JPH03257304A

JPH03257304A - 位置認識装置

Info

Publication number: JPH03257304A
Application number: JP2057111A
Authority: JP
Inventors: Akira Kobayashi; 彰小林; Nobutaka Taira; 平良　信孝; Yasushi Mizuoka; 靖司水岡
Original assignee: Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Current assignee: Panasonic Holdings Corp
Priority date: 1990-03-08
Filing date: 1990-03-08
Publication date: 1991-11-15
Anticipated expiration: 2013-04-28
Also published as: KR910017328A; JP2745764B2; US5136661A; KR940003829B1

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】産業上の利用分野本発明は電子回路を構成する基板上の位置補正用のマー
クやＩＣパッド等の部品の位置認識等を画像人力装置に
より行う位置認識装置に関するものである。

従来の技術近年、電子回路を構成する基板上の位置補正用のマーク
やＱＦＰ等のリード位置の認識等に非接触で画像等のパ
ターンによる位置認識が行われている。

族１図面を参照しながら、上述した従来の位置認識につ
いて説明する。第４図は従来の位置認識装置の構成図で
ある。位置決めテーブル２１の上に置かれた認識すべき
パターンを有する対象物２２を入力するために照明装置
２３が設置され、可動テレビカメラ支持部２５にテレビ
カメラ２４が設置されている。ここで、テレビカメラ２
４はテレビカメラ制御回路２６により制御されている。

テレビカメラ２４により入力された映像信号は、アナロ
グディジタル変換（以後、Ａ／Ｄ変換という）回路２７
に入り、画像の濃度によりＯ〜２５５　（２５６階調）
等の画像データに数値化され、ＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭ
及び人出力ボート等から構成されるマイクロコンピュー
タに入力される。

パターン位置認識装置としては、主コントローラあるい
は操作盤より指令が与えられる判定制御回路（ＣＰＵ）
２８と、人力画像を２値化する２値化制御回路２９と、
前記画像に対して処理する範囲を窓枠として設定する窓
枠制御回路３０と、前記窓枠内の２値化画像から部分的
２次元パターンをテンプレートとして逐次切り出す部分
テンプし・〜　１〜切り出し回路３１と、認識ずへきパ
ターンを予め目標テンプレートとして記憶しておく目標
デンプレートメ→ニーり回路３２と、前記切り出された
目標テンプレートと予め記憶しておいた目標テンプレー
トとを比較するテンプレート比較回路３３と、前記テン
プレート比較回路３３により目標テンプレートと最も一
致する部分テンプレートであると判定されたテンプレー
トの代表の位置を検出する代表位置装出回路３４とから
構成されている。認識結果は主コントローラへ送出され
る。

以上のように構成されたパターン位置認識装置について
、以下その動作について説明する。

まず、第５図のフローチャートに示すように、認識すべ
きパターンを有する対象物２２を位置決めテーブル２１
等に載せ、テレビカメラ２４の熟度を合わせ一画面を人
力するくステップ２１〉。

前記人力された画像を２値化しくステップ２２〉、処理
する範囲を窓枠として設定しくステップ２３〉、前記窓
枠内の２次元パターンから部分テンプレートを切り出し
くステップ２４〉、予め記憶しておいた目標テンプレー
トとの各画素（ビット）の排他的論理和を求めることで
両者の一致度としくステップ２５〉、ステップ２４．ス
テップ２５を窓枠内金てに対して行ない、排他的論理和
の合計が最大てあった部分テンプレートの左上等の点を
認識した点として、」二記認識した点の位置を部分テン
プレートの代表位置として検出するくステップ２６〉。

ただし、認識エラー時にはくステップ２１＞へ戻り、画
像入力を行ない２値化レベルを変えて再度以後のステッ
プを行う〈ステップ２７〉。

発明が解決しようとする課題しかしながら、前記のような従来の構成では、２次元の
部分テンプレートを２次元の目標テンプレートの各画素
のピットの排他的論理和の合計により一致度を比較する
ためデータ量が多く処理時間が大変長いものとなる。

また、画像入力時の照明変化やテレビカメラの感度変化
等により人力画像の濃度が変化した場合、２値化を同し
レベルで行うと認識精度が低下し、そのため２値化のレ
ベルを変化させるという２値レヘル制御を行うのだが処
理が複雑となり、加えて処理時間が長くなる。

