JPH04236343A - ガラスエッジの欠点検出方法 - Google Patents
ガラスエッジの欠点検出方法Info
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- JPH04236343A JPH04236343A JP3018396A JP1839691A JPH04236343A JP H04236343 A JPH04236343 A JP H04236343A JP 3018396 A JP3018396 A JP 3018396A JP 1839691 A JP1839691 A JP 1839691A JP H04236343 A JPH04236343 A JP H04236343A
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- 239000011521 glass Substances 0.000 title claims abstract description 34
- 230000007547 defect Effects 0.000 title claims abstract description 20
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 9
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 4
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- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 abstract description 4
- 230000002950 deficient Effects 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
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- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/958—Inspecting transparent materials or objects, e.g. windscreens
-
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- G01N2021/9586—Windscreens
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、自動車用ガラス等の製
造ラインにおいて切断研磨後のガラスエッジに発生する
「カケ」、「ツノ」などの欠点を画像処理技術を用いて
検出するガラスエッジの欠点検出方法に関する。
造ラインにおいて切断研磨後のガラスエッジに発生する
「カケ」、「ツノ」などの欠点を画像処理技術を用いて
検出するガラスエッジの欠点検出方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、自動車用ガラスの製造ラインにお
いて切断研磨後の平板ガラスの検査は目視によって行わ
れている。
いて切断研磨後の平板ガラスの検査は目視によって行わ
れている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】切断研磨後の平板ガラ
スのエッジを目視により検査するのでガラス製造ライン
の完全自動化の妨げとなっていた。
スのエッジを目視により検査するのでガラス製造ライン
の完全自動化の妨げとなっていた。
【０００４】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決すべく本
発明は、ガラスのエッジ部分を撮像装置で画像処理装置
に入力し、所定のアルゴリズムで処理してガラスエッジ
に欠点があるかどうかを判定するものである。また、前
記アルゴリズムは画像処理装置に入力した画像データを
白と黒のみで表現した２値化画像に変換した後に各列の
画素を行の上方から検索して黒から初めて白になる画素
の座標値Ａｉと下方から検索して黒から初めて白になる
画素の座標値Ｂｉを求めると共に座標値Ａｉと座標値Ｂ
ｉの差Ｃｉと、差Ｃｉととなりの列の差Ｃｉ−１との差
分Ｄｉを求めてＣｉ＝０又はＤｉが判定値Ｌよりも大き
いときガラスは欠点を有すると判定することが好ましい
。
発明は、ガラスのエッジ部分を撮像装置で画像処理装置
に入力し、所定のアルゴリズムで処理してガラスエッジ
に欠点があるかどうかを判定するものである。また、前
記アルゴリズムは画像処理装置に入力した画像データを
白と黒のみで表現した２値化画像に変換した後に各列の
画素を行の上方から検索して黒から初めて白になる画素
の座標値Ａｉと下方から検索して黒から初めて白になる
画素の座標値Ｂｉを求めると共に座標値Ａｉと座標値Ｂ
ｉの差Ｃｉと、差Ｃｉととなりの列の差Ｃｉ−１との差
分Ｄｉを求めてＣｉ＝０又はＤｉが判定値Ｌよりも大き
いときガラスは欠点を有すると判定することが好ましい
。
【０００５】
【作用】ガラスエッジに欠点があるかどうかを判定する
。
。
【０００６】
【実施例】以下に本発明の実施例を添付図面に基づいて
説明する。図１の（Ａ）は本発明に係るガラスエッジの
欠点検出方法の説明図、図１の（Ｂ）は５１２×５１２
画素におけるガラスエッジの２値化画像を示す図である
。
説明する。図１の（Ａ）は本発明に係るガラスエッジの
欠点検出方法の説明図、図１の（Ｂ）は５１２×５１２
画素におけるガラスエッジの２値化画像を示す図である
