変動分のみを対数変換するための第1および第2の検出
回路を、それぞれ、入力電流信号がコレクタに供給され
る対数圧縮用の第1のトランジスタと、この第1のトラ
ンジスタのコレクタが反転入力端に接続されエミッタが
出力端に接続された第1の演算増幅器と、この第1の演
算増幅器の出力端にエミッタが接続された第2のトラン
ジスタと、この第2のトランジスタのコレクタが反転入
力端に接続された第2の演算増幅器と、この第2の演算
増幅器の出力電圧を制御電圧としこの電圧に応じて前記
第2のトランジスタのコレクタに電流供給を行う電流供
給回路と、この電流供給回路に対する前記制御電圧をホ
ールドするコンデンサと、前記光源のパルス光受光時に
のみ前記第2の演算増幅器の出力から前記入力電流信号
の変動分に対応する電流を前記第2のトランジスタのコ
レクタに供給しその電流値の対数に対応する電圧降下を
生ずるダイオードまたは第3のトランジスタとを備え、
前記第2の演算増幅器の出力端から検出出力をとり出す
構成とすることにより上述したトランジスタの特性に絡
む不具合を除去し高安定化を図ったものである。
変動分のみを対数変換するための第1および第2の検出
回路を、それぞれ、入力電流信号がコレクタに供給され
る対数圧縮用の第1のトランジスタと、この第1のトラ
ンジスタのコレクタが反転入力端に接続されエミッタが
出力端に接続された第1の演算増幅器と、この第1の演
算増幅器の出力端にエミッタが接続された第2のトラン
ジスタと、この第2のトランジスタのコレクタが反転入
力端に接続された第2の演算増幅器と、この第2の演算
増幅器の出力電圧を制御電圧としこの電圧に応じて前記
第2のトランジスタのコレクタに電流供給を行う電流供
給回路と、この電流供給回路に対する前記制御電圧をホ
ールドするコンデンサと、前記光源のパルス光受光時に
のみ前記第2の演算増幅器の出力から前記入力電流信号
の変動分に対応する電流を前記第2のトランジスタのコ
レクタに供給しその電流値の対数に対応する電圧降下を
生ずるダイオードまたは第3のトランジスタとを備え、
前記第2の演算増幅器の出力端から検出出力をとり出す
構成とすることにより上述したトランジスタの特性に絡
む不具合を除去し高安定化を図ったものである。
【0041】図12にこのような距離検出装置の一具体
例における要部である第1および第2の検出回路の構成
を示す。なお、第1および第2の検出回路9、10は全
く同様に構成されるため、ここでは第1の検出回路9の
構成のみを示している。
例における要部である第1および第2の検出回路の構成
を示す。なお、第1および第2の検出回路9、10は全
く同様に構成されるため、ここでは第1の検出回路9の
構成のみを示している。
【0042】図12に示すように、PSD5の第1の電
流出力IL1は、対数圧縮トランジスタTr1と演算増
幅器OA1からなる対数変換部LA1の対数圧縮トラン
ジスタTr1を通して対数変換され(4)式に示した出
力VL1となる。
流出力IL1は、対数圧縮トランジスタTr1と演算増
幅器OA1からなる対数変換部LA1の対数圧縮トラン
ジスタTr1を通して対数変換され(4)式に示した出
力VL1となる。
【0043】前記電流IL1と同じ電流は、N−MOS
FET(NチャンネルMOS電界効果型トランジス
タ)FT1を通して電源+Vccから流れ、対数伸長ト
ランジスタTr3によって伸長される。このとき、トラ
ンジスタTr3のベース電位をトランジスタTr1のベ
ース電位よりも約60mV高くすれば10倍の伸長電流
が得られ、また、トランジスタTr3のエミッタ面積を
トランジスタTr1の2倍にすれば2倍の伸長電流が得
られることになる。ここでは、特に伸長していない(1
倍伸長)のものとして説明する。
FET(NチャンネルMOS電界効果型トランジス
タ)FT1を通して電源+Vccから流れ、対数伸長ト
ランジスタTr3によって伸長される。このとき、トラ
ンジスタTr3のベース電位をトランジスタTr1のベ
ース電位よりも約60mV高くすれば10倍の伸長電流
が得られ、また、トランジスタTr3のエミッタ面積を
トランジスタTr1の2倍にすれば2倍の伸長電流が得
られることになる。ここでは、特に伸長していない(1
倍伸長)のものとして説明する。
【0044】そして、定常状態では、スイッチSW2は
閉じ、スイッチSW3は開いている。したがってN−M
OS FET FT1のソース電位は、演算増幅器OA
5に帰環がかかっているため該演算増幅器OA5の非反
転入力端の電位Vcに固定されている。
閉じ、スイッチSW3は開いている。したがってN−M
OS FET FT1のソース電位は、演算増幅器OA
5に帰環がかかっているため該演算増幅器OA5の非反
転入力端の電位Vcに固定されている。
【0045】次に、パルス光が出射されると同時にスイ
ッチSW2を開き、スイッチSW3を閉じる。定常光入
射時にコンデンサC2に蓄積された電荷によってN−M
OSFET FT1のゲート電位が固定されているた
め、定常光電流IL1r分は、このFET FT1によ
ってトランジスタTr3に供給される。パルス光による
電流変化分ΔIL1はダイオードD2を通して演算増幅
器OA5から供給される。
ッチSW2を開き、スイッチSW3を閉じる。定常光入
射時にコンデンサC2に蓄積された電荷によってN−M
OSFET FT1のゲート電位が固定されているた
め、定常光電流IL1r分は、このFET FT1によ
ってトランジスタTr3に供給される。パルス光による
電流変化分ΔIL1はダイオードD2を通して演算増幅
器OA5から供給される。
【0046】このとき演算増幅器OA5は、ダイオード
D2を介してこのループで帰環がかかっているためFE
T FT1のゲート−ソース間電圧Vgsは変化しな
い。この状態を演算増幅器OA5の出力端から導出した
出力Voについて検討すれば、図13のように変化する
ことがわかる。
D2を介してこのループで帰環がかかっているためFE
T FT1のゲート−ソース間電圧Vgsは変化しな
い。この状態を演算増幅器OA5の出力端から導出した
出力Voについて検討すれば、図13のように変化する
ことがわかる。
【0047】つまり定常状態では、
【0048】
【数8】
であり、パルス光が送受されると、
【0049】
【数9】
(但し、Isは、ダイオードD2の逆方向電流であ
る。)になることがわかる。
る。)になることがわかる。
【0050】PSD5の第2の電流出力IL2側にも全
く同様に構成された第2の検出回路10がありその出力
をVo2とする。
く同様に構成された第2の検出回路10がありその出力
をVo2とする。
【0051】このようにして得られた出力Vo1とVo
2は、例えば図14に示すような構成の差分検出回路に
与えられる。図14において信号Vo1とVo2は、差
動増幅器として構成された演算増幅器OA6に導かれて
次のような電圧信号VDoを得る。
2は、例えば図14に示すような構成の差分検出回路に
与えられる。図14において信号Vo1とVo2は、差
動増幅器として構成された演算増幅器OA6に導かれて
次のような電圧信号VDoを得る。
【0052】
【数10】
こうして距離に対応する電流比が電圧値VDoとして得
られることになる。
られることになる。
