JPH0466864A - 超音波検出装置 - Google Patents
超音波検出装置Info
- Publication number
- JPH0466864A JPH0466864A JP2180900A JP18090090A JPH0466864A JP H0466864 A JPH0466864 A JP H0466864A JP 2180900 A JP2180900 A JP 2180900A JP 18090090 A JP18090090 A JP 18090090A JP H0466864 A JPH0466864 A JP H0466864A
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 9
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 4
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 4
- 230000005284 excitation Effects 0.000 claims description 3
- 239000011521 glass Substances 0.000 abstract description 9
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 abstract 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 6
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 3
- 238000002604 ultrasonography Methods 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
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- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
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Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
この発明は、物質表面の、超音波による変化を測定する
ことによって物質内部情報を得るための超音波検出装置
に関する。 (従来の技術] 従来、非破壊で、材料内部の観察をするための装置とし
て、超音波顕微鏡がある。 この超音波顕微鏡1は、第2図に示されるように、トラ
ンスデユーサ2に、数100Mt(2〜数GH2の電気
信号を印加させて発生した超音波を音響レンズ3によっ
て集束させ、被測定物4の表面に入射させるものである
。 このとき、超音波は被測定物4の表面で反射・散乱され
、トランスデユーサ1に戻ってくる超音波を電気信号に
変換することによって、被測定物4の表面情報を得るこ
とができる。 第3図は、従来の走査型超音波顕微鏡5を示すものであ
る。 この走査型超音波顕微鏡5は、被測定物4の裏側に液体
6を介してトランスデユーサ2を合着させ、被測定物4
に超音波を印加し、一方、被測定物4の、トランスデユ
ーサ2と反対側の表面に、レーザビーム7を、ミラー8
A及びレンズ9を介して入射させ、被測定物4の表面か
らの反射波を、レンズ9及びミラー8Bを介して取出す
ものである。 このとき、被測定物4内部の欠陥等により超音波が散乱
・回折を起こし、これにより被測定物4の表面状態が変
化し、この表面を前記ミラー8Aにより、レーザビーム
6を偏向走査することによって、被測定物4内部の状態
を知ることができる。
ことによって物質内部情報を得るための超音波検出装置
に関する。 (従来の技術] 従来、非破壊で、材料内部の観察をするための装置とし
て、超音波顕微鏡がある。 この超音波顕微鏡1は、第2図に示されるように、トラ
ンスデユーサ2に、数100Mt(2〜数GH2の電気
信号を印加させて発生した超音波を音響レンズ3によっ
て集束させ、被測定物4の表面に入射させるものである
。 このとき、超音波は被測定物4の表面で反射・散乱され
、トランスデユーサ1に戻ってくる超音波を電気信号に
変換することによって、被測定物4の表面情報を得るこ
とができる。 第3図は、従来の走査型超音波顕微鏡5を示すものであ
る。 この走査型超音波顕微鏡5は、被測定物4の裏側に液体
6を介してトランスデユーサ2を合着させ、被測定物4
に超音波を印加し、一方、被測定物4の、トランスデユ
ーサ2と反対側の表面に、レーザビーム7を、ミラー8
A及びレンズ9を介して入射させ、被測定物4の表面か
らの反射波を、レンズ9及びミラー8Bを介して取出す
