JPH04349431A - 防振機能付カメラ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、レンズ群を保持するレ
ンズ鏡筒部に具備され、前記レンズ群の光軸を偏心させ
る補正光学手段と、前記レンズ鏡筒に加わる振動を検出
する振動検出手段と、該振動検出手段よりの防振出力に
基づいて前記補正光学手段を前記レンズ鏡筒に対し相対
的に変位させる駆動手段とを備えたカメラ防振装置の改
良に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】本発明の対象となる従来技術を以下に説
明する。

【０００３】現代のカメラでは、露出決定やピント合せ
等の撮影にとって重要な作業はすべて自動化されている
ため、カメラ操作に未熟な人でも撮影の失敗を起す可能
性は非常に少なくなっているが、カメラ振れによる撮影
の失敗だけは自動的に防ぐことが困難とされていた。

【０００４】そこで、近年このカメラ振れに起因する撮
影失敗をも防止することを可能とするカメラが意欲的に
研究されており、特に、撮影者の手振れによる撮影失敗
を防止することのできるカメラについての開発、研究が
進められている。

【０００５】撮影時のカメラの上記手振れは周波数とし
て通常１Ｈｚ乃至１２Ｈｚの振動であるが、シャッタの
レリ−ズ時点においてこのような手振れを起していても
像振れのない写真を撮影可能とするための基本的な考え
として、上記手振れによるカメラの振動を検出し、その
検出値に応じて補正レンズを変位させてやらなければな
らない。従って、上記目的（即ち、カメラの振れが生じ
ても像振れを生じない写真を撮影できること）を達成す
るためには、第１にカメラの振動を正確に検出し、第２
に手振れによる光軸変化を補正することが必要となる。

【０００６】この振動（カメラ振れ）の検出は、原理的
にいえば、角加速度、角速度、角変位等を検出する振動
センサと、角加速度，角速度を検出する振動センサの場
合該手段の出力信号を電気的に積分して角変位を出力す
る振動検出手段をカメラに搭載することによって行うこ
とができる。そして、この検出情報に基づき撮影光軸を
偏心させる補正光学手段を駆動させて像振れ抑制が行わ
れる。

【０００７】ここで、角変位検出装置を用いた像振れ抑
制システム（防振システム）について、図３１を用いて
その概要を説明する。

【０００８】図３１の例は、図示矢印８１方向のカメラ
縦振れ８１ｐ及びカメラ横振れ８１ｙに由来する像振れ
を抑制するシステムの図である。

【０００９】同図中、８２はレンズ鏡筒、８３ｐ，８３
ｙは各々カメラ縦振れ角変位、カメラ横振れ角変位を検
出する角変位検出装置で、それぞれの角変位検出方向を
８４ｐ，８４ｙで示してある。この角変位検出装置８３
ｐ，８３ｙからの信号により補正光学手段８５（８６ｐ
，８６ｙは各々その駆動部、８７ｐ，８７ｙは補正光学
位置検出センサ）を駆動させて像面８８での安定を確保
する。

【００１０】図３２は角加速度計を用いた防振システム
を示しており、図３１と異なるのは、積分器８９ｐ，８
９ｙを設け、角加速度計８１０ｐ，８１０ｙからの手振
れ角加速度を積分器８９ｐ，８９ｙで２階積分し、手振
れ角変位に変換した後、補正光学手段８５に入力してい
る点にある。又、補正光学手段８５にも公知の機械的積
分作用を持たせ、積分器８９ｐ，８９ｙを１階積分する
ものとすることも出来、この場合振動検出手段として振
動ジャイロ等の角速度計を用いると、上記積分器８９ｐ
，８９ｙは省くことができる。

【００１１】図１４乃至図１６は前記角変位検出装置の
構成例を示すものであり、以下これらの図を用いて説明
する。

【００１２】図１４乃至図１６において、７１は装置を
構成する各部品を取付ける地板、７２は内部に後述の浮
体７３及び液体７１２を封入した室をもつ外筒である。 ７３は軸７４ａ回りに回転自在に後述の浮体保持体７４
により保持された浮体で、突起７３ａにはスリット状の
反射面が形成されており、永久磁石から成る材料にて構
成されて上記軸７４ａ方向に着磁されている。また、こ
の浮体７３は軸７４ａ回りの回転バランス及び浮力バラ
ンスがそれぞれとられたものとして構成されている。

【００１３】７４は後述のピボット軸受７５を介して浮
体７３を保持した状態で外筒７２に固定されている浮体
保持体である。７６は地板７１に取付けられたコの字形
状のヨ−クで、浮体７３と共に閉磁路を形成している。 ７７は巻線コイルで、浮体７３とヨ−ク７６の間に配置
されて外筒７２と固定関係に設けられている。７８は通
電により光を発生する発光素子（ｉＲＥＤ）であり、地
板７１に取付けられている。７９は受ける光の位置によ
って出力の変化する受光素子（ＰＳＤ）であり、地板７
１に取付けられている。そして、これら発光素子７８及
び受光素子７９が上記浮体７３の突起（反射面）７３ａ
を介して光を伝送する方式の光学的な角変位検出の手段
を構成している。

【００１４】７１０は発光素子７８の前面に配置された
マスクで、光を透過するスリット穴７１０ａを有してい
る。７１１は外筒７２に取付けられたストッパ部材で、
定められた範囲以上浮体７３が回転しないように回転規
制をしている。尚、上記した浮体７３の回転自在の保持
は次のようにして行われている。即ち浮体７３の中心に
は図１５（図１４のＡ−Ａ断面）で示すように、上下に
先端が尖鋭なピボット７１３が圧入されている。一方、
前記の浮体保持体７４のコ字形の上下腕の先端には互い
に内向きに対向してピボット軸受７５が設けられ、上記
ピボット７１３の尖鋭な先端がこのピボット軸受７５に
嵌合することで浮体７３の保持がされる。

【００１５】７１４は外筒７２の上蓋であり、シリコン
接着剤等を用いた公知の技術により該外筒７２内に液体
７１２を封入すべくシ−ル接着されている。

【００１６】以上の構成において、浮体７３は、いずれ
の姿勢においても重力の影響による回転モ−メントが発
生することなく、またピボット軸受７５に実質的に負荷
が作用しないように、回転軸７４ａ回りに対し対称形状
をしている。更に液体７１２と同比重の材料にて構成さ
れている。現実には、アンバランス成分ゼロというのは
不可能ではあるが、形状誤差分は比重差分だけしかアン
バランスとして作用しないので実質的には十分小さく、
慣性に対する摩擦のＳＮ比が極めて良好であることは容
易に理解できよう。

【００１７】かかる構成においては、外筒７２が回転軸
７４ａ回りに回転しても内部の液体７１２は慣性により
絶対空間に対し静止するので、浮遊状態にある浮体７１
２は回転せず、従って外筒７２と浮体７３は回転軸７４
ａ回りに相対的に回転することになる。これらの相対的
な角変位は、上記発光素子７８，受光素子７９を用いた
光学的検知手段で検出できる。

【００１８】さて、以上の構成を有する装置において、
角変位の検出は次のように行われる。

【００１９】まず、発光素子７８から発せられた光はマ
スク７１０のスリット穴７１０ａを通過し浮体７３に照
射され、ここで突起７３ａのスリット状反射面により反
射されて受光素子７９に至る。上記光の伝送の際にはこ
の光はスリット穴７１０ａとスリット状反射面とにより
略平行光となり、受光素子７９の上にはボケのない像が
形成されることになる。

【００２０】そして外筒７２，発光素子７８，受光素子
７９はいずれも地板７１に固定されているものであって
一体に運動するので、外筒７２と浮体７３の間で相対的
な角変位運動が生じると、該変位に応じた量だけ受光素
子７９上のスリット像は移動することになる。従って、
受光した光の位置によって出力の変化する光電変換素子
である該受光素子７９の出力は、該スリット像の位置変
位に比例した出力となり、該出力を情報として外筒７２
の角変位を検出することができる。

【００２１】ところで、前述したように浮体７３は液体
７１２と同比重をもつ永久磁石材料にて構成されている
が、それは例えば次の様にして成すものである。

【００２２】液体７１２としてフッ素系の不活性液体を
用いた場合、プラスチック材をベ−スにフィラ−として
永久磁石材料（例えばフェライト等）の微粉を含有させ
てその含有率を調整すれば、体積含有率８％前後にて液
体の比重　「１．８」　と同程度の比重にすることは容
易である。かかる材料にて浮体７３を成形した後、又は
同時に前記回転軸７４ａ方向に着磁すれば、浮体７３は
永久磁石としての性質を持つこととなる。

