JPH05165734A - 主記憶装置の固定障害診断装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 冗長構成部付の主記憶装置において、ハード
ウェアの冗長論理を考慮する事なく、冗長構成された記
憶部分の診断を行うことを目的とする。 【構成】 冗長データメモリ３の入出力部に冗長データ
反転回路５を設ける事により、冗長データメモリの固定
障害を検出する。 【効果】 複雑な訂正論理を考慮する事なく、冗長デー
タメモリ部の固定障害を検出する診断プログラムの作成
が可能である。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は主記憶装置の固定障害診
断方法に関し、特に主記憶装置に具備させた冗長構成部
の固定障害を診断する主記憶装置の固定障害診断装置に
関する。

【０００２】

【従来の技術】中央処理装置から直接アクセスできるリ
ード／ライトメモリのハードウェアエラーによるリード
データのビット誤りを検出し、その誤り訂正を行う冗長
検査を行うＥＣＣ（Ｅｒｒｏｒ ｃｈｅｃｋｉｎｇ ａ
ｎｄ ｃｏｒｒｅｃｔｉｏｎ）回路等を備えた冗長構成
部付の主記憶装置が従来よりあるが、この冗長構成部の
回路故障等による固定障害を検出する診断方法として以
下の二通りの方法がある。

【０００３】第一の方法は、ハードウェアである誤り検
出／訂正回路の訂正論理を考慮し、診断プログラムによ
り冗長構成部のデータが変化する様なデータを作成し
て、そのデータによって冗長構成部の固定障害を検出す
る方法である。

【０００４】第二の方法は、冗長構成部に中央処理装置
が直接アクセスできるように、独立した主記憶空間を割
り当てることで直接冗長部分のデータを変化させて、そ
れによって冗長構成部の固定障害を診断する方法であ
る。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、診断プ
ログラムで訂正論理を考慮する、上記第一の方法では診
断プログラムがハードウェアの訂正論理に依存するた
め、ハードウェアの変更により訂正論理が変わった場合
に、診断プログラムをそれに追随して変更しなければな
らない。この冗長構成部の固定障害検出のみを行う診断
プログラムの変更という作業は、システム設計段階にお
いては付加的な作業であり、その変更は非常に煩わしも
のである。

【０００６】また、独立した中央処理装置の主記憶空間
を割り当てる上記第二の方法では限られた主記憶空間を
冗長構成部の診断のためだけに確保する必要があり、通
常のシステム稼働状態における中央処理装置のアクセス
できるメモリ空間を減少させると共に、システム稼働中
に偶発的に冗長構成部のデータが外部因子によって書き
換えられてしまう恐れもある等の欠点を生じさせてい
る。

【０００７】

【課題を解決するための手段】本発明の冗長構成部はソ
フトウェアからの指示により記憶データを反転させる回
路を備えている。診断プログラムは、まず冗長部を反転
させずに主記憶のライト／リードを行い、次に冗長部を
反転させて主記憶に同一データのライト／リードを行
う。この動作により冗長構成部のデータを変化させる。

【０００８】

【実施例】次に本発明について図１を参照し説明する。
図１は本発明の一実施例の読取り書込み主記憶装置とそ
れに付随する回路のブロック構成図である。主記憶デー
タメモリ１にはライトデータが直接書き込めるよう、デ
ータバスが主記憶データメモリ１のデータ入出力端子に
接続されており、さらにこの主記憶データメモリ１から
読み出されたデータは誤り検出／訂正回路４に入力され
るようにも接続されている。そして、この誤り検出／訂
正回路４の出力端子はデータバスに接続され、図示しな
い中央処理装置のデータ入出力端子と接続される。また
データバスは冗長データ作成回路２に接続されている。
この冗長データ作成回路２の出力は冗長データ反転回路
５のＮＯＴ回路５ｂとセレクタ５ａの一方の入力端子と
にそれぞれ入力されており、さらにＮＯＴ回路５ｂの出
力端子はセレクタ５ａの他方の入力端子に接続されてい
る。そしてこのセレクタ５ａの出力端子は冗長データメ
モリ３への書込みデータ用信号として冗長データメモリ
３に接続されてる。またこの冗長データメモリ３から読
み出されたデータが冗長データ反転回路５のＮＯＴ回路
５ｄとセレクタ５ｃの一方の入力端子にそれぞれ入力さ
れるように接続されており、上記ＮＯＴ回路５ｄの出力
端子はセレクタ５ｃの他方の入力端子と接続されてる。
そうして、セレクタ５ｃの出力は誤り検出／訂正回路４
に入力されている。なお上記セレクタ５ａ，５ｃのセレ
クト端子は冗長データ反転フラグ６からの信号が入力さ
れるように接続されていて、此の冗長データ反転フラグ
６の信号によって各セレクタはそれぞれの二つの入力信
号の何れかを選択して出力する。

