JPH05161632A - 放射線診断装置 - Google Patents

放射線診断装置

Info

Publication number
JPH05161632A
JPH05161632A JP3334788A JP33478891A JPH05161632A JP H05161632 A JPH05161632 A JP H05161632A JP 3334788 A JP3334788 A JP 3334788A JP 33478891 A JP33478891 A JP 33478891A JP H05161632 A JPH05161632 A JP H05161632A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
image
ray
energy
subject
storage unit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP3334788A
Other languages
English (en)
Inventor
Toyomitsu Kanebako
豊充 金箱
Michitaka Honda
道隆 本田
Naoki Yamada
尚樹 山田
Hiroshi Nakayama
博士 中山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP3334788A priority Critical patent/JPH05161632A/ja
Publication of JPH05161632A publication Critical patent/JPH05161632A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】本発明は、例えX線透過量が同じであっても実
際には異なった組織で組成されている部分同士を区別で
き、かつ被検体の組成情報特に病変部情報を消失するこ
とのない画像を得ることができるX線診断装置を提供す
ることを目的とする。 【構成】本発明に係るX線診断装置は、少なくとも2種
類のエネルギー毎の被検体のX線透過量に基づいた画像
を得るX線装置と、前記少なくとも2種類のエネルギー
毎のX線透過量の相対的な変化率を前記画像の各画素毎
に得る演算部10と、前記変化率に応じた画像を得る手
段とを具備することを特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、複数種類のエネルギー
の放射線により撮影して得た複数の放射線像に基づいて
新たな画像を得る放射線診断装置に関する。
【0002】
【従来の技術】通常、放射線診断装置は放射線、例えば
X線が被検体を透過した透過量、換言するとX線吸収量
に応じてX線透過像を得、診断に供するものである。し
かしこのX線透過像の欠点はX線の第1の透過パス上の
組織成分と第2の透過パス上の組織成分とが実際には異
なっている場合であっても、各透過パスにおける全体の
X線吸収量が等価であれば同一組織であるかのごとく表
示してしまうこと、特定の関心組織、例えば血管と、他
の組織、例えば骨とが同一パス上に存する場合に、血管
が骨に隠されて表示されないこと等である。
【0003】また、近年、特定の関心組織の診断を阻害
する組織、例えば骨だけ又は軟部組織だけを消去して表
示する方法、いわゆるエネルギーサブトラクション法が
考案された。このエネルギーサブトラクション法は物質
のX線吸収係数はX線のエネルギーに依存するという性
質、および物質のX線吸収係数のエネルギー依存性はそ
の物質の原子番号の相違に応じて異なるとういう性質を
利用するものである。ここで、X線吸収係数は物質の単
位厚さ(X線透過路長)当りの吸収率であるので同一物
質であれば厚さの相違に関係なく同一である。このエネ
ルギーサブトラクション法について以下に説明する。
【0004】エネルギーサブトラクション法は、まずX
線管に比較的低キロボルトの管電圧を印加して得られる
比較的低エネルギーのX線を被検体に照射し、その被検
体を透過したX線が比較的低い平均エネルギーを持つ帯
域のエネルギースペクトル分布を持つようなX線透過像
(以下「低エネルギー像」と称する)を得る。ここで、
この被検体における透過像領域を便宜上骨、血管とを含
む肺野であるとする。次に低エネルギー像を得たときの
管電圧より高い管電圧をX線管に印加し、X線が比較的
高い平均エネルギーを持つ帯域のエネルギースペクトル
分布を持つようなX線透過像(以下「高エネルギー像」
と称する)を得る。
【0005】この得られた高エネルギー像から低エネル
ギー像を減算し、2つの像の差の像を得る。ただし減算
する前に高エネルギー像と低エネルギー像それぞれに適
当な重み係数を乗算し、消去したい組織が減算によって
相殺されるようにする。この重み係数は、消去したい組
織のX線吸収係数のエネルギー依存性に応じて設定され
ていて、様々に変更することにより例えば“骨だけを消
去した画像”、あるいは“軟部組織だけを消去した画
像”を得ることが可能となる。
【0006】しかしこのエネルギーサブトラクション法