【００２３】図１７は浮体７３とヨ−ク７６と巻線コイ
ル７７の関係を表した、図１４のＢ−Ｂ断面である。

【００２４】該図の如く浮体７３は回転軸７４ａ方向に
着磁されており、この図では上側がＮ極、下側がＳ極に
着磁されている。Ｎ極から出た磁力線はコの字型のヨ−
ク７６を通り、Ｓ極に入るという閉磁路を構成しており
、この磁路内に配置された巻線コイル７７に図の様に紙
面裏側から表側へ電流を流せば、フレミングの左手の法
則に従って該巻線コイル７７は矢印ｆ方向に力を受ける
。ところが、該巻線コイル７７は前述したように外筒７
２に対し固定されていることから動くことができず、よ
ってその反作用である矢印Ｆ方向に力が働き、該力によ
って浮体７３が駆動されることになる。この力は巻線コ
イル７７に流す電流に比例し、力の方向も電流を上記と
は逆に流せば逆方向に働くことは言うまでもないことで
ある。即ち以上の構成に於ては、浮体７３を自在に駆動
することが可能である。

【００２５】この駆動力により浮体７３に及ぼされるバ
ネ力は、原理的には浮体７３を外筒７２に対して一定の
姿勢に維持させる（つまり一体に移動させる）力である
から、そのバネ力が強いと外筒７２と浮体７３は一体と
なって運動してしまい、目的とする角変位の為の相対角
変位は生じないと云う問題を招くが、駆動力（バネ力）
が浮体７３の慣性に対し十分に小さければ、比較的低い
周波数の角変位にも応答し得る様に構成できる。

【００２６】図１８は以上の様な角変位検出装置の電気
回路を示す図である。

【００２７】電流−電圧変換アンプ７１５ａ，７１５ｂ
（及び抵抗Ｒ３３〜Ｒ３６）は発光素子７８の反射光７
１６により受光素子７９に生じる光電流を電圧に変化し
、次段の差動アンプ７１７（及び抵抗Ｒ３７〜Ｒ４０）
は前記電流−電圧変換アンプ７１５ａ，７１５ｂの出力
差、つまり角変位（外筒７２と浮体７３の間の相対的な
角変位運動）を求める。この出力を抵抗７１８，７１９
で分割して極めて小さい出力にし、巻線コイル７７に電
流を流す駆動アンプ７２０（及び抵抗Ｒ４１，トランジ
スタＴＲ１１，ＴＲ１２）に入力して、負帰還（差動ア
ンプ７１７が出力すると、浮体７３が中心に戻る様に巻
線コイル７７の配線及び浮体７３の着磁方向を設定する
）を行うと、前述の様に液体７１２の慣性に対し十分に
小さいバネ力（駆動力）が生じる。

【００２８】加算アンプ７２１（及び抵抗Ｒ４２〜Ｒ４
５）は前記アンプ７１５ａ，７１５ｂの和（受光素子７
９の発光素子７８からの反射光７１６の受光量総和）を
求めており、その出力を発光素子７８を発光させる駆動
アンプ７２２（及び抵抗Ｒ４７〜Ｒ４８，トランジスタ
ＴＲ１３，コンデンサＣ１１）に入力している。

【００２９】発光素子７８は温度差に極めて不安定にそ
の発光量を変化させてしまうが、上記の様に受光量総和
により発光素子７８を駆動させれば、受光素子７９の出
力する光電流総和は常に一定となり、差動アンプ７１７
の角変位検出感度は極めて安定なもとすることができる
。

【００３０】角変位検出装置は、以上の様に弱いバネ力
を持たせる位置制御ル−プの他に、系の伝達特性の減衰
特性を調整する速度制御ル−プも備えている。何故なら
ば、外筒７２に収められる液体７１２と浮体７３のダン
ピング特性を外部温度の変動によらず（液体７１２は外
温でその粘度が変化してしまう）、常に一定にしておく
ためである。この速度制御ル−プは図１８において、ア
ンプ７２３，７２４，７２５等から構成される。

【００３１】アンプ７２３は抵抗７２６，７２７、コン
デンサ７２８，７２９と共にアンプ７１７の角変位（位
置）検出出力を微分して速度出力を作り、且つ高域波ノ
イズの除去を行う。アンプ７２４は前記抵抗７１８，７
１９の分圧出力のバッファアンプで、アンプ７２３，７
２４の出力（速度と位置）をアンプ７２５（及び抵抗Ｒ
４９〜Ｒ５１）で加え、前記駆動アンプ７２０に送る。

【００３２】再び図１４に戻り、図１４で示されるブロ
ック図は前記図１８の回路を簡略化して示している。

【００３３】７３０は前記アンプ７１５ａ，７１５ｂ，
７１７（及び抵抗Ｒ３３〜Ｒ４９）で構成される増幅回
路を示し、受光素子７９の出力の増幅を行う。７３１は
前記アンプ７２３，抵抗７２６，７２７，コンデンサ７
２８で構成される微分回路を示す。７３２は抵抗７１８
，７１９の分圧増幅度Ｇ１を示す回路であり、７３３は
アンプ７２３と抵抗７２６，７２７で決定される増幅度
Ｇ２を示す回路であり、各々位置制御ル−プゲイン，速
度制御ル−プゲインの調整を行える。

【００３４】図１９は上述した角変位検出装置の周波数
特性を示すボ−ド線図であり、横軸は周波数、縦軸は角
変位検出装置の出力ゲイン（７３４Ｇ）及び入力手振れ
と角変位検出装置の出力の位相（７３４Ｐ）を示してい
る。

【００３５】この図１９により「０．２Ｈｚ」より低い
周波数では角変位検出装置の出力が小さくなっており、
極低周波の手振れに対しては角変位検出装置は出力しな
い事を示している。そして、この析点（図１９では「０
．２Ｈｚ」）は図１４の回路７３２（増幅度Ｇ１）で決
定され、ここでの増幅度Ｇ１を大きくすれば浮体７３と
外筒７２間のバネ性が強くなり、析点は高域側に移動し
、増幅度Ｇ１を小さくすればバネ性は弱くなり、析点は
低域側に移動する。

【００３６】

【発明が解決しようとする課題】さて、以上の様に角変
位検出装置は「０．２Ｈｚ」以上の手振れにおいては正
確にその振れ量を検出するわけであるが、ここにいくつ
かの問題点が有る。

【００３７】手振れは通常１Ｈｚないし１０Ｈｚ程度に
分布しており、２Ｈｚ程度の振れが頻繁に生じている。 そして、図１９の出力ゲイン（利得）７３４Ｇで示され
る様に角変位検出装置はこの範囲で正確に振れ量を検出
しているが、位相７３４Ｐは２Ｈｚ近辺では未だ「０°
」になっておらず、入力手振れに対しψ７１だけ位相が
進んでいる。

【００３８】図２０はその事による防振精度の劣化を説
明し易い様に誇張して示した図であり、図２０において
、横軸は時間、縦軸は手振れ量を示している。

【００３９】ここで、７３５は実際にレンズ鏡筒に加わ
る手振れ量を示しており、これにより角変位検出装置の
出力７３６は実際の手振れが１〜２Ｈｚ程度の場合、実
際の手振れより位相が進んでいる。そして、この出力７
３５に基づいて補正光学手段が光軸を偏心して防振を行
うわけであるが、実際の手振れ量７３５と角変位検出装
置の出力７３６の差分７３７は誤差として残り、当然そ
の誤差（位相ズレによる誤差が大きい）は防振精度の劣
化となってしまう。

【００４０】もちろん図１９において、析点を「０．２
Ｈｚ」より低く、即ち巻線コイル７７への通電量を減ら
し、バネ性を弱くすれば位相ズレ量ψ７１は小さくなっ
て行くが、この様にバネ性を弱くすると浮体７３は外乱
に対して極めて不安定になり、例えば浮体７３が回転軸
７４ａ回りに僅かにアンバランスであって、「カメラを
持直す」等の角変位検出装置に対し急激な重量変化が生
じると浮体７３は大きく変位し、ストッパ７１１に突当
り角変位検出機能を失ってしまう。そのため、析点をあ
まり低周波に移動出来ず、上記の如き位相ズレは避けら
れない問題であった。

