JP3225055B2 - 像ぶれ補正装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】 本発明は、カメラ等の光学機器
装置において生じる像ぶれを補正する像ぶれ補正装置に
関するものである。

【０００２】

【従来の技術】本発明の対象となる従来技術を以下に説
明する。

【０００３】現代のカメラでは、露出決定やピント合せ
等の撮影にとって重要な作業はすべて自動化されている
ため、カメラ操作に未熟な人でも撮影の失敗を起す可能
性は非常に少なくなっているが、カメラ振れによる撮影
の失敗だけは自動的に防ぐことが困難とされていた。

【０００４】そこで、近年このカメラ振れに起因する撮
影失敗をも防止することを可能とするカメラが意欲的に
研究されており、特に、撮影者の手振れによる撮影失敗
を防止することのできるカメラについての開発、研究が
進められている。

【０００５】撮影時のカメラの上記手振れは周波数とし
て通常１Ｈｚ乃至１２Ｈｚの振動であるが、シャッタの
レリ−ズ時点においてこのような手振れを起していても
像振れのない写真を撮影可能とするための基本的な考え
として、上記手振れによるカメラの振動を検出し、その
検出値に応じて補正レンズを変位させてやらなければな
らない。従って、上記目的（即ち、カメラの振れが生じ
ても像振れを生じない写真を撮影できること）を達成す
るためには、第１にカメラの振動を正確に検出し、第２
に手振れによる光軸変化を補正することが必要となる。

【０００６】この振動（カメラ振れ）の検出は、原理的
にいえば、角加速度、角速度、角変位等を検出する振動
センサと、角加速度，角速度を検出する振動センサの場
合該手段の出力信号を電気的に積分して角変位を出力す
る振動検出手段をカメラに搭載することによって行うこ
とができる。そして、この検出情報に基づき撮影光軸を
偏心させる補正光学手段を駆動させて像振れ抑制が行わ
れる。

【０００７】ここで、角変位検出装置を用いた像振れ抑
制システム（防振システム）について、図３０を用いて
その概要を説明する。

【０００８】図３０の例は、図示矢印８１方向のカメラ
縦振れ８１ｐ及びカメラ横振れ８１ｙに由来する像振れ
を抑制するシステムの図である。

【０００９】同図中、８２はレンズ鏡筒、８３ｐ，８３
ｙは各々カメラ縦振れ角変位、カメラ横振れ角変位を検
出する角変位検出装置で、それぞれの角変位検出方向を
８４ｐ，８４ｙで示してある。この角変位検出装置８３
ｐ，８３ｙからの信号により補正光学手段８５（８６
ｐ，８６ｙは各々その駆動部、８７ｐ，８７ｙは補正光
学位置検出センサ）を駆動させて像面８８での安定を確
保する。

【００１０】図３１は角加速度計を用いた防振システム
を示しており、図３０と異なるのは、積分器８９ｐ，８
９ｙを設け、角加速度計８１０ｐ，８１０ｙからの手振
れ角加速度を積分器８９ｐ，８９ｙで２階積分し、手振
れ角変位に変換した後、補正光学手段８５に入力してい
る点にある。又、補正光学手段８５にも公知の機械的積
分作用を持たせ、積分器８９ｐ，８９ｙを１階積分する
ものとすることも出来、この場合振動検出手段として振
動ジャイロ等の角速度計を用いると、上記積分器８９
ｐ，８９ｙは省くことができる。

【００１１】図１３乃至図１５は前記角変位検出装置の
構成例を示すものであり、以下これらの図を用いて説明
する。

【００１２】図１３乃至図１５において、７１は装置を
構成する各部品を取付ける地板、７２は内部に後述の浮
体７３及び液体７１２を封入した室をもつ外筒である。
７３は軸７４ａ回りに回転自在に後述の浮体保持体７４
により保持された浮体で、突起７３ａにはスリット状の
反射面が形成されており、永久磁石から成る材料にて構
成されて上記軸７４ａ方向に着磁されている。また、こ
の浮体７３は軸７４ａ回りの回転バランス及び浮力バラ
ンスがそれぞれとられたものとして構成されている。

【００１３】７４は後述のピボット軸受７５を介して浮
体７３を保持した状態で外筒７２に固定されている浮体
保持体である。７６は地板７１に取付けられたコの字形
状のヨ−クで、浮体７３と共に閉磁路を形成している。
７７は巻線コイルで、浮体７３とヨ−ク７６の間に配置
されて外筒７２と固定関係に設けられている。７８は通
電により光を発生する発光素子(iRED)であり、地板７１
に取付けられている。７９は受ける光の位置によって出
力の変化する受光素子（ＰＳＤ）であり、地板７１に取
付けられている。そして、これら発光素子７８及び受光
素子７９が上記浮体７３の突起（反射面）７３ａを介し
て光を伝送する方式の光学的な角変位検出の手段を構成
している。

【００１４】７１０は発光素子７８の前面に配置された
マスクで、光を透過するスリット穴７１０ａを有してい
る。７１１は外筒７２に取付けられたストッパ部材で、
定められた範囲以上浮体７３が回転しないように回転規
制をしている。尚、上記した浮体７３の回転自在の保持
は次のようにして行われている。即ち浮体７３の中心に
は図１４（図１３のＡ−Ａ断面）で示すように、上下に
先端が尖鋭なピボット７１３が圧入されている。一方、
前記の浮体保持体７４のコ字形の上下腕の先端には互い
に内向きに対向してピボット軸受７５が設けられ、上記
ピボット７１３の尖鋭な先端がこのピボット軸受７５に
嵌合することで浮体７３の保持がされる。

【００１５】７１４は外筒７２の上蓋であり、シリコン
接着剤等を用いた公知の技術により該外筒７２内に液体
７１２を封入すべくシ−ル接着されている。

【００１６】以上の構成において、浮体７３は、いずれ
の姿勢においても重力の影響による回転モ−メントが発
生することなく、またピボット軸受７５に実質的に負荷
が作用しないように、回転軸７４ａ回りに対し対称形状
をしている。更に液体７１２と同比重の材料にて構成さ
れている。現実には、アンバランス成分ゼロというのは
不可能ではあるが、形状誤差分は比重差分だけしかアン
バランスとして作用しないので実質的には十分小さく、
慣性に対する摩擦のＳＮ比が極めて良好であることは容
易に理解できよう。

【００１７】かかる構成においては、外筒７２が回転軸
７４ａ回りに回転しても内部の液体７１２は慣性により
絶対空間に対し静止するので、浮遊状態にある浮体７１
２は回転せず、従って外筒７２と浮体７３は回転軸７４
ａ回りに相対的に回転することになる。これらの相対的
な角変位は、上記発光素子７８，受光素子７９を用いた
光学的検知手段で検出できる。