により得られる“所望の組織を消去した画像”による診
断には次の問題がある。すなわち、診断の本来的な目的
である病変部の発見を援助するために消去した組織がそ
の病変部を組成する物質と同じ物質で組成している場合
には、肝心の病変部が消去した組織と共に消去されてし
まうことになる。例えば、エネルギーサブトラクション
法により得た画像が“骨だけを消去した画像”であり、
透過像領域が肺野であり、診断対象である病変部がカル
シウムを含む組織である場合には、病変部が骨と共に消
去され、その結果正確な診断が阻害されてしまう。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】そこで本発明の目的は
例え放射線透過量が同じであっても実際には異なった組
織で組成されている部分同士を区別でき、かつ被検体の
組成情報、特に病変部情報を消失することのない画像を
得ることができる放射線診断装置を提供することであ
る。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明に係る放射線診断
装置は少なくとも2種類のエネルギー毎の被検体の放射
線透過量に基づいた画像を得る放射線装置と、前記少な
くとも2種類のエネルギー毎の放射線透過量の比を前記
画像の各画素毎に得る手段と、前記比に応じた画像を得
る手段とを具備することを特徴とする。
【0009】
【作用】本発明によれば、少なくとも2種類のエネルギ
ー毎の放射線透過量の比に基づいて画素毎の組織情報を
得ることができ、その結果例え放射線透過量が同じであ
っても実際には異なった組織で組成されている部分同士
を区別でき、かつ被検体の組成情報特に病変部情報を消
失することのない画像を得ることができる。
【0010】
【実施例】以下、図面を参照しながら実施例を説明す
る。ここで、本発明に係る放射線診断装置に用いる放射
線をX線として以下説明する。図1は本発明の第1の実
施例に係るX線診断装置の構成を示すブロック図であ
る。
【0011】第1の実施例に係るX線診断装置はX線透
過像データを得るX線装置と、そのX線装置で得られた
X線透過像データを記憶する記憶装置と、その記憶装置
に記憶されているX線透過像データに所定の演算処理を
施す演算部10と、演算部10から出力される演算後の
画像(以下「エネルギー特性値像」と称する)データを
記憶し、モニタ13の走査方式に応じてエネルギー特性
値像を出力するフレームメモリ11と、フレームメモリ
11から入力したエネルギー特性値像をディジタル/ア
ナログ変換するディジタル/アナログ(D/A)変換器
12と、A/D変換器12から出力されるエネルギー特
性値像を表示するモニタ13と、システム全体の制御を
行うシステム制御部14とを備えている。
【0012】X線装置はX線を被検体Cに向かって照射
するX線管1と、X線管1へ管電圧を印加するX線制御
部3と、被検体Cを挟んでX線管1に対向して設けら
れ、被検体Cの透過X線像を光学像に変換するイメージ
インテンシファイヤ2と、イメージインテンシファイヤ
2からの光学像を電気信号化してX線透過像データを得
るTVカメラ4と、TVカメラ4で得たX線透過像デー
タをアナログ/ディジタル変換するアナログ/ディジタ
ル(A/D)変換器5とからなる。ここでX線管1はX
線制御部3から印加される管電圧に応じたエネルギーの
X線を***する。またX線制御部3はシステム制御部1
4からの管電圧制御信号を受けてX線管1へ印加する管
電圧を制御する。
【0013】記憶装置はIL0記憶部6と、IH0記憶部7
と、ILC記憶部8と、IHC記憶部9とを備えている。I
L0記憶部6は比較的低エネルギーのX線で被検体Cを介
さずにすなわちX線管1から***されたX線***量を検
出したX線***量データ(このX線***量データは画像
とは言いづらいが説明の便宜上あえて「低エネルギー像
IL0」と称するものとする)を記憶し、IH0記憶部7は
比較的高エネルギーのX線で被検体Cを介さずにすなわ
ちX線管1から***されたX線***量を検出したX線爆
射量データ(以下「高エネルギー像IH0」と称する)を
記憶し、ILC記憶部8は低エネルギーのX線で被検体C
を撮影して得たX線透過像(以下「低エネルギー像IL
C」と称する)を記憶し、IHC記憶部9は高エネルギー
のX線で被検体Cを撮影して得たX線透過像(以下「高
エネルギー像IHC」と称する)を記憶する。これらIL0
記憶部6、IH0記憶部7、ILC記憶部8、IHC記憶部9
それぞれの書込/読出タイミングはシステム制御部14
に制御される。ここで高エネルギーX線のエネルギー値
と低エネルギーX線のエネルギー値とは、高エネルギー
X線における関心部位(病変部)の物質の吸収係数と低
エネルギーX線における関心部位(病変部)の物質の吸
収係数と差が最も顕著に表れるように設定する。ここで
この高エネルギーX線における吸収係数と低エネルギー
X線における吸収係数との比をエネルギー特性値と称す
るものとする。
【0014】演算部10はIL0記憶部6、IH0記憶部
7、ILC記憶部8、IHC記憶部9それぞれから各画像デ