【００４１】又、次の問題点として、図１４における発
光素子７８は不図示の防振システム作動スイッチ入力後
は常に点燈状態になるわけであるが、常時投光させてい
ると電池の消耗が極めて早く、それにより防振以外の機
能も使えなくなってしまう状態に陥る。しかし、電池の
消耗を防ぐ為に低電流で発光素子７８を点燈させると受
光素子７９の信号自体のＳ／Ｎが悪くなり、防振精度が
劣化してしまう問題もあった。

【００４２】次に、図３２の防振システムで用いた角加
速度計８１０ｐ，８１０ｙの構造及び動作原理について
説明する。

【００４３】図２１は上記角加速度計８１０ｐ，８１０
ｙとして用いられるサ−ボ角加速度センサの構造図を示
している。

【００４４】図２１において、７３８は外枠底部であり
、この外枠底部７３８と一体的に固着される支持部７３
９及びボ−ルベアリング等摩擦の少ない軸受７４０ａ，
７４０ｂによりシャフト７４１の両端が支持されていて
、該シャフト７４１によってコイル７４２ａ，７４２ｂ
を取付けられたシ−ソ７４３が揺動可能に支持されてい
る。

【００４５】上記コイル７４２ａ，７４２ｂ及びシ−ソ
７４３の上下には、これらと離隔されて蓋部としての磁
気回路板７４４ａ，７４４ｂと永久磁石７４５ａ１，７
４５ａ２，７４５ｂ１，７４５ｂ２が対向して配置され
ていて、磁気回路板７４４ａ，７４４ｂは上述の如く外
枠の蓋部も兼ねている。永久磁石７４５ａ１，７４５ａ
２，７４５ｂ１，７４５ｂ２は各々外枠底部７３８に固
定される磁気回路背板７４６ａ，７４６ｂ上に取付けら
れている。

【００４６】また、上記シ−ソ７４３のコイル７４２ａ
，７４２ｂの上部には厚み方向に貫通したスリット７４
７ａ，７４７ｂを形成するスリット板７４８ａ，７４８
ｂが設けられており、このスリット７４７ａの上方の外
枠の蓋部を兼ねる磁気回路板７４４ａにはＳＰＣ（Ｓｅ
ｐａｒａｔｅ　Ｐｈｏｔｏ　Ｄｉｏｄｅ）等の光電式の
変位検出器７４９が配置され、スリット７４７ａの下方
の磁気回路背板７４６ａ上には赤外発光ダイオ−ド等の
発光素子７５０が配置されている。

【００４７】以上の構成において、いま角加速度ａが図
２１の外枠に対して矢印７５１で示すように働いたとす
ると、シ−ソ７４３は相対的に角加速度ａと反対の方向
に傾き、この振れ角はスリット７４７ａを介する発光素
子７５０からのビ−ムの変位検出器７４９上の位置によ
り検出できる。ところで、上記永久磁石７４５ａ１，７
４５ｂ１からの磁束は、各々永久磁石７４５ａ１，７４
５ｂ１→コイル７４２ａ，７４２ｂ→磁気回路板７４４
ａ，７４４ｂ→コイル７４２ａ，７４２ｂ→永久磁石７
４５ａ２，７４５ｂ２に、他方永久磁石７４５ａ２，７
４５ｂ２からの磁束は、各々永久磁石７４５ａ２，７４
５ａ２→磁気回路背板４３７ａ，４３７ｂ→永久磁石７
４５ａ１，７４５ｂ１を通り、全体として閉磁気回路を
形成しており、コイル７４２ａ，７４２ｂに対し垂直な
方向の磁束を形成するようになっている。そしてコイル
７４２ａ，７４２ｂに制御電流を流すことにより、フレ
ミングの法則によって、シ−ソ７４３を上記角加速度ａ
の振れ方向に沿って両側に動かすことが出来るように設
けられている。

【００４８】図２２は上記構成のサ−ボ角加速度センサ
に用いられる角加速度検出回路の構成の一例を示したも
のである。この回路は、上記変位検出器７４９からの出
力を増幅する変位検出増幅器７５２と、このフィ−ドバ
ック回路を安定な回路系とするための補償回路７５３と
、上記変位検出増幅器７５２からの増幅された出力を更
に電流増幅してコイル７４２ａ，７４２ｂに通電する駆
動回路７５４と、コイル７４２ａ，７４２ｂとが直列的
に接続されて成っている。

【００４９】そして本例においては、上記コイル７４２
ａ，７４２ｂに通電がなされた場合は、外部角加速度ａ
によるシ−ソ７４３の振れ方向とは反対方向に力が発生
するよう該コイル７４２ａ，７４２ｂの巻線方向及び永
久磁石７４５ａ１，７４５ａ２，７４５ｂ１，７４５ｂ
２の極性が設定されている。

【００５０】以上の構成のサ−ボ角加速度センサの作動
原理を説明すると、いま上記構成の角加速度センサに外
部から図２２に示す様に角加速度ａが加わったとすると
、シ−ソ７４３は慣性力によって外枠に対して相対的に
反対回転方向に振れ、従ってシ−ソ７４３に設けられて
いるスリット７４７ａがＬ方向に移動する。このために
発光素子７５０から変位検出器７４９に入射する光束の
中心が変位し、変位検出器７４９から、その変位量に比
例した出力が発生する。

【００５１】その出力は上述の如く変位検出増幅器７５
２で増幅され、更に補償回路７５３を介して駆動回路７
５４により電流増幅され、コイル７４２ａ，７４２ｂに
通電される。

【００５２】以上のようにコイル７４２ａ，７４２ｂに
制御電流の通電があると、シ−ソ７４３には外部角加速
度ａのＬ方向とは逆の方向であるＲ方向への力が発生し
、変位検出器７４９に入射する光束が上記外部角加速度
ａの加わらない時の初期位置に戻るように制御電流が調
整して発生される。

【００５３】尚、この際コイル７４２ａ，７４２ｂを流
れる制御電流の値はシ−ソ７４３に加わる回転力に比例
しており、更にシ−ソ７４３に加わる回転力は該シ−ソ
７４３を原点に戻す力、つまり外部角加速度ａの大きさ
に比例しているから、抵抗７５５を通して電流を電圧Ｖ
として読取ることにより、例えばカメラの像振れ抑制シ
ステム等に必要な制御情報としての角加速度ａの大きさ
を求めることができる。

【００５４】図２３は前記図２２の角加速度検出回路を
より具体的に示した図である。

【００５５】図２３において、電流−電圧変換アンプ７
５６等は図２２の変位検出増幅器７５２に相当し、変位
検出器７４９からの光電流を電圧変換増幅して位置検出
を行う。コンデンサ７５９及び抵抗７５７，７５８は補
償回路７５３に相当し、駆動アンプ７６０等はコイル７
４２ａ，７４２ｂの駆動を行う駆動回路７５４に相当す
る。また、７４９，７５０は前述の変位検出器及び発光
素子である。

【００５６】以上が手振れ角加速度を検出するサ−ボ角
加速度センサの構成であるが、角変位検出装置で述べた
様な低周波の位相ズレ及び発光素子の消費電力が大きい
、もしくは消費電力を小さくするとＳ／Ｎが劣化する問
題は、同様に発生する。

【００５７】このことについて説明する。

【００５８】角加速度計を用いて手振れ角変位を検出す
る場合、その出力を２階積分する必要がある事を図３２
で述べた。

【００５９】図２４はこの時に必要な２階積分器の周波
数特性を示すボ−ド線図であり、この利得線図７５６で
分かる様に角加速度出力を（「０．２Ｈｚ」以上で）周
波数の２乗に比例して減衰（２階積分）させる特性にな
っている。その為、手振れ角加速度は手振れの帯域１〜
１０Ｈｚにおいて正確に振れ変位量を変換される。しか
し、振れ変位量は正確に変換されても実際の振れとの位
相については十分に一致していない。７５７は使用する
２階積分器の位相を示しており、位相が「１８０°」遅
れている点が正確に２階積分され、実際の手振れと位相
が一致している範囲である。しかし、この図から「０．
２Ｈｚ」では未だ位相は「９０°」しか遅れておらず、
２Ｈｚにおいても「１８０°」遅れになるにはψ７２（
約６°）足りない。その為、図２０で示した様な防振精
度の劣化が生じる。

