JPH0480643A - 屈折率測定装置 - Google Patents

屈折率測定装置

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Publication number
JPH0480643A
JPH0480643A JP19425290A JP19425290A JPH0480643A JP H0480643 A JPH0480643 A JP H0480643A JP 19425290 A JP19425290 A JP 19425290A JP 19425290 A JP19425290 A JP 19425290A JP H0480643 A JPH0480643 A JP H0480643A
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JP
Japan
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refractive index
length
thermal expansion
optical axis
changes
Prior art date
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Pending
Application number
JP19425290A
Other languages
English (en)
Inventor
Hideo Hirukawa
英男 蛭川
Eiji Ogita
英治 荻田
Bunkan Kin
文煥 金
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yokogawa Electric Corp
Original Assignee
Yokogawa Electric Corp
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Publication date
Application filed by Yokogawa Electric Corp filed Critical Yokogawa Electric Corp
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  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本発明は干渉を利用した屈折率を測定する装置に関し、
特に長さ基準を用いた屈折率を測定する装置の測定精度
の改善に関する。
〈従来の技術〉 第4図(イ)は一般的な干渉を利用した空気の屈折率測
定装置の原理例を示す構成図である。
第4図(イ)において、レーザ光源10の出力は干渉計
13で2つに分岐され、これら2つの光は基準間隔部1
6に入射され、基準間隔部16の反射面16a、16b
で反射されて再び干渉計13に戻り干渉信号として光検
出器14に入射される。干渉信号は光検出器14で電気
信号に変換されて演算器15に入射される。演算器15
にて基準間隔部16から反射された光の光路長変化に伴
う干渉信号の変化から空気の屈折率を演算している。こ
の時、空気の屈折率(n)が変化し、光路長差が(Δn
L)変化したとすると、干渉信号の干渉次数変化(M)
と真空中における光の波長(λ0)との間には次の関係
か成り立つ。
ΔnL=Mλ。   ・・・■ たたし、Lは基準間隔部16の反射面16aと6bとの
間隔(長さ基準)である。したかつて、長さ基準(L)
を予め求めておくことにより、渉信号の干渉次数変化(
M)から空気の屈折率亭化(△n)か求められる。
しかし上記の構成では、空気の屈折率変化は叫められる
が、絶対値は求められない。そのため、第4図(ロ)に
示すように、基準間隔部16を1空容器17内に保持し
、真空から大気に開放すイ操作を行い、反射面間の光路
長差を測定するこ七により、次式から空気の屈折率の絶
対値を求め2ことができる。
n−1=(λO/2L)−Δm    −(まただし、
Δm:真空から大気に雰囲気を変化さtな時の干渉次数
変化 である。
〈発明が解決しようとする課題〉 しかしながら上記従来技術に示す屈折率測定あ置では、
基準間隔部16の反射面16aと16bの間隔である長
さ基準(L )は、雰囲気の温度変化により変動するた
め、測定開始からの長さの変化ΔLが生じた場合には、
上記2式は、n−1=(λo 、”2 L ) ’Δm
−△L 、′L・・・■ となり、屈折率を求める場合には(ΔL、’L)7’、