ータを入力し、エネルギー特性値を画像の画素毎に算出
する。エネルギー特性値Rを算出する式は次のように得
られる。ただしある1画素(x,y)における高エネル
ギーX線の場合の平均吸収係数をμH(x,y)とし、同じ画
素(x,y)における低エネルギーX線の場合の平均吸
収係数をμL(x,y)とし、同じ画素(x,y)の被検体C
における厚さt(x,y) とし、高エネルギー像IHCの同じ
画素(x,y)における画素値をIHC(x,y) と、低エネ
ルギー像ILCの同じ画素(x,y)における画素値をI
LC(x,y) とし、高エネルギー像IH0の同じ画素(x,
y)における画素値をIH0(x,y) と、低エネルギー像I
L0の同じ画素(x,y)における画素値をIL0(x,y) と
する。まず一般的に知られている等価式を示す。
【0015】 ILC(x,y) =IL0(x,y) ・exp(−μL(x,y)・t(x,y) ) …(1) IHC(x,y) =IH0(x,y) ・exp(−μH(x,y)・t(x,y) ) …(2) 次に式(1)、(2)とから画素(x,y)におけるエ
ネルギー特性値R(x,y) は次の式で表すことができる。
ただし「In」は自然対数である。 R(x,y) =μH(x,y)/μL(x,y)
【0016】 ={ln(ILC(x,y) /IL0(x,y))} /{ln(IHC(x,y) /IH0(x,y))} …(3) 演算部10ではこの式(3)による演算を記憶装置から
入力した画像の各画素について実施し、エネルギー特性
値像データとして出力する。このエネルギー特性値像デ
ータは前述したようにフレームメモリ11、ディジタル
/アナログ(D/A)変換器12を介してモニタ13に
表示される。次に以上のように構成された第1の実施例
に係るX線診断装置の作用について図2乃至図6を参照
して説明する。
【0017】図2は図1に示したX線診断装置の作用を
説明するための被検体の組成およびX線パスを示す図で
あり、図3は図2に示した被検体におけるX線パス毎の
高、低エネルギー像のX線量分布の比較を示す図であ
り、図4は図2に示したX線パス毎のX線エネルギーに
対する吸収係数の変化を示す図であり、図5は図2に示
した被検体の各X線パス毎における図4に示した吸収係
数の比に応じて算出されたエネルギー特性値を示した図
である。
【0018】図2に示すように被検体Cは均一物質層か
らなる組織aと前記物質と異なる原子番号の物質からな
る組織bとからなるものとし、ここでは便宜上特に4つ
のX線パスP1,P2,P3,P4 について説明する。この4
つのX線パスP1,P2,P3,P4 はそれぞれ図2に示した
被検体C内の異なる位置を透過するものとする。図2に
示すようにX線パスP1 とP2 はそのX線パスの位置に
応じた被検体C内における長さ(以下単に「パス長」と
称する)は同じであるがそのX線パス上の組成が異な
り、位置P3 とP4 は同様にパス長は同じであるがその
X線パス上の組成が異なり、位置P4 とP1 はX線パス
上の組成は共に均一物質aで同じであるがパス長が異な
る。
【0019】まず比較的低エネルギー、例えば管電圧7
0kVで得られるX線で被検体Cを介さずにX線管1か
ら***されたX線を直接検出して得たX線像、すなわち
低エネルギー像IL0を得、IL0記憶部6に記憶する。同
様に比較的高エネルギー、例えば管電圧120kVで得
られるのX線で被検体Cを介さずにX線管1から***さ
れたX線を直接検出して得たX線像、すなわち高エネル
ギー像IH0を得、IH0記憶部7に記憶する。
【0020】次に低エネルギー像IL0を得るときと同じ
低エネルギー(管電圧70kV)のX線で今度は被検体
Cを介して得たX線透過像、すなわち低エネルギー像I
LCを得、ILC記憶部8に記憶する。同様に高エネルギー
像IH0を得るときと同じ高エネルギー(管電圧120k
V)の高エネルギーのX線で被検体Cを介して得たX線
透過像、すなわち高エネルギー像IHCを得、IHC記憶部
9に記憶する。
【0021】ここで図3に示すように4つのX線パスP
1,P2,P3,P4 における透過X線量はその組成および厚
さの相違に応じて異なっていて、かつX線エネルギーの
相違によっても異なっている。また図4に示すように同
じ組成のX線パスP1 とP4における吸収係数の変化状
態は同じであり、X線パスP1 およびP4 における吸収
係数の変化状態とパスP2 およびP3 における吸収係数
の変化状態とでは異なっている。このため演算部10で
得られる各X線パスに応じた被検体Cの位置におけるエ
ネルギー特性値Rは図5に示すようにX線パスP1 とP
4 では同じ、X線パスP1 、P4 のエネルギー特性値と
X線パスP2 、P3 のエネルギー特性値とでは異なるこ
とになる。エネルギー特性値像はこの得られたエネルギ
ー特性値に応じて得られモニタ13に表示される。
【0022】このエネルギー特性値像によって、診断に
際して実際には異なった組織で組成されている部分同士
を区別でき、かつ消失することなく被検体の組成情報特
に病変部情報を得ることができる。
【0023】このように本実施例に係るX線診断装置に