【００６０】もちろん図２４の特性を「０．２Ｈｚ」以
上を積分する特性から「０．０５Ｈｚ」以上を積分する
特性に変更すれば、２Ｈｚにおける位相ズレはかなり改
善できるが、積分器の特性として積分出来る周波数を低
くする程電源オンから安定する迄の時間が必要となり、
例えば「０．０５Ｈｚ」以上を積分しようとすると、２
０秒程度待たないと積分出力は十分安定せず、これはカ
メラの様な民生機器においては許容できる時間ではない
。その為、この様な（「０．０５Ｈｚ」以上積分する）
積分器は使用出来ず、故に位相ズレによる防振精度劣化
は避けられない問題であった。

【００６１】又、サ−ボ角加速度センサも図２２で示し
た様に発光素子７５０と受光素子７４９で構成される光
学式位置検出手段を用いており、発光素子７５０には電
流を長時間流しておく必要があり、消費電力が大きくな
ってしまう。そして、この電流量を減らすと今度は受光
素子７４９のＳ／Ｎが劣化し、防振精度を劣化させてし
まう問題もある。

【００６２】位置検出手段として、例えばうず電流，磁
気方式を用いても同様に検出用電流を流し続ける必要が
あり、消費電力を小さくしようとすると、Ｓ／Ｎ劣化の
問題が生じるのは云う迄もない。

【００６３】図２５は上述した様な防振システムに好適
に用いられる補正光学機構（補正光学手段及びそれを駆
動する駆動手段する回路より成る）の構成を示す図であ
り、補正レンズ７５８は光軸と直交する互いに直角な２
方向（ピッチ方向８１ｐとヨ−方向８１ｙ）に自在に駆
動可能である。以下にその構成を示す。

【００６４】図２５において、補正レンズ７５８を保持
する固定枠７５９は、ポリアセタ−ル樹脂（以下ＰＯＭ
と記す）等のすべり軸受７６０ｐを介してピッチスライ
ド軸７６１ｐ上を摺動出来る様になっている。又、固定
枠７５９はピッチスライド軸７６１ｐと同軸のピッチコ
イルバネ７６３ｐに挟まれており、中立位置付近に保持
される。ピッチスライド軸７６１ｐは第１の保持枠７６
２に取付けられている。

【００６５】固定枠７５９に取付けられたピッチコイル
７６４ｐはピッチマグネット７６５ｐとピッチヨ−ク７
６６ｐで構成される磁気回路中に置かれており、電流を
流すことで前記固定枠７５９がピッチ方向８１ｐに駆動
されることになる。又、ピッチコイル７６４ｐにはピッ
チスリット７６７ｐが設けられており、発光素子７６８
ｐ（赤外発光ダイオ−ド）と受光素子７６９ｐ（半導体
位置検出素子）の関連により、固定枠７５９のピッチ方
向８１ｐの位置検出を行う。

【００６６】第１の保持枠７６２にはＰＯＭ等のすべり
軸受７６０ｙが嵌合されており、ヨ−スライド軸７６１
ｙが取付けられたハウジング７７０上を摺動出来る。そ
してハウジング７７０は図３１等に示したレンズ鏡筒８
２に取付けられる為、第１の保持枠７６２はレンズ鏡筒
８２に対しヨ−方向８１ｙに移動可能となる。又、ヨ−
スライド軸７６１ｙと同軸にヨ−コイルバネ７６３ｙが
設けられており、固定枠７５９と同様中立位置付近に保
持される。

【００６７】又、上記固定枠７５９にはヨ−コイル７６
４ｙが設けられており、ヨ−コイル７６４ｙを挟むヨ−
マグネット７６５ｙとヨ−ヨ−ク７６６ｙの関連で固定
枠７５９はヨ−方向８１ｙにも駆動される。上記ヨ−コ
イル７６４ｙにはヨ−スリット７６７ｙが設けられてお
り、ピッチ方向と同様固定枠７５９のヨ−方向８１ｙの
位置検出を行う。

【００６８】図２５において、受光素子７６９ｐ，７６
９ｙの出力を増幅器７７１ｐ，７７１ｙで増幅して図示
の様な各回路（後述）を介してコイル（ピッチコイル７
６４ｐ，ヨ−コイル７６４ｙ）に入力すると、固定枠７
５９が駆動されて受光素子７６９ｐ，７６９ｙの出力が
変化する。ここでコイル７６４ｐ，７６４ｙの駆動方向
（極性）を受光素子７６９ｐ，７６９ｙ出力が小さくな
る方向にすると、閉じた系（閉ル−プ）が形成され、受
光素子７６９ｐ，７６９ｙの出力がほぼゼロになる点で
安定する。

【００６９】なお、補償回路７７２ｐ，７７２ｙは図２
５の系をより安定化させる回路であり、加算回路８０１
ｐ，８０１ｙは増幅器７７１ｐ，７７１ｙと入力される
指令信号７７４ｐ，７７４ｙを加算する回路であり、駆
動回路７７３ｐ，７７３ｙはコイル７６４ｐ，７６４ｙ
の印加電流を補う回路である。

【００７０】上記の様な系に外部から指令信号７７４ｐ
，７７４ｙを与えると、補正レンズ７５８はピッチ方向
８１ｐとヨ−方向８１ｙに該指令信号７７４ｐ，７７４
ｙに極めて忠実に駆動される。そして、この指令信号７
７４ｐ，７７４ｙとして前述したような振動検出手段の
出力を入力すると、防振作用が実現できる。

【００７１】図２６は補正光学手段を駆動する駆動手段
をより詳細に示した図であり、ここではピッチ方向８１
ｐについてのみ説明する。

【００７２】電流−電圧変換アンプ７７５ａ，７７５ｂ
は発光素子７６８ｐにより受光素子７６９ｐ（抵抗Ｒ１
，Ｒ２より成る）に生じる光電流を電圧に変換し、差動
アンプ７７６は各電流−電圧変換アンプ７７５ａ，７７
５ｂの差を求めるものであり、この差信号が補正レンズ
７５８のピッチ方向８１ｐの位置を表す。以上、電流−
電圧変換アンプ７７５ａ，７７５ｂ，差動アンプ７７６
及び抵抗Ｒ３〜Ｒ１０にて図２５の増幅器７７１ｐを構
成している。

【００７３】アンプ７７７は指令信号７７４ｐを、前記
差動アンプ７７６の差信号に加算するもので、抵抗Ｒ１
１〜Ｒ１４とで図２５の加算回路８０１ｐを構成してい
る。

【００７４】抵抗Ｒ１５，Ｒ１６及びコンデンサＣ１は
公知の位相進み回路であり、これが図２５の補償回路７
７２ｐに相当し、系を安定化させている。

【００７５】前記加算回路８０１ｐの出力は補償回路７
７２ｐを介して駆動アンプ７７８へ入力し、ここでコイ
ル７６４ｐの駆動信号が生成され、補正レンズ７５８が
変位する。該駆動アンプ７７８、抵抗Ｒ１７及びトラン
ジスタＴＲ１，ＴＲ２にて図２５の駆動回路７７３ｐを
構成している。

【００７６】加算アンプ７８２は電流−電圧変換アンプ
７７５ａ，７７５ｂの出力の和（受光素子７６９ｐの受
光量総和）を求め、この信号を受ける駆動アンプ７８３
はこれにしたがって発光素子７６８ｐを駆動する。以上
、加算アンプ７８２，駆動アンプ７８３、抵抗Ｒ１８〜
Ｒ２２及びコンデンサＣ２により発光素子７６８ｐの駆
動回路を構成している（図２５では不図示）。

【００７７】上記の発光素子７６８ｐは温度等に極めて
不安定にその投光量が変化し、それに伴い差動アンプ７
７６の位置感度が変化するが、上記の様に受光量総和一
定となる様に前述の駆動回路によって発光素子７６８ｐ
を制御すれば、位置感度が変化する事は無い。

【００７８】図２７は補正光学手段の周波数特性を示し
ており、利得７８４はＤＣから２０Ｈｚ程度迄フラット
であり、振動検出手段からの出力の振幅を正確に再現し
、また位相も手振れ量の大きい１〜３Ｈｚではほぼズレ
が無く防振精度は高い。