【００１８】さて、以上の構成を有する装置において、
角変位の検出は次のように行われる。

【００１９】まず、発光素子７８から発せられた光はマ
スク７１０のスリット穴７１０ａを通過し浮体７３に照
射され、ここで突起７３ａのスリット状反射面により反
射されて受光素子７９に至る。上記光の伝送の際にはこ
の光はスリット穴７１０ａとスリット状反射面とにより
略平行光となり、受光素子７９の上にはボケのない像が
形成されることになる。

【００２０】そして外筒７２，発光素子７８，受光素子
７９はいずれも地板７１に固定されているものであって
一体に運動するので、外筒７２と浮体７３の間で相対的
な角変位運動が生じると、該変位に応じた量だけ受光素
子７９上のスリット像は移動することになる。従って、
受光した光の位置によって出力の変化する光電変換素子
である該受光素子７９の出力は、該スリット像の位置変
位に比例した出力となり、該出力を情報として外筒７２
の角変位を検出することができる。

【００２１】ところで、前述したように浮体７３は液体
７１２と同比重をもつ永久磁石材料にて構成されている
が、それは例えば次の様にして成すものである。

【００２２】液体７１２としてフッ素系の不活性液体を
用いた場合、プラスチック材をベ−スにフィラ−として
永久磁石材料（例えばフェライト等）の微粉を含有させ
てその含有率を調整すれば、体積含有率８％前後にて液
体の比重 「１．８」 と同程度の比重にすることは容易で
ある。かかる材料にて浮体７３を成形した後、又は同時
に前記回転軸７４ａ方向に着磁すれば、浮体７３は永久
磁石としての性質を持つこととなる。

【００２３】図１６は浮体７３とヨ−ク７６と巻線コイ
ル７７の関係を表した、図１３のＢ−Ｂ断面である。

【００２４】該図の如く浮体７３は回転軸７４ａ方向に
着磁されており、この図では上側がＮ極、下側がＳ極に
着磁されている。Ｎ極から出た磁力線はコの字型のヨ−
ク７６を通り、Ｓ極に入るという閉磁路を構成してお
り、この磁路内に配置された巻線コイル７７に図の様に
紙面裏側から表側へ電流を流せば、フレミングの左手の
法則に従って該巻線コイル７７は矢印ｆ方向に力を受け
る。ところが、該巻線コイル７７は前述したように外筒
７２に対し固定されていることから動くことができず、
よってその反作用である矢印Ｆ方向に力が働き、該力に
よって浮体７３が駆動されることになる。この力は巻線
コイル７７に流す電流に比例し、力の方向も電流を上記
とは逆に流せば逆方向に働くことは言うまでもないこと
である。即ち以上の構成に於ては、浮体７３を自在に駆
動することが可能である。

【００２５】この駆動力により浮体７３に及ぼされるバ
ネ力は、原理的には浮体７３を外筒７２に対して一定の
姿勢に維持させる（つまり一体に移動させる）力である
から、そのバネ力が強いと外筒７２と浮体７３は一体と
なって運動してしまい、目的とする角変位の為の相対角
変位は生じないと云う問題を招くが、駆動力（バネ力）
が浮体７３の慣性に対し十分に小さければ、比較的低い
周波数の角変位にも応答し得る様に構成できる。

【００２６】図１７は以上の様な角変位検出装置の電気
回路を示す図である。

【００２７】電流−電圧変換アンプ７１５ａ，７１５ｂ
（及び抵抗Ｒ３３〜Ｒ３６）は発光素子７８の反射光７
１６により受光素子７９に生じる光電流を電圧に変化
し、次段の差動アンプ７１７（及び抵抗Ｒ３７〜Ｒ４
０）は前記電流−電圧変換アンプ７１５ａ，７１５ｂの
出力差、つまり角変位（外筒７２と浮体７３の間の相対
的な角変位運動）を求める。この出力を抵抗７１８，７
１９で分割して極めて小さい出力にし、巻線コイル７７
に電流を流す駆動アンプ７２０（及び抵抗Ｒ４１，トラ
ンジスタＴＲ１１，ＴＲ１２）に入力して、負帰還（差
動アンプ７１７が出力すると、浮体７３が中心に戻る様
に巻線コイル７７の配線及び浮体７３の着磁方向を設定
する）を行うと、前述の様に液体７１２の慣性に対し十
分に小さいバネ力（駆動力）が生じる。

【００２８】加算アンプ７２１（及び抵抗Ｒ４２〜Ｒ４
５）は前記アンプ７１５ａ，７１５ｂの和（受光素子７
９の発光素子７８からの反射光７１６の受光量総和）を
求めており、その出力を発光素子７８を発光させる駆動
アンプ７２２（及び抵抗Ｒ４７〜Ｒ４８，トランジスタ
ＴＲ１３，コンデンサＣ１１）に入力している。

【００２９】発光素子７８は温度差に極めて不安定にそ
の発光量を変化させてしまうが、上記の様に受光量総和
により発光素子７８を駆動させれば、受光素子７９の出
力する光電流総和は常に一定となり、差動アンプ７１７
の角変位検出感度は極めて安定なもとすることができ
る。

【００３０】角変位検出装置は、以上の様に弱いバネ力
を持たせる位置制御ル−プの他に、系の伝達特性の減衰
特性を調整する速度制御ル−プも備えている。何故なら
ば、外筒７２に収められる液体７１２と浮体７３のダン
ピング特性を外部温度の変動によらず（液体７１２は外
温でその粘度が変化してしまう）、常に一定にしておく
ためである。この速度制御ル−プは図１７において、ア
ンプ７２３，７２４，７２５等から構成される。

【００３１】アンプ７２３は抵抗７２６，７２７、コン
デンサ７２８，７２９と共にアンプ７１７の角変位（位
置）検出出力を微分して速度出力を作り、且つ高域波ノ
イズの除去を行う。アンプ７２４は前記抵抗７１８，７
１９の分圧出力のバッファアンプで、アンプ７２３，７
２４の出力（速度と位置）をアンプ７２５（及び抵抗Ｒ
４９〜Ｒ５１）で加え、前記駆動アンプ７２０に送る。

【００３２】再び図１３に戻り、図１３で示されるブロ
ック図は前記図１７の回路を簡略化して示している。

【００３３】７３０は前記アンプ７１５ａ，７１５ｂ，
７１７（及び抵抗Ｒ３３〜Ｒ４９）で構成される増幅回
路を示し、受光素子７９の出力の増幅を行う。７３１は
前記アンプ７２３，抵抗７２６，７２７，コンデンサ７
２８で構成される微分回路を示す。７３２は抵抗７１
８，７１９の分圧増幅度Ｇ１を示す回路であり、７３３
はアンプ７２３と抵抗７２６，７２７で決定される増幅
度Ｇ２を示す回路であり、各々位置制御ル−プゲイン，
速度制御ル−プゲインの調整を行える。