。
【０００７】ガラスエッジの欠点検出方法を実施するた
めの検出装置は、撮像装置であるＣＣＤカメラ１とＣＣ
Ｄカメラ１より入力されたガラス２のエッジ研磨面３の
画像データを記憶して処理し、「カケ」や「ツノ」など
の欠点が有るか否かを判定する画像処理装置４から構成
されている。ＣＣＤカメラ１は産業用ロボット（不図示
）に装着され、大きさや形状の異なる各種ガラス２のエ
ッジ研磨面３近傍の画像をガラス２の全周にわたって撮
ることができるように産業用ロボットにおいてプログラ
ムされている。
めの検出装置は、撮像装置であるＣＣＤカメラ１とＣＣ
Ｄカメラ１より入力されたガラス２のエッジ研磨面３の
画像データを記憶して処理し、「カケ」や「ツノ」など
の欠点が有るか否かを判定する画像処理装置４から構成
されている。ＣＣＤカメラ１は産業用ロボット（不図示
）に装着され、大きさや形状の異なる各種ガラス２のエ
ッジ研磨面３近傍の画像をガラス２の全周にわたって撮
ることができるように産業用ロボットにおいてプログラ
ムされている。
【０００８】ガラスエッジの欠点検出方法のアルゴリズ
ムを図２に示すフローチャートに従って説明する。ＣＣ
Ｄカメラ１でガラス２のエッジ研磨面３近傍をガラス２
の全周にわたって撮像し（Ｓ１）、ＣＣＤカメラ１の出
力である濃淡画像の画像データを画像処理装置４に配設
されたメモリに入力する（Ｓ２）。次に、メモリに記憶
された濃淡画像の画像データをあるレベルで２値化し、
白と黒のみで表現した２値化画像５に変換する（Ｓ３）
。そして、ノイズ処理ルーチンによって２値化画像内の
ノイズを除去する。（Ｓ４）。
ムを図２に示すフローチャートに従って説明する。ＣＣ
Ｄカメラ１でガラス２のエッジ研磨面３近傍をガラス２
の全周にわたって撮像し（Ｓ１）、ＣＣＤカメラ１の出
力である濃淡画像の画像データを画像処理装置４に配設
されたメモリに入力する（Ｓ２）。次に、メモリに記憶
された濃淡画像の画像データをあるレベルで２値化し、
白と黒のみで表現した２値化画像５に変換する（Ｓ３）
。そして、ノイズ処理ルーチンによって２値化画像内の
ノイズを除去する。（Ｓ４）。
【０００９】更に、図１の（Ｂ）に示すように５１２×
５１２画素の２値化画像５の配列画素に対して各列（５
１２列）の画素を上方の行からと下方の行から検索して
（Ｓ５）、黒から初めて白になる点（画素）の座標値を
求める（Ｓ６）。行の上方（矢印Ｘ方向）から検索して
求めた点（画素）列をＡ点列（５１２個の点列となる）
とし、行の下方（矢印Ｙ方向）から検索して求めた点（
画素）列をＢ点列（５１２個の点列となる）とする（Ｓ
７）。このように検索しても白の点（画素）がなければ
Ａ点はとなりの点（画素）と同じ座標値としＢ点はＡ点
と同じ座標値とする。
５１２画素の２値化画像５の配列画素に対して各列（５
１２列）の画素を上方の行からと下方の行から検索して
（Ｓ５）、黒から初めて白になる点（画素）の座標値を
求める（Ｓ６）。行の上方（矢印Ｘ方向）から検索して
求めた点（画素）列をＡ点列（５１２個の点列となる）
とし、行の下方（矢印Ｙ方向）から検索して求めた点（
画素）列をＢ点列（５１２個の点列となる）とする（Ｓ
７）。このように検索しても白の点（画素）がなければ
Ａ点はとなりの点（画素）と同じ座標値としＢ点はＡ点
と同じ座標値とする。
【００１０】次に、ｉ列（ｉ＝１〜５１２）のＡ点の座
標値ＡｉとＢ点の座標値Ｂｉの差Ｃｉを求める（Ｓ８）
。 この差Ｃｉ＝Ｂｉ−Ａｉが通常ガラス２の研磨幅になる
。 また、各列のＣｉに対してとなりの列のＣｉ−１との差
分Ｄｉ＝Ｃｉ−Ｃｉ−１を求める（Ｓ９）。但し、最初
の差分Ｄｉ＝０とする。そして、差Ｃｉ＝０であればエ
ッジが研磨されていない場合又はエッジ部分が欠けてい
る場合であると判断して（Ｓ１０）、欠点検出信号を出
力する（Ｓ１２）。又、差Ｃｉ≠０であっても差分Ｄｉ
が判定値Ｌよりも大きければ研磨幅が基準より大きい場
合又はエッジ部分が欠け且つガラス面に凹部が発生して
いる場合であると判断して（Ｓ１１）、欠点検出信号を
出力する（Ｓ１２）。
標値ＡｉとＢ点の座標値Ｂｉの差Ｃｉを求める（Ｓ８）
。 この差Ｃｉ＝Ｂｉ−Ａｉが通常ガラス２の研磨幅になる
。 また、各列のＣｉに対してとなりの列のＣｉ−１との差
分Ｄｉ＝Ｃｉ−Ｃｉ−１を求める（Ｓ９）。但し、最初
の差分Ｄｉ＝０とする。そして、差Ｃｉ＝０であればエ
ッジが研磨されていない場合又はエッジ部分が欠けてい
る場合であると判断して（Ｓ１０）、欠点検出信号を出
力する（Ｓ１２）。又、差Ｃｉ≠０であっても差分Ｄｉ
が判定値Ｌよりも大きければ研磨幅が基準より大きい場
合又はエッジ部分が欠け且つガラス面に凹部が発生して
いる場合であると判断して（Ｓ１１）、欠点検出信号を
出力する（Ｓ１２）。
【００１１】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、比
較的簡便な装置で、且つ簡単なアルゴリズムで画像デー
タを処理してガラスエッジに欠点が有るかどうかを判定
することができる。また、検査工程の自動化を達成でき
る。
較的簡便な装置で、且つ簡単なアルゴリズムで画像デー
タを処理してガラスエッジに欠点が有るかどうかを判定
することができる。また、検査工程の自動化を達成でき
る。
【図１】（Ａ）は本発明に係るガラスエッジの欠点検出
方法の説明図、（Ｂ）は５１２×５１２画素におけるガ
ラスエッジの２値化画像を示す図
方法の説明図、（Ｂ）は５１２×５１２画素におけるガ
ラスエッジの２値化画像を示す図
【図２】ガラスエッジの欠点検出方法におけるアルゴリ
ズムのフローチャートを示す図
ズムのフローチャートを示す図
１…ＣＣＤカメラ（撮像装置）、２…ガラス、３…ガラ