さらに電子回路基板に用いられるセラミック基板上の金
マークの様にパターン表面が一様に光らないものは認識
困難であった。

そこで本発明はこの課題を解決するため、パターン、部
品と背景との濃度の境界に着目し、これを１次元方向の
画像データを用いて検出することて処理データ量を削減
し、２値レベル制御不要の濃淡画像によりパターン、部
品の位置を認識する位置認識装置を提供するものである
（第１の発明）。

また本発明の第２の目的は、第１の発明に画像強調を付
加し、低コントランス画像に対しても安定してパターン
部品の位置を認識する位置認識装置を提供することにあ
る（第２の発明）。

また本発明の第３の目的は、第２の発明における背景と
パターン、部品の切り分けレベル検出に、パターン、部
品の寸法を利用し、簡単で高速なレベル検出を行う位置
認識装置を提供することにある（第３の発明）。

また本発明の第４の目的は、第１の発明におけるエツジ
検出を高精度に行う位置認識装置を提供することにある
（第４の発明）。

また本発明の第５の目的は、第１の発明における認識対
象範囲の拡張、つまりパターン表面の不均一に起因する
複数エツジ検出に対応した位置認識装置を提供すること
にある（第５の発明）。

また本発明の第６の目的は、第５の発明における認識精
度をより高精度にした位置認識装置を提供することにあ
る（第６の発明）。

また本発明の第７の目的は、第１の発明における認識を
より高速にした位置認識装置を提供することにある（第
７の発明）。

課題を解決するための手段本発明の第１の発明は、認識すべきパターンを含む対象
物をテレビカメラにより取り込み画像信号を入手し、ｘ
−ｙ−ｆ空間を構成（ｆはｘ−ｙ画像子面上の濃度）、
画像中の画素（ｉ、ｊ）の濃度をｆｉｊとし画像の濃淡
の境界線上の点（以後エツジという）を検出する際、境
界線に対し平行でない方向の１次元データに対し、前記
認識すべきパターンのエツジを含む適当なサイズのエツ
ジのモデルｇ　（ｕ）　（１次元のエツジのモデル内Ｕ
の濃度）を走査し、部分テンプレートとして順次切り出
される１次元エツジ検出データｆ　ｉ　ｊ　（ｕ）とｇ
（ｔｌ）に対し、対応する各画素の濃度差の和Ｄ１ｎを
演算するミスマッヂ度演算手段と、エツジのモデルｇ　
（ｕ）内の着目点からの幾可学的はアンバランス度Ｄ２
ｏを演算するアンバランス度演算手段と、前記ミスマツ
チ度Ｄ　及びアンバランス度Ｄ２ｎの２つｎの要素からエツジの評価指数Ｄ　ｎ　＝ｍ、　Ｄ、ｏ＋
ｍ２Ｄ　２．　（ｒｎ　Ｈ、ｒｎ２は荷重パラメータ）
を演算し、Ｘｙ−Ｄ空間へｘ−ｙ−ｆ空間上の部分テン
プレートを代表する点を写像する１次元エツジ検出変換
手段と、前記１次元エツジ検出変換手段によりＸ−ｙ−
ｆ空間からｘ−ｙ−Ｄ、ｎ−空間へ写像されたテンプレ
ートの代表点画像データから構成される曲線の最小また
は極小を検出する最大・極小点検出手段とを備えたこと
を特徴とするものである。

また、本発明の第２の発明は、第１の発明において、窓
枠内の画像の背景部またはパターン部の濃度を検出し、
背景部とパターン部との濃度の切り分けレベルを算出し
前記検出された濃度により、前記１次元エツジ検出デー
タの画像強調を行うように構成したものである。

また本発明の第３の発明は、第１の発明において、１次
元エツジ検出データのヒストグラムを作成し、パターン
または部品の所定の寸法を用い背景部とパターン部との
濃度の切り分けレベルを検出し、１次元エツジ検出デー
タの画像強調を行うように構成したものである。

また本発明の第４の発明は、第１の発明において、１次
元エツジ変換手段において、エツジ評価指数が適当な許
容範囲内であるテンプレートの代表点のみを候補点とし
て写像変換し、前記複数候補点（ｘ、ｙ、Ｄ＞に対し、
エツジ評価指数りを重みにした荷重平均を行ないエツジ
（ｘ、ｙ）として検出するように構成したものである。