【００７９】しかし、この様な補正光学手段においても
問題点があり、その事について説明する。

【００８０】補正レンズ７５８は図２５の矢印ｇで示す
様に重力が加わる。そして前述した様に電源を投入する
と補正光学手段は位置制御の為、受光素子７６９ｐの出
力がほぼゼロ（中立付近）で補正レンズ７５８は安定す
る。電源オフ時は補正レンズ７５８は重力とピッチコイ
ルバネ７６３ｐのバネ力の釣合う点で安定していたのが
電源オンでは中立安定となる為、重力に逆らって補正レ
ンズ７５８を保持し続けている力（重力が補正レンズ７
５８に加える力とピッチコイルバネ７６３ｐの反力の差
）はピッチコイル７６４ｐが負担しており、その為に要
する電流は大きく消電力化が望まれる。又、カメラの構
え方は縦位置もあるため重力は図２５の矢印ｇの方向だ
けではなく、ヨ−コイル７６４ｙに大電流を流し続ける
場合もある。

【００８１】この様な重力による消費電力の増加を防ぐ
方法として、図２８で示す制御方式が考えられている。

【００８２】図２８と図２５の異なる点は、駆動回路７
７３ｐ，７７３ｙとピッチコイル７６４ｐ，ヨ−コイル
７６４ｙ間に直列に低域除去フィルタ７８６ｐ，７８６
ｙが入っている事である。その為、重力等のＤＣ入力に
対しては低域除去フィルタ７８６ｐ，７８６ｙが除去す
る為、ピッチ，ヨ−コイル７６４ｐ，７６４ｙには電流
は流れず、省電力化が可能である。

【００８３】そして、低域除去フィルム７８６ｐ，７８
６ｙの時定数と位置制御ル−プゲインを適宜設定すると
、図２９で示す周波数特性が得られ、利得７８７は手振
れ帯域１〜１０Ｈｚでフラットになる。しかし、低域除
去フィルタ７８６ｐ，７８６ｙが入っている為、低周波
になると出力が減衰しており、特に位相７８８は２Ｈｚ
近辺でもψ７３だけズレるため、その分防振精度が劣化
してしまう。つまり、省電力化を図ると防振精度が劣化
してしまう。

【００８４】又、角変位検出装置、角加速度計でも述べ
た様に、補正光学手段においても発光素子７６８ｐ，７
６８ｙを用いている為、発光素子７６８ｐ，７６８ｙに
常に電流を流す必要が有り、省電力化の為に投光電流を
減らすと今度は受光素子７６９ｐ，７６９ｙのＳ／Ｎが
劣化してしまい、防振精度が低くなる。

【００８５】重力による消費電力を小さくする方法とし
て、図２８とは別に位置制御ル−プゲインを低くする方
法がある。

【００８６】位置制御ル−プゲインを高くすればする程
、図２５の例では補正レンズ７５８は中立点で精度よく
安定し、位置制御ル−プゲインを低くしてゆくと補正レ
ンズ７５８の安定点は重力方向に下がって来る。これは
重力が補正レンズ７５８に加える力とコイルバネ７６３
ｐ，７６３ｙの反力の差が小さくなる事を示しており、
重力に対してコイル７６４ｐ，７６４ｙに流す電流が減
り、省電力化が図れる。ところが公知の様に位置制御ル
−プゲインはそのまま駆動精度を示す値となり、例えば
位置制御ル−プゲインが４０［ｄＢ］（１００倍）なら
ば駆動誤差は［１／１００］になる。しかし省電力の為
の位置制御ル−プゲインを下げるとその分駆動精度は劣
化して、防振精度の劣化となってしまう。

【００８７】次に、別種の補正光学手段について説明す
る。

【００８８】図３０は可変頂角プリズムを用いた前記補
正光学手段の構造図である。

【００８９】図３０において、７８９は屈折率の高い、
例えばシリコン系の液体であり、２枚の平面ガラス７９
０ｐ，７９０ｙとポリエチレンフィルム７９１により気
泡なく封じられている。平面ガラス７９０ｐはピッチ保
持枠７９２ｐで保持され、又、このピッチ保持枠７９２
ｐはピッチ軸８１ｐ’回りに回転可能に軸止されている
。平面ガラス７９０ｙはヨ−保持枠７９２ｙで保持され
、ヨ−保持枠７９２ｙはヨ−軸８１ｙ’回りに軸止され
ている。

【００９０】ピッチ，ヨ−保持枠７９２ｐ，７９２ｙに
は各々ピッチコイル７９３ｐ，ヨ−コイル７９３ｙが設
けられており、これらコイルは固定されたピッチ，ヨ−
マグネット７９４ｐ，７９４ｙ、ピッチ，ヨ−ヨ−ク７
９５ｐ，７９５ｙで形成される閉磁路中に置かれる為、
ピッチ，ヨ−コイル７９３ｐ，７９３ｙに各々電流を流
す事で、ピッチ，ヨ−保持枠７９２ｐ，７９２ｙは各々
ピッチ，ヨ−軸回りに回転駆動される。

【００９１】又、ピッチ，ヨ−保持枠７９２ｐ，７９２
ｙの腕７９６ｐ，７９６ｙには各々変位検出受光素子７
９７ｐ，７９７ｙが取付けられており、これらは固定さ
れた赤外発光素子７９８ｐ，７９８ｙから孔７９９ｐ，
７９９ｙを通して照射される絞られた光線により、各々
ピッチ軸８１ｐ’、ヨ−軸８１ｙ’回りの回転検出を行
う。この変位検出受光素子７９７ｐ，７９７ｙとピッチ
，ヨ−コイル７９３ｐ，７９３ｙの間にも公知の位置制
御が行われており、これについてはスライド式の補正光
学手段で述べた為、説明は省く。

【００９２】以上の様な構成において、ピッチ保持枠７
９２ｐがピッチ軸回りに回転し、平面ガラス７９０ｐが
ピッチ軸８１ｐ’回りに傾くと、屈折率の高い液体７８
９内を通る光線は矢印８１ｐの方向に偏心させられ、又
、ヨ−保持枠７９２ｙがヨ−軸回りに回転し、平面ガラ
ス７９０ｙがヨ−軸８１ｙ’回りに傾くと、光線は矢印
８１ｙの方向に偏心させられる。そして、前述した様に
この様な可変頂角プリズムより成る補正光学手段の最大
の特徴は、光軸方向の該補正光学手段の前後がどの様な
光学系であっても光軸の偏心が可能な事であり、例えば
どの様なレンズの前面に取付けても光軸の補正が可能な
事である。

【００９３】しかし、このような可変頂角プリズムにお
いても重力が加わると、液体７８９はその方向に集まる
ため、平面ガラス７９０ｐ，７９０ｙは平行でなく、“
ハの字”になってしまう。そして、これを平行に保持す
る（位置制御の為、電源オンで自動的に平行になる）為
にはコイル７９３ｐ，７９３ｙに電流を流す為、消費電
流が大きく、又省電力化の為には前述したスライド式の
補正光学手段と同様な方法で可能であるが、当然同様な
防振精度の劣化が生じてしまう。

【００９４】本発明の目的は上記の点に鑑み、省電力化
を達成すると共に、防振精度を向上させることのできる
防振機能付カメラを提供することである。

【００９５】

【課題を解決するための手段】本発明は、撮影構図決め
を行っている第１の期間とフィルムへ露光を行っている
第２の期間で、振動検出手段の防振出力とレンズ鏡筒に
加わる振動の位相を変化させる位相調整手段を設け、以
て、短時間であれば防振機能に悪影響（外乱の影響を受
けやすい、防振機能が正常に働くまでに時間を要する）
を殆ど与えることがないことから、フィルムへ露光を行
っている第２の期間のみ、防振精度を向上させる為に振
動検出手段の防振出力とレンズ鏡筒に加わる振動の位相
を一致させるようにしている。

【００９６】また、撮影構図決めを行っている第１の期
間とフィルムへ露光を行っている第２の期間で、補正光
学手段の位置制御ル−プゲインを変更させるル−プゲイ
ン変更手段を設け、以て、撮影構図決めを行っている長
時間である第１の期間は防振精度がそれ程要求され無い
ことから、この間は補正光学手段の駆動電流を低減させ
る為に位置制御ル−プゲインを小さくし、フィルムへ露
光を行っている第２の期間のみ、短時間であることから
駆動電流の低減よりも防振精度に重きを置いて位置制御
ル−プゲインを大きくするようにしている。

