JPH0481178A - Irccd検知器の直流オフセット補正方法 - Google Patents

Irccd検知器の直流オフセット補正方法

Info

Publication number
JPH0481178A
JPH0481178A JP2195509A JP19550990A JPH0481178A JP H0481178 A JPH0481178 A JP H0481178A JP 2195509 A JP2195509 A JP 2195509A JP 19550990 A JP19550990 A JP 19550990A JP H0481178 A JPH0481178 A JP H0481178A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
detector
irccd
offset correction
detection element
dimensional linear
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2195509A
Other languages
English (en)
Inventor
Tsutomu Hanabusa
花房 勤
Kikuo Shiraishi
白石 喜久男
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP2195509A priority Critical patent/JPH0481178A/ja
Priority to US07/735,323 priority patent/US5134474A/en
Priority to EP19910112416 priority patent/EP0468474A3/en
Publication of JPH0481178A publication Critical patent/JPH0481178A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/10Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/80Calibration
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/20Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof for transforming only infrared radiation into image signals
    • H04N25/21Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof for transforming only infrared radiation into image signals for transforming thermal infrared radiation into image signals
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/60Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
    • H04N25/67Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to fixed-pattern noise, e.g. non-uniformity of response
    • H04N25/671Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to fixed-pattern noise, e.g. non-uniformity of response for non-uniformity detection or correction
    • H04N25/673Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to fixed-pattern noise, e.g. non-uniformity of response for non-uniformity detection or correction by using reference sources
    • H04N25/674Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to fixed-pattern noise, e.g. non-uniformity of response for non-uniformity detection or correction by using reference sources based on the scene itself, e.g. defocusing
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N5/00Details of television systems
    • H04N5/30Transforming light or analogous information into electric information
    • H04N5/33Transforming infrared radiation
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J2005/0077Imaging
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/48Thermography; Techniques using wholly visual means

