JPH0434611U - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0434611U JPH0434611U JP7537190U JP7537190U JPH0434611U JP H0434611 U JPH0434611 U JP H0434611U JP 7537190 U JP7537190 U JP 7537190U JP 7537190 U JP7537190 U JP 7537190U JP H0434611 U JPH0434611 U JP H0434611U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- measured
- gauge
- measuring device
- inner diameter
- pallet
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims description 7
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
Landscapes
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Description
第1図は本考案に係る自動測定装置の一実施例
の全体構成を示す一部を切欠いた斜視図、第2図
は第1図の要部の拡大斜視図、第3図は本実施例
に用いられる内径測定ゲージヘツドの一例を示す
略第4図の−線に沿う一部断面図、第4図は
第3図の−線に沿う拡大断面図である。 10……自動測定手段、11……ベースフレー
ム、13……パレツト、15……Y方向駆動手段
、21……Y方向変位量検出手段、24……X方
向変位量検出手段、27……Z方向変位量検出手
段、30……座標測定手段、41……接触式プロ
ーブ、50……複数ゲージ式内径測定手段、60
,70,80,90,100,110……ゲージ
ユニツト、64,74,84,94,104,1
14……ユニツト駆動機構、65,75,85,
95,105,115……内径測定ゲージヘツド
、161……ゲージボデー、164,167……
付勢手段としての平行ばね、174……接触子、
176……変位量検出器、W……被測定物、H…
…孔。
の全体構成を示す一部を切欠いた斜視図、第2図
は第1図の要部の拡大斜視図、第3図は本実施例
に用いられる内径測定ゲージヘツドの一例を示す
略第4図の−線に沿う一部断面図、第4図は
第3図の−線に沿う拡大断面図である。 10……自動測定手段、11……ベースフレー
ム、13……パレツト、15……Y方向駆動手段
、21……Y方向変位量検出手段、24……X方
向変位量検出手段、27……Z方向変位量検出手
段、30……座標測定手段、41……接触式プロ
ーブ、50……複数ゲージ式内径測定手段、60
,70,80,90,100,110……ゲージ
ユニツト、64,74,84,94,104,1
14……ユニツト駆動機構、65,75,85,
95,105,115……内径測定ゲージヘツド
、161……ゲージボデー、164,167……
付勢手段としての平行ばね、174……接触子、
176……変位量検出器、W……被測定物、H…
…孔。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 複数の孔を形成された少なくとも一面の被
測定面を有する被測定物の各孔の直径等を測定す
る自動測定装置であつて、 孔の半径方向に変位可能な少なくとも1つの接
触子を有する内径測定ゲージヘツドと、 被測定物の孔に対応した複数の内径測定ゲージ
ヘツドをそれぞれ対応した各孔の半径方向に揺動
可能な状態で、かつ、所定位置に復帰させる付勢
手段を介して支持するとともに、これらの複数の
内径測定ゲージヘツドを支持したまま被測定物の
被測定面に対して進退可能に設けられたゲージユ
ニツトと、 このゲージユニツトを進退駆動するユニツト駆
動機構と、 を具備したことを特徴とする自動測定装置。 (2) 請求項1に記載の自動測定装置において、
前記ゲージユニツトを支持するベースフレームと
、 このベースフレームに対し水平面内の一方向で
あるY方向に沿つて被測定物を移動させるパレツ
トと、 このパレツトのY方向の変位量を検出するY方
向変位量検出手段と、 前記ベースフレームに対し、水平面内における
前記パレツトの変位方向に直交する所定方向であ
るX方向に沿つて変位可能、かつ、鉛直方向であ
るZ方向に沿つて変位可能に設けられた座標測定
手段と、 この座標測定手段に着脱可能な接触式プローブ
と、 を具備したことを特徴とする自動測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7537190U JPH0434611U (ja) | 1990-07-16 | 1990-07-16 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7537190U JPH0434611U (ja) | 1990-07-16 | 1990-07-16 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0434611U true JPH0434611U (ja) | 1992-03-23 |
Family
ID=31615897
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7537190U Pending JPH0434611U (ja) | 1990-07-16 | 1990-07-16 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0434611U (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002328018A (ja) * | 2001-03-02 | 2002-11-15 | Mitsutoyo Corp | 測定機の校正方法及び装置 |
WO2012063833A1 (ja) * | 2010-11-09 | 2012-05-18 | 三菱重工業株式会社 | 穴検査装置 |
-
1990
- 1990-07-16 JP JP7537190U patent/JPH0434611U/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002328018A (ja) * | 2001-03-02 | 2002-11-15 | Mitsutoyo Corp | 測定機の校正方法及び装置 |
WO2012063833A1 (ja) * | 2010-11-09 | 2012-05-18 | 三菱重工業株式会社 | 穴検査装置 |
US9212881B2 (en) | 2010-11-09 | 2015-12-15 | Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. | Hole examining device |
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