【００３４】図１８は上述した角変位検出装置の周波数
特性を示すボ−ド線図であり、横軸は周波数、縦軸は角
変位検出装置の出力ゲイン（７３４Ｇ）及び入力手振れ
と角変位検出装置の出力の位相（７３４Ｐ）を示してい
る。

【００３５】この図１８により「０．２Ｈｚ」より低い
周波数では角変位検出装置の出力が小さくなっており、
極低周波の手振れに対しては角変位検出装置は出力しな
い事を示している。そして、この析点（図１８では
「０．２Ｈｚ」）は図１３の回路７３２（増幅度Ｇ１）
で決定され、ここでの増幅度Ｇ１を大きくすれば浮体７
３と外筒７２間のバネ性が強くなり、析点は高域側に移
動し、増幅度Ｇ１を小さくすればバネ性は弱くなり、析
点は低域側に移動する。

【００３６】

【発明が解決しようとする課題】さて、以上の様に角変
位検出装置は「０．２Ｈｚ」以上の手振れにおいては正
確にその振れ量を検出するわけであるが、ここにいくつ
かの問題点が有る。

【００３７】手振れは通常１Ｈｚないし１０Ｈｚ程度に
分布しており、２Ｈｚ程度の振れが頻繁に生じている。
そして、図１８の出力ゲイン（利得）７３４Ｇで示され
る様に角変位検出装置はこの範囲で正確に振れ量を検出
しているが、位相７３４Ｐは２Ｈｚ近辺では未だ「０
°」になっておらず、入力手振れに対しψ７１だけ位相
が進んでいる。

【００３８】図１９はその事による防振精度の劣化を説
明し易い様に誇張して示した図であり、図１９におい
て、横軸は時間、縦軸は手振れ量を示している。

【００３９】ここで、７３５は実際にレンズ鏡筒に加わ
る手振れ量を示しており、これにより角変位検出装置の
出力７３６は実際の手振れが１〜２Ｈｚ程度の場合、実
際の手振れより位相が進んでいる。そして、この出力７
３５に基づいて補正光学手段が光軸を偏心して防振を行
うわけであるが、実際の手振れ量７３５と角変位検出装
置の出力７３６の差分７３７は誤差として残り、この低
周波の手振れ量が大きいときは当然その誤差（位相ズレ
による誤差が大きい）は防振精度の大きな劣化となって
しまう。つまり、手振れの小さな撮影者に対しては十分
な防振効果を得られるが、手振れの大きな撮影者に対し
ては十分な防振を期待できない。

【００４０】もちろん図１８において、析点を「０．２
Ｈｚ」より低く、即ち巻線コイル７７への通電量を減ら
し、バネ性を弱くすれば位相ズレ量ψ７１は小さくなっ
て行くが、この様にバネ性を弱くすると浮体７３は外乱
に対して極めて不安定になり、例えば浮体７３が回転軸
７４ａ回りに僅かにアンバランスであって、「カメラを
持直す」等の角変位検出装置に対し急激な重量変化が生
じると浮体７３は大きく変位し、ストッパ７１１に突当
り角変位検出機能を失ってしまう。そのため、析点をあ
まり低周波に移動出来ず、上記の如き位相ズレは避けら
れない問題であった。

【００４１】又、次の問題点として、図１３における発
光素子７８と受光素子７９で構成される位置検出手段は
浮体７３の全ストロ−クの角変位検出を行うわけである
が、手振れが大きい場合、つまり角変位検出ストロ−ク
が大きいときは、その全ストロ−クを回路の飽和なく検
出しようとすると、微小角変位（しかしフィルム面の像
振れとしては問題となるレベルの振れ量）に対する出力
が極めて小さくなり、Ｓ／Ｎが劣化してしまい、防振精
度が劣化してしまう。又、この様に微小変位の出力が小
さくなってしまうと、例えば出力をアナログ・ディジタ
ル変換し、マイクロコンピュ−タで防振システムを動作
させる場合には、アナログ・ディジタル変換回路の分解
能より出力が小さい場合は防振は働かない。つまり手振
れが大きく、この大きな手振れを防振しようとすると、
小さな手振れは防振出来なくなってしまう問題もあっ
た。

【００４２】次に、図３１の防振システムで用いた角加
速度計８１０ｐ，８１０ｙの構造及び動作原理について
説明する。

【００４３】図２０は上記角加速度計８１０ｐ，８１０
ｙとして用いられるサ−ボ角加速度センサの構造図を示
している。

【００４４】図２０において、７３８は外枠底部であ
り、この外枠底部７３８と一体的に固着される支持部７
３９及びボ−ルベアリング等摩擦の少ない軸受７４０
ａ，７４０ｂによりシャフト７４１の両端が支持されて
いて、該シャフト７４１によってコイル７４２ａ，７４
２ｂを取付けられたシ−ソ７４３が揺動可能に支持され
ている。

【００４５】上記コイル７４２ａ，７４２ｂ及びシ−ソ
７４３の上下には、これらと離隔されて蓋部としての磁
気回路板７４４ａ，７４４ｂと永久磁石７４５ａ１，７
４５ａ２，７４５ｂ１，７４５ｂ２が対向して配置され
ていて、磁気回路板７４４ａ，７４４ｂは上述の如く外
枠の蓋部も兼ねている。永久磁石７４５ａ１，７４５ａ
２，７４５ｂ１，７４５ｂ２は各々外枠底部７３８に固
定される磁気回路背板７４６ａ，７４６ｂ上に取付けら
れている。

【００４６】また、上記シ−ソ７４３のコイル７４２
ａ，７４２ｂの上部には厚み方向に貫通したスリット７
４７ａ，７４７ｂを形成するスリット板７４８ａ，７４
８ｂが設けられており、このスリット７４７ａの上方の
外枠の蓋部を兼ねる磁気回路板７４４ａにはＳＰＣ（Se
parate Photo Diode）等の光電式の変位検出器７４９が
配置され、スリット７４７ａの下方の磁気回路背板７４
６ａ上には赤外発光ダイオ−ド等の発光素子７５０が配
置されている。

【００４７】以上の構成において、いま角加速度ａが図
２０の外枠に対して矢印７５１で示すように働いたとす
ると、シ−ソ７４３は相対的に角加速度ａと反対の方向
に傾き、この振れ角はスリット７４７ａを介する発光素
子７５０からのビ−ムの変位検出器７４９上の位置によ
り検出できる。ところで、上記永久磁石７４５ａ１，７
４５ｂ１からの磁束は、各々永久磁石７４５ａ１，７４
５ｂ１→コイル７４２ａ，７４２ｂ→磁気回路板７４４
ａ，７４４ｂ→コイル７４２ａ，７４２ｂ→永久磁石７
４５ａ２，７４５ｂ２に、他方永久磁石７４５ａ２，７
４５ｂ２からの磁束は、各々永久磁石７４５ａ２，７４
５ａ２→磁気回路背板４３７ａ，４３７ｂ→永久磁石７
４５ａ１，７４５ｂ１を通り、全体として閉磁気回路を
形成しており、コイル７４２ａ，７４２ｂに対し垂直な
方向の磁束を形成するようになっている。そしてコイル
７４２ａ，７４２ｂに制御電流を流すことにより、フレ
ミングの法則によって、シ−ソ７４３を上記角加速度ａ
の振れ方向に沿って両側に動かすことが出来るように設
けられている。