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Radiation Pyrometers (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 メカニカルな走査によって画像を形成する一次元すニア
I RCCD (infrared charge c
oupleddevice)検知器の出力電圧のばらつ
きを補正(直流オフセット補正)する方法に関し、 特別な機構を設けずに、正確かつ簡単に直流オフセット
補正することを目的とし、 実際の撮像環境下における実赤外光を、フォーカシング
レンズにて光学焦点にボケを生じさせて一次元すニアI
RCCD検知器に入射せしめる。
〔産業上の利用分野〕
本発明は、メカニカルな走査によって画像を形成する一
次元すニアIRCCD検知器の出力電圧のばらつきを補
正する方法に関する。
一次元リニアIRCCD検知器を構成する各検知素子の
特性は全て均一ではなく、このため、高品質の画像表示
を行なうにはその特性の不均一性を補正する必要かある
。特に、各検知素子の直流オフセットのばらつきは画像
品質に大きな影響を与え、このばらつきは装置環境温度
、撮像対象環境温度によって変化するためにその環境下
において最適に補正することか重要である。
〔従来の技術〕
従来の赤外線撮像装置においては、一次元リニアIRC
CD検知器の光学系の前方に光路を遮断するように校正
板を挿入して各検知素子に一定の入射光量を入力せしめ
、各検知素子に対する特性のばらつきを検出して補正デ
ータを求める。実際の運用時、校正板を取除き、各検知
素子からの圧力を各検知素子に対する補正データによっ
て補正して(直流オフセット補正)画像データを得るよ
うにしている。
〔発明か解決しようとする課題〕
然るに、従来例は校正板を用いているため、即ち、実際
の撮像環境における実赤外光を用いて補正データを求め
ているのてはないため、装置環境温度と撮像対象環境温
度とか異なる場合や、挿入する校正板の温度(赤外放射
量)と光学路を含めた撮像対象温度(実赤外放射量)と
か異なる場合、前述のように補正データを求めて直流オ
フセット補正しても正確に直流オフセット補正したこと
にならず、高品質の画像表示を行ない得ない問題点かあ
った。
又、校正板を挿入するためのメカニズムを必要とし、操
作が煩わしく、かつ、装置か大形化する問題点があった
本発明は、特別な機構を設けずに、正確かつ簡単に直流
オフセット補正できるIRCCD検知器の直流オフセッ
ト補正方式を提供することを目的とする。
〔課題を解決するための手段〕
第1図は本発明の原理図を示す。同図中、21はフォー
カシングレンズで、実際の撮像環境下における実赤外光
を、光学焦点にボケを生じさせて一次元すニアIRCC
D検知器に入射せしめる。
20はプリズムで、光学的に00〜90°の範囲で回動
させることによって実質的に実際の撮像視野に対する走
査方向を移動させる。23は演算部で、一次元リニアI
RCCD検知器22の出力中、画面中心近傍のデータを
除いて直流オフセット補正データを求める。
〔作用〕
本発明では、フォーカシングレンズ21を操作して光学
焦点にボケを生じさせて一次元すニアIRCCD検知器
22の各検知素子に均一な光量を入射させ、又、プリズ
ム20を00〜90’の範囲で回動操作して視野全体に
わたって走査する。
これにより、各検知素子には視野全体にわたって抜けな
く均一な光量か入射する。従って、単に既存のフォーカ
スレンズ21及びプリズム2oを操作するだけで実際の
撮像環境下における実赤外光による直流オフセット補正
データを得ることができ、装置環境温度と撮像対象環境
温度とか異なっていでも従来例に比して正確に直流オフ
セット補正でき、高品質の画像表示を行なうことができ
る。
又、校正板を挿入するメカニズムも必要なく、操作か簡
単で、かつ、装置が大形化することはない。
更に、本発明では、演算部23において画面中心近傍の
データを除いて直流オフセット補正データを得るように
しているので、後述のナルシサス現象の影響のない更に
正確な直流オフセット補正を行なうことかできる。
〔実施例〕
第2図は本発明の一実施例を説明するブロック図を示す
。同図において、入射光は対物レンズ1、ジンバルドミ
ラ−2、折曲ミラー3、プリズム4を経てフォーカシン
グレンズ5に入射されてここで焦点を合わされ、スキャ
ナ6に入射される。
第3図に示す如く、後述の一次元すニアIRCCD検知
器9の各検知素子9aに対して直角方向に回動走査する
スキャナ6にて視野Fか取得され、視野取得された入射
光は折曲ミラー7、結像レンズ8を介して一次元すニア
IRCCD検知器(以下、検知器という)9に入射され
る。対物レンズ1及びジンバルドミラ−2はジンバル機
構に搭載されており、視野の方向を上下方向に設定でき
る。
又、プリズム4は光軸を中心に所定角度回動できる構成
とされており、ジンバル機構によって像か回転するのを
補正する。
検知器9にて光電変換が行なわれ、その出力信号はアン
プ10にて増幅され、AD変換器11にてデジタル信号
に変換されて画像データとされる。
以上の対物レンズ1乃至AD変換器11は一般の赤外線
撮像装置に設けられている。
ここで、本発明では、先ず、フォーカシングレンズ5を
遠方撮像対象物に対して最近点に合焦(又は、近方撮像
対象物に対して無限大点に合焦)する。これにより、い
わゆるボケが最大になり、検知器9の各検知素子9aに
は均一な光量(この場合、校正板を用いていないので、
実際の撮像環境における実赤外放射量となる)が入射す
ることになる。
次に、プリズム4を0゜〜90°の範囲にわたって回動
する。これにより、実質上、第4図に示す如く、視野に
対する走査が0゜〜90°の範囲にわたって行なわれる
ことになり(なお、第4図は0845° 90°の場合
のみ示す)、視野全体にわたって抜けなく画素情報を取
得でき、検知器9の各検知素子9aにはより均一な光量
か入射することになる。
このように、フォーカスレンズ5によって焦点をぼかし
、かつ、プリズム4によって0゜〜90°にわたって視
野全体を走査することにより、各検知素子9aには視野
全体にわたって抜けなく均一な光量が入射する。検知器
9で光電変換された信号はアンプlOで増加された後、
AD変換器11でAD変換され、平均化処理部12に供
給される。平均化処理部12において、−走査当りの平
均値が求められ、かつ、これに基づいて各検知素子毎の
直流オフセット補正データか求められる。
実際の運用に際し、AD変換器11から出力された生デ
ータは加算器13に供給され、ここで平均化処理部12
で求められた各検知素子毎の補正データを減算されるこ
とによって補正され、つまり、各検知素子からの生デー
タは補正データによって直流オフセット補正され、ばら
つき補正された画像データとしてデイスプレィ等に供給
される。生データから補正データを用いて直流オフセッ
ト補正するこの方法は、従来周知の方法を用いる。
本発明は、校正板を用いず、単に既存のフォーカシング
レンズ5及びプリズム4を夫々操作するたけて実際の撮
像環境下における実赤外先による直流オフセット補正デ
ータを得ることができ、装置環境温度と撮像対象環境温
度とが異なっていても従来例に比して正確に直流オフセ
ット補正でき、高品質の画像表示を行なうことができる
。又、校正板を挿入するメカニズムも必要なく、操作が
簡単で、かつ、装置が大形化することはない。
ところで、検知器9の前面には結像レンズ8、ミラー等
の光学系が配置されているため、この光学系にて検知器
9そのものの像が反射されて検知器9に入射される。即
ち、検知器9は自身の像を検知することになり、これを
ナルシサス現象という。このように検知器9て自身の像
を検知してしまうと、均一な光量を入射したとしてもこ
の像のために正しい補正データを得ることができなくな
る。この像は画面中心近傍に位置するのて、平均化処理
部12において、画面中心近傍(つまり、検知器9自身
の像のある部分)の画像データを除いて平均化を行なう
。このようにすれば、ナルシサス現象の影響のない更に
正確な直流オフセット補正を行なうことかできる。
〔発明の効果〕
以上説明した如く、本発明によれば、単に既存のフォー
カシングレンズ及びプリズムを操作するだけで各検知素
子に視野全体にわたって抜けなく均一な光量か入射し、
この場合、校正板を用いているのではないので実際の撮
像環境下における実赤外光による直流オフセット補正デ
ータを得ることができ、装置環境温度と撮像対象環境温
度とか異なっていても従来例に比して正確に直流オフセ
ット補正でき、高品質の画像を得ることかでき、又、校
正板を挿入するメカニズムか必要ないので、操作か簡単
で、かつ、装置か大形化することはない。更に、画面中
心近傍のデータを除いて直流オフセット補正データを得
るようにしているのて、ナルシサス現象の影響のない更
に正確に直流オフセット補正を行なうことかできる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の原理図、 第2図は本発明の一実施例を説明するブロック図、 第3図はスキャナによる視野走査を説明する図、第4図
はプリズムによる走査方向移動を説明する図である。 図において、 4.20はプリズム、 5.21はフォーカシングレンズ、 6はスキャナ、 9.22は一次元リニア 9aは検知素子、 11はAD変換器、 12は平均化処理部、 13は加算器、 23は演算部 を示す。 IRCCD検知器、