スエッジ研磨面、４…画像処理装置、５…２値化画像、
Ａｉ，Ｂｉ…座標値、Ｃｉ…座標値Ａｉと座標値Ｂｉと
の差、Ｄｉ…ＣｉとＣｉ−１との差分、Ｌ…判定値。
スエッジ研磨面、４…画像処理装置、５…２値化画像、
Ａｉ，Ｂｉ…座標値、Ｃｉ…座標値Ａｉと座標値Ｂｉと
の差、Ｄｉ…ＣｉとＣｉ−１との差分、Ｌ…判定値。
Claims (2)
- 【請求項１】 ガラスのエッジ部分を撮像装置で画像
処理装置に入力し、所定のアルゴリズムで処理してガラ
スエッジに欠点があるかどうかを判定することを特徴と
するガラスエッジの欠点検出方法。 - 【請求項２】 前記アルゴリズムは画像処理装置に入
力した画像データを白と黒のみで表現した２値化画像に
変換した後に各列の画素を行の上方から検索して黒から
初めて白になる画素の座標値Ａｉと下方から検索して黒
から初めて白になる画素の座標値Ｂｉを求めると共に座
標値Ａｉと座標値Ｂｉの差Ｃｉと、差Ｃｉととなりの列
の差Ｃｉ−１との差分Ｄｉを求めてＣｉ＝０又はＤｉが
判定値Ｌよりも大きいときガラスは欠点を有すると判定
する請求項１記載のガラスエッジの欠点検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3018396A JPH04236343A (ja) | 1991-01-18 | 1991-01-18 | ガラスエッジの欠点検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3018396A JPH04236343A (ja) | 1991-01-18 | 1991-01-18 | ガラスエッジの欠点検出方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04236343A true JPH04236343A (ja) | 1992-08-25 |
Family
ID=11970540
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3018396A Withdrawn JPH04236343A (ja) | 1991-01-18 | 1991-01-18 | ガラスエッジの欠点検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04236343A (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005345386A (ja) * | 2004-06-04 | 2005-12-15 | Tdk Corp | チップ部品の検査方法及びその検査装置 |
| JP2006300663A (ja) * | 2005-04-19 | 2006-11-02 | Asahi Glass Co Ltd | 欠点検出システム |
| KR100741258B1 (ko) * | 2006-06-22 | 2007-07-19 | 삼성코닝정밀유리 주식회사 | 유리기판의 그라인딩 시스템 |
| CN102590222A (zh) * | 2012-03-06 | 2012-07-18 | 英利能源（中国）有限公司 | 一种光伏组件缺陷检测方法及*** |
| CN103163156A (zh) * | 2013-03-21 | 2013-06-19 | 万新光学集团有限公司 | 一种基于机器视觉技术的镜片疵病自动分级方法 |
| CN103759644A (zh) * | 2014-01-23 | 2014-04-30 | 广州市光机电技术研究院 | 一种滤光片表面缺陷的分离细化智能检测方法 |
| CN106990119A (zh) * | 2017-04-27 | 2017-07-28 | 中科慧远视觉技术（洛阳）有限公司 | 一种自动检测白玻表面缺陷的视觉检测***及检测方法 |
-
1991
- 1991-01-18 JP JP3018396A patent/JPH04236343A/ja not_active Withdrawn
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005345386A (ja) * | 2004-06-04 | 2005-12-15 | Tdk Corp | チップ部品の検査方法及びその検査装置 |
| JP2006300663A (ja) * | 2005-04-19 | 2006-11-02 | Asahi Glass Co Ltd | 欠点検出システム |
| KR100741258B1 (ko) * | 2006-06-22 | 2007-07-19 | 삼성코닝정밀유리 주식회사 | 유리기판의 그라인딩 시스템 |
| CN102590222A (zh) * | 2012-03-06 | 2012-07-18 | 英利能源（中国）有限公司 | 一种光伏组件缺陷检测方法及*** |
| CN103163156A (zh) * | 2013-03-21 | 2013-06-19 | 万新光学集团有限公司 | 一种基于机器视觉技术的镜片疵病自动分级方法 |
| CN103759644A (zh) * | 2014-01-23 | 2014-04-30 | 广州市光机电技术研究院 | 一种滤光片表面缺陷的分离细化智能检测方法 |
| CN106990119A (zh) * | 2017-04-27 | 2017-07-28 | 中科慧远视觉技术（洛阳）有限公司 | 一种自动检测白玻表面缺陷的视觉检测***及检测方法 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19980514 |