また本発明の第５の発明は、第１の発明において、１次
元エツジ検出データに対し、複数のエツジを検出する場
合、エツジ評価指数が適当な許容範囲内であるテンプレ
ートの代表点のみを候補点として写像変換する手段と、
前記複数候補点に対して、認識すべきエツジ間の距離関
係をもとに距離検定を行ないエツジを検出するように構
成したものである。

また本発明の第６の発明は、第５の発明において、候補
点として写像された点に対して、適当な距離によりグル
ービングを行ない、各グループの候補点（ｘ、ｙ、Ｄ）
に対し、前記同様荷重平均を行ない、各グループの代表
値として検出し、距離測定を行うように構成したもので
ある。

また本発明の第７の発明は、第４．５．６の発明におい
て、候補点検出において、最大候補点数を設定し、エツ
ジのモデルを走査中に候補点数が最大数に至った場合、
許容範囲の値を更新するように構成したものである。

作　　　用本発明の第１の発明によれば、認識すべきエツジを含む
１次元のモデルを認識すべきエツジを含１２む入力画像の１次元エツジ検出データに対して走査し、
濃度差と幾可学的なバランスに着目してエツジを検出す
るためデータ量が少なく、またパターン、部品を２値レ
ベル制御なく高速に認識することができる。

また、本発明の第２の発明によれば、背景（またはパタ
ーン、部品）の濃度を検出し、画像強調を行うため、低
コントラスト画像に対しても安定して認識することが可
能である。

また本発明の第３の発明によれば、パターン。

部品の寸法と、１次元エツジ検出データの濃度ヒストグ
ラムより背景とパターン、部品の濃度の切り分けレベル
を検出し、画像強調を行うため、低コントラスト画像に
対しても安定して認識することが可能である。

また本発明の第４の発明によれば、エツジ評価指数の良
いものを候補点として検出し荷重平均を行うため安定で
、高精度な認識を行うことが可能である。

また、本発明の第５の発明によれば、複数の候補点と距
離検定を組み合わせて行うため、パターン、部品の表面
が一様でないものや複数エツジの認識を行うことが可能
となる。

また本発明の第６の発明によれば、第５の発明にグルー
ピング処理と荷重平均処理を付加したため、パターン、
部品の表面が一様でないものや複数エツジの認識をより
高精度に行うことが可能となる。

また本発明の第７の発明によれば、候補点検出の際のエ
ツジ評価指数の許容範囲を更新するため高速な認識を行
うことが可能となる。

実施例以下本発明の一実施例について第１図から第３図（ａ）
〜（ｍ）を参照しながら説明する。

第１図は位置認識装置の構成例を示している。

位置決めテーブル１の上に置かれた対象物２の画像を入
力するために照明装置３が設置され、可動テレビカメラ
支持部５にテレビカメラ４が設置されている。ここで、
テレビカメラ４はテレビカメラ制御回路６により制御さ
れている。テレビカメラ４により入力された対象物２の
映像信号は、Ａ／Ｄ変換回路７に入り、画像の濃度によ
りＯ〜２５５等の画像データに数値化され、ｃｐｕ。

ＲＯＭ、ＲＡＭ及び入出力ボート等から構成されるマイ
クロコンピュータに入力される。

位置認識装置は、主コントローラあるいは操作盤より指
令が与えられる判定制御回路（ＣＰＵ）８と、入力画像
をに対して処理する範囲を窓枠として設定する窓枠制御
回路９と、前記窓枠内の画像に対し検出方向に対し垂直
、水平方向に平滑化処理を行ない、１次元エツジ検出用
のデータを作成する１次元エツジ検出データ作成回路１
０と、１次元エツジ検出のためのエツジのモデルを複数
のサンプルから適当な大きさ（例えば１６画素ライン）
て作成する１次元エツジモデル作成回路１１と、前記作
成されたエツジのモデルを記憶しておくエツジモデルメ
モリ回路１２と、前記１次元エツジ検出用のデータから
部分的にテンプレートとして逐次切り出す１次元エツジ
検出テンプレート切り出し回路１３と、前記１次元エツ
ジ検出用データに対しモデルのエツジを走査し前記１次
元エツジ検出テンプレートとエツジのモデルの対応する
各画素の濃度差の和を演算するミスマツチ度演算回路１
４と、前記１次元エツジ検出テンプレートとエツジのモ
デルとの幾可学的なバランスを評価する指数を演算する
アンバランス度演算回路１５と、前記ミスマツチ度とア
ンバランス度を総合的に評価する指数を演算するエツジ
評価指数演算回路１６と、各エツジ検出用テンプレート
に対するエツジ評価指数のうち最小値または極小値ある
いは適当な許容範囲内にあるテンプレートの代表値をエ
ツジの候補点として検出するエツジ候補判定回路１７と
、前記候補点を距離関係によりグルービングする候補点
グルーピング回路１８と、前記分類された各グループ内
の要素（座標）に対してエツジ評価指数を重みにして荷
重平均を行う近傍処理回路１９と、前記近傍処理により
検出された各グループの代表点に対して距離検定を行な
い認識装置を検出する認識位置検出回路２０とから構成
されている。位置認識結果は主コント５６０−ラヘ送出される。