よれば実際には異なった組織で組成されている部分同士
を区別でき、かつ被検体の組成情報特に病変部情報が消
失しないエネルギー特性値を得ることができる。
【0024】次に第2の実施例について説明する。図6
は本発明の第2の実施例に係るX線診断装置の構成を示
すブロック図である。本実施例の構成部について図1に
示した第1の実施例の構成部と同じ構成部には図1と同
一符号を付して説明は省略する。
【0025】本実施例はIHC記憶部9に記憶されている
高エネルギー像IHCと、フレームメモリ11に記憶され
ているエネルギー特性値像とを重み付け処理部20でそ
れぞれ独立して重み付け処理して1枚の画像、すなわち
加重像を得るものである。ただしエネルギー特性値像と
重み付けを行うX線透過像は低エネルギー像ILCであっ
てもよいし、高エネルギー像IHCと低エネルギー像ILC
とを平均化して得た平均像であってもよい。
【0026】重み付け処理部20では次の式の演算を行
う。ただし次の式に用いる変数は式(1)のところで用
いたものを用いて、また加重像Aの画素(x,y)にお
ける画素値をA(x,y) とする。ただしa,bは重み係数
である。 A(x,y) =a・R(x,y) +b・IHC(x,y) …(4)
【0027】この演算を各画素毎に行い加重像Aを得
る。図示していないが重み付け処理部20には重み係数
a,bをそれぞれ独立に調節するボリュームが設けられ
て、この重み係数a,bを様々に調節することにより適
当な加重像Aを得ることができる。この加重像Aを観察
することによって関心部位の位置を確認しながら診断す
ることができる。
【0028】このように本実施例に係るX線診断装置に
よれば第1の実施例と同様に実際には異なった組織で組
成されている部分同士を区別でき、かつ被検体の組成情
報特に病変部情報を消失させずに診断することができる
上、その病変部の位置を第1の実施例の場合より詳細に
確認することができる。
【0029】次に第3の実施例について説明する。図7
は本発明の第3の実施例に係るX線診断装置の構成を示
すブロック図である。本実施例の構成部について図1に
示した第1の実施例の構成部と同じ構成部には図1と同
一符号を付して説明は省略する。本発明はX線透過像の
周波数処理の強調度としてエネルギー特性値像の情報を
用いることによって、1枚の画像を得るものである。
【0030】本実施例はIHC記憶部9に記憶されている
高エネルギー像IHCを、周波数処理部21でフレームメ
モリ11に記憶されているエネルギー特性値像の画素値
に基づいて周波数処理することによって周波数処理像を
得るものである。ただしエネルギー特性値像と周波数処
理を行うX線透過像は低エネルギー像ILCであってもよ
いし、高エネルギー像IHCと低エネルギー像ILCとを平
均化して得た平均像であってもよい。。
【0031】周波数処理部21では次の式の演算を行
う。ただし次の式に用いる変数は式(1)のところで用
いたものを用いて、また周波数処理像Bの画素(x,
y)における画素値をB(x,y) とする。ただしはk
(i,j)フィルター係数であり、mとnはフィルタサ
イズである。
【0032】
【数1】
【0033】上記式(5)の演算を各画素毎に行い周波
数処理像Bを得る。図示していないが周波数処理部21
にはフィルター係数k(i,j)とフィルタサイズm、
nを調節するボリュームが各々設けられて、このフィル
ター係数k(i,j)とフィルタサイズm、nを様々に
調節することにより適当な周波数処理像Bを得ることが
できる。この周波数処理像BによってX線透過像だけで
は認識できなかった組織間の境界位置を確認しながら診
断することができる。
【0034】このように本実施例に係るX線診断装置に
よれば第1の実施例の場合に比しより正確に実際には異
なった組織で組成されている部分の境界位置を区別で
き、かつ被検体の組成情報特に病変部情報を消失させず
に診断することができる上、その病変部の位置を確認よ
り詳細に確認することができる。
【0035】次に第4の実施例について説明する。図8
は本発明の第4の実施例に係るX線診断装置の構成を示
すブロック図である。本実施例の構成部について図1に
示した第1の実施例の構成部と同じ構成部には図1と同
一符号を付して説明は省略する。
【0036】本実施例はフレームメモリ11に記憶され
ている濃淡情報で表現されているエネルギー特性値像を
カラー処理部22でカラー処理しカラーエネルギー特性
値像Cを得るものである。カラー処理部22は演算部1
0で得られフレームメモリ11から出力されたエネルギ
ー特性値像Rを数種類の色相、通常赤(R)、青
(B)、緑(G)の3原色を用いて各画素毎のエネルギ
ー特性値に応じて色相およびその色度を与える。このカ
ラー化されたカラーエネルギー特性値像CはD/A変換
器12を介してモニタ13に表示される。このように本
実施例に係るX線診断装置によれば先の実施例の場合に
比しX線透過像をより忠実に表示でき、異なった組織で
組成されている部分をカラーで鮮明に区別でき、かつ被
検体の組成情報、特に病変部情報を消失させずに診断す
ることができる。
【0037】また図示していないが、本実施例装置で得
