JPH04236318A - コンデンサ極性検査装置 - Google Patents
コンデンサ極性検査装置Info
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- JPH04236318A JPH04236318A JP3004873A JP487391A JPH04236318A JP H04236318 A JPH04236318 A JP H04236318A JP 3004873 A JP3004873 A JP 3004873A JP 487391 A JP487391 A JP 487391A JP H04236318 A JPH04236318 A JP H04236318A
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- 239000003990 capacitor Substances 0.000 title claims description 30
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims abstract description 28
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims description 8
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 6
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims description 2
- 230000002950 deficient Effects 0.000 abstract description 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 12
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 1
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
- Image Analysis (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はコンデンサ極性検査装置
、特に、プリント基板に実装されたタンタルコンデンサ
の極性検査に用いるコンデンサ極性検査装置に関する。
、特に、プリント基板に実装されたタンタルコンデンサ
の極性検査に用いるコンデンサ極性検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来のコンデンサ極性検査装置は、照明
と、カメラと、２値化回路と、ウィンドウ発生回路と、
計測回路と、判定回路とを含んで構成される。
と、カメラと、２値化回路と、ウィンドウ発生回路と、
計測回路と、判定回路とを含んで構成される。
【０００３】従来のコンデンサ極性検査装置について図
面を参照して詳細に説明する。図３は、従来の一例を示
すブロック図である。図３に示すコンデンサ極性検査装
置は、 （Ａ） 検査対象であるコンデンサ１２に照明光を照射
する照明１１、 （Ｂ） コンデンサ１２の上方に取り付けられ、濃淡画
像信号ａを出力するカメラ１３、 （Ｃ） 濃淡画像信号ａを明るい部分に対応した“１”
と、暗い部分に対応した“０”の２値化画像信号ｂに変
換する２値化回路１４、 （Ｄ） ２値化画像信号ｂにあらかじめ設定された寸法
の検査ウィンドウを発生させ、ウィンドウ内２値化画像
信号ｈを出力するウィンドウ発生回路３５、（Ｅ） ウ
ィンドウ内２値化画像信号ｈの“１”の面積を計測をし
、ウィンドウ内面積信号ｉを出力する計測回路３６、 （Ｆ） 前記ウィンドウ内面積信号ｉにもとづいて、“
１”の面積の総和とあらかじめ設定された面積とを比較
し、前記“１”の面積の総和のほうが小さい場合は極性
反転と判定する判定回路３７、 とを含んで構成される。
面を参照して詳細に説明する。図３は、従来の一例を示
すブロック図である。図３に示すコンデンサ極性検査装
