JPH0434611U - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0434611U
JPH0434611U JP7537190U JP7537190U JPH0434611U JP H0434611 U JPH0434611 U JP H0434611U JP 7537190 U JP7537190 U JP 7537190U JP 7537190 U JP7537190 U JP 7537190U JP H0434611 U JPH0434611 U JP H0434611U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
measured
gauge
measuring device
inner diameter
pallet
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP7537190U
Other languages
English (en)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP7537190U priority Critical patent/JPH0434611U/ja
Publication of JPH0434611U publication Critical patent/JPH0434611U/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】
第1図は本考案に係る自動測定装置の一実施例
の全体構成を示す一部を切欠いた斜視図、第2図
は第1図の要部の拡大斜視図、第3図は本実施例
に用いられる内径測定ゲージヘツドの一例を示す
略第4図の−線に沿う一部断面図、第4図は
第3図の−線に沿う拡大断面図である。 10……自動測定手段、11……ベースフレー
ム、13……パレツト、15……Y方向駆動手段
、21……Y方向変位量検出手段、24……X方
向変位量検出手段、27……Z方向変位量検出手
段、30……座標測定手段、41……接触式プロ
ーブ、50……複数ゲージ式内径測定手段、60
,70,80,90,100,110……ゲージ
ユニツト、64,74,84,94,104,1
14……ユニツト駆動機構、65,75,85,
95,105,115……内径測定ゲージヘツド
、161……ゲージボデー、164,167……
付勢手段としての平行ばね、174……接触子、
176……変位量検出器、W……被測定物、H…
…孔。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 複数の孔を形成された少なくとも一面の被
    測定面を有する被測定物の各孔の直径等を測定す
    る自動測定装置であつて、 孔の半径方向に変位可能な少なくとも1つの接
    触子を有する内径測定ゲージヘツドと、 被測定物の孔に対応した複数の内径測定ゲージ
    ヘツドをそれぞれ対応した各孔の半径方向に揺動
    可能な状態で、かつ、所定位置に復帰させる付勢
    手段を介して支持するとともに、これらの複数の
    内径測定ゲージヘツドを支持したまま被測定物の
    被測定面に対して進退可能に設けられたゲージユ
    ニツトと、 このゲージユニツトを進退駆動するユニツト駆
    動機構と、 を具備したことを特徴とする自動測定装置。 (2) 請求項1に記載の自動測定装置において、
    前記ゲージユニツトを支持するベースフレームと
    、 このベースフレームに対し水平面内の一方向で
    あるY方向に沿つて被測定物を移動させるパレツ
    トと、 このパレツトのY方向の変位量を検出するY方
    向変位量検出手段と、 前記ベースフレームに対し、水平面内における
    前記パレツトの変位方向に直交する所定方向であ
    るX方向に沿つて変位可能、かつ、鉛直方向であ
    るZ方向に沿つて変位可能に設けられた座標測定
    手段と、 この座標測定手段に着脱可能な接触式プローブ
    と、 を具備したことを特徴とする自動測定装置。
JP7537190U 1990-07-16 1990-07-16 Pending JPH0434611U (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7537190U JPH0434611U (ja) 1990-07-16 1990-07-16

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7537190U JPH0434611U (ja) 1990-07-16 1990-07-16

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0434611U true JPH0434611U (ja) 1992-03-23

Family

ID=31615897

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP7537190U Pending JPH0434611U (ja) 1990-07-16 1990-07-16

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0434611U (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002328018A (ja) * 2001-03-02 2002-11-15 Mitsutoyo Corp 測定機の校正方法及び装置
WO2012063833A1 (ja) * 2010-11-09 2012-05-18 三菱重工業株式会社 穴検査装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002328018A (ja) * 2001-03-02 2002-11-15 Mitsutoyo Corp 測定機の校正方法及び装置
WO2012063833A1 (ja) * 2010-11-09 2012-05-18 三菱重工業株式会社 穴検査装置
US9212881B2 (en) 2010-11-09 2015-12-15 Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. Hole examining device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH0439011B2 (ja)
JPH0459408U (ja)
JP4776772B2 (ja) 座標測定装置
JPH0434611U (ja)
JP3776526B2 (ja) 測定方法
JPH0548087Y2 (ja)
JPH0544722Y2 (ja)
JPH0212613U (ja)
JPH084997B2 (ja) 機械装置における変位測定装置
JPH0481727B2 (ja)
JPS62144156U (ja)
JPH0443767Y2 (ja)
JPH0248805U (ja)
JPH0727075Y2 (ja) 工具の寸法測定装置
JPH04251Y2 (ja)
JPS6241764Y2 (ja)
JPS6119895Y2 (ja)
JPS6240509U (ja)
JPH032807Y2 (ja)
JPH049223U (ja)
JPS6410610U (ja)
JPH09243351A (ja) 直角度測定装置
JPH0372305U (ja)
JPS63200104U (ja)
JPH02105104U (ja)