【００９７】また、撮影構図決めを行っている第１の期
間とフィルムへ露光を行っている第２の期間で、補正光
学手段と振動検出手段の内の少なくともいずれか一方に
具備された位置検出手段に供給する電流を変更させる供
給電流変更手段を設け、以て、撮影構図決めを行ってい
る長時間である第１の期間は防振精度がそれ程要求され
無いことから、この間は位置検出手段での消費電流を低
減する為に該位置検出手段へ供給する電流を小さくし、
フィルムへ露光を行っている第２の期間のみ、短時間で
あることから、消費電流の低減よりも防振精度に重きを
置いて該位置検出手段へ供給する電流を大きくするよう
にしている。

【００９８】

【実施例】以下、本発明を図示の実施例に基づいて詳細
に説明する。

【００９９】図１は振動検出手段として角変位検出装置
を用いた場合における本発明の第１の実施例を示すもの
であり、前記図１４に示した角変位検出装置と異なるの
は、速度制御ル−プのゲイン（回路７３３の出力）をレ
リ−ズ中（レリ−ズボタンを押込むことでオンするスイ
ッチ１１（以下ＳＷ２と記す）がオンされた時に変更出
来る点にある。

【０１００】ここで、速度制御ル−プゲインを変更する
と言う事は、系の減衰特性を変化させる事であり、被写
体を狙っている時は減衰を強くし、露光中（スイッチＳ
Ｗ２がオンされた時）は減衰を弱くし、更に露光完了信
号（シャッタ走行完信号等）で減衰を強くする。

【０１０１】図２は以上の操作による周波数特性の変化
を示しており、利得７３４Ｇは被写体を狙っている時は
従来通りの特性であり、位相７３４ｐも２Ｈｚでψ７１
だけズレているが、露光中（スイッチＳＷ２がオンされ
た時）は利得は１２Ｇ（破線）で示される様に減衰の弱
い特性（析点において利得１２Ｇがピ−クを示す）にな
るが、位相１２ｐ（破線）は析点付近で急激に変化する
為、２Ｈｚ近辺での位相のズレ量ψ１１は極めて小さく
なり、故に防振精度は極めて高くなる。

【０１０２】なお、被写体を狙っている時も１２Ｇ，１
２ｐで示される減衰の弱い特性にすると、図３で示す問
題が生じてしまう。

【０１０３】図３において、１３で示す低周波の繰返し
の手振れを角変位検出装置で検出すると、その出力は１
４で示す様に時間とともに増加して実際の手振れ量以上
の出力をしてしまう。これは図２の利得１２Ｇの析点付
近のピ−クの為であり、実際の手振れ周波数がこの析点
周波数に近いほど大出力をしてしまい、防振精度を劣化
させてしまう。

【０１０４】しかし、図３において手振れ検出の始めの
方（矢印１５）は未だ析点ピ−クの影響は現れていない
。その為、減衰を弱くしてから短い間であるけれど位相
ズレが少なく、且つ析点ピ−クの影響の無い期間がある
。本実施例ではそれを利用し、露光中の短秒時のみ減衰
を弱くして防振精度を高くする事が出来た。

【０１０５】図４はこの実施例における効果を説明する
ための図であり、実際の手振れ１６に対し従来通り減衰
特性を変更させない場合の角変位検出装置の出力を１７
で示している。そして、防振後の残存振れ（実際の手振
れ１６と角変位検出装置の出力１７の差）は１８で示す
様になり、露光中（１９の期間）のフィルム面上の残存
振れ量は４５μｍ（１／８秒，２００ｍｍ望遠レンズ使
用時）で、防振システムを働かせない場合の２５２μｍ
に対し約１／５になっている。

【０１０６】又、常に（被写体を狙っている時も、露光
中も）減衰特性を弱くした場合の角変位検出装置の出力
１１０に対する残存振れ１１１は図３で示した程析点ピ
−クの影響が未だ現れておらず、露光中（１９の期間）
の振れ量は２０μｍに減っている。しかし、低周波振れ
を多く生じる撮影者の場合は残存振れに析点ピ−クの影
響が著しく現れ、像劣化が大きくなる。

【０１０７】そして、本実施例の様に被写体を狙ってい
る時は減衰を強く、露光中の減衰は弱くした場合の角変
位検出装置の出力１１２及び残存振れ１１３に対して露
光中の振れ量は１５μｍとなり、残存振れ１７に対し１
／３に、防振システムを作動させない場合の約１／１７
に出来る。そして実際に本装置を実施した場合、従来の
防振システムで撮影した写真の中で７割位が更に振れ量
を４０％減らす事が出来た。

【０１０８】ここで、図３で示した様に時間経過ととも
に析点ピ−クの影響が現れて来る為、長秒時露光（１秒
，２秒…）において本実施例を適用すると、逆に防振精
度を劣化させてしまう為、長秒時露光時には減衰特性を
変化させない様な制御にする必要がある。

【０１０９】以上説明したシステムにおいて、減衰特性
を速度制御ル−プゲインで調整したが、これに限定され
るものではなく、例えば角変位検出装置の液体７１２内
に流れを変化させる突起を被写体を狙っている時と露光
中で出入させて減衰を変化させても良い。

【０１１０】また、振動検出手段として角加速度計及び
積分器を用いた場合は、積分器の減衰特性を変化させる
事で適用出来る。２階積分器の回路及びその減衰特性の
調整は公知な為に説明は省き、以下この例におけるポイ
ント部分である被写体を狙っている時と露光中に特性を
変化させる事のみ述べる。

【０１１１】図５の実線は前記図２４で述べた積分器の
利得７５６と位相７５７であり、被写体を狙っている時
はこの特性を用いる。そして露光中は破線で示した利得
２１と位相２２に変化させ、位相ズレψ７２をψ７１と
小さくして防振精度を高める事が出来る。

【０１１２】図６は振動検出手段として角変位検出装置
を用いた場合における本発明の第２の実施例を示すもの
であり、図１と異なるのは、スイッチＳＷ２のオン信号
でスイッチ３１が高域除去フィルタ（ロ−パスフィルタ
）３２と回路ブロック７３０を接続し、高域除去フィル
タ３２の出力を基に補正光学手段を駆動させている点に
ある。

【０１１３】すなわち、被写体を狙っている間は増幅回
路７３０の出力で補正光学系を駆動し、露光中は高域除
去フィルタ３２を介する出力により補正光学系を駆動す
る。

【０１１４】図７はその周波数特性を示しており、露光
中は角変位検出装置の特性（利得３２Ｇ，位相３２ｐ）
に、２０Ｈｚに析点のある一次の高域除去フィルタ３２
の特性が加わり、破線で示す様に利得３４Ｇは高域で出
力を減衰させ、高域での防振精度を劣化させるが、手振
れ量が大きく且つ頻繁に生じる２Ｈｚ近辺の手振れに対
する位相ズレψ３１はゼロになっており、高域除去フィ
ルタ３２を加える前の位相ズレψ７１が無くなっている
。

【０１１５】その為、この周波数付近での防振精度は極
めて高くなっている。もちろん高域での防振精度は落ち
てしまっている為、幾分像振れは残るが、高域では手振
れ量自身が非常に小さい為、高域での精度劣化に比べ２
Ｈｚ近辺での精度改善の度合いが大きく、ト−タルでは
防振精度の向上につながる。

【０１１６】被写体を狙っている時に高域除去フィルタ
３２を接続しないのは、高域での細かい振れは量が小さ
くてもかなり目ざわりであり、この高域振れを防振する
事が撮影者がファインダを通して被写体を見ている時に
強く防振効果を感じる事が出来るからである。

【０１１７】この第２の実施例では、位相ズレψ７１を
補正する為に高域除去フィルタ３２を使用したが、これ
に限定されるものではなく、例えば公知の位相回路を用
いて位相ズレを補正しても良いのは言うまでもない。

【０１１８】図８はスライド式の補正光学手段を用いた
場合における本発明の第３の実施例を示すものであり、
図２８の補正光学手段に比べてスイッチＳＷ２のオン信
号でスイッチ４１ｐ，４１ｙが低域除去フィルタ７８６
ｐ，７８６ｙの接続を入，切する点が異なる。