【００４８】図２１は上記構成のサ−ボ角加速度センサ
に用いられる角加速度検出回路の構成の一例を示したも
のである。この回路は、上記変位検出器７４９からの出
力を増幅する変位検出増幅器７５２と、このフィ−ドバ
ック回路を安定な回路系とするための補償回路７５３
と、上記変位検出増幅器７５２からの増幅された出力を
更に電流増幅してコイル７４２ａ，７４２ｂに通電する
駆動回路７５４と、コイル７４２ａ，７４２ｂとが直列
的に接続されて成っている。

【００４９】そして本例においては、上記コイル７４２
ａ，７４２ｂに通電がなされた場合は、外部角加速度ａ
によるシ−ソ７４３の振れ方向とは反対方向に力が発生
するよう該コイル７４２ａ，７４２ｂの巻線方向及び永
久磁石７４５ａ１，７４５ａ２，７４５ｂ１，７４５ｂ
２の極性が設定されている。

【００５０】以上の構成のサ−ボ角加速度センサの作動
原理を説明すると、いま上記構成の角加速度センサに外
部から図２１に示す様に角加速度ａが加わったとする
と、シ−ソ７４３は慣性力によって外枠に対して相対的
に反対回転方向に振れ、従ってシ−ソ７４３に設けられ
ているスリット７４７ａがＬ方向に移動する。このため
に発光素子７５０から変位検出器７４９に入射する光束
の中心が変位し、変位検出器７４９から、その変位量に
比例した出力が発生する。

【００５１】その出力は上述の如く変位検出増幅器７５
２で増幅され、更に補償回路７５３を介して駆動回路７
５４により電流増幅され、コイル７４２ａ，７４２ｂに
通電される。

【００５２】以上のようにコイル７４２ａ，７４２ｂに
制御電流の通電があると、シ−ソ７４３には外部角加速
度ａのＬ方向とは逆の方向であるＲ方向への力が発生
し、変位検出器７４９に入射する光束が上記外部角加速
度ａの加わらない時の初期位置に戻るように制御電流が
調整して発生される。

【００５３】尚、この際コイル７４２ａ，７４２ｂを流
れる制御電流の値はシ−ソ７４３に加わる回転力に比例
しており、更にシ−ソ７４３に加わる回転力は該シ−ソ
７４３を原点に戻す力、つまり外部角加速度ａの大きさ
に比例しているから、抵抗７５５を通して電流を電圧Ｖ
として読取ることにより、例えばカメラの像振れ抑制シ
ステム等に必要な制御情報としての角加速度ａの大きさ
を求めることができる。

【００５４】図２２は前記図２１の角加速度検出回路を
より具体的に示した図である。

【００５５】図２２において、電流−電圧変換アンプ７
５６等は図２１の変位検出増幅器７５２に相当し、変位
検出器７４９からの光電流を電圧変換増幅して位置検出
を行う。コンデンサ７５９及び抵抗７５７，７５８は補
償回路７５３に相当し、駆動アンプ７６０等はコイル７
４２ａ，７４２ｂの駆動を行う駆動回路７５４に相当す
る。また、７４９，７５０は前述の変位検出器及び発光
素子である。

【００５６】以上が手振れ角加速度を検出するサ−ボ角
加速度センサの構成であるが、角変位検出装置で述べた
様な低周波の位相ズレという問題は同様に発生する。

【００５７】このことについて説明する。

【００５８】角加速度計を用いて手振れ角変位を検出す
る場合、その出力を２階積分する必要がある事を図３１
で述べた。

【００５９】図２３はこの時に必要な２階積分器の周波
数特性を示すボ−ド線図であり、この利得線図７５６で
分かる様に角加速度出力を（「０．２Ｈｚ」以上で）周
波数の２乗に比例して減衰（２階積分）させる特性にな
っている。その為、手振れ角加速度は手振れの帯域１〜
１０Ｈｚにおいて正確に振れ変位量を変換される。しか
し、振れ変位量は正確に変換されても実際の振れとの位
相については十分に一致していない。７５７は使用する
２階積分器の位相を示しており、位相が「１８０°」遅
れている点が正確に２階積分され、実際の手振れと位相
が一致している範囲である。しかし、この図から「０．
２Ｈｚ」では未だ位相は「９０°」しか遅れておらず、
２Ｈｚにおいても「１８０°」遅れになるにはψ７２
（約６°）足りない。その為、図１９で示した様な防振
精度の劣化が生じる。

【００６０】もちろん図２３の特性を「０．２Ｈｚ」以
上を積分する特性から「０．０５Ｈｚ」以上を積分する
特性に変更すれば、２Ｈｚにおける位相ズレはかなり改
善できるが、積分器の特性として積分出来る周波数を低
くする程電源オンから安定する迄の時間が必要となり、
例えば「０．０５Ｈｚ」以上を積分しようとすると、２
０秒程度待たないと積分出力は十分安定せず、これはカ
メラの様な民生機器においては許容できる時間ではな
い。その為、この様な（「０．０５Ｈｚ」以上積分す
る）積分器は使用出来ず、故に位相ズレによる防振精度
劣化は避けられない問題であった。

【００６１】図２４は上述した様な防振システムに好適
に用いられる補正光学機構（補正光学手段及びそれを駆
動する駆動手段する回路より成る）の構成を示す図であ
り、補正レンズ７５８は光軸と直交する互いに直角な２
方向（ピッチ方向８１ｐとヨ−方向８１ｙ）に自在に駆
動可能である。以下にその構成を示す。

【００６２】図２４において、補正レンズ７５８を保持
する固定枠７５９は、ポリアセタ−ル樹脂（以下ＰＯＭ
と記す）等のすべり軸受７６０ｐを介してピッチスライ
ド軸７６１ｐ上を摺動出来る様になっている。又、固定
枠７５９はピッチスライド軸７６１ｐと同軸のピッチコ
イルバネ７６３ｐに挟まれており、中立位置付近に保持
される。ピッチスライド軸７６１ｐは第１の保持枠７６
２に取付けられている。

【００６３】固定枠７５９に取付けられたピッチコイル
７６４ｐはピッチマグネット７６５ｐとピッチヨ−ク７
６６ｐで構成される磁気回路中に置かれており、電流を
流すことで前記固定枠７５９がピッチ方向８１ｐに駆動
されることになる。又、ピッチコイル７６４ｐにはピッ
チスリット７６７ｐが設けられており、発光素子７６８
ｐ（赤外発光ダイオ−ド）と受光素子７６９ｐ（半導体
位置検出素子）の関連により、固定枠７５９のピッチ方
向８１ｐの位置検出を行う。