ものである。 このとき、被測定物4内部の欠陥等により超音波が散乱
・回折を起こし、これにより被測定物4の表面状態が変
化し、この表面を前記ミラー8Aにより、レーザビーム
6を偏向走査することによって、被測定物4内部の状態
を知ることができる。
【発明が解決しようとする課題]
前記第2図の従来の超音波顕微鏡1は、被測定物4と音
響レンズ3を相対的に移動させて走査しなければならず
、又、第3図の走査型超音波顕微鏡5の場合も、ミラー
7でレーザビームを偏向走査するものであるため、共に
リアルタイムでの観測が不可能であるという問題点があ
った。 この発明は、上記従来の問題点に鑑みてなされたもので
あって、被測定物の内部情報をリアルタイムで得ること
ができる超音波検出装置を提供することを目的とする。 【課題を解決するための手段】 この発明は、被測定物を超音?f1振動させる加振手段
と、前記被測定物の被測定表面に取付けられるミラーと
、このミラーを照射するための光源と、この光源からの
光の、前記ミラーによる反射光を結像させる結像系と、
この結像系による前記ミラーの結像位置で、反射光軸と
直交した面内に配置されたイメージセンサと、を含んで
超音波検出装置を構成することにより上記目的を達成す
るものである。 又、前記超音波検出装置において、前記結像系に、前記
ミラーからの反射光中のO次光成分をカットするO次光
カット手段を配置することにより上記目的を達成するも
のである。
響レンズ3を相対的に移動させて走査しなければならず
、又、第3図の走査型超音波顕微鏡5の場合も、ミラー
7でレーザビームを偏向走査するものであるため、共に
リアルタイムでの観測が不可能であるという問題点があ
った。 この発明は、上記従来の問題点に鑑みてなされたもので
あって、被測定物の内部情報をリアルタイムで得ること
ができる超音波検出装置を提供することを目的とする。 【課題を解決するための手段】 この発明は、被測定物を超音?f1振動させる加振手段
と、前記被測定物の被測定表面に取付けられるミラーと
、このミラーを照射するための光源と、この光源からの
光の、前記ミラーによる反射光を結像させる結像系と、
この結像系による前記ミラーの結像位置で、反射光軸と
直交した面内に配置されたイメージセンサと、を含んで
超音波検出装置を構成することにより上記目的を達成す
るものである。 又、前記超音波検出装置において、前記結像系に、前記
ミラーからの反射光中のO次光成分をカットするO次光
カット手段を配置することにより上記目的を達成するも
のである。
この発明においては、超音波振動された被測定物表面か
らの反射光の結像位置にイメージセンサを設けているの
で、被測定物表面で反射された超音波の2次元分布をリ
アルタイムで知ることができ、且つ被測定物内部の非破
壊測定を行うことができる。
らの反射光の結像位置にイメージセンサを設けているの
で、被測定物表面で反射された超音波の2次元分布をリ
アルタイムで知ることができ、且つ被測定物内部の非破
壊測定を行うことができる。
以五、本発明の実施例を図面を参照して説明する。
本発明の実施例に係る超音波検出装置10は、被測定物
12を超音波振動させるために、該被測定物12の裏面
(図において下側面)に取付けられたトランスデユーサ
14と、前記被測定物12の、図において上側の表面1
2Aに、液体16を介して、該表面12Aと平行に取付
けられ、液体16側にミラー18が形成されたガラス板
20と、このガラス板20の表面側から、前記ミラー1
8に対して、ハーフミラ−22を介してレーザ光を照射
するためのレーザ光源24と、このレーザ光源24から
のレーザ光が前記ミラー18によって反射・散乱された
散乱光を結像させる結像系26と、この結像系26によ
る前記ミラー18の結像位置で、反射光軸と直交した面
内に配置されたイメージセンサ28とを備えて構成され
ている。 前記結像系26は、前記ハーフミラ−22とイメージセ
ンサ28との間に、ハーフミラ−22側からレンズ30
及びナイフェツジ32が配置されている。 前記ナイフェツジ32は、レンズ30によって集光され
る、ミラー18からの反射光の集光点34の位置に配置
され、0次光、即ち直進光をカットして、散乱光のみが
イメージセンサ28に到達するようにしている。 前記被測定物12とトランスデユーサ14との間に介在
する液体16は、両者を音響的に結合し、超音波の反射
を減らすためのものである。 次に、上記実施例装置の作用について説明する。 被測定物12がトランスデユーサ14により超音波振動
を与えられると、超音波は液体16を伝播し、ガラス板
20のミラー18に伝わる。 被測定物12の内部に欠陥等があった場合は、伝播され
る超音波はここで散乱・回折を起こし、この結果、被測
定物12の表面12Aの表面状態を変化させる。 前記ガラス板20は、液体16を介して被測定物12に