【0053】この電圧VDoは、例えば図14に示した
サンプルスイッチSw4、ホールディングコンデンサC
3およびバッファとしてのボルテージフォロワを構成す
る演算増幅器OA7からなるサンプルホールド回路部S
Hによってパルス光の発光期間中にサンプルアンドホー
ルドすればよいが、例えば発光素子として発光ダイオー
ド等を用いる場合には、接合部の温度上昇により発光効
率が大幅に低下するため、発光直後にサンプリングする
方がよい結果が得られる。この発光直後にサンプリング
する方式は、周囲光源に電源の周期成分(脈動光成分)
がのるような場合にも有効である。
サンプルスイッチSw4、ホールディングコンデンサC
3およびバッファとしてのボルテージフォロワを構成す
る演算増幅器OA7からなるサンプルホールド回路部S
Hによってパルス光の発光期間中にサンプルアンドホー
ルドすればよいが、例えば発光素子として発光ダイオー
ド等を用いる場合には、接合部の温度上昇により発光効
率が大幅に低下するため、発光直後にサンプリングする
方がよい結果が得られる。この発光直後にサンプリング
する方式は、周囲光源に電源の周期成分(脈動光成分)
がのるような場合にも有効である。
【0054】サンプリングされた出力は、距離に比例し
た電圧を有しているので、そのまま距離信号として利用
して自動焦点調整制御や表示等に用いてもよく、またコ
ンパレータ等を用い適宜なるレベル毎に複数の距離ゾー
ンに分割した信号に変換して用いてもよい。このように
して、定常光の影響を効果的にしかも安定に除去するこ
とができ、高精度の測距が可能となる。
た電圧を有しているので、そのまま距離信号として利用
して自動焦点調整制御や表示等に用いてもよく、またコ
ンパレータ等を用い適宜なるレベル毎に複数の距離ゾー
ンに分割した信号に変換して用いてもよい。このように
して、定常光の影響を効果的にしかも安定に除去するこ
とができ、高精度の測距が可能となる。
【0055】しかしながら、このような構成では図12
に示すように、SW2,SW3なる2個のアナログスイ
ッチを設け定常状態とパルス発光状態とで回路を切換え
パルス光に対する検出信号を抽出するようにしているた
め、アナログスイッチを適切なタイミングで駆動するの
が容易でなく、特に上記構成をIC(集積回路)化回路
に置き換えた場合、2個のアナログスイッチの適切なタ
イミングでの駆動が困難になり、しかも発振等が生じが
ちになるなど不安定要素が増し回路の充分な安定性が得
られなくなるため、IC化が困難であるという問題があ
った。
に示すように、SW2,SW3なる2個のアナログスイ
ッチを設け定常状態とパルス発光状態とで回路を切換え
パルス光に対する検出信号を抽出するようにしているた
め、アナログスイッチを適切なタイミングで駆動するの
が容易でなく、特に上記構成をIC(集積回路)化回路
に置き換えた場合、2個のアナログスイッチの適切なタ
イミングでの駆動が困難になり、しかも発振等が生じが
ちになるなど不安定要素が増し回路の充分な安定性が得
られなくなるため、IC化が困難であるという問題があ
った。
【0056】このような事情に鑑みて、本願の発明を同
一出願人による距離検出装置が特許出願され、特公平2
−24325号公報として公告されており、比較的簡単
な回路構成を用いて回路の不安定要素を除去しIC化等
に際しても充分な安定性の得られることを開示してい
る。
一出願人による距離検出装置が特許出願され、特公平2
−24325号公報として公告されており、比較的簡単
な回路構成を用いて回路の不安定要素を除去しIC化等
に際しても充分な安定性の得られることを開示してい
る。
【0057】すなわち、この公報の距離検出装置の特徴
とするところは、PSD出力からパルス光による変動分
のみを対数変換するための第1および第2の検出回路を
それぞれ、入力電流信号がエミッタに供給される第1の
トランジスタと、この第1のトランジスタのエミッタが
反転入力端に接続されベースが出力端に接続された第1
の演算増幅器と、前記第1のトランジスタのコレクタに
コレクタまたはドレインが接続された第2のトランジス
タと、この第2のトランジスタのコレクタまたはドレイ
ンが非反転入力端に接続されベースまたはゲートで出力
端に接続されるとともに反転入力端に予定の電圧が与え
られた第2の演算増幅器と、前記第2のトランジスタの
コレクタまたはドレインにベースが接続された第3のト
ランジスタと、前記第2のトランジスタのベースまたは
ゲートとエミッタまたはソースとの間に接続された充分
な容量のコンデンサと、前記第3のトランジスタのコレ
クタ電流を検出し前記差分検出回路に与える電流検出回
路とを具備する構成とし、アナログスイッチによる切換
え等を要しないでパルス光に対する成分のみを抽出する
ようにしたことにある。
とするところは、PSD出力からパルス光による変動分
のみを対数変換するための第1および第2の検出回路を
それぞれ、入力電流信号がエミッタに供給される第1の
トランジスタと、この第1のトランジスタのエミッタが
反転入力端に接続されベースが出力端に接続された第1
の演算増幅器と、前記第1のトランジスタのコレクタに
コレクタまたはドレインが接続された第2のトランジス
タと、この第2のトランジスタのコレクタまたはドレイ
ンが非反転入力端に接続されベースまたはゲートで出力
端に接続されるとともに反転入力端に予定の電圧が与え
られた第2の演算増幅器と、前記第2のトランジスタの
コレクタまたはドレインにベースが接続された第3のト
ランジスタと、前記第2のトランジスタのベースまたは
ゲートとエミッタまたはソースとの間に接続された充分
な容量のコンデンサと、前記第3のトランジスタのコレ
クタ電流を検出し前記差分検出回路に与える電流検出回
路とを具備する構成とし、アナログスイッチによる切換
え等を要しないでパルス光に対する成分のみを抽出する
ようにしたことにある。
【0058】図15は、上記公報の距離検出装置の基本
回路の構成を概略的に示したものであり、図15におい
て図4、図14と同様の部分には、同符号を付して示し
ており、第2の検出回路10は、第1の検出回路9と同
様の構成であるので省略して示している。
回路の構成を概略的に示したものであり、図15におい
て図4、図14と同様の部分には、同符号を付して示し
ており、第2の検出回路10は、第1の検出回路9と同
様の構成であるので省略して示している。
【0059】PSD5は、両出力端子の電位を揃える必
要があることから両出力端子は、それぞれ第1および第
2の検出回路9,10の演算増幅器OA8,OA9に接
続されており、PSD5の基準電位端には、第1の基準
電位E1が与えられている。
要があることから両出力端子は、それぞれ第1および第
2の検出回路9,10の演算増幅器OA8,OA9に接
続されており、PSD5の基準電位端には、第1の基準
電位E1が与えられている。
【0060】PSD5の出力端子に反転入力端が接続さ
れた演算増幅器OA8の非反転入力端には第2の基準電
位E2が与えられており、この演算増幅器OA8の出力
端は、エミッタが該演算増幅器OA8の反転入力端に接
続されたトランジスタTr6のベースに接続されてい
る。トランジスタTr6のコレクタは、エミッタが接地