【００６４】第１の保持枠７６２にはＰＯＭ等のすべり
軸受７６０ｙが嵌合されており、ヨ−スライド軸７６１
ｙが取付けられたハウジング７７０上を摺動出来る。そ
してハウジング７７０は図３０等に示したレンズ鏡筒８
２に取付けられる為、第１の保持枠７６２はレンズ鏡筒
８２に対しヨ−方向８１ｙに移動可能となる。又、ヨ−
スライド軸７６１ｙと同軸にヨ−コイルバネ７６３ｙが
設けられており、固定枠７５９と同様中立位置付近に保
持される。

【００６５】又、上記固定枠７５９にはヨ−コイル７６
４ｙが設けられており、ヨ−コイル７６４ｙを挟むヨ−
マグネット７６５ｙとヨ−ヨ−ク７６６ｙの関連で固定
枠７５９はヨ−方向８１ｙにも駆動される。上記ヨ−コ
イル７６４ｙにはヨ−スリット７６７ｙが設けられてお
り、ピッチ方向と同様固定枠７５９のヨ−方向８１ｙの
位置検出を行う。

【００６６】図２４において、受光素子７６９ｐ，７６
９ｙの出力を増幅器７７１ｐ，７７１ｙで増幅して図示
の様な各回路（後述）を介してコイル（ピッチコイル７
６４ｐ，ヨ−コイル７６４ｙ）に入力すると、固定枠７
５９が駆動されて受光素子７６９ｐ，７６９ｙの出力が
変化する。ここでコイル７６４ｐ，７６４ｙの駆動方向
（極性）を受光素子７６９ｐ，７６９ｙ出力が小さくな
る方向にすると、閉じた系（閉ル−プ）が形成され、受
光素子７６９ｐ，７６９ｙの出力がほぼゼロになる点で
安定する。

【００６７】なお、補償回路７７２ｐ，７７２ｙは図２
４の系をより安定化させる回路であり、加算回路８０１
ｐ，８０１ｙは増幅器７７１ｐ，７７１ｙと入力される
指令信号７７４ｐ，７７４ｙを加算する回路であり、駆
動回路７７３ｐ，７７３ｙはコイル７６４ｐ，７６４ｙ
の印加電流を補う回路である。

【００６８】上記の様な系に外部から指令信号７７４
ｐ，７７４ｙを与えると、補正レンズ７５８はピッチ方
向８１ｐとヨ−方向８１ｙに該指令信号７７４ｐ，７７
４ｙに極めて忠実に駆動される。そして、この指令信号
７７４ｐ，７７４ｙとして前述したような振動検出手段
の出力を入力すると、防振作用が実現できる。

【００６９】図２５は補正光学手段を駆動する駆動手段
をより詳細に示した図であり、ここではピッチ方向８１
ｐについてのみ説明する。

【００７０】電流−電圧変換アンプ７７５ａ，７７５ｂ
は発光素子７６８ｐにより受光素子７６９ｐ（抵抗Ｒ
１，Ｒ２より成る）に生じる光電流を電圧に変換し、差
動アンプ７７６は各電流−電圧変換アンプ７７５ａ，７
７５ｂの差を求めるものであり、この差信号が補正レン
ズ７５８のピッチ方向８１ｐの位置を表す。以上、電流
−電圧変換アンプ７７５ａ，７７５ｂ，差動アンプ７７
６及び抵抗Ｒ３〜Ｒ１０にて図２４の増幅器７７１ｐを
構成している。

【００７１】アンプ７７７は指令信号７７４ｐを、前記
差動アンプ７７６の差信号に加算するもので、抵抗Ｒ１
１〜Ｒ１４とで図２４の加算回路８０１ｐを構成してい
る。

【００７２】抵抗Ｒ１５，Ｒ１６及びコンデンサＣ１は
公知の位相進み回路であり、これが図２４の補償回路７
７２ｐに相当し、系を安定化させている。

【００７３】前記加算回路８０１ｐの出力は補償回路７
７２ｐを介して駆動アンプ７７８へ入力し、ここでコイ
ル７６４ｐの駆動信号が生成され、補正レンズ７５８が
変位する。該駆動アンプ７７８、抵抗Ｒ１７及びトラン
ジスタＴＲ１，ＴＲ２にて図２４の駆動回路７７３ｐを
構成している。

【００７４】加算アンプ７８２は電流−電圧変換アンプ
７７５ａ，７７５ｂの出力の和（受光素子７６９ｐの受
光量総和）を求め、この信号を受ける駆動アンプ７８３
はこれにしたがって発光素子７６８ｐを駆動する。以
上、加算アンプ７８２，駆動アンプ７８３、抵抗Ｒ１８
〜Ｒ２２及びコンデンサＣ２により発光素子７６８ｐの
駆動回路を構成している（図２４では不図示）。

【００７５】上記の発光素子７６８ｐは温度等に極めて
不安定にその投光量が変化し、それに伴い差動アンプ７
７６の位置感度が変化するが、上記の様に受光量総和一
定となる様に前述の駆動回路によって発光素子７６８ｐ
を制御すれば、位置感度が変化する事は無い。

【００７６】図２６は補正光学手段の周波数特性を示し
ており、利得７８４はＤＣから２０Ｈｚ程度迄フラット
であり、振動検出手段からの出力の振幅を正確に再現
し、また位相も手振れ量の大きい１〜３Ｈｚではほぼズ
レが無く防振精度は高い。

【００７７】しかし、この様な補正光学手段においても
問題点があり、その事について説明する。

【００７８】補正レンズ７５８は図２４の矢印ｇで示す
様に重力が加わる。そして前述した様に電源を投入する
と補正光学手段は位置制御の為、受光素子７６９ｐの出
力がほぼゼロ（中立付近）で補正レンズ７５８は安定す
る。電源オフ時は補正レンズ７５８は重力とピッチコイ
ルバネ７６３ｐのバネ力の釣合う点で安定していたのが
電源オンでは中立安定となる為、重力に逆らって補正レ
ンズ７５８を保持し続けている力（重力が補正レンズ７
５８に加える力とピッチコイルバネ７６３ｐの反力の
差）はピッチコイル７６４ｐが負担しており、その為に
要する電流は大きく消電力化が望まれる。又、カメラの
構え方は縦位置もあるため重力は図２４の矢印ｇの方向
だけではなく、ヨ−コイル７６４ｙに大電流を流し続け
る場合もある。