られるカラーエネルギー特性値像CとX線透過像(濃淡
像)、例えばIHC記憶部9に記憶されている高エネルギ
ー像IHCと重ね合わせ、すなわちカラーエネルギー特性
値像Cの明度として高エネルギー像IHCを用いて1枚の
画像を得、その1枚の画像を表示するようにしてもよ
い。この場合、このような重ね合わせの画像を観察する
ことによって病変部の被検体における位置を正確に認識
することができる。ここで重ね合わせるX線透過像は低
エネルギー像ILCであってもよいし、高エネルギー像I
HCと低エネルギー像ILCとを平均化して得た平均像であ
ってもよい。
【0038】本発明は上記実施例に限定されることなく
本発明の主旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施可能
である。例えば上記実施例では管電圧を変えて2種のエ
ネルギーのX線を得たが、X線管と被検体との間あるい
は被検体とイメージインテンシファイヤとの間にフィル
タを挿入するまたはフィルタを挿出することによってX
線エネルギーを変化させるようにしてもよい。
【0039】また上記実施例において、イメージインテ
ンシファイヤやTVカメラにおける各変換特性を均一に
し誤差を解消するために被検体を介さずに得るX線像の
各画素の補正を記憶部への出力前に行ってもよいし、散
乱線補正や、ビームハードニング補正を行っってもよ
い。すなわち散乱線補正によってX線装置から入力した
X線透過像データに含まれている被検体C透過時に発生
した散乱線による誤差成分を除去し、散乱線による誤差
成分のないX線透過像データを得ることができる。また
ビームハードニング補正によってX線透過像データから
軟らかいX線による成分を除去し、硬いX線による成分
だけのX線透過像データを得ることができる。
【0040】また上記実施例では被検体を介さずに得た
X線像ILO、IH0は本実施例装置の動作の都度得ること
としているが、インストール前に予め様々な撮影条件、
すなわち様々なエネルギーのX線毎に且つ様々な画素値
の換算のときの撮影系のゲイン毎に求めて記憶させ、撮
影条件を入力することにより適当なX線像ILO、IH0を
選択するようにしてもよく、その場合にはX線像ILO、
IH0を本実施例装置の動作の都度求める手間が無くなり
非常に効率よく診断することができる。また所定の近似
関数式を用いて撮影条件からX線像ILO、IH0を算出す
るようにしてもよい。
【0041】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、少
なくとも2種類のエネルギー毎のX線透過量の相対的な
変化率に基づいて画素毎の組織情報を得ることができ、
その結果例えX線透過量が同じであっても実際には異な
った組織で組成されている部分同士を区別でき、かつ被
検体の組成情報特に病変部情報を消失することのない画
像を得ることができるX線診断装置を得ることができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例に係るX線診断装置の構
成を示すブロック図。
【図2】図1に示したX線診断装置の作用を説明するた
めの被検体の組成およびX線パスを示す図。
【図3】図2に示した被検体における高、低エネルギー
像のX線量分布の比較を示す図。
【図4】図2に示したX線パス上のX線エネルギーに対
する吸収係数の変化を示す図。
【図5】図2に示した被検体の各X線パスにおける図4
に示した吸収係数の変化を吸収係数として示した図。
【図6】本発明の第2の実施例に係るX線診断装置の構
成を示すブロック図。
【図7】本発明の第3の実施例に係るX線診断装置の構
成を示すブロック図。
【図8】本発明の第4の実施例に係るX線診断装置の構
成を示すブロック図。
【符号の説明】
1…X線管、2…イメージインテンシファイヤ、3…X
線制御部、4…TVカメラ、5…アナログ/ディジタル
変換器、6…IL0記憶部、7…IH0記憶部、8…ILC記
憶部、9…IHC記憶部、10…演算部、11…フレーム
メモリ、12…ディジタル/アナログ変換器、13…モ
ニタ、14…システム制御部。
フロントページの続き (72)発明者 中山 博士 栃木県大田原市下石上1385番の1 株式会 社東芝那須工場内

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 少なくとも2種類のエネルギー毎の被検
    体の放射線透過量に基づいた画像を得る放射線装置と、 前記少なくとも2種類のエネルギー毎の放射線透過量の
    比を前記画像の各画素毎に得る手段と、 前記比に応じた画像を得る手段とを具備することを特徴
    とする放射線診断装置。