、’は誤差を生じてしまい、高精度に屈折率が測定て゛
きないという課題があった。
本発明は上記従来技術の課題を踏まえて成されたもので
あり、温度変化によって生じる基準間隔部の長さ基準の
変動を抑えて、高精度な屈折率の絶対値を測定できる屈
折率測定装置を提供することを目的としたものて′ある
〈課題を解決するための手段〉 上記課題を解決するための本発明の構成は、光源と、こ
の光源からの出射光を分岐する光学部品と、この光学部
品により分岐された複数の光がそれぞれ入射される複数
の干渉計と、2枚のミラーを所定の長さ基準で平行かつ
ミラー間の間隔が温度変化によって変化しないように互
いに熱膨脹係数の異なる材質を光軸方向にそれぞれ熱膨
脹係数と逆比となる長さとして熱膨張の影響を打ち消す
ように配置固定された複数の基準間隔部と、前記複数の
基準間隔部から反射された光の光路長変化に伴って前記
複数の干渉計により得られる干渉信号の出力を測定する
複数の光検出部と、この複数の光検出部から出力された
干渉信号の変化から屈折率の絶対値を求める演算部を設
けた構成としたことを特徴とするものである。
く作用〉 本発明によると、温度変化による基準間隔部の長さ基準
の変動を基準間隔部を構成する材質の組み合わせによっ
て打ち消すようにしており、温度変化による屈折率測定
誤差を低減できる。
〈実施例〉 以下、本発明を図面に基ついて説明する。
第1図(イ)は本発明の屈折率測定装置の一実施例を示
す構成図、(ロ)図は(イ)図装置に用いる基準間隔部
の拡大図である 第1図(イ)において、10は安定した波長のレーザ光
を発生するレーザ光源、11はレーザ光源1の出力光を
2つに分岐するハーフミラ−112a 〜] 2 cは
全反射ミラー、13a、1.3bは干渉計、20.30
は長さ基準り、、L2を有する基準間隔部であり、その
構成は(ロ)図に示すように、2つの反射面となる前面
ミラー21(31)と基準間隔部20(30)の後面2
2 (32)に光学接着された後面ミラー23 (33
) 、光軸方向での長さの変化(即ち温度による膨H)
が光軸と垂直な面内では均一な材料で形成されたスペー
サ24(34)、スペーサ24 <34)に設けられた
周囲の空気を流通させるための空気孔25(35)で構
成されている。又、前面ミラー21〈31ンとj表面ミ
ラー23 (33)は、スペーサ24 (34)の両端
で光軸に対して垂直な面に同一方向を向いて平行に支持
されていると共に、熱膨脹係数の異なる2種類の材質を
光軸方向にそれぞれの熱膨脹係数と逆比となる長さとし
て熱膨張の影響を打ち消すように配置されている。14
a14bは基準間隔部20.30からの干渉信号を電気
信号に変換する光検出器、15は光検出器14a、14
bから得られる電気信号を位相信号に変換して屈折率の
絶対値を演算する演算器である。
このような構成において、レーザ光源10の出力光はハ
ーフミラ−11で2つに分岐され、一方の光はハーフミ
ラ−2を透過し干渉計13aに入射される。入射光は干
渉計13aにて更に2つに分岐され基準間隔部20の反
射面(前面ミラー2I1後而ミラー23)でそれぞれ反
射され、再び干渉計13aに戻り干渉信号として全反射
ミラ12bを介して光検出器14aに入射される。他方
の光はハーフミラ−11、全反射ミラ〜12aで反射さ
れて干渉計13bに入射される。入射光は干渉計13b
にて更に2つに分岐され、基準間隔部30の反射面(前
面ミラー31.後面ミラ33)でそれぞれ反射され、再
び干渉計13bに戻り干渉信号として全反射ミラー12
cを介して光検出器14bに入射される。干渉信号は光
検出器14a、14bでそれぞれ電気信号に変換されて
演算器15に送られる。演算器15では電気信号を位相
信号に変換後、屈折率の絶対値か演算される。
ここで、周囲の温度が変化すると、基準間隔部20.3
0の長さ基準り、、L2が変動するため、演算器】5か
ら求められる屈折率の絶対値には測定誤差が含まれるが
、本発明では、温度変化による屈折率測定誤差を排除で
きる構成とされている。
以下に、その点について説明する。第2図において、長
さLoを構成する前面ミラー2] (31)と後面22
 (32)とスペーサ24 (34)の材質Aの線膨張
係数をαA、長さ!。を構成する後面ミラー23 (3
3)の材質Bの線膨張係数をαBとすると、周囲の温度
がΔTたけ変化した時の長さり、lは、それぞれ次式で
表される。
L = Lo  (1+αAΔT)    −・・■1
−1o  <t+αB八T)へ  ・・・■したかって