【００７９】この様な重力による消費電力の増加を防ぐ
方法として、図２７で示す制御方式が考えられている。

【００８０】図２７と図２４の異なる点は、駆動回路７
７３ｐ，７７３ｙとピッチコイル７６４ｐ，ヨ−コイル
７６４ｙ間に直列に低域除去フィルタ７８６ｐ，７８６
ｙが入っている事である。その為、重力等のＤＣ入力に
対しては低域除去フィルタ７８６ｐ，７８６ｙが除去す
る為、ピッチ，ヨ−コイル７６４ｐ，７６４ｙには電流
は流れず、省電力化が可能である。

【００８１】そして、低域除去フィルム７８６ｐ，７８
６ｙの時定数と位置制御ル−プゲインを適宜設定する
と、図２８で示す周波数特性が得られ、利得７８７は手
振れ帯域１〜１０Ｈｚでフラットになる。しかし、低域
除去フィルタ７８６ｐ，７８６ｙが入っている為、低周
波になると出力が減衰しており、特に位相７８８は２Ｈ
ｚ近辺でもψ７３だけズレるため、その分防振精度が劣
化してしまう。つまり、省電力化を図ると防振精度が劣
化してしまう。

【００８２】又、角変位検出装置でも述べた様に、補正
光学手段においても位置検出手段を用いている為、手振
れが大きい場合（位置検出ストロ−クが大きい時）は小
さな変位の出力Ｓ／Ｎが劣化して正確に該補正光学手段
の駆動が行えず、出力をアナログ・ディジタル変換して
マイクロコンピュ−タで動作させる場合、小さな変位に
対する出力が小さく、アナログ・ディジタル変換分解能
以下の場合は防振が働かなくなってしまう。

【００８３】次に、別種の補正光学手段について説明す
る。

【００８４】図２９は可変頂角プリズムを用いた前記補
正光学手段の構造図である。

【００８５】図２９において、７８９は屈折率の高い、
例えばシリコン系の液体であり、２枚の平面ガラス７９
０ｐ，７９０ｙとポリエチレンフィルム７９１により気
泡なく封じられている。平面ガラス７９０ｐはピッチ保
持枠７９２ｐで保持され、又、このピッチ保持枠７９２
ｐはピッチ軸８１ｐ’回りに回転可能に軸止されてい
る。平面ガラス７９０ｙはヨ−保持枠７９２ｙで保持さ
れ、ヨ−保持枠７９２ｙはヨ−軸８１ｙ’回りに軸止さ
れている。

【００８６】ピッチ，ヨ−保持枠７９２ｐ，７９２ｙに
は各々ピッチコイル７９３ｐ，ヨ−コイル７９３ｙが設
けられており、これらコイルは固定されたピッチ，ヨ−
マグネット７９４ｐ，７９４ｙ、ピッチ，ヨ−ヨ−ク７
９５ｐ，７９５ｙで形成される閉磁路中に置かれる為、
ピッチ，ヨ−コイル７９３ｐ，７９３ｙに各々電流を流
す事で、ピッチ，ヨ−保持枠７９２ｐ，７９２ｙは各々
ピッチ，ヨ−軸回りに回転駆動される。

【００８７】又、ピッチ，ヨ−保持枠７９２ｐ，７９２
ｙの腕７９６ｐ，７９６ｙには各々変位検出受光素子７
９７ｐ，７９７ｙが取付けられており、これらは固定さ
れた赤外発光素子７９８ｐ，７９８ｙから孔７９９ｐ，
７９９ｙを通して照射される絞られた光線により、各々
ピッチ軸８１ｐ’、ヨ−軸８１ｙ’回りの回転検出を行
う。この変位検出受光素子７９７ｐ，７９７ｙとピッ
チ，ヨ−コイル７９３ｐ，７９３ｙの間にも公知の位置
制御が行われており、これについてはスライド式の補正
光学手段で述べた為、説明は省く。

【００８８】以上の様な構成において、ピッチ保持枠７
９２ｐがピッチ軸回りに回転し、平面ガラス７９０ｐが
ピッチ軸８１ｐ’回りに傾くと、屈折率の高い液体７８
９内を通る光線は矢印８１ｐの方向に偏心させられ、
又、ヨ−保持枠７９２ｙがヨ−軸回りに回転し、平面ガ
ラス７９０ｙがヨ−軸８１ｙ’回りに傾くと、光線は矢
印８１ｙの方向に偏心させられる。そして、前述した様
にこの様な可変頂角プリズムより成る補正光学手段の最
大の特徴は、光軸方向の該補正光学手段の前後がどの様
な光学系であっても光軸の偏心が可能な事であり、例え
ばどの様なレンズの前面に取付けても光軸の補正が可能
な事である。

【００８９】しかし、このような可変頂角プリズムにお
いても重力が加わると、液体７８９はその方向に集まる
ため、平面ガラス７９０ｐ，７９０ｙは平行でなく、
“ハの字”になってしまう。そして、これを平行に保持
する（位置制御の為、電源オンで自動的に平行になる）
為にはコイル７９３ｐ，７９３ｙに電流を流す為、消費
電流が大きく、又省電力化の為には前述したスライド式
の補正光学手段と同様な方法で可能であるが、当然同様
な防振精度の劣化が生じてしまう。

【００９０】 本発明の目的は、上記の点に鑑み、振れ
の状況が変化したとしても、精度良く像ぶれ補正を行う
ことのできる像ぶれ補正装置を提供することである。

【００９１】

【００９２】

【課題を解決するための手段】 上記目的を達成するた
めに、本発明は、装置の振れ状態を検出する振れ検出手
段の出力に応じて、像ぶれ補正手段を動作させて像ぶれ
を補正する像ぶれ補正装置であって、前記像ぶれ補正手
段に入力される前記振れ検出手段の出力の周波数特性を
変化させる可変手段と、前記振れ検出手段の出力の所定
周波数成分を抽出する信号抽出手段と、前記信号抽出手
段により抽出される信号を所定の基準信号と比較する比
較手段とを有し、前記可変手段は、前記信号抽出手段に
より抽出される信号が前記所定の基準信号より大きいと
きには、前記所定周波数成分の振れ信号について位相ず
れが小さくなるように前記像ぶれ補正手段に入力される
前記振れ検出手段の出力の周波数特性を変化させる像ぶ
れ補正装置とするものである。

【００９３】

【００９４】

【実施例】以下、本発明を図示の実施例に基づいて詳細
に説明する。

【００９５】 図１は本発明の第１の実施例を示すブロ
ック図であり、振動検出手段１１の出力が補正光学手段
１２に入力されて防振を行う点は従来例で述べた防振シ
ステムと同様であるが、その間にアナログスイッチであ
る切換手段１４と公知のロ−パスフィルタ，フェイズシ
フタ等で構成される位相調整手段１３が接続されてい
る。さらに、振動検出手段１１の出力の２Ｈｚ付近の帯
域を通過させる帯域通過手段１５（バンドパスフィル
タ）、ＲＭＳＤＣコンバ−タ等の整流手段１６、及び整
流手段１６の出力と基準信号発生手段１７よりの基準信
号とを比較し、整流手段１６の出力が基準信号より大き
い時は前記振動検出手段１１の出力が位相調整手段１３
を介して補正光学手段１２に伝達させるように前記切換
手段１４を制御する比較手段１８を備えている。