されたトランジスタTr7のコレクタに接続されてい
る。トランジスタTr7のベース−エミッタ間に並列に
充分な容量を有するコンデンサC3が接続されている。
れた演算増幅器OA8の非反転入力端には第2の基準電
位E2が与えられており、この演算増幅器OA8の出力
端は、エミッタが該演算増幅器OA8の反転入力端に接
続されたトランジスタTr6のベースに接続されてい
る。トランジスタTr6のコレクタは、エミッタが接地
されたトランジスタTr7のコレクタに接続されてい
る。トランジスタTr7のベース−エミッタ間に並列に
充分な容量を有するコンデンサC3が接続されている。
【0061】トランジスタTr7のコレクタは、エミッ
タが接地されたトランジスタTr8のベースに接続され
ている。トランジスタTr8のベースは演算増幅器OA
10の非反転入力端に接続されており、この演算増幅器
OA10の出力端は、トランジスタTr7のベースに接
続されている。
タが接地されたトランジスタTr8のベースに接続され
ている。トランジスタTr8のベースは演算増幅器OA
10の非反転入力端に接続されており、この演算増幅器
OA10の出力端は、トランジスタTr7のベースに接
続されている。
【0062】そして演算増幅器OA10の反転入力端に
は基準電位E3が与えられている。トランジスタTr8
のコレクタは、図示極性のダイオードD3を介して電源
Vccに接続されるとともに、エミッタが電源Vccに
そしてコレクタが図示極性のダイオードD4を介して接
地されたトランジスタTr9のベースに接地され、この
部分全体でいわゆるカレントミラー回路を構成してい
る。
は基準電位E3が与えられている。トランジスタTr8
のコレクタは、図示極性のダイオードD3を介して電源
Vccに接続されるとともに、エミッタが電源Vccに
そしてコレクタが図示極性のダイオードD4を介して接
地されたトランジスタTr9のベースに接地され、この
部分全体でいわゆるカレントミラー回路を構成してい
る。
【0063】トランジスタTr9とダイオードD4の接
続点から取り出した出力は、差分検出回路11の演算増
幅器OA6の反転入力端に与えられている。演算増幅器
OA6の非反転入力端には第2の検出回路10の同様の
個所から取り出した出力が与えられるとともに基準電位
E4が与えられている。
続点から取り出した出力は、差分検出回路11の演算増
幅器OA6の反転入力端に与えられている。演算増幅器
OA6の非反転入力端には第2の検出回路10の同様の
個所から取り出した出力が与えられるとともに基準電位
E4が与えられている。
【0064】次にこのような構成における動作について
述べる。
述べる。
【0065】PSD5から出力された光電流は、トラン
ジスタTr6を通ってトランジスタTr7に流れる。こ
の時、トランジスタTr7のベース電位(エミッタ−ベ
ース間電圧VBE1)は、光電流ILに対して、
ジスタTr6を通ってトランジスタTr7に流れる。こ
の時、トランジスタTr7のベース電位(エミッタ−ベ
ース間電圧VBE1)は、光電流ILに対して、
【0066】
【数11】
(但し、Is:トランジスタTr7のエミッタ飽和電流
である。)で表わされる電位となる。
である。)で表わされる電位となる。
【0067】また、この時トランジスタTr8のベー
ス、エミッタ電位は、演算増幅器OA10を介して基準
電位E3に固定されており、このトランジスタTr8の
コレクタ−エミッタ間には、
ス、エミッタ電位は、演算増幅器OA10を介して基準
電位E3に固定されており、このトランジスタTr8の
コレクタ−エミッタ間には、
【0068】
【数12】
(但し、Is:トランジスタTr8のエミッタ飽和電
流、VBE2:トランジスタTr8のベース−エミッタ
間電圧である。)なる電流が流れている。これは、カレ
ントミラー回路を介してダイオードD4に流れることか
らダイオードD4とトランジスタTr9の接続点には、
VBE2なる電位が表われている。第2の検出回路10
も、第1の検出回路9と同様であるので差分検出回路1
1の演算増幅器OA6の出力Voは定常状態では基準電
位E4がそのままあらわれる。
流、VBE2:トランジスタTr8のベース−エミッタ
間電圧である。)なる電流が流れている。これは、カレ
ントミラー回路を介してダイオードD4に流れることか
らダイオードD4とトランジスタTr9の接続点には、
VBE2なる電位が表われている。第2の検出回路10
も、第1の検出回路9と同様であるので差分検出回路1
1の演算増幅器OA6の出力Voは定常状態では基準電
位E4がそのままあらわれる。
【0069】ここで、パルス光による光電流ΔI
L1が、トランジスタTr6を流れると、トランジスタ
Tr7のベース電位はコンデンサC3でホールドされて
いるので、トランジスタTr8のベースに流れ込む。そ
して、トランジスタTr8の電流増幅率をhFEとすれ
ば、トランジスタTr8のコレクタにはhFE・ΔI
L1なる電流が流れ、ひいてはこれがダイオードD4に
流れることになる。従って、ダイオードD4とトランジ
スタTr9の接続点にはhFE・ΔIL4に対応する電
位(VBE2)が表われることになる。
L1が、トランジスタTr6を流れると、トランジスタ
Tr7のベース電位はコンデンサC3でホールドされて
いるので、トランジスタTr8のベースに流れ込む。そ
して、トランジスタTr8の電流増幅率をhFEとすれ
ば、トランジスタTr8のコレクタにはhFE・ΔI
L1なる電流が流れ、ひいてはこれがダイオードD4に
流れることになる。従って、ダイオードD4とトランジ
スタTr9の接続点にはhFE・ΔIL4に対応する電
位(VBE2)が表われることになる。
【0070】PSD5は、すでに述べたように光スポッ
トの入射する位置によって両出力端から出る光電流の割
合が異なり、この光電流の割合(IL1/IL2)の対
数を縦軸に、距離の逆数を横軸にとったものを図16に
示す。
トの入射する位置によって両出力端から出る光電流の割
合が異なり、この光電流の割合(IL1/IL2)の対
数を縦軸に、距離の逆数を横軸にとったものを図16に
示す。
【0071】さて、パルス光入射時の演算増幅器OA6
の出力Voは次式で表わされる。
の出力Voは次式で表わされる。
【0072】
【数13】
この(13)式は、図16と同様の形であり、出力Vo
は、明らかに距離に応じて変化しているので、この出力
Voを用いて距離を判定することができる。
は、明らかに距離に応じて変化しているので、この出力
Voを用いて距離を判定することができる。
【0073】このようにすれば、回路構成も簡単で不安
定要因をほとんど含まず、またアナログスイッチ等を用
いていないので、極めて安定度が高く、IC化した際も
不安定要素の生じることがない。
定要因をほとんど含まず、またアナログスイッチ等を用
いていないので、極めて安定度が高く、IC化した際も
不安定要素の生じることがない。
【0074】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記公
報に記載の距離検出装置では、外光による測距誤差が回
避し難いものである。これは、投光素子による信号光の
反射光が同一被写体距離においては、一定であるのに対