置は、 （Ａ） 検査対象であるコンデンサ１２に照明光を照射
する照明１１、 （Ｂ） コンデンサ１２の上方に取り付けられ、濃淡画
像信号ａを出力するカメラ１３、 （Ｃ） 濃淡画像信号ａを明るい部分に対応した“１”
と、暗い部分に対応した“０”の２値化画像信号ｂに変
換する２値化回路１４、 （Ｄ） ２値化画像信号ｂにあらかじめ設定された寸法
の検査ウィンドウを発生させ、ウィンドウ内２値化画像
信号ｈを出力するウィンドウ発生回路３５、（Ｅ） ウ
ィンドウ内２値化画像信号ｈの“１”の面積を計測をし
、ウィンドウ内面積信号ｉを出力する計測回路３６、 （Ｆ） 前記ウィンドウ内面積信号ｉにもとづいて、“
１”の面積の総和とあらかじめ設定された面積とを比較
し、前記“１”の面積の総和のほうが小さい場合は極性
反転と判定する判定回路３７、 とを含んで構成される。
【０００４】図４（ａ），（ｂ）は従来技術の原理を示
すパターン図である。図４（ａ）は正常な方向に実装さ
れたコンデンサ４０の極性マーク４１側に検査ウィンド
ウ４２が発生されている。極性マーク４１は他の部分に
比べて白く、極性マーク４１と他の部分の明るさの間に
２値化レベルを設定することで、極性マーク４１の部分
だけが“１”になり、計測回路３６で計測される面積は
、ほぼ極性マーク４１の面積になる。
すパターン図である。図４（ａ）は正常な方向に実装さ
れたコンデンサ４０の極性マーク４１側に検査ウィンド
ウ４２が発生されている。極性マーク４１は他の部分に
比べて白く、極性マーク４１と他の部分の明るさの間に
２値化レベルを設定することで、極性マーク４１の部分
だけが“１”になり、計測回路３６で計測される面積は
、ほぼ極性マーク４１の面積になる。
【０００５】図４（ｂ）は逆方向に実装されたコンデン
サ４０ａの極性マーク４１ａとは反対方向にに検査ウィ
ンドウ４２ａが発生されている。検査ウィンドウ４２ａ
内には極性マーク４１ａはなく、検査ウィンドウ４２ａ
内の“１”の面積は、正常に実装されているコンデンサ
４０に発生した検査ウィンドウ４２内の“１”の面積よ
り小さくなる。したがって、正常に実装されている場合
と逆方向に実装されている場合の検査ウィンドウ内の“
１”の面積の中間の面積を、判定回路３７に比較対象面
積として設定しておくことで、コンデンサの極性検査を
行なっていた。
サ４０ａの極性マーク４１ａとは反対方向にに検査ウィ
ンドウ４２ａが発生されている。検査ウィンドウ４２ａ
内には極性マーク４１ａはなく、検査ウィンドウ４２ａ
内の“１”の面積は、正常に実装されているコンデンサ
４０に発生した検査ウィンドウ４２内の“１”の面積よ
り小さくなる。したがって、正常に実装されている場合
と逆方向に実装されている場合の検査ウィンドウ内の“
１”の面積の中間の面積を、判定回路３７に比較対象面
積として設定しておくことで、コンデンサの極性検査を
行なっていた。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来のコンデ
ンサ極性検査装置は、極性マークがかすれている場合は
、誤判定するというという欠点があった。また、極性マ
ークがかすれている場合でも正常実装と判定するように
比較対象面積を小さく設定しておくと、逆方向に実装さ
れていても極性マークと反対の方向に表示文字等がある
場合は正常実装と誤判定するという欠点があった。
ンサ極性検査装置は、極性マークがかすれている場合は
、誤判定するというという欠点があった。また、極性マ
ークがかすれている場合でも正常実装と判定するように
比較対象面積を小さく設定しておくと、逆方向に実装さ
れていても極性マークと反対の方向に表示文字等がある
場合は正常実装と誤判定するという欠点があった。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明のコンデンサ極性
検査装置は、 （Ａ） 検査対象であるコンデンサに照明光を照射する
照明、 （Ｂ） 前記コンデンサの上方に取り付けられ、濃淡画
像信号を出力するカメラ、 （Ｃ） 前記濃淡画像信号を明るい部分に対応した“１
”と、暗い部分に対応した“０”の２値化画像信号に変