音響的に結合されているために、ガラス板20に入射す
る超音波の2次元強度は、即ち、被測定物12の内部の
欠陥等に対応したものとなる。 従って、超音波により加振されることにより、ミラー1
8の表面には、被測定物12の内部情報に対応する微細
な凹凸が発生する。 レーザ光源24から出射され、ハーフミラ−22によっ
て反射され、ガラス板20を透過してミラー18に到達
するレーザ光は、前記ミラー18に形成された微細な凹
凸によって散乱される。 ミラー18によって散乱・反射されたレーザ光は、ハー
フミラ−22を通って、レンズ30により集光され、イ
メージセンサ28上に結像する。 このとき、集光点34に配置されたナイフェツジ32に
よって直進光が遮られ、散乱光のみがイメージセンサ2
8に到達する。 このイメージセンサ28上に結像したミラー表面の像は
、ミラー18表面の微細な凹凸に対応したものとなる。 換言すれば、ミラー18表面における超音波強度の分布
に応じた像ができることになる。従って、この像をイメ
ージセンサ28によって2次元的に読出すことにより、
ガラス板20に入射する超音波の2次元強度の測定がで
きる。 従って、この実施例では、レーザビームを走査させたり
することなく、被測定物12の内部情報を、イメージセ
ンサ28によって、2次元的にリアルタイムで観測する
ことができる。 なお、上記実施例において、0次光カットの手段として
ナイフェツジ32が用いられているが、これは、直進光
をカットして散乱光のみとすることにより、イメージセ
ンサ28上の像のコントラストを改善するものであり、
他のO次光カッ1〜手段を設けるようにしてもよい。例
えば、空間フィルタ等がある。 又、イメージセンサ28上の像のコントラストが○次光
カット手段を設けなくてもよい程度であれば、ナイフェ
ツジ等の0次光カット手段を設ける必要はない。 更に、前記実施例において、被測定物12はトランスデ
ユーサ14によって超音波振動を与えられるようになっ
ているが、これは、要すれば被測定物12を超音波振動
させることができるものであればよく、従って、光パル
スを被測定物12に照射することによって、該被測定物
12も超音波振動させるような加振手段であってもよい
。
12を超音波振動させるために、該被測定物12の裏面
(図において下側面)に取付けられたトランスデユーサ
14と、前記被測定物12の、図において上側の表面1
2Aに、液体16を介して、該表面12Aと平行に取付
けられ、液体16側にミラー18が形成されたガラス板
20と、このガラス板20の表面側から、前記ミラー1
8に対して、ハーフミラ−22を介してレーザ光を照射
するためのレーザ光源24と、このレーザ光源24から
のレーザ光が前記ミラー18によって反射・散乱された
散乱光を結像させる結像系26と、この結像系26によ
る前記ミラー18の結像位置で、反射光軸と直交した面
内に配置されたイメージセンサ28とを備えて構成され
ている。 前記結像系26は、前記ハーフミラ−22とイメージセ
ンサ28との間に、ハーフミラ−22側からレンズ30
及びナイフェツジ32が配置されている。 前記ナイフェツジ32は、レンズ30によって集光され
る、ミラー18からの反射光の集光点34の位置に配置
され、0次光、即ち直進光をカットして、散乱光のみが
イメージセンサ28に到達するようにしている。 前記被測定物12とトランスデユーサ14との間に介在
する液体16は、両者を音響的に結合し、超音波の反射
を減らすためのものである。 次に、上記実施例装置の作用について説明する。 被測定物12がトランスデユーサ14により超音波振動
を与えられると、超音波は液体16を伝播し、ガラス板
20のミラー18に伝わる。 被測定物12の内部に欠陥等があった場合は、伝播され
る超音波はここで散乱・回折を起こし、この結果、被測
定物12の表面12Aの表面状態を変化させる。 前記ガラス板20は、液体16を介して被測定物12に
音響的に結合されているために、ガラス板20に入射す
る超音波の2次元強度は、即ち、被測定物12の内部の
欠陥等に対応したものとなる。 従って、超音波により加振されることにより、ミラー1
8の表面には、被測定物12の内部情報に対応する微細
な凹凸が発生する。 レーザ光源24から出射され、ハーフミラ−22によっ
て反射され、ガラス板20を透過してミラー18に到達
するレーザ光は、前記ミラー18に形成された微細な凹
凸によって散乱される。 ミラー18によって散乱・反射されたレーザ光は、ハー
フミラ−22を通って、レンズ30により集光され、イ
メージセンサ28上に結像する。 このとき、集光点34に配置されたナイフェツジ32に
よって直進光が遮られ、散乱光のみがイメージセンサ2
8に到達する。 このイメージセンサ28上に結像したミラー表面の像は