以上のように構成された位置認識装置について、以下そ
の動作について説明する。

まず、第２図のフローチャートに示す様に認識すべきパ
ターンを有す対象物２を位置決めテーブル１に載せ、テ
レビカメラ４の照度を合わせ一画面を人力しくステップ
１〉（画像入力部）、前記入力された画像に対して処理
する範囲を窓枠として設定するくステップ２〉（窓枠設
定手段）。

第３図（ａ）に示す様に、前記窓枠内の例えば垂直方向
および水平方向の中心点からＸ軸に平行な直線を考え、
この直線を１次元エツジ検出軸とし第３図（ｄ）に示す
様に例えば（２ｎ＋１　）Ｘ　（２ｍ＋１）のサイズの
平滑化処理を行ない（重み付き平滑化処理の場合もある
）、改めて１次元エツジ検出軸の画像データを作成する
くステップ３〉。

次に第３図（ｅ）に示す様に、前記作成された１次元エ
ツジ検出軸の画像データの濃度ヒストグラムを作成し、
第３図（ｆ）の様に濃度Ａ、Ｂにより画像強調を行うく
ステップ４〉。ここて濃度Ａ、Ｂの決定には、（Ｓは第３図（ｅ）の斜線部の面積、　、βは面積比）
の関係式を用いる。本来第３図の様なマークを認識する
場合、マークと背景はある濃度で切り分けられるが、今
回は第３図（ｅ）、（ｆ）の様に不感帯部分を考慮して
マークと背景の画像を強調する方法を考える。つまり第
３図（ｇ）の様に予めマークサイズｍと窓枠サイズ１を
登録しておくことによりα。

βはｏ４−＜ｍ／Ｊ！＞　ｘ　ｕｃ／１００）β−（ｍ／Ｊ
２）×（ｋ／１ｏｏ）（ｋは不感帯部分を除くパラメータで調整可能である）の様に算出される。また、マーク形状が不安定な場合濃
度Ａ、Ｂの決定には背景（またはマーク）の濃度に着目
して行うこともできる。つまり、第３図（Ｒ）の様に、
窓枠内の複数ケ所に濃度検出用の窓枠を決定し、各濃度
検出用窓枠の濃度の平均（または最大・最小）値を代表
値として検出し、各代表値間の分散の最も大きい代表値
を背景以外のゴミやマークが濃度検出用窓枠内に存在す
るとして削除しくただし、濃度検出用の窓枠の１つにし
かマークが存在できない様に窓枠は設定するものとする
）、残りの代表値より平均（または最大、最小）値を検
出し背景濃度とし、前記同様に不感帯部分を除いてＡ、
Ｂの値を決定する。

前記画像強調後の１次元エツジ検出データに対し、予め
記憶しておいた認識すべきエツジを含む適当なサイズの
エツジのモデルｇ　（１１）　（ｕはエツジのモデル内
の位置）を走査しくエツジのモデルは複数サンプルの画
像データから各画素の平均値等を求め作成することも可
能である）、逐次切り出される１次元エツジ検出データ
の部分テンプレートｆ　ｉ　ｊ　（ｕ）　（ｕはテンプ
レート内の位置、ｉ、ｊはｘ−ｙ平面上のテンプレート
を代表する位置）との濃度差、つまりｇ　（ｕ）とｆ　
ｉ　ｊ　（ｕ）との対応する各画素の濃度差の和をミッ
スマッチ度Ｄｍとして求め、またｇ　（ｕ）とｆ　ｉ　
ｊ　（ｕ）との幾可学的なバランスをｇ　（ｕ）の着目
点についてアンバランス度Ｄ２ｎとして求める。さらに
前記ミスマツチ度Ｄ１ｎとアンバランス度Ｄ２ｎとを総
合的に評価するエツジ評価指数りをＤ　ｎ　＝ｍ、Ｄ、ｏ＋ｍ２Ｄ２゜（ｍ１、ｍ２は荷重パラメータ）として演算しくステップ５〉、Ｘ−ｙ−ｆ空間上の点を
ｘ−ｙ−Ｄ空間へ写像し、前記ｘ−ｙ−Ｄ空間での曲線
の最小または極小を検出し、この時のＸ＋Ｖの値が認識
すべきエツジの位置であるとして検出する。