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)一次元リニアIRCCD検知器(22)の各検知
    素子に一定光量を入射せしめ、該一次元リニアIRCC
    D検知器(22)の出力から該各検知素子毎の直流オフ
    セット補正データを生成して該各検知素子の特性ばらつ
    きを補正する方法において、 実際の撮像環境下における実赤外光を、フォーカシング
    レンズ(21)にて光学焦点にボケを生じさせて上記一
    次元リニアIRCCD検知器(22)に入射せしめるこ
    とを特徴とするIRCCD検知器の直流オフセット補正
    方法。
  2. (2)一次元リニアIRCCD検知器(22)の各検知
    素子に一定光量を入射せしめ、該一次元リニアIRCC
    D検知器(22)の出力から該各検知素子毎の直流オフ
    セット補正データを生成して該各検知素子の特性ばらつ
    きを補正する方法において、 プリズム(20)を光学的に回動させることによって実
    質的に実際の撮像視野に対する走査方向を移動させ、か
    つ、 実際の撮像環境下における実赤外光を、フォーカシング
    レンズ(21)にて光学焦点にボケを生じさせて上記一
    次元リニアIRCCD検知器(22)に入射せしめるこ
    とを特徴とするIRCCD検知器の直流オフセット補正
    方法。
  3. (3)上記プリズム(20)の回動範囲は0゜〜90゜
    であることを特徴とする請求項2記載のIRCCD検知
    器の直流オフセット補正方法。
  4. (4)上記直流オフセット補正データを生成する演算部
    (23)は、上記一次元リニアIRCCD検知器(22
    )の出力中、画面中心近傍のデータを除いて直流オフセ
    ット補正データを求めることを特徴とする請求項1又は
    2又は3記載のIRCCD検知器の直流オフセット補正
    方法。
JP2195509A 1990-07-24 1990-07-24 Irccd検知器の直流オフセット補正方法 Pending JPH0481178A (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2195509A JPH0481178A (ja) 1990-07-24 1990-07-24 Irccd検知器の直流オフセット補正方法
US07/735,323 US5134474A (en) 1990-07-24 1991-07-24 Method of compensating scattered characteristics of outputs of an infrared detector of multiple-element type
EP19910112416 EP0468474A3 (en) 1990-07-24 1991-07-24 A method of compensating scattered characteristics of infrared detector elements