し、外光は周囲の明るさによって大きく変わり、外光が
大きいとき、受光回路におけるS/N比が劣化する。こ
のため、測距結果が変化する。つまり、正確な距離検出
が行い難い欠点があった。
報に記載の距離検出装置では、外光による測距誤差が回
避し難いものである。これは、投光素子による信号光の
反射光が同一被写体距離においては、一定であるのに対
し、外光は周囲の明るさによって大きく変わり、外光が
大きいとき、受光回路におけるS/N比が劣化する。こ
のため、測距結果が変化する。つまり、正確な距離検出
が行い難い欠点があった。
【0075】本発明は、上述の事情に鑑みてなされたも
ので、その第1の目的は、外光の強さに影響されること
なく、正確に測距をすることができるカメラの測距装置
を提供することにある。
ので、その第1の目的は、外光の強さに影響されること
なく、正確に測距をすることができるカメラの測距装置
を提供することにある。
【0076】また、本発明の第2の目的は、外光による
測距誤差の補正を迅速かつ正確に行うことがてきるカメ
ラの測距装置を提供することにある。
測距誤差の補正を迅速かつ正確に行うことがてきるカメ
ラの測距装置を提供することにある。
【0077】また、本発明の第3の目的は、カメラの測
光装置を利用して外光測定を行うことができ、構成の簡
略化とコストダウンを期することができるカメラの測距
装置を提供することにある。
光装置を利用して外光測定を行うことができ、構成の簡
略化とコストダウンを期することができるカメラの測距
装置を提供することにある。
【0078】さらにまた、本発明の第4の目的とすると
ころは、個々のカメラ1台ごとの外光による測距誤差の
補正ができ、より一層の高精度な測距を行うことができ
るカメラの測距装置を提供することにある。
ころは、個々のカメラ1台ごとの外光による測距誤差の
補正ができ、より一層の高精度な測距を行うことができ
るカメラの測距装置を提供することにある。
【0079】
【課題を解決するための手段】請求項1に記載の発明
は、上記第1の目的を達成するために、測距対象にパル
ス光を投射する光源と、前記測距対象による前記パルス
光の反射光スポットが結像される個所に設けられ前記光
源との視差に基づき前記測距対象の距離に応じた入射ス
ポットの位置を前記距離の変化による位置変位方向につ
いて連続的に検出し検出位置に応じた相互電流比を有す
る第1および第2の電流出力を得る半導体光位置検出器
と、この半導体光位置検出器の前記第1の電流出力を受
け前記パルス光による前記第1の電流出力の変動分を対
数変換して出力する第1の検出回路と、前記半導体光位
置検出器の前記第2の電流出力を受け前記パルス光によ
る前記第2の電流出力の変動分を対数変換して出力する
第2の検出回路と、これらの第1および第2の検出回路
から出力され且つ対数変換された前記第1および第2の
電流出力の変動分の差をとって測距信号を得る差分検出
回路と、前記被写体の輝度を測定する外光測定手段と、
この外光測定手段により予め測定した外光の強さを利用
して前記差分検出回路から得られた前記測距信号の外光
による誤差を補正する補正手段とを具備する構成とした
ことを特徴としたものである。
は、上記第1の目的を達成するために、測距対象にパル
ス光を投射する光源と、前記測距対象による前記パルス
光の反射光スポットが結像される個所に設けられ前記光
源との視差に基づき前記測距対象の距離に応じた入射ス
ポットの位置を前記距離の変化による位置変位方向につ
いて連続的に検出し検出位置に応じた相互電流比を有す
る第1および第2の電流出力を得る半導体光位置検出器
と、この半導体光位置検出器の前記第1の電流出力を受
け前記パルス光による前記第1の電流出力の変動分を対
数変換して出力する第1の検出回路と、前記半導体光位
置検出器の前記第2の電流出力を受け前記パルス光によ
る前記第2の電流出力の変動分を対数変換して出力する
第2の検出回路と、これらの第1および第2の検出回路
から出力され且つ対数変換された前記第1および第2の
電流出力の変動分の差をとって測距信号を得る差分検出
回路と、前記被写体の輝度を測定する外光測定手段と、
この外光測定手段により予め測定した外光の強さを利用
して前記差分検出回路から得られた前記測距信号の外光
による誤差を補正する補正手段とを具備する構成とした
ことを特徴としたものである。
【0080】また、請求項2に記載の発明は、前記補正
手段は、前記差分検出回路から得られた前記測距信号の
外光による誤差を、 V=Vx−ΔVn1・Ix V:補正後の測距結果 Vx:補正前の測距結果 Ix:外光測定手段の出力 ΔVn1:補正定数 の式により補正することを特徴としたものである。
手段は、前記差分検出回路から得られた前記測距信号の
外光による誤差を、 V=Vx−ΔVn1・Ix V:補正後の測距結果 Vx:補正前の測距結果 Ix:外光測定手段の出力 ΔVn1:補正定数 の式により補正することを特徴としたものである。
【0081】請求項3に記載の発明は、前記外光測定手
段を、カメラの測光装置と併用することを特徴としたも
のである。
段を、カメラの測光装置と併用することを特徴としたも
のである。
【0082】請求項4に記載の発明は、測距対象にパル
ス光を投射する光源と、前記測距対象による前記パルス
光の反射光スポットが結像される個所に設けられ前記光
源との視差に基づき、前記測距対象の距離に応じた入射
スポットの位置を前記距離の変化による位置変位方向に
ついて連続的に検出し検出位置に応じた相互電流比を有
する第1および第2の電流出力を得る半導体光位置検出
器と、この半導体光位置検出器の前記第1の電流出力を
受け前記パルス光による前記第1の電流出力の変動分を
対数変換して出力する第1の検出回路と、前記半導体光
位置検出器の前記第2の電流出力を受け前記パルス光に
よる前記第2の電流出力の変動分を対数変換して出力す
る第2の検出回路と、これらの第1および第2の検出回
路から出力され且つ対数変換された前記第1および第2
の電流出力の変動分の差をとって測距信号を得る差分検
出回路と、前記被写体の輝度を測定する外光測定手段
と、カメラに搭載されたマイクロコンピュータと、カメ
ラ1台ごとに外光に対する補正定数が書き込まれた電気
的消去書込み可能な記憶素子と、前記差分検出回路から
得られる前記測距信号の外光による誤差を前記外光測定
手段で測定された外光の強さと前記記憶素子に記憶され
た補正定数とにより補正演算して各カメラごとの最適な
測距補正を行う補正手段とを具備する構成としたことを
特徴としたものである。
ス光を投射する光源と、前記測距対象による前記パルス
光の反射光スポットが結像される個所に設けられ前記光
源との視差に基づき、前記測距対象の距離に応じた入射
スポットの位置を前記距離の変化による位置変位方向に
ついて連続的に検出し検出位置に応じた相互電流比を有
する第1および第2の電流出力を得る半導体光位置検出
器と、この半導体光位置検出器の前記第1の電流出力を
受け前記パルス光による前記第1の電流出力の変動分を
対数変換して出力する第1の検出回路と、前記半導体光
位置検出器の前記第2の電流出力を受け前記パルス光に
よる前記第2の電流出力の変動分を対数変換して出力す