【００９６】図１において、手振れを殆ど生じない撮影
者が本装置を用いた場合は、振動検出手段１１の２Ｈｚ
付近の振れ量はさほど大きくない為に帯域通過手段１５
の出力振幅は小さく、故に整流手段１６の出力よりも基
準信号発生手段１７よりの基準信号の方が大きく、比較
手段１８は振動検出手段１１の出力を直接補正光学手段
に接続する如き状態に切換手段１４を制御する。

【００９７】この時は利得７３４Ｇ，位相７３４Ｐは図
２で示す様な特性となり、未だ２Ｈｚ近辺の位相ズレψ
７１は残っているが、元々この付近の振れ量は小さい
為、誤差は小さい。又、高周波の振れ（５Ｈｚ〜）に対
しては位相ズレが小さく、精度良く防振され、像振れの
極めて少ない写真を得る事が出来る。

【００９８】又、手振れを生じやすい撮影者が本装置を
用いた場合は、整流手段１６の出力が基準信号より大き
くなり、よって比較手段１８は振動検出手段１１の出力
を位相調整手段１３を介して補正光学手段１２に接続す
る如き状態に切換手段１４を制御する。

【００９９】上記の位相調整手段１３として、「２０Ｈ
ｚ」に析点のある１次のロ−パスフィルタを入れた場合
は、図２で示す利得１９Ｇ，位相１９Ｐの如き特性とな
り、２Ｈｚ近辺の位相ズレψ１１はゼロになり、振れ量
の多いこの帯域は精度良く防振出来る。この時、高周波
の振れに対しては位相はかなりズレて来るが、手振れ量
の特性として高周波は低周波に比べてかなり小さい為、
大幅な防振劣化は生じない。その為、振れの大きい低周
波のみ防振し、高周波の精度が低くとも、利得７３４
Ｇ、位相７３４ｐの低周波は位相がズレて防振精度劣
化、高周波は精度が良いという場合に比べれば、全体と
しての防振精度は高い。

【０１００】つまり、手振れを殆ど生じない撮影者に対
しては、全帯域にわたって精度の高い防振効果が得ら
れ、又手振れを生じやすい撮影者に対しても、さほど防
振精度の劣化は無い防振装置を実現出来る。

【０１０１】 図３は本発明の第２の実施例を示すブロ
ック図であり、図１と異なるのは手振れの大きな周波数
の位相ズレを少なくする様に構成されており、図１の様
に特定周波数（２Ｈｚ）の位相ズレだけを少なくするも
のではない。

【０１０２】図３において、振動検出手段１１の出力は
３つの帯域通過手段１５ａ，１５ｂ，１５ｃへ入力され
る。帯域通過手段１５ａはこの出力中の「０．５Ｈｚ」
の振れを通過させ、帯域通過手段１５ｂは「１Ｈｚ」の
振れを通過させ、帯域通過手段１５ｃは「２Ｈｚ」の振
れを通過させるものであり、各々の出力は整流手段１６
ａ，１６ｂ，１６ｃを経てＡ／Ｄ変換器２１ａ，２１
ｂ，２１ｃでアナログ・ディジタル変換されてマイクロ
コンピュ−タ２２に入力される。マイクロコンピュ−タ
２２内では、各々の出力の中で最も大きな出力が比較手
段２３で選ばれ、更にその出力と基準値が比較される。
そして、その出力が基準値より大きい場合、その出力の
周波数の位相ズレ（例えば１Ｈｚの振れ量が最も大きい
時は１Ｈｚの位相ズレ）がゼロになる様に位相調整手段
１３の時定数が時定数変更手段２４により設定される。

【０１０３】上記位相調整手段１３は、図４に示す様
に、抵抗２５，２６，２７とコンデンサ２１０とバッフ
ァ用のオペアンプ２１１で構成されており、例えば
「０．５Ｈｚ」の位相をゼロにする時はスイッチ２８，
２９が時定数変更手段２４により開放され、抵抗２７と
コンデンサ２１０で決る時定数の１次ロ−パスフィルタ
となる。又、「１Ｈｚ」の位相ズレをゼロにする時はス
イッチ２９が閉じられ、抵抗２６，２７とコンデンザ２
１０で決る時定数の、更に「２Ｈｚ」の位相ズレをゼロ
にする場合はスイッチ２８，２９が閉じられ、抵抗２
５，２６，２７とコンデンザ２１０で決る時定数の、１
次ロ−パスフィルタとなる。そして、振動検出手段１１
の出力はこの位相調整手段１３を経て補正光学手段１２
に入力される。よって、位相ズレの少ない防振精度の高
い防振装置となる。

【０１０４】又、帯域通過手段１５ａ，１５ｂ，１５ｃ
の出力の中で最も大きな出力が基準値より小さい場合
は、切換手段１４により振動検出手段１１の出力は補正
光学手段１２に直接伝達される。

【０１０５】図５は以上のフロ−を説明した図であり、
振動検出手段１１からＡ／Ｄ変換器２１ａ，２１ｂ，２
１ｃ迄の振れ量検出（Ａ0.5 ，Ａ１，Ａ２）がステップ
２１３により行われ、比較手段２３での比較動作がステ
ップ２１４〜２１９により行われ、時定数変更手段２
４、位相調整手段１３での時定数設定がステップ２２０
〜２２２により行われる。

【０１０６】更に詳述すると、各々の周波数（０．５Ｈ
ｚ，１Ｈｚ，２Ｈｚ）の中で最も大きな手振れ量を示す
周波数がステップ２１４〜２１６にて判別され、この周
波数と基準値Ａ０との大小判別がステップ２１７〜２１
９により行われ、この周波数が基準値Ａ０より大きい時
は、ステップ２２０〜２２２により所定の時定数が設定
される。そして、時定数設定後はステップ２１３へ戻
り、再び同様の動作を繰り返す。また、前記ステップ２
１７〜２１９にて基準値Ａ０より小さいと判別された場
合は、ステップ２１３へ戻る。

【０１０７】以上の様な構成にすれば、手振れの大きな
周波数の位相ズレが少なくなる為、防振精度を更に高め
る事が出来る。

【０１０８】 図６は本発明の第３の実施例を示すブロ
ック図であり、この実施例は、レンズ鏡筒に入力される
手振れ量に応じて振動検出手段１１の時定数（該振動検
出手段が角変位検出装置であった場合は、そのバネ力、
角加速度計であった場合は、積分器の時定数）を変更し
ようとするものである。