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2195509A JPH0481178A (ja) 1990-07-24 1990-07-24 Irccd検知器の直流オフセット補正方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0481178A true JPH0481178A (ja) 1992-03-13

Family

ID=16342268

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2195509A Pending JPH0481178A (ja) 1990-07-24 1990-07-24 Irccd検知器の直流オフセット補正方法

Country Status (3)

Country Link
US (1) US5134474A (ja)
EP (1) EP0468474A3 (ja)
JP (1) JPH0481178A (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5516975A (en) * 1992-04-02 1996-05-14 Senka Co. Methods for processing leachate using completely closed system in monitor-type and stabilizing-type industrial and non-industrial waste treatment plant
US7106371B1 (en) 1998-09-08 2006-09-12 Sharp Kabushiki Kaisha Pixel defect detector for solid-state imaging device
JP2008287301A (ja) * 2007-05-15 2008-11-27 Sanko Co Ltd Icタグホルダ
JP2009046181A (ja) * 2007-08-22 2009-03-05 Sanko Co Ltd カードホルダー
JP2013126234A (ja) * 2011-12-16 2013-06-24 Chuo Electronics Co Ltd 出力補正装置、方法、およびプログラム

Families Citing this family (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0507526B1 (en) * 1991-03-31 1994-12-14 Nec Corporation Radiometer with correction device
FR2683967B1 (fr) * 1991-11-15 1994-02-18 Thomson Csf Procede de correction de defauts dans une camera a balayage optomecanique et camera mettant en óoeuvre ce procede.
IL102696A (en) * 1992-07-31 1996-06-18 Ministry Of Defence Armament D Meter imaging system
KR940005104A (ko) * 1992-08-31 1994-03-16 김광호 Ccd형 카메라의 스미어 제거방법
FR2698700B1 (fr) * 1992-11-27 1994-12-30 Thomson Csf Dispositif optique de calibration pour caméra thermique.
US5302824A (en) * 1992-12-01 1994-04-12 Hughes Aircraft Company Measurement of relative detector gain
EP0647064B1 (en) * 1993-10-04 2000-11-08 Raytheon Company Optical system including focal plane array compensation technique
US5400161A (en) * 1993-10-04 1995-03-21 Raytheon Company Optical system including focus-defocus focal plane array compensation technique using liquid crystal phased array
JPH07128151A (ja) * 1993-10-29 1995-05-19 Mitsubishi Electric Corp 熱画像解析装置
US5548332A (en) * 1994-04-18 1996-08-20 Panasonic Technologies, Inc. Apparatus and method for black shading correction
US5729639A (en) * 1995-05-16 1998-03-17 Santa Barbara Research Center Sensor system having detector to detector responsivity correction for pushbroom sensor
US6515285B1 (en) 1995-10-24 2003-02-04 Lockheed-Martin Ir Imaging Systems, Inc. Method and apparatus for compensating a radiation sensor for ambient temperature variations
US6274869B1 (en) 1996-06-28 2001-08-14 Lockheed-Martin Ir Imaging Systems, Inc. Digital offset corrector
US6249002B1 (en) 1996-08-30 2001-06-19 Lockheed-Martin Ir Imaging Systems, Inc. Bolometric focal plane array
US6791610B1 (en) 1996-10-24 2004-09-14 Lockheed Martin Ir Imaging Systems, Inc. Uncooled focal plane array sensor
US6330371B1 (en) * 1998-10-19 2001-12-11 Raytheon Company Adaptive non-uniformity compensation using feedforward shunting and min-mean filter
EP1279011A2 (en) 2000-05-01 2003-01-29 BAE SYSTEMS Information and Electronic Systems Integration, Inc. Methods and apparatus for compensating a radiation sensor for temperature variations of the sensor
GB0104206D0 (en) * 2001-02-21 2001-04-11 Secr Defence Radiometers
US7030378B2 (en) * 2003-08-05 2006-04-18 Bae Systems Information And Electronic Systems Integration, Inc. Real-time radiation sensor calibration
JP4900283B2 (ja) * 2008-02-29 2012-03-21 日本電気株式会社 赤外線撮像装置および固定パターンノイズ補正方法
JP4482599B2 (ja) * 2008-10-24 2010-06-16 本田技研工業株式会社 車両の周辺監視装置
WO2013010272A1 (en) * 2011-07-20 2013-01-24 Power Diagnostic Technologies Ltd. Apparatus and method for multi-spectral dual balanced imaging
US9667865B2 (en) * 2012-11-03 2017-05-30 Apple Inc. Optical demodulation using an image sensor
CN111678607B (zh) * 2020-05-21 2021-06-01 电子科技大学 一种基于旋转式棱镜的涡轮叶片表面温度测量装置
CN113612940A (zh) * 2021-07-08 2021-11-05 浙江焜腾红外科技有限公司 夜视红外热成像仪