【０１１９】図８において、被写体を狙っている間はス
イッチ４１ｐ，４１ｙは低域除去フィルタ７８６ｐ，７
８６ｙを接続し、露光中は低域除去フィルタ７８６ｐ，
７８６ｙを介さない様に設定されている。

【０１２０】その為、被写体を狙っている長時間は低域
除去フィルタ７８６ｐ，７８６ｙにより補正レンズ７５
８を重力に抗して支える為のコイル電流をカット出来、
省電力となり、露光中は図９の実線で示す周波数特性（
利得７８４，位相７８５）になり、被写体を狙っている
時の破線で示す特性（利得７８７，位相７８８）で生じ
る低周波の位相ズレψ７３がψ４１の様に極めて小さく
なり、防振精度を向上させる。もちろん露光中は低域除
去フィルタ７８６ｐ，７８６ｙを介さない為、補正レン
ズ７５８を重力に抗して支える為にコイルに大電流を流
す必要があるが、露光という短秒時な間なので電力の消
耗は大きくない。

【０１２１】尚、図８の例において、単にスイッチ４１
ｐで特性切換を行うと、その前後で補正レンズ７５８の
駆動中心がステップ状に変化してしまい、不快であるば
かりでなく正確な構図決めが行われない。これは、被写
体を狙っている時は低域除去フィルタ７８６ｐ，７８６
ｙが入っている為、補正レンズ７５８は重力が該補正レ
ンズ７５８に加える力とコイルバネ７６３ｐ，７６３ｙ
のバネ力と釣合う点を中心として駆動が行われるが、露
光中は低域除去フィルタ７８６ｐ，７８６ｙが入ってい
ない為、受光素子７６９，７６９ｙの出力のゼロ点を中
心に駆動される為にフレ−ミングがズレてしまう為であ
る。

【０１２２】そこで、増幅器７７１ｐ，７７１ｙをサン
プルホ−ルド回路４２ｐ，４２ｙ及び差動増幅器４３ｐ
，４３ｙを介し、スイッチ４４ｐ，４４ｙで切換えて（
スイッチＳＷ２のオン信号により）が加算回路８０１ｐ
，８０１ｙを介して補償回路７７２ｐ，７７２ｙに入力
している。

【０１２３】ここで、サンプルホ−ルド回路４２ｐ，４
２ｙは通常（被写体を狙っている時）はサンプル状態で
、その出力を差動増幅器４３ｐ，４３ｙに送っており、
差動増幅器４１ｐ，４１ｙの増幅器７７１ｐ，７７１ｙ
からの差出力（同じ出力同士の引き算故に）は常にゼロ
を示す。又、この時スイッチ４４ｐは増幅器７７１ｐ，
７７１ｙの出力を加算回路８０１ｐ，８０１ｙを介して
直接補償回路７７２ｐ，７７２ｙに接続しており、更に
スイッチ４１ｐ，４１ｙは低域除去フィルタ７８６ｐ，
７８６ｙを接続して駆動しており、補正レンズ７５８の
駆動中心は補正レンズ７５８の自重とコイルバネ７６３
ｐ，７６３ｙのバネ力の釣合った点である。そして露光
を開始すると、サンプルホ−ルド回路４２ｐ，４２ｙは
スイッチＳＷ２のオンでホ−ルド状態になり、差動増幅
器４３ｐ，４３ｙの出力はスイッチＳＷ２のオン直前の
出力をゼロとして出力を始める。つまり受光器７６９ｐ
，７６９ｙの出力ゼロ点は補正レンズ７５８の自重とコ
イルバネ７６３ｐ，７６３ｙのバネ力の釣合い点になる
。スイッチＳＷ２は又スイッチ４４ｐを差動増幅器出力
４３ｐ，４３ｙと補償回路７７２ｐ，７７２ｙを接続さ
せ、スイッチ４１ｐ，４１ｙは低域除去フィルタ７８６
ｐ，７８６ｙを介さない様に接続する。

【０１２４】以上の様に構成すると、被写体を狙ってい
る間は低域除去フィルタ７８６ｐ，７８６ｙの作用の為
に省電力化を図れ、露光をはじめるとサンプルホ−ルド
回路４２ｐ，４２ｙ及び差動増幅器４３ｐ，４３ｙによ
りフレ−ミングの変更なく低域除去フィルタ７８６ｐ，
７８６ｙの無い状態に変更され、位相ズレの少ない防振
精度除去フィルタの無い状態に変更され、位相ズレの少
ない防振精度の高い撮影が可能になる。

【０１２５】以上の構成は可変頂角プリズムを用いた補
正光学手段においても同様であり、図１０（制御回路は
ピッチ方向８１ｐのみ記載）に示す様に、図８と同様の
構成で同じ効果が実現出来る。

【０１２６】以上説明したのは、被写体を狙っている間
と露光中で防振システムの位相特性を変化させて防振精
度の劣化を防いだ例であるが、防振精度の劣化は位相ズ
レに限らず振動検出手段、補正光学手段内にある位置検
出センサのＳ／Ｎやその制御ル−プゲインの不足からも
生じる。そして「発明が解決しようとしている課題」で
述べた様に、省電力化の為に位置センサ駆動電流を減ら
したり、位置制御ル−プゲインを小さくすると、防振精
度は劣化してしまう。

【０１２７】図１１乃至図１３はそれらを解決しようと
した例であるが、図１１において、角変位検出装置の投
光素子７８の駆動電流は駆動回路５１で決められており
、被写体を狙っている時は極めて少ない電流で駆動され
ている。その為、消費電力はごく僅かであるが、受光素
子７９が受け取る浮体７３と外筒７２間の相対位置信号
のＳ／Ｎは悪くなる。しかし、ファインダを通して撮影
者が防振効果を観察する程度ではこのＳ／Ｎ劣化は殆ど
感じられない。そして、撮影の為にスイッチＳＷ２がオ
ンされると、そのオン信号が駆動回路５１に入力され、
投光素子７８の駆動電流を増す。その為、相対位置信号
のＳ／Ｎは良くなり、防振精度は劣化せず像振れの無い
良好な写真を得る事が出来る。尚、単に投光素子７８の
駆動電流を増加させると受光素子７９が受取る相対位置
信号の感度が変化してしまう。そこで可変増幅器５２が
スイッチＳＷ２のオン信号を受けて相対位置信号の感度
を調整して被写体を狙っている時と露光中で感度が変化
しない構成にしている。

【０１２８】以上の方法は角変位検出装置に限らず、図
１２に示す補正光学手段においても適用出来る。

【０１２９】図１２においても、投光素子７６８ｐ，７
６８ｙの駆動電流は投光駆動回路５４ｐ，５４ｙで決定
されており、この電流量がスイッチＳＷ２のオン信号で
増加し、且つこの時増幅器７７１ｐ，７７１ｙの増幅感
度も調整して、被写体を狙っている間と露光中で感度が
変化しないようにしている。

【０１３０】角変位検出装置や補正光学手段のこれらの
方法は被写体を狙っている長秒時間の電池の消耗を防ぎ
、且つ露光中の防振精度は劣化させない極めて有効な方
法である。

【０１３１】なお、角変位検出装置、補正光学手段とも
投光、受光構成の光学位置検出手段を示しているが、例
えばホ−ル素子等を用いた磁気式位置検出手段において
も、その駆動電流を露光前後で変化させて同様の効果を
得られるのは云うまでもない。

【０１３２】図１３は被写体を狙っている間と露光中で
補正光学手段の位置制御ル−プゲインを変更する例であ
り、スイッチＳＷ２のオン信号で可変増幅器６１ｐ，６
１ｙの増幅感度が変更され、露光中は位置制御ル−プゲ
インが大きくなる様に設定される。

【０１３３】この様に構成すると、被写体を狙っている
間は位置制御ル−プゲインが小さい為、前述した様に補
正レンズ７５８はその自重を殆どコイルバネ７６３ｐ，
７６３ｙのバネ力で支えており、中立位置に保持する為
のコイル７６４ｐ，７６４ｙに流す電流が少なく省電力
に出来る。しかし，もちろん位置制御ル−プゲインが小
さい為，補正光学手段の駆動には誤差が多く重畳し、防
振精度を劣化させるが、撮影者がファインダで防振効果
を観察する程度では問題のないレベルである。そして，
露光中は位置制御ル−プゲインを大きくして補正光学手
段の駆動誤差を小さくし，防振精度を劣化させない。こ
の時には補正レンズ７５８を中立保持する為にコイル７
６４ｐ，７６４ｙに電流を多く流す必要があるが、露光
と云う短期間な為、電池の消耗は殆ど問題とならない。