る第2の検出回路と、これらの第1および第2の検出回
路から出力され且つ対数変換された前記第1および第2
の電流出力の変動分の差をとって測距信号を得る差分検
出回路と、前記被写体の輝度を測定する外光測定手段
と、カメラに搭載されたマイクロコンピュータと、カメ
ラ1台ごとに外光に対する補正定数が書き込まれた電気
的消去書込み可能な記憶素子と、前記差分検出回路から
得られる前記測距信号の外光による誤差を前記外光測定
手段で測定された外光の強さと前記記憶素子に記憶され
た補正定数とにより補正演算して各カメラごとの最適な
測距補正を行う補正手段とを具備する構成としたことを
特徴としたものである。
【0083】
【作用】上記のように構成されたカメラの測距装置は、
光源から測距対象にパルスを投射すると、この測距対象
からの反射光スポットが半導体光位置検出器に光源との
視差に基づいて測距対象の距離に応じた位置に結像す
る。測距対象の距離の変化によって半導体光位置検出器
上の結像位置が変化するため、その結像位置の変化方向
について連続的に検出することができ、半導体光位置検
出器の両端から相互の電流比をもって第1、第2の電流
出力が取り出される。
光源から測距対象にパルスを投射すると、この測距対象
からの反射光スポットが半導体光位置検出器に光源との
視差に基づいて測距対象の距離に応じた位置に結像す
る。測距対象の距離の変化によって半導体光位置検出器
上の結像位置が変化するため、その結像位置の変化方向
について連続的に検出することができ、半導体光位置検
出器の両端から相互の電流比をもって第1、第2の電流
出力が取り出される。
【0084】この第1の電流出力は、第1の検出回路に
送られ、そこでパルス光による第1の電流出力の変動分
が対数変換して出力され、第2の電流出力は、第2の検
出回路に送られ、そこでパルス光による第2の電流出力
の変動分が対数変換して出力される。
送られ、そこでパルス光による第1の電流出力の変動分
が対数変換して出力され、第2の電流出力は、第2の検
出回路に送られ、そこでパルス光による第2の電流出力
の変動分が対数変換して出力される。
【0085】この第1の検出回路および第2の検出回路
の出力は、差分検出回路に送られ、そこで第1の電流出
力と第2の電流出力の差分をとって距離検出信号が出力
されるとともに、予め外光の強さを測定した外光測定手
段の測定結果に基づき、外光による距離検出信号の誤差
は補正手段で補正される。
の出力は、差分検出回路に送られ、そこで第1の電流出
力と第2の電流出力の差分をとって距離検出信号が出力
されるとともに、予め外光の強さを測定した外光測定手
段の測定結果に基づき、外光による距離検出信号の誤差
は補正手段で補正される。
【0086】この補正手段は、外光による距離検出信号
の誤差を補正する際に、 V=Vx−ΔVn1・Ix の式により、差分検出回路から出力される補正前の距離
検出信号から、外光測定手段による外光測定結果に基づ
く補正定数を乗算した結果を差し引くことにより、外光
による距離検出信号の誤差を補正する。
の誤差を補正する際に、 V=Vx−ΔVn1・Ix の式により、差分検出回路から出力される補正前の距離
検出信号から、外光測定手段による外光測定結果に基づ
く補正定数を乗算した結果を差し引くことにより、外光
による距離検出信号の誤差を補正する。
【0087】上記した外光測定手段は、予めカメラに搭
載されている測光装置を使用して外光を測定することに
より、外光測定手段を別途に設ける必要をなくするよう
にしてもよい。
載されている測光装置を使用して外光を測定することに
より、外光測定手段を別途に設ける必要をなくするよう
にしてもよい。
【0088】一方、外光による距離検出信号の誤差を補
正するために、カメラ1台ごとに予め補正定数を電気的
消去可能な記憶素子にマイクロコンピュータにより書き
込んでおくとともに、外光測定手段により外光の明るさ
を測定し、この外光測定手段による各測定データに対応
させて記憶素子に記憶されている補正定数のデータとか
ら、補正手段により差分検出回路から出力される補正前
の距離検出信号の外光による誤差を各カメラごとに補正
する。
正するために、カメラ1台ごとに予め補正定数を電気的
消去可能な記憶素子にマイクロコンピュータにより書き
込んでおくとともに、外光測定手段により外光の明るさ
を測定し、この外光測定手段による各測定データに対応
させて記憶素子に記憶されている補正定数のデータとか
ら、補正手段により差分検出回路から出力される補正前
の距離検出信号の外光による誤差を各カメラごとに補正
する。
【0089】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて具体
的に説明する。
的に説明する。
【0090】図1は、この発明に係るカメラの測距装置
の一実施例の全体構成を示すブロック図である。
の一実施例の全体構成を示すブロック図である。
【0091】この図1において、101はマイクロコン
ピュータであり、CPU(中央演算処理装置)、プログ
ラムを格納したROM、データの一時的な記憶、読み出
し可能なRAMなどから構成されており、このCPUの
制御に基づき、駆動回路102が駆動されるようになっ
ている。
ピュータであり、CPU(中央演算処理装置)、プログ
ラムを格納したROM、データの一時的な記憶、読み出
し可能なRAMなどから構成されており、このCPUの
制御に基づき、駆動回路102が駆動されるようになっ
ている。
【0092】駆動回路102は、赤外線発光ダイオード
103(以下「LED」という)を駆動するようになっ
ている。このLED103から発光した赤外光は、投光
レンズ104で集光され、被写体105に照射するよう
になっている。
103(以下「LED」という)を駆動するようになっ
ている。このLED103から発光した赤外光は、投光
レンズ104で集光され、被写体105に照射するよう
になっている。
【0093】この被写体105で反射されたパルス光
は、受光レンズ106を通して、PSD5に入射結像さ
れる。PSD5およびAF信号処理回路107は、図1
5で示したものと全く同様に構成され、かつ同様の動作
を行うものであり、ここでの重複説明を避けるが、AF
信号処理回路107は、図15で示した第1の検出回路
9と第2の検出回路10および差分検出回路11で構成
されている。
は、受光レンズ106を通して、PSD5に入射結像さ
れる。PSD5およびAF信号処理回路107は、図1
5で示したものと全く同様に構成され、かつ同様の動作
を行うものであり、ここでの重複説明を避けるが、AF
信号処理回路107は、図15で示した第1の検出回路
9と第2の検出回路10および差分検出回路11で構成
されている。
【0094】この第1の検出回路9、第2の検出回路1
0にPSD5の両端から出力される光電流が、入力され
るようになっており、また、差分検出回路11の出力が
マイクロコンピュータ101に入力されるようになって
いる。
0にPSD5の両端から出力される光電流が、入力され
るようになっており、また、差分検出回路11の出力が
マイクロコンピュータ101に入力されるようになって
いる。
【0095】このマイクロコンピュータ101は、各カ