、ミラー18表面の微細な凹凸に対応したものとなる。 換言すれば、ミラー18表面における超音波強度の分布
に応じた像ができることになる。従って、この像をイメ
ージセンサ28によって2次元的に読出すことにより、
ガラス板20に入射する超音波の2次元強度の測定がで
きる。 従って、この実施例では、レーザビームを走査させたり
することなく、被測定物12の内部情報を、イメージセ
ンサ28によって、2次元的にリアルタイムで観測する
ことができる。 なお、上記実施例において、0次光カットの手段として
ナイフェツジ32が用いられているが、これは、直進光
をカットして散乱光のみとすることにより、イメージセ
ンサ28上の像のコントラストを改善するものであり、
他のO次光カッ1〜手段を設けるようにしてもよい。例
えば、空間フィルタ等がある。 又、イメージセンサ28上の像のコントラストが○次光
カット手段を設けなくてもよい程度であれば、ナイフェ
ツジ等の0次光カット手段を設ける必要はない。 更に、前記実施例において、被測定物12はトランスデ
ユーサ14によって超音波振動を与えられるようになっ
ているが、これは、要すれば被測定物12を超音波振動
させることができるものであればよく、従って、光パル
スを被測定物12に照射することによって、該被測定物
12も超音波振動させるような加振手段であってもよい
。
第1図は本発明に係る超音波検出装置の実施例を示す断
面図、第2図は従来の超音波顕微鏡の概要を示す斜視図
、第3図は更に他の従来の超音波顕微鏡の概要を示す斜
視図である。 10・・・超音波検出装置、 12・・・被測定物、 12A・・・表面、 14・・・トランスデユーサ、 18・・・ミラー 24・・・レーザ光源、 26・・・結像系、 28・・・イメージセンサ、 32・・・ナイフェツジ。
面図、第2図は従来の超音波顕微鏡の概要を示す斜視図
、第3図は更に他の従来の超音波顕微鏡の概要を示す斜
視図である。 10・・・超音波検出装置、 12・・・被測定物、 12A・・・表面、 14・・・トランスデユーサ、 18・・・ミラー 24・・・レーザ光源、 26・・・結像系、 28・・・イメージセンサ、 32・・・ナイフェツジ。
Claims (2)
- (1)被測定物を超音波振動させる加振手段と、前記被
測定物の被測定表面に取付けられるミラーと、このミラ
ーを照射するための光源と、この光源からの光の、前記
ミラーによる反射光を結像させる結像系と、この結像系
による前記ミラーの結像位置で、反射光軸と直交した面
内に配置されたイメージセンサと、を有してなる超音波
検出装置。 - (2)請求項1において、前記結像系に、前記ミラーか
らの反射光中の0次光成分をカットする0次光カット手
段を配置したことを特徴とする超音波検出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2180900A JPH071253B2 (ja) | 1990-07-09 | 1990-07-09 | 超音波検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2180900A JPH071253B2 (ja) | 1990-07-09 | 1990-07-09 | 超音波検出装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0466864A true JPH0466864A (ja) | 1992-03-03 |
JPH071253B2 JPH071253B2 (ja) | 1995-01-11 |
Family
ID=16091276
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2180900A Expired - Lifetime JPH071253B2 (ja) | 1990-07-09 | 1990-07-09 | 超音波検出装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH071253B2 (ja) |
-
1990
- 1990-07-09 JP JP2180900A patent/JPH071253B2/ja not_active Expired - Lifetime
Non-Patent Citations (2)
Title |
---|
APPLIED PHYSICS LETTERS=1969 * |
MATERIALS EVALUATION=1986 * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH071253B2 (ja) | 1995-01-11 |
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