【０１３４】以上の様な構成にすれば、省電力且つ防振
精度の劣化しない補正光学手段を実現出来る。

【０１３５】以上の各実施例によれば、被写体を狙って
いる長秒時間と実際に精度の高い防振の必要な露光中（
短秒時）で、角変位検出装置或は角加速度計より成る振
動検出手段の位相特性や補正光学手段内の位置検出セン
サの特性を変化させるようにしているため、省電力且つ
手振れの無い写真撮影を可能とするカメラを実現出来る
。

【０１３６】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
短時間であれば防振機能に悪影響を殆ど与えることがな
いことから、フィルムへ露光を行っている第２の期間の
み、防振精度を向上させる為に振動検出手段の防振出力
とレンズ鏡筒に加わる振動の位相を一致させるようにし
ている。

【０１３７】また、撮影構図決めを行っている長時間で
ある第１の期間は防振精度がそれ程要求され無いことか
ら、この間は補正光学手段の駆動電流を低減させる為に
位置制御ル−プゲインを小さくし、フィルムへ露光を行
っている第２の期間のみ、短時間であることから駆動電
流の低減よりも防振精度に重きを置いて位置制御ル−プ
ゲインを大きくするようにしている。

【０１３８】また、撮影構図決めを行っている長時間で
ある第１の期間は防振精度がそれ程要求され無いことか
ら、この間は位置検出手段での消費電流を低減する為に
該位置検出手段へ供給する電流を小さくし、フィルムへ
露光を行っている第２の期間のみ、短時間であることか
ら、消費電流の低減よりも防振精度に重きを置いて該位
置検出手段へ供給する電流を大きくするようにしている
。

【０１３９】よって、省電力化を達成することができ、
しかも防振精度を向上させることが可能となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施例における振動検出手段と
しての角変位検出装置及びその主要部分の回路ブロック
を示す構成図である。

【図２】図１の角変位検出装置の特性について説明する
ための図である。

【図３】図２の特性を詳述するための図である。

【図４】本発明の第１の実施例における効果について説
明するためのズである。

【図５】本発明の第１の実施例の振動検出手段として角
加速度計を用いた場合の特性について説明するための図
である。

【図６】本発明の第２の実施例における振動検出手段と
しての角変位検出装置及びその主要部分の回路ブロック
を示す構成図である。

【図７】図６の角変位検出装置の特性について説明する
ための図である。

【図８】本発明の第３の実施例におけるスライド式の補
正光学手段及びその駆動手段の回路ブロックを示す構成
図である。

【図９】図８の補正光学機構の特性について説明するた
めの図である。

【図１０】本発明の第３の実施例における可変頂角プリ
ズムより成る補正光学手段及びその駆動手段の回路ブロ
ックを示す構成図である。

【図１１】本発明の第４の実施例における振動検出手段
としての角変位検出装置及びその主要部分の回路ブロッ
クを示す構成図である。

【図１２】本発明の第４の実施例におけるスライド式の
補正光学手段及びその駆動手段の回路ブロックを示す構
成図である。

【図１３】本発明の第５の実施例におけるスライド式の
補正光学手段及びその駆動手段の回路ブロックを示す構
成図である。

【図１４】従来の装置における振動検出手段としての角
変位検出装置及びその主要部分の回路ブロックを示す構
成図である。

【図１５】図１４のＡ−Ａ断面図である。

【図１６】図１４の角変位検出装置の斜視図である。

【図１７】図１４のＢ−Ｂ断面図である。

【図１８】図１４の各回路の具体的な構成を示す回路図
である。

【図１９】図１４の角変位検出装置の特性を示す図であ
る。

【図２０】図１４の角変位検出装置の防振劣化について
説明するための図である。

【図２１】従来の装置における振動検出手段としての角
加速度計の構造を示す分解斜視図である。

【図２２】図２１の角加速度計の角加速度検出回路を示
すブロック図である。

【図２３】図２２の各回路の具体的な構成を示す回路図
である。

【図２４】図２１の角加速度計の特性について説明する
ための図である。

【図２５】従来の装置におけるスライド式の第１の補正
光学手段及びその駆動手段を示す構成図である。

【図２６】図２５の各回路の具体的な構成を示す回路図
である。

【図２７】図２５の補正光学機構の特性について説明す
るための図である。

【図２８】従来の装置におけるスライド式の第２の補正
光学手段及びその駆動手段を示す構成図である。

【図２９】図２８の補正光学機構の特性について説明す
るための図である。

【図３０】従来の装置における可変頂プリズムによる補
正光学手段の構成を示す斜視図である。

【図３１】防振検出手段として角変位検出装置を用いて
成る従来のカメラの防振装置を示す斜視図である。

【図３２】防振検出手段として角加速度計を用いて成る
従来のカメラの防振装置を示す斜視図である。

【符合の説明】

１１ｐ，１１ｙ　　　　スイッチ ３２ｐ，３２ｙ　　　　高域除去フィルタ４１ｐ，４１
ｙ　　　　スイッチ ４２ｐ，４２ｙ　　　　サンプルホ−ルド回路４３ｐ，
４３ｙ　　　　差動増幅器 ４４ｐ，４４ｙ　　　　スイッチ ５１ｐ，５１ｙ　　　　投光駆動回路 ５２ｐ，５２ｙ　　　　可変増幅器 ５４ｐ，５４ｙ　　　　投光駆動回路 ６１ｐ，６１ｙ　　　　可変増幅器 ７８　　　　　　　　　　　　　　発光素子７９　　　
　　　　　　　　　　　受光素子７３０　　　　　　　
　　　　　増幅回路７３２，７３３　　　　増幅度を示
す回路７６８ｐ，７６８ｙ　　発光素子 ７６９ｐ，７６９ｙ　　受光素子 ７９７ｐ，７９７ｙ　　受光素子 ７９８ｐ，７９８ｙ　　発光素子

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】　　レンズ群を保持するレンズ鏡筒部に具
   備され、前記レンズ群の光軸を偏心させる補正光学手段
   と、前記レンズ鏡筒に加わる振動を検出する振動検出手
   段と、該振動検出手段よりの防振出力に基づいて前記補
   正光学手段を前記レンズ鏡筒に対し相対的に変位させる
   駆動手段とを備えた防振機能付カメラにおいて、撮影構
   図決めを行っている第１の期間とフィルムへ露光を行っ
   ている第２の期間で、前記振動検出手段の防振出力と前
   記レンズ鏡筒に加わる振動の位相を変化させる位相調整
   手段を設けたことを特徴とする防振機能付カメラ。
2. 【請求項２】　　レンズ群を保持するレンズ鏡筒部に具
   備され、前記レンズ群の光軸を偏心させる補正光学手段
   と、前記レンズ鏡筒に加わる振動を検出する振動検出手
   段と、該振動検出手段よりの防振出力に基づいて前記補
   正光学手段を前記レンズ鏡筒に対し相対的に変位させる
   駆動手段とを備えた防振機能付カメラにおいて、撮影構
   図決めを行っている第１の期間とフィルムへ露光を行っ
   ている第２の期間で、前記補正光学手段の位置制御ル−
   プゲインを変更させるル−プゲイン変更手段を設けたこ
   とを特徴とする防振機能付カメラ。
3. 【請求項３】　　レンズ群を保持するレンズ鏡筒部に具
   備され、前記レンズ群の光軸を偏心させる補正光学手段
   と、前記レンズ鏡筒に加わる振動を検出する振動検出手
   段と、該振動検出手段よりの防振出力に基づいて前記補
   正光学手段を前記レンズ鏡筒に対し相対的に変位させる
   駆動手段とを備えた防振機能付カメラにおいて、撮影構
   図決めを行っている第１の期間とフィルムへ露光を行っ
   ている第２の期間で、前記補正光学手段と前記振動検出
   手段の内の少なくともいずれか一方に具備された位置検
   出手段に供給する電流を変更させる供給電流変更手段を
   設けたことを特徴とする防振機能付カメラ。