、基準間隔部の長さ基準は、L  1=Lo  i’。
+(L0αA l。αB)ΔT・・・■て表される。こ
の0式において、温度変化ΔTによる影響を無くすため
には、 LO(2A  loαB=Q    ・・・■であれば
良い。即ち、 10=(αA /’αB)Lo   ・・・■が満たさ
れれば良い。
例えば、材質Aに線膨張係数α=5X10−”のガラス
セラミックを、材質Bに線膨張係数α−5X ]、 O
’の合成石英を用いて、長さ基準L−47100市を得
るなめには、 L−/=100 /−(5X10′″15X10°?)Lより、L:約1
11鎮、l:約11甫とすれば、温度変化による屈折率
の測定誤差を排除できる。
なお、カラスセラミックの場合には線膨張係数は零を挟
んで分布しているため、係数は個別に測定して石英の厚
さを決定する必要がある。又、カラスセラミックの線膨
M係数か負の場合には、第3図に示すように石英を配置
すれば、温度変化による長さ基準の変化を打ち消すこと
ができる。更に、カラスは保存される温度によって寸法
が経時変化を起こす。カラスセラミックでは10−7/
年であり、屈折率の測定精度に影響を及ぼす、したかっ
て、長さ基準を構成する場合に、光軸方向における2種
類の材質の長さに対する経時変化の比率か長さと逆比と
なるようにすることにより、経時変化の影響を打ち消す
ことができる。
〈発明の効果〉 以上、実施例と共に具体的に説明したように、本発明に
よれば、2種類の熱膨脹係数の興なる材質て゛基準間@
部の前面ミラーと後面ミラーを構成しており、かつ2つ
のミラーの構造は熱変動による膨脹若しくは縮小か相殺
するように配置構成した。したかって、前・後面ミラー
で形成される長さ基準は温度変化の影響を受けないため
、温度変化による屈折率の測定誤差を排除でき、高精度
な屈折率測定のできる屈折率測定装置を実現できる。
【図面の簡単な説明】
第1図(イ)は本発明に係わる屈折率測定装置の一実施
例を示す構成図、(ロ)図は(イ)図装1に用いる基準
間隔部の拡大図、第2図、第3図は温度変化による長さ
基準の変化の影響を排除する説明を示す図、第4図は従
来例である。 10・・・光源、11・・・ハーフミラ−112a〜1
2C・・・全反射ミラー、13a、13b・・・干渉計
、14a、14b・・・光検出器、15・・・演算器、
2030・・・基準間隔部、21.31・・・前面ミラ
ー、22.32・・・後面、23.33・・・後面ミラ
ー、24゜34・・・スペーサ、25.35・・・空気
孔。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 光源と、 この光源からの出射光を分岐する光学部品と、この光学
    部品により分岐された複数の光がそれぞれ入射される複
    数の干渉計と、 2枚のミラーを所定の長さ基準で平行かつミラー間の間
    隔が温度変化によって変化しないように互いに熱膨張係
    数の異なる材質を光軸方向にそれぞれ熱膨脹係数と逆比
    となる長さとして熱膨脹の影響を打ち消すように配置固
    定された複数の基準間隔部と、 前記複数の基準間隔部から反射された光の光路長変化に
    伴って前記複数の干渉計により得られる干渉信号の出力
    を測定する複数の光検出部と、この複数の光検出部から
    出力された干渉信号の変化から屈折率の絶対値を求める
    演算部を設けた構成としたことを特徴とする屈折率測定
    装置。
JP19425290A 1990-07-23 1990-07-23 屈折率測定装置 Pending JPH0480643A (ja)

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JP (1) JPH0480643A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010035949A (ja) * 2008-08-07 2010-02-18 Nidek Co Ltd 眼科撮影装置
JP2021110855A (ja) * 2020-01-13 2021-08-02 株式会社デンソー 虚像表示装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010035949A (ja) * 2008-08-07 2010-02-18 Nidek Co Ltd 眼科撮影装置
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