ところが、第３図（ｋ）の様にセラミック基板上の金マ
ークの様にマーク内の濃度が一様でない場合、画像強調
後の１次元エツジ検出データは第３図（、Ｃ）の様にな
り前記エツジ認識では誤認識の可能性がある。そこで、
エツジのモデルの走査中に、前記ミスマツチ度Ｄ１ｎ、
アンバランス度Ｄ２゜、エツジ評価指数りの値を検定し
、各々、適当　９０な許容範囲内の値であるテンプレートｆ　ｉ　ｊ　（ｕ
）の代表値のみをｘ−ｙ−Ｄ空間へ写像するくステップ
６〉。

前記方法により例えば第３図（ｋ）の様なセラミック基
板上の金マークを認識する場合、まず、エツジａ、ｂに
相当する候補点を検出しくステップ６〉、各ａ、ｂの候
補点に対して距離関係により、グルーピングを行ないく
ステップ７〉、各グループの要素（ｉ、ｊ、Ｄｎ）に対
して、ｘ−（Σ１−Ｄｎ）／ΣＤｎｙ−（Σｊ−Ｄｎ）／ΣＤｎの様な荷重平均を行ない、各グループの代表値を候補点
として検出しくステップ８〉、各ａ、ｂの候補点のエツ
ジのペア間の距離と所定のマークサイズとの間でｄ＝　１ｍ２−　（ｘａ−ｘｂ）２の様な演算を行ない、ｄの値を検定（最小のもの検出〉
することで、マークサイズと最も一致するエツジのペア
を検出し、真のエツジとして認識するくステップ９〉。

また、ｄ＞ａｔ：＜りＣは許容距離残差）の場合は適当
なエツジのペアは検出されなかったとして第３図（ａ）
の様に次の１次元エツジ検出軸■に対して処理を繰り返
す。

エツジａ、ｂが検出されると、線分ａ、ｂの中線を１次
元エツジ検出軸として処理を続ける。

エツジａ、ｂ、ｃ、ｄが検出されれば、この４点からマ
ーク中心の位置等を算出し、認識位置とするくステップ
↓Ｏ〉。

候補点のグルーピングは第３図（ｍ）に示す様に、候補
として検出される順序に番号を付けると、まず候補点１
を中心に四角くまたは円）の領域を考え、その領域内に
候補点２が存在すれば同しグループとして、次に候補点
１，２の中点を中心に同様に領域を仮想しグルーピング
を繰り返す。もし、領域内に次の候補点が存在しなけれ
ば、別グループと判定し、この候補点を始点としてグル
ーピングを並行して行う。

発明の効果本発明の第１の発明によれば、パターンを２値レベル制
御なく高速に認識することができる。

また、本発明の第２．第３の発明によれば、低コントラ
スト画像に対しても安定して認識することが可能であり
、認識率が向上する。

また本発明の第４の発明によれば、高精度な認識を行う
ことが可能である。

また、本発明の第５の発明によれば、パターンの表面あ
らさや複数エツジの認識を行うことが可能となる。

また本発明の第６の発明によれば、パターンの表面あら
さや複数エツジの認識をより高精度に行うことが可能と
なる。

また本発明の第７の発明によれば、高速な認識を行うこ
とが可能となる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例における位置認識装置の構成
図、第２図は同位置認識装置の認識方法を示すフローチ
ャート、第３図（ａ）は同実施例におけるエツジのモデ
ルの走査方法を示す説明図、第３図（ｂ）は原画像の濃
度変位を示す説明図、第３図（Ｃ）は画像強調後の濃度
変位を示す説明図、第３図（ｄ）は平滑化処理を示す説
明図、第３図（ｅ）は１次元エツジ検出データの濃度ヒ
ストグラムを示す説明図、第３図（ｆ）は画像強調を示
す説明図、第３図（ｇ）はマークと窓枠のサイズの関係
を示す説明図、第３図（巾は背景濃度検出方法を示す説
明図、第３図（ｉ）はミスマツチ度の演算方法を示す説
明図、第３図（ｊ）はアンバランス度の演算方法を示す
説明図、第３図（ｋ）はセラミック基板上の金マークを
示す説明図、第３図（１）はセラミック基板上の金マー
クを認識する際の画像強調後の濃度変位を示す説明図、
第３図（ｍ）はグルーピングを示す説明図、第４図は従
来例の位置認識装置の構成図、第５図はその動作を示す
フローチャートである。１４・・・・・・ミスマツチ度演算回路、１５・・・・
・・アンバランス度演算回路、１６・・・・・・エツジ
評価指数演算回路、１７・・・・・・エツジ候補判定回
路。