メラ1台ごとに設けられており、この各カメラ1台ごと
に電気的に消去、書き込み可能な例えば、E2PROM
のような記憶素子108に対して、被写体105の単位
輝度当りの補正定数を記憶素子108に書き込みおよび
消去を行うようになっている。
メラ1台ごとに設けられており、この各カメラ1台ごと
に電気的に消去、書き込み可能な例えば、E2PROM
のような記憶素子108に対して、被写体105の単位
輝度当りの補正定数を記憶素子108に書き込みおよび
消去を行うようになっている。
【0096】上記被写体105の輝度測定は、被写体1
05から反射される外光を集光レンズ109を通して受
光素子110で受光するようになっており、この受光素
子110で受光光量を電気信号に変換して信号処理回路
111に出力するようになっている。
05から反射される外光を集光レンズ109を通して受
光素子110で受光するようになっており、この受光素
子110で受光光量を電気信号に変換して信号処理回路
111に出力するようになっている。
【0097】信号処理回路111は、ノイズ成分の除去
や所定の波形処理などを行ってマイクロコンピュータ1
01に出力するようになっている。この信号処理回路1
11の出力を受けて、マイクロコンピュータ101は、
AF信号処理回路107から得られる測距データの外光
に対する誤差補正を行うための補正定数を演算して記憶
素子108に記憶するようになっているとともに、この
補正定数を利用して、AF信号処理回路107による測
距結果の外光による誤差を補正するための演算を行うよ
うになっている。
や所定の波形処理などを行ってマイクロコンピュータ1
01に出力するようになっている。この信号処理回路1
11の出力を受けて、マイクロコンピュータ101は、
AF信号処理回路107から得られる測距データの外光
に対する誤差補正を行うための補正定数を演算して記憶
素子108に記憶するようになっているとともに、この
補正定数を利用して、AF信号処理回路107による測
距結果の外光による誤差を補正するための演算を行うよ
うになっている。
【0098】次に、このように構成されたこの実施例の
動作について説明する。まず、被写体105の測距をA
F信号処理回路107で行うために、マイクロコンピュ
ータ101により駆動回路102を駆動し、それによっ
てLED103が赤外光のパルス光を発生する。このパ
ルス光は、投光レンズ104を通して被写体105に照
射され、被写体105から反射される。
動作について説明する。まず、被写体105の測距をA
F信号処理回路107で行うために、マイクロコンピュ
ータ101により駆動回路102を駆動し、それによっ
てLED103が赤外光のパルス光を発生する。このパ
ルス光は、投光レンズ104を通して被写体105に照
射され、被写体105から反射される。
【0099】被射体から反射されたパルス光は、受光レ
ンズ106を通してPSD5上に結像される。このPS
D5は、被写体105の距離に対応した線上の位置に反
射スポット光を受けるので、その位置に応じて、被写体
105の距離が上記(1)式(2)式から求められる。
ンズ106を通してPSD5上に結像される。このPS
D5は、被写体105の距離に対応した線上の位置に反
射スポット光を受けるので、その位置に応じて、被写体
105の距離が上記(1)式(2)式から求められる。
【0100】また、PSD5の電流出力IL1,IL2
の電流比IL1/IL2と被写体距離との関係は、図8
で示したとおりであり、このPSD5の電流出力
IL1,IL2は、図15で示したように、AF信号処
理回路107内の第1の検出回路9,第2検出回路10
に加えることにより差分検出回路11の出力端には、
(13)式で示したようになり、測距出力Voが得られ
る。この測距出力Voは、マイクロコンピュータ101
に出力される。このような被写体105の測距データ
は、外光によって誤差を生じる。
の電流比IL1/IL2と被写体距離との関係は、図8
で示したとおりであり、このPSD5の電流出力
IL1,IL2は、図15で示したように、AF信号処
理回路107内の第1の検出回路9,第2検出回路10
に加えることにより差分検出回路11の出力端には、
(13)式で示したようになり、測距出力Voが得られ
る。この測距出力Voは、マイクロコンピュータ101
に出力される。このような被写体105の測距データ
は、外光によって誤差を生じる。
【0101】図2は、被写体105の距離に対する測距
出力の関係を示すものであり、特性Aは外光のないとき
の出力特性であり、特性Bは外光により受光素子110
に光電流Inが流れているときの特性を示している。
出力の関係を示すものであり、特性Aは外光のないとき
の出力特性であり、特性Bは外光により受光素子110
に光電流Inが流れているときの特性を示している。
【0102】この外光の測定において、被写体105か
ら反射される外光あるいは周辺の外光は、集光レンズ1
09を通して、受光素子110で受光される。この受光
素子110での受光量に応じて受光素子110は、電気
信号に変換した後、信号処理回路111に出力する。こ
の信号処理回路111は、受光素子110の出力の所定
の処理を行ってマイクロコンピュータ101に出力す
る。
ら反射される外光あるいは周辺の外光は、集光レンズ1
09を通して、受光素子110で受光される。この受光
素子110での受光量に応じて受光素子110は、電気
信号に変換した後、信号処理回路111に出力する。こ
の信号処理回路111は、受光素子110の出力の所定
の処理を行ってマイクロコンピュータ101に出力す
る。
【0103】ところで、被写体105の測距センサであ
るPSD5の分光感度は、PSD5の前面にある可視光
カットフィルタ(図示せず)により、基本的に赤外領域
においてのみ存在するが、現実には、フィルタの性能限
界のために、可視光にも一定の感度をもつ。そのため、
PSD5に対し大なる外光が射入するときは、被写体1
05の輝度を測定する受光素子110の出力が大きく、
対応関係のある出力が発生する。したがって、PSD5
の外光電流の大小を、受光素子110の出力によって間
接的に知ることができる。
るPSD5の分光感度は、PSD5の前面にある可視光
カットフィルタ(図示せず)により、基本的に赤外領域
においてのみ存在するが、現実には、フィルタの性能限
界のために、可視光にも一定の感度をもつ。そのため、
PSD5に対し大なる外光が射入するときは、被写体1
05の輝度を測定する受光素子110の出力が大きく、
対応関係のある出力が発生する。したがって、PSD5
の外光電流の大小を、受光素子110の出力によって間
接的に知ることができる。
【0104】これに基づいて、いまPSD5およびAF
信号処理回路107による測距範囲の距離の任意の距離
についての調整を行う場合について説明する。この任意
の距離を図2に示すLcとする。
信号処理回路107による測距範囲の距離の任意の距離
についての調整を行う場合について説明する。この任意
の距離を図2に示すLcとする。
【0105】この場合、まず、任意の距離Lcの位置に
被写体を置き、外光がないときの測距を行うと、図2の
特性A線上の出力が得られる。この外光のないときのA