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS56120275A (en) * 1980-02-28 1981-09-21 Mitsubishi Electric Corp Infrared image sensor
JPS61227481A (ja) * 1985-03-30 1986-10-09 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 画像入力装置における補正用基準デ−タ取込方法

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4672439A (en) * 1985-09-04 1987-06-09 Texas Instruments Incorporated FLIR imager with hybrid optical/electronic processor
US4821337A (en) * 1985-10-30 1989-04-11 Alm Ake W Radiation scanner uniformity system
US4734583A (en) * 1986-10-16 1988-03-29 General Electric Company Readout circuit for dual-gate CID imagers with charge sharing corrected for subtractive error
GB2203612B (en) * 1987-04-10 1991-04-24 Gec Avionics Scanning imager
FR2652471B1 (fr) * 1989-09-22 1991-11-29 Thomson Csf Dispositif de correction des defauts d'une suite d'images analysee par un capteur infrarouge matriciel a integration.

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS56120275A (en) * 1980-02-28 1981-09-21 Mitsubishi Electric Corp Infrared image sensor
JPS61227481A (ja) * 1985-03-30 1986-10-09 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 画像入力装置における補正用基準デ−タ取込方法

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5516975A (en) * 1992-04-02 1996-05-14 Senka Co. Methods for processing leachate using completely closed system in monitor-type and stabilizing-type industrial and non-industrial waste treatment plant
US7106371B1 (en) 1998-09-08 2006-09-12 Sharp Kabushiki Kaisha Pixel defect detector for solid-state imaging device
JP2008287301A (ja) * 2007-05-15 2008-11-27 Sanko Co Ltd Icタグホルダ
JP2009046181A (ja) * 2007-08-22 2009-03-05 Sanko Co Ltd カードホルダー
JP2013126234A (ja) * 2011-12-16 2013-06-24 Chuo Electronics Co Ltd 出力補正装置、方法、およびプログラム

Also Published As

Publication number Publication date
EP0468474A2 (en) 1992-01-29
EP0468474A3 (en) 1993-02-10
US5134474A (en) 1992-07-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH0481178A (ja) Irccd検知器の直流オフセット補正方法
JPH08186757A (ja) 電子カメラ
US20040201755A1 (en) Apparatus and method for generating multi-image scenes with a camera
JP2002071309A (ja) 3次元画像検出装置
CN100384224C (zh) 成像设备以及成像方法
JP5363872B2 (ja) 画像補正装置及びそのプログラム
JP2007071891A (ja) 3次元計測装置
CN108803006B (zh) 光纤扫描成像***、设备及其畸变检测与矫正***
JPH10327344A (ja) 撮像装置および画像データ補正方法
JP4217493B2 (ja) 画素シフトデジタルカメラの調整方法、画素シフトデジタルカメラシステム及び顕微鏡画素シフトデジタルカメラシステム
JPH11196315A (ja) 画像読み取り装置
JP4546781B2 (ja) 撮像装置及び色ずれ補正プログラム
US6546076B1 (en) Digital high resolution x-ray imaging utilizing an imaging sensor
JPH1198329A (ja) 画像読取装置と画像読取方法
JP2000149848A (ja) 透過電子顕微鏡像観察装置
JP4212138B2 (ja) 3次元計測装置
JPH0432378A (ja) 赤外線撮像装置
JPH0854349A (ja) カメラ及び該カメラを用いた画質検査装置
JP4019660B2 (ja) 画像データ処理装置、画像データ処理方法、及び、プログラム
JP2790283B2 (ja) 透過率測定方法
JPH09152377A (ja) 赤外線撮像装置
JP4497177B2 (ja) 画像データ処理装置、画像データ処理方法及びプログラム
JPS6040228B2 (ja) 赤外線監視装置
JPS6125273B2 (ja)
JP2669140B2 (ja) 撮像装置