Claims

【特許請求の範囲】

（１）認識すべきパターンを含む対象物をテレビカメラ
により取り込み画像信号を入手し、ｘ−ｙ−ｆ空間を構
成し（ｆはｘ−ｙ画像平面上の濃度）、画像中の画素（
ｉ、ｊ）の濃度とｆｉｊとし画像の濃淡の境界線上の点
（以後エッジという）を検出する際、境界線に対し平行
でない方向の１次元データに対して、前記認識すべきパ
ターンのエッジを含む適当なサイズのエッジのモデルｇ
（ｕ）（１次元のエッジのモデル内ｕの濃度）を走査し
、部分テンプレートとして順次切り出される１次元エッ
ジ検出データｆｉｊ（ｕ）とｇ（ｕ）に対し、対応する
各画素の濃度差の和Ｄ＿１＿ｎを演算するミスマッチ度
演算手段と、エッジのモデルｇ（ｕ）内の着目点からの
幾可学的はアンバランス度Ｄ＿２＿ｎを演算するアンバ
ランス度演算手段と、前記ミスマッチ度Ｄ＿１＿ｎ及び
アンバランス度Ｄ＿２＿ｎの２つの要素からエッジの評
価指数Ｄｎ＝ｍ＿１Ｄ＿１ｎ＋ｍ＿２Ｄ＿２ｎ（ｍ＿１
、ｍ＿２は荷重パラメータ）を演算し、ｘ−ｙ−Ｄ空間
へｘ−ｙ−ｆ空間上の部分テンプレートを代表する点を
写像する１次元エッジ検出変換手段と、前記１次元エッ
ジ検出変換手段によりｘ−ｙ−ｆ空間からｘ−ｙ−Ｄ空
間へ写像されたテンプレートの代表点から構成される曲
線の最小または極小を検出する最小・極小点検出手段と
を備えたことを特徴とする位置認識装置。
（２）窓枠内の画像の背景部またはパターン部の濃度を
検出し、背景部とパターン部との濃度の切り分けレベル
を算出し前記検出された濃度により、１次元エッジ検出
データの画像強調を行うように構成した請求項１記載の
位置認識装置。
（３）１次元エッジ検出データのヒストグラムを作成し
、パターン部の所定の寸法を用い背景部とパターン部と
の濃度の切り分けレベルを検出し、前記濃度により１次
元エッジ検出データの画像強調を行うように構成した請
求項１記載の位置認識装置。
（４）１次元エッジ変換手段において、エッジ評価指数
が適当な許容範囲内であるテンプレートの代表点のみを
候補点として写像変換し、前記複数候補点（ｘ、ｙ、Ｄ
）に対し、エッジ評価指数Ｄを重みにした荷重平均を行
ないエッジ（ｘ、ｙ）として検出するように構成した請
求項１記載の位置認識装置。
（５）１次元エッジ検出データに対し、複数のエッジを
検出する場合、エッジ評価指数が適当な許容範囲内であ
るテンプレートの代表点のみを候補点として写像変換し
、前記複数候補点に対して、認識すべきエッジ間の距離
関係をもとに距離検定を行ないエッジを検出するように
構成した請求項１記載の位置認識装置。
（６）候補点として写像された点に対して、適当な距離
によりグルーピングを行ない、各グループの候補点（ｘ
、ｙ、Ｄ）に対し、前記同様荷重平均を行ない、各グル
ープの代表値として検出し、距離測定を行うように構成
した請求項５記載の位置認識装置。
（７）候補点検出において、最大候補点数を設定し、エ
ッジのモデルを走査中に候補点数が最大数に至った場合
、許容範囲の値を更新するように構成した請求項４、５
または６記載の位置認識装置。