【０００９】以上の構成において、冗長データメモリ３
に書き込まれる冗長データは、主記憶データメモリ１に
書き込まれるライトデータから冗長データ作成回路２に
より作成されており、この冗長データは冗長データ反転
回路５において次のような処理を受ける。冗長データ反
転フラグ６は中央処理装置によって直接設定され、この
フラグ６の信号状態によって上記したように、セレクタ
５ａ，５ｃの出力が選択されるので、冗長データはＮＯ
Ｔ回路５ｂによって論理反転されて冗長データメモリ３
に書き込まれるか、若しくはそのままの論理状態で書き
込まれるかの何れかの論理操作をうける。

【００１０】また、主記憶データメモリ１から読み出さ
れたリードデータは主記憶データメモリ１と冗長データ
メモリ３の内容から誤り検出／訂正回路４で誤りが検出
された場合にのみ誤りが訂正されて出力されているが、
この場合の冗長データメモリ３から読み出された冗長デ
ータはフラグ６の信号状態によって、セレクタ５ｃにお
いてＮＯＴ回路５ｄで論理反転させられた信号か、また
は論理操作を受けないそのままの信号の何れかが選択さ
れて誤り検出／訂正回路４の出力される。つまり、反転
回路５で上記冗長データの書込み時とは全く反対の論理
操作をなされて誤り検出／訂正回路４に出力されること
となる。これは上記ＮＯＴ回路５ｂとセレクタ５ａとに
よる操作の逆を行っていることになる。

【００１１】図２は図１で示した主記憶装置の主記憶デ
ータメモリと冗長データメモリの部分の固定障害を検出
する診断プログラムの流れの一例である。全主記憶デー
タメモリ１にデータを全て“０”かまたは“１”とした
ものを一度書込み、そして再び読み出してその読出しデ
ータが、書込みデータと異なっていないかどうかを識別
することで主記憶データメモリ１の固定障害を検出でき
る。また、この主記憶データメモリ１へのデータ書込み
読出しによる固定障害チェツクで固定障害が無いことを
確認した後、冗長データ反転フラグ６のフラグを変更さ
せることで、冗長データメモリ３に書き込む冗長データ
を意図的に変換させ、そして読み出し時に再度逆変換さ
せる。これによって仮に冗長データメモリ３に固定障害
があると、その障害部位からの出力データは常に一定値
に固定されてしまっているので、この書込み冗長データ
のみを変化させることによって冗長データメモリ３に固
定障害があるか否かを判定できる。

【００１２】

【発明の効果】以上説明した様に、本発明は冗長構成部
の診断の為に主記憶空間を確保することなく、しかも複
雑な訂正論理を考慮することなく、診断プログラムの作
成が可能であり、しかも訂正論理に変更が生じた場合で
も診断プログラムをなんら変更するなどの影響を与えな
いという効果を有する。従って、ハードウェアが種々な
る回路的素因によって変更しなければならない場合であ
っても、過去に作成した診断プログラムをそのまま使用
できるので、より敏速なハードウェアチェックを行うこ
ともできる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例のハードウェアのブロック図
である。

【図２】図２は図１で示したハードウェアの診断プログ
ラムの流れ図である。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】読取り書込み記憶装置と、この読取り書込
   み記憶装置への書込みデータを用いてその書込みデータ
   のビット誤り訂正の為の冗長データを作成する冗長デー
   タ作成回路と、前記読取り書込み記憶装置から読出した
   データのビット誤り訂正機能を持つ誤り検出／訂正回路
   とを備える主記憶装置の固定障害診断装置において、 前記冗長データ作成回路で作成した前記冗長データを論
   理操作させたデータと、論理操作させない冗長データと
   の何れかを選択して、前記読取り書込み記憶装置内に確
   保した冗長データメモリ領域に書き込ませる第一の選択
   回路と、 前記冗長データメモリへの書込みの後、前記冗長データ
   メモリより出力された冗長データを前記第一の選択回路
   の論理操作とは逆の論理操作を加えたデータと、論理操
   作しない冗長データとを選択して前記誤り検出／訂正回
   路に出力する第二の選択回路と、 前記第一と第二の選択回路のセレクト指示を与える冗長
   データ反転フラグとで構成された冗長データ反転回路を
   備えることを特徴とする主記憶装置の固定障害診断装
   置。