【０１０９】図６において、図１と異なるのは、比較手
段１８の出力が切換手段１４を制御するのではなく、振
動検出手段１１の時定数変更手段３１を制御している点
であり、手振れ量が大きく、整流手段１６の出力が基準
信号発生手段１７よりの基準信号よりも大きい時は、比
較手段１８よりの出力によって時定数変更手段３１が制
御され、振動検出手段１１の時定数が大きい値に設定さ
れる。

【０１１０】 図７は図６の構成における特性を示す図
であり、時定数変更前の特性（利得７３４Ｇ，位相７３
４Ｐ）に比べ、時定数変更後の特性（破線の利得３２
Ｇ，位相３２Ｐ）は析点が低い点に移動し、２Ｈｚの位
相ズレはψ７１からψ３１に減少している。

【０１１１】その為、位相ズレによる防振精度の劣化が
少なくなる。又、低周波手振れを生じることの少ない人
の場合には時定数の変更がなされず、従来と同様に利得
７３４Ｇ，位相７３４Ｐで示す特性となるが、元々の手
振れ量が少ない為、位相ズレψ７１による防振精度の劣
化は極僅かである。

【０１１２】図８は、振動検出手段１１として角変位検
出装置を用いた場合における時定数変更を実現するため
の回路構成を示すものであり、これは、前記図１７の回
路における抵抗７１８が可変抵抗４１になった点のみが
異なる。

【０１１３】上記の構成において、比較手段１８の出力
により可変抵抗４１の抵抗値が可変、つまり抵抗７１８
よりも大きい抵抗値に可変される。その為、可変抵抗４
１と抵抗７１９で分割される電圧が小さくなり、巻線コ
イル７７へ流れる電流量が少なくなる。即ち、角変位検
出装置のバネ力が弱くなり、図７に示した利得３２Ｇ，
位相３２ｐの様な特性になる。

【０１１４】 ところで、バネ力が弱くなると、前述し
た様に外乱（例えばカメラを持直す等の大振り）で浮体
７３が大きく変位し、ストッパに当った後、中心付近に
復帰する迄の時間が長くなってしまう。その為、はじめ
（防振システムオン時）からバネ力を弱くしておくと、
防振が効き始める迄（振動検出手段１１が手振れ検出出
力を始める迄）に長時間を必要としてしまう。ところ
が、この構成例の様に、バネ力をある程度強くして手振
れ検出を開始し、その出力の大きさで時定数を変更して
ゆくと、早期から防振が行え、且つ手振れを生じる撮影
者でも防振精度を劣化させる事はない。

【０１１５】

【０１１６】

【０１１７】

【０１１８】

【０１１９】

【０１２０】

【０１２１】

【０１２２】

【０１２３】

【０１２４】

【０１２５】

【０１２６】 （発明と実施例の対応） 図示実施例に
おいて、振動検出手段１１が本発明の振れ検出手段に、
補正光学手段１２が本発明の像ぶれ補正手段に、帯域通
過手段１５が本発明の信号抽出手段に、比較手段１８が
本発明の比較手段に、位相調整手段１３及び切換手段１
４、又は時定数変更手段３１が本発明の可変手段に、そ
れぞれ相当する。

【０１２７】

【発明の効果】 以上説明したように、本発明によれ
ば、振れの状況が変化したとしても、精度良く像ぶれ補
正を行うことのできる像ぶれ補正装置を提供できるもの
である。

【０１２８】

【０１２９】

【０１３０】

【図面の簡単な説明】

【図１】 本発明の第１の実施例を示すブロック図であ
る。

【図２】 図１の防振装置の特性について説明するため
の図である。

【図３】 本発明の第２の実施例を示すブロック図であ
る。

【図４】 図３の位置調整手段の具体的な構成を示す回
路図である。

【図５】 図３の防振装置の動作を示すフロ−チャ−ト
である。

【図６】 本発明の第３の実施例を示すブロック図であ
る。

【図７】 図６の防振装置における特性について説明す
るための図である。

【図８】 図６の振動検出手段に角変位検出装置を用い
た場合における時定数変更を実現するための回路図であ
る。

【図１３】 従来の装置における振動検出手段としての
角変位検出装置及びその主要部分の回路ブロックを示す
構成図である。

【図１４】 図１３のＡ−Ａ断面図である。

【図１５】 図１３の角変位検出装置の斜視図である。

【図１６】 図１３のＢ−Ｂ断面図である。

【図１７】 図１３の各回路の具体的な構成を示す回路
図である。

【図１８】 図１３の角変位検出装置の特性を示す図で
ある。

【図１９】 図１３の角変位検出装置の防振劣化につい
て説明するための図である。

【図２０】 従来の装置における振動検出手段としての
角加速度計の構造を示す分解斜視図である。

【図２１】 図２０の角加速度計の角加速度検出回路を
示すブロック図である。

【図２２】 図２１の各回路の具体的な構成を示す回路
図である。

【図２３】 図２０の角加速度計の特性について説明す
るための図である。

【図２４】 従来の装置におけるスライド式の第１の補
正光学手段及びその駆動手段を示す構成図である。

【図２５】 図２４の各回路の具体的な構成を示す回路
図である。

【図２６】 図２４の補正光学機構の特性について説明
するための図である。

【図２７】 従来の装置におけるスライド式の第２の補
正光学手段及びその駆動手段を示す構成図である。

【図２８】 図２７の補正光学機構の特性について説明
するための図である。

【図２９】 従来の装置における可変頂プリズムによる
補正光学手段の構成を示す斜視図である。

【図３０】 防振検出手段として角変位検出装置を用い
て成る従来のカメラの防振装置を示す斜視図である。

【図３１】 防振検出手段として角加速度計を用いて成
る従来のカメラの防振装置を示す斜視図である。

【符号の説明】

１１ 振動検出手段 １２ 補正光学手段 １３ 位相調整手段 １４ 切換手段 １５，１５ａ，１５ｂ，１５ｃ 帯域通過手段 １６，１６ａ，１６ｂ，１６ｃ 整流手段 １７ 基準信号発生手段 ２２ マイクロコンピュータ ２３ 比較手段 ２４ 時定数変更手段 ３１ 時定数変更手段

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 装置の振れ状態を検出する振れ検出手段
   の出力に応じて、像ぶれ補正手段を動作させて像ぶれを
   補正する像ぶれ補正装置であって、前記像ぶれ補正手段
   に入力される前記振れ検出手段の出力の周波数特性を変
   化させる可変手段と、前記振れ検出手段の出力の所定周
   波数成分を抽出する信号抽出手段と、前記信号抽出手段
   により抽出される信号を所定の基準信号と比較する比較
   手段とを有し、前記可変手段は、前記信号抽出手段によ
   り抽出される信号が前記所定の基準信号より大きいとき
   には、前記所定周波数成分の振れ信号について位相ずれ
   が小さくなるように前記像ぶれ補正手段に入力される前
   記振れ検出手段の出力の周波数特性を変化させることを
   特徴とする像ぶれ補正装置。