F信号処理回路107から出力される測距出力をVno
とする。
被写体を置き、外光がないときの測距を行うと、図2の
特性A線上の出力が得られる。この外光のないときのA
F信号処理回路107から出力される測距出力をVno
とする。
【0106】次に、ランプ(図示せず)などにより、被
写体を照射し、一定の輝度に設定する。このとき、図1
の受光素子110の出力を測定し、その光電流をInと
する。
写体を照射し、一定の輝度に設定する。このとき、図1
の受光素子110の出力を測定し、その光電流をInと
する。
【0107】次に、再びPSD5、AF信号処理回路1
07により上記被写体の測距を行う。その測距出力をV
nnとする。この測距出力Vnnと上記測距出力Vno
をそれぞれマイクロコンピュータ101に出力し、この
マイクロコンピュータ101により、 ΔVn=Vnn−Vno …… (14) の演算を行う、次に、単位輝度当りの測距出力ΔVn1
は、 ΔVn1=ΔVn/In …… (15) となる。
07により上記被写体の測距を行う。その測距出力をV
nnとする。この測距出力Vnnと上記測距出力Vno
をそれぞれマイクロコンピュータ101に出力し、この
マイクロコンピュータ101により、 ΔVn=Vnn−Vno …… (14) の演算を行う、次に、単位輝度当りの測距出力ΔVn1
は、 ΔVn1=ΔVn/In …… (15) となる。
【0108】この単位輝度当りの測距出力ΔVn1を、
電気的消去書き込み可能な記憶素子108にマイクロコ
ンピュータ101により書き込む。以上で調整工程が終
了する。
電気的消去書き込み可能な記憶素子108にマイクロコ
ンピュータ101により書き込む。以上で調整工程が終
了する。
【0109】次に、実際の測距時、すなわち、カメラを
使用して被写体105の撮影時の測距について述ベる。
この測距時は、カメラの電源投入時に、電気的消去書き
込み可能な記憶素子108から単位輝度当りの測距出力
ΔVn1を読み込み、次に撮影動作時に、受光素子11
0により、外光による電流を測定する。このときの外光
電流をIxとする。さらに測距を行い、測距出力Vxを
AF信号処理回路107から得る。
使用して被写体105の撮影時の測距について述ベる。
この測距時は、カメラの電源投入時に、電気的消去書き
込み可能な記憶素子108から単位輝度当りの測距出力
ΔVn1を読み込み、次に撮影動作時に、受光素子11
0により、外光による電流を測定する。このときの外光
電流をIxとする。さらに測距を行い、測距出力Vxを
AF信号処理回路107から得る。
【0110】これらの単位輝度当りの測距出力ΔVn1
(補正定数)、外光電流Ix、測距出力Vxから、測距
データVを次の(16)式のようにマイクロコンピュー
タ101で演算する。
(補正定数)、外光電流Ix、測距出力Vxから、測距
データVを次の(16)式のようにマイクロコンピュー
タ101で演算する。
【0111】
V=Vx−ΔVn1・Ix …… (16)
この(16)式の測距データVは、外光による測距出力
Vnoの誤差ΔVn(図2参照)を排除した正確な測距
データとなる。
Vnoの誤差ΔVn(図2参照)を排除した正確な測距
データとなる。
【0112】このように、この実施例によれば、受光素
子110で、被写体105の輝度を測定することによ
り、予め外光の強さを測定し、その測定結果により、P
SD5とAF信号処理回路107とにより測距した測距
結果の外光による誤差を補正するようにしたので、外光
の強さに影響されることなく、正確な測距を行うことが
できる利点を有する。
子110で、被写体105の輝度を測定することによ
り、予め外光の強さを測定し、その測定結果により、P
SD5とAF信号処理回路107とにより測距した測距
結果の外光による誤差を補正するようにしたので、外光
の強さに影響されることなく、正確な測距を行うことが
できる利点を有する。
【0113】なお、この発明は、上記実施例に限定され
ることなく、この要旨を逸脱しない範囲内で種々の変形
実施ができるものである。
ることなく、この要旨を逸脱しない範囲内で種々の変形
実施ができるものである。
【0114】たとえば、図1の実施例では、外光測定手
段として、受光素子110と信号処理回路111とを使
用する場合について例示したが、この外光測光手段は、
カメラの測光装置を兼用(流用)してもよい。
段として、受光素子110と信号処理回路111とを使
用する場合について例示したが、この外光測光手段は、
カメラの測光装置を兼用(流用)してもよい。
【0115】また、カメラ1台ごとに、電気的消去書込
み可能な記憶素子108とマイクロコンピュータ101
を内蔵させておき、各カメラ1台ごとに記憶素子108
に測距データの外光による個有誤差を補正するための補
正定数を記憶させ、各カメラごとに、最適な外光による
測距データの誤差を補正するようにしてもよい。
み可能な記憶素子108とマイクロコンピュータ101
を内蔵させておき、各カメラ1台ごとに記憶素子108
に測距データの外光による個有誤差を補正するための補
正定数を記憶させ、各カメラごとに、最適な外光による
測距データの誤差を補正するようにしてもよい。
【0116】
【発明の効果】以上詳述したように、請求項1に記載の
発明によれば、外光測定手段により予め外光の強さを測
定しておき、その測定結果を利用して測距結果の外光に
よる誤差を補正するように構成したので、外光の強さに
影響されることなく正確に測距を行うことができ、ピン
ボケの写真を未然に防止できるカメラの測距装置を提供
することができる。
発明によれば、外光測定手段により予め外光の強さを測
定しておき、その測定結果を利用して測距結果の外光に
よる誤差を補正するように構成したので、外光の強さに
影響されることなく正確に測距を行うことができ、ピン
ボケの写真を未然に防止できるカメラの測距装置を提供
することができる。
【0117】請求項2に記載の発明によれば、測距結果
の外来光による誤差の補正を行うに際し、補正後の測距
結果をV、補正前の測距結果をVx、外光測定手段の出
力をIx、補正定数をΔVn1とした場合に、 V=Vx−ΔVn1・Ix の補正式で測距結果の外光による補正を行うように構成
したので、外光による測距誤差の補正を迅速かつ正確に
行うことができるカメラの測距装置を提供することがで
きる。
の外来光による誤差の補正を行うに際し、補正後の測距
結果をV、補正前の測距結果をVx、外光測定手段の出
力をIx、補正定数をΔVn1とした場合に、 V=Vx−ΔVn1・Ix の補正式で測距結果の外光による補正を行うように構成
したので、外光による測距誤差の補正を迅速かつ正確に
行うことができるカメラの測距装置を提供することがで
きる。
【0118】また、請求項3に記載の発明によれば、外
光測定手段をカメラの測光手段で兼用するように構成し
たので、カメラに新たに外光測定手段を組み込む必要が
なくなり、カメラ自体をコンパクト化し、且つコストダ
ウンを実現することが可能となるカメラの測距装置を提
供することができる。
光測定手段をカメラの測光手段で兼用するように構成し
たので、カメラに新たに外光測定手段を組み込む必要が
なくなり、カメラ自体をコンパクト化し、且つコストダ