JP3334788A 1991-12-18 1991-12-18 放射線診断装置 Pending JPH05161632A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3334788A JPH05161632A (ja) 1991-12-18 1991-12-18 放射線診断装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3334788A JPH05161632A (ja) 1991-12-18 1991-12-18 放射線診断装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH05161632A true JPH05161632A (ja) 1993-06-29

Family

ID=18281246

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3334788A Pending JPH05161632A (ja) 1991-12-18 1991-12-18 放射線診断装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH05161632A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8054940B2 (en) 2008-05-30 2011-11-08 Konica Minolta Medical & Graphics, Inc. Image capturing system for medical use, image processing apparatus, and image processing method

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8054940B2 (en) 2008-05-30 2011-11-08 Konica Minolta Medical & Graphics, Inc. Image capturing system for medical use, image processing apparatus, and image processing method

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4355331A (en) X-ray image subtracting system
US4559557A (en) Region-of-interest digital subtraction angiography
EP0092767B1 (en) Method and apparatus for x-ray image subtraction
JPH03141780A (ja) 血管造影方法
JP3459745B2 (ja) 画像処理装置、放射線撮影装置及び画像処理方法
US4903205A (en) Method and apparatus for displaying radiation image, and method and apparatus for calculating unsharp mask signal used for the same
EP0244111B1 (en) Imaging systems
US4658413A (en) Fluoroscopic and radiographic X-ray imaging system
JPH05329140A (ja) X線走査装置、並びにx線フラックスの制御装置及び変調方法
EP1324266B1 (en) Method and apparatus for enhancing the contrast of a medical diagnostic image that includes foreign objects
EP0098633B1 (en) Device for and method of x-ray image processing
JPH05161633A (ja) 放射線診断装置
US7469034B2 (en) Method for analyzing and representing x-ray projection images and x-ray examination unit
US4550419A (en) Diagnostic radiology setup with means for suppressing stray radiation
JP3595303B2 (ja) 撮像装置および撮像方法
JP2003180669A (ja) X線撮影装置
US4479231A (en) Method for the production of X-ray images and X-ray television apparatus for carrying out said method
JPH05161631A (ja) 放射線診断装置
JPH05161632A (ja) 放射線診断装置
JPH04187142A (ja) 放射線画像の階調変換装置
JPS6227597B2 (ja)
EP0102592B1 (en) X-ray image producing system
JP3742173B2 (ja) X線診断装置
Wesbey et al. X-ray image subtracting system
JPH04304445A (ja) 放射線画像再生装置