ウンを実現することが可能となるカメラの測距装置を提
供することができる。
【0119】さらに、請求項4に記載の発明によれば、
個々のカメラ1台ごとにマイクロコンピュータおよび電
気的消去書き込み可能な記憶素子を内蔵させておき、測
距結果の外光による誤差を補正するための補正定数をカ
メラ1台ごとの上記記憶素子に適正な補正定数を記憶さ
せておき、測距結果を外光測定結果と補正定数とにより
補正演算するように構成したので、個々のカメラのそれ
ぞれに最適な外光による測距誤差を補正することがで
き、より一層の正確な測距が行えるカメラの測距装置を
提供することができる。
個々のカメラ1台ごとにマイクロコンピュータおよび電
気的消去書き込み可能な記憶素子を内蔵させておき、測
距結果の外光による誤差を補正するための補正定数をカ
メラ1台ごとの上記記憶素子に適正な補正定数を記憶さ
せておき、測距結果を外光測定結果と補正定数とにより
補正演算するように構成したので、個々のカメラのそれ
ぞれに最適な外光による測距誤差を補正することがで
き、より一層の正確な測距が行えるカメラの測距装置を
提供することができる。
【図1】本発明の一実施例に係るカメラの測距装置の全
体構成を示すブロック図である。
体構成を示すブロック図である。
【図2】図1のカメラの測距装置における外光のない場
合と外光のある場合での測距距離と測距出力との関係を
示す説明図である。
合と外光のある場合での測距距離と測距出力との関係を
示す説明図である。
【図3】従来のアクティブ方式による三角測量方式の測
距原理の説明図である。
距原理の説明図である。
【図4】従来の距離検出装置の構成説明図である。
【図5】図4の距離検出装置において反射スポット光が
PSDの中央部に結像されたときの出力電流比の関係を
示す説明図である。
PSDの中央部に結像されたときの出力電流比の関係を
示す説明図である。
【図6】図5に示す位置よりも一端(右端)側に反射ス
ポット光が結像されたときの出力電流の関係を示す説明
図である。
ポット光が結像されたときの出力電流の関係を示す説明
図である。
【図7】図5に示す位置よりも他端(左端)側に反射ス
ポット光が結像されたときの出力電流の関係を示す説明
図である。
ポット光が結像されたときの出力電流の関係を示す説明
図である。
【図8】図4の距離検出装置におけるPSDの被写体距
離に対する電流出力の割合を示す特性図である。
離に対する電流出力の割合を示す特性図である。
【図9】図4の距離検出装置におけるPSDと第1およ
び第2の検出回路の検出ヘッド部の構成を示す回路図で
ある。
び第2の検出回路の検出ヘッド部の構成を示す回路図で
ある。
【図10】図9の検出ヘッド部における対数変換部から
定常光による影響を除去するための回路構成を示す回路
図である。
定常光による影響を除去するための回路構成を示す回路
図である。
【図11】図10の回路のトランジスタTr4のコレク
タエミッタ間電圧とコレクタ電流の関係を示す特性図で
ある。
タエミッタ間電圧とコレクタ電流の関係を示す特性図で
ある。
【図12】従来の別の距離検出装置における第1および
第2の検出回路の回路図である。
第2の検出回路の回路図である。
【図13】図12の回路図における演算増幅器OA5の
出力の変化状態の説明図である。
出力の変化状態の説明図である。
【図14】図12の第1および第2の検出回路の差分を
検出する差分検出回路の回路図である。
検出する差分検出回路の回路図である。
【図15】従来のさらに異なる距離検出回路の回路図で
ある。
ある。
【図16】図15の距離検出回路におけるPSDの距離
の逆数に対する光電流の比の対数との関係を示す説明図
である。
の逆数に対する光電流の比の対数との関係を示す説明図
である。
5 PSD
9 第1の検出回路
10 第2の検出回路
11 差分検出回路
101 マイクロコンピュータ
102 駆動回路
103 発光ダイオード
104 投光レンズ
105 被写体
106 受光レンズ
107 AF信号処理回路
108 電気的消去書き込み可能な記憶素子
109 集光レンズ
110 受光素子
111 信号処理回路
Claims (4)
- 【請求項1】 測距対象にパルス光を投射する光源と、
前記測距対象による前記パルス光の反射光スポットが結
像される個所に設けられ前記光源との視差に基づき前記
測距対象の距離に応じた入射スポットの位置を前記距離
の変化による位置変位方向について連続的に検出し検出
位置に応じた相互電流比を有する第1および第2の電流
出力を得る半導体光位置検出器と、この半導体光位置検
出器の前記第1の電流出力を受け前記パルス光による前
記第1の電流出力の変動分を対数変換して出力する第1
の検出回路と、前記半導体光位置検出器の前記第2の電
流出力を受け前記パルス光による前記第2の電流出力の
変動分を対数変換して出力する第2の検出回路と、これ
らの第1および第2の検出回路から出力され且つ対数変
換された前記第1および第2の電流出力の変動分の差を
とって測距信号を得る差分検出回路と、前記被写体の輝
度を測定する外光測定手段と、この外光測定手段により
予め測定した外光の強さを利用して前記差分検出回路か
ら得られた前記測距信号の外光による誤差を補正する補
正手段とを具備する構成としたことを特徴とするカメラ
の測距装置。 - 【請求項2】 前記補正手段は、前記差分検出回路から
得られた前記測距信号の外光による誤差を、 V=Vx−ΔVn1・Ix V:補正後の測距結果 Vx:補正前の測距結果 Ix:外光測定手段の出力 ΔVn1:補正定数 の式により補正することを特徴とする請求項1記載のカ
メラの測距装置。 - 【請求項3】 前記外光測定手段は、カメラの測光装置
であることを特徴とする請求項1記載のカメラの測距装
置。 - 【請求項4】 測距対象にパルス光を投射する光源と、
前記測距対象による前記パルス光の反射光スポットが結
像される個所に設けられ前記光源との視差に基づき、前
記測距対象の距離に応じた入射スポットの位置を前記距
離の変化による位置変位方向について連続的に検出し検
出位置に応じた相互電流比を有する第1および第2の電
流出力を得る半導体光位置検出器と、この半導体光位置
検出器の前記第1の電流出力を受け前記パルス光による
前記第1の電流出力の変動分を対数変換して出力する第
1の検出回路と、前記半導体光位置検出器の前記第2の
電流出力を受け前記パルス光による前記第2の電流出力
の変動分を対数変換して出力する第2の検出回路と、こ
れらの第1および第2の検出回路から出力され且つ対数
変換された前記第1および第2の電流出力の変動分の差
をとって測距信号を得る差分検出回路と、前記被写体の
輝度を測定する外光測定手段と、カメラに搭載されたマ
イクロコンピュータと、カメラ1台ごとに外光に対する
補正定数が書き込まれた電気的消去書込み可能な記憶素
子と、前記差分検出回路から得られる前記測距信号の外
光による誤差を前記外光測定手段で測定された外光の強
さと前記記憶素子に記憶された補正定数とにより補正演
算して各カメラごとの最適な測距補正を行う補正手段と
を具備する構成としたことを特徴とするカメラの測距装
置。
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