換する２値化回路、 （Ｄ） 前記２値化画像信号にもとづいて、２値化画像
にあらかじめ設定された寸法の検査領域を発生させ、ウ
ィンドウ内２値化画像信号を出力するウィンドウ発生回
路、（Ｅ） 前記ウィンドウ内２値化画像信号のラベル
別の“１”の面積を測定し、ウィンドウ内ラベル別面積
信号を出力する計測回路、 （Ｆ） 前記ウィンドウ内ラベル別面積信号にもとづい
て、“１”の面積が最大のラベルを検出し、最大ラベル
面積信号を出力する検出回路、 （Ｇ） 前記最大ラベル面積信号にもとづいて、前記最
大ラベル面積とあらかじめ設定された面積とを比較し、
最大ラベルの面積のほうが小さい場合は欠陥と判定する
判定回路、とを含んで構成される。
検査装置は、 （Ａ） 検査対象であるコンデンサに照明光を照射する
照明、 （Ｂ） 前記コンデンサの上方に取り付けられ、濃淡画
像信号を出力するカメラ、 （Ｃ） 前記濃淡画像信号を明るい部分に対応した“１
”と、暗い部分に対応した“０”の２値化画像信号に変
換する２値化回路、 （Ｄ） 前記２値化画像信号にもとづいて、２値化画像
にあらかじめ設定された寸法の検査領域を発生させ、ウ
ィンドウ内２値化画像信号を出力するウィンドウ発生回
路、（Ｅ） 前記ウィンドウ内２値化画像信号のラベル
別の“１”の面積を測定し、ウィンドウ内ラベル別面積
信号を出力する計測回路、 （Ｆ） 前記ウィンドウ内ラベル別面積信号にもとづい
て、“１”の面積が最大のラベルを検出し、最大ラベル
面積信号を出力する検出回路、 （Ｇ） 前記最大ラベル面積信号にもとづいて、前記最
大ラベル面積とあらかじめ設定された面積とを比較し、
最大ラベルの面積のほうが小さい場合は欠陥と判定する
判定回路、とを含んで構成される。
【０００８】
【実施例】次に、本発明について図面を参照して詳細に
説明する。
説明する。
【０００９】図１は、本発明の一実施例を示すブロック
図である。図１に示すコンデンサ極性検査装置は、（Ａ
） 検査対象であるコンデンサ１２に照明光を照射する
照明１１、 （Ｂ） コンデンサ１２の上方に取り付けられ、濃淡画
像信号ａを出力するカメラ１３、 （Ｃ） 濃淡画像信号ａを明るい部分に対応した“１”
と、暗い部分に対応した“０”の２値化画像信号ｂに変
換する２値化回路１４、 （Ｄ） ２値化画像信号ｂにもとづいて、２値化画像に
あらかじめ設定された寸法の検査領域を発生させ、ウィ
ンドウ内２値化画像信号ｃを出力するウィンドウ発生回
路１５、 （Ｅ） ウィンドウ内２値化画像信号ｃのラベル別の“
１”の面積を測定し、ウィンドウ内ラベル別面積信号ｄ
を出力する計測回路１６、 （Ｆ） ウィンドウ内ラベル別面積信号ｄにもとづいて
、“１”の面積が最大のラベルを検出し、最大ラベル面
積信号ｅを出力する検出回路１７、 （Ｇ） 最大ラベル面積信号ｅにもとづいて、前記最大
ラベル面積とあらかじめ設定された面積とを比較し、最
大ラベルの面積のほうが小さい場合は欠陥と判定する判
定回路１８、 とを含んで構成される。
図である。図１に示すコンデンサ極性検査装置は、（Ａ
） 検査対象であるコンデンサ１２に照明光を照射する
照明１１、 （Ｂ） コンデンサ１２の上方に取り付けられ、濃淡画
像信号ａを出力するカメラ１３、 （Ｃ） 濃淡画像信号ａを明るい部分に対応した“１”
と、暗い部分に対応した“０”の２値化画像信号ｂに変
換する２値化回路１４、 （Ｄ） ２値化画像信号ｂにもとづいて、２値化画像に
あらかじめ設定された寸法の検査領域を発生させ、ウィ
ンドウ内２値化画像信号ｃを出力するウィンドウ発生回
路１５、 （Ｅ） ウィンドウ内２値化画像信号ｃのラベル別の“
１”の面積を測定し、ウィンドウ内ラベル別面積信号ｄ
を出力する計測回路１６、 （Ｆ） ウィンドウ内ラベル別面積信号ｄにもとづいて
、“１”の面積が最大のラベルを検出し、最大ラベル面
積信号ｅを出力する検出回路１７、 （Ｇ） 最大ラベル面積信号ｅにもとづいて、前記最大
ラベル面積とあらかじめ設定された面積とを比較し、最
大ラベルの面積のほうが小さい場合は欠陥と判定する判
定回路１８、 とを含んで構成される。
【００１０】図２（ａ），（ｂ）は本発明の原理を示す
パターン図である。図２（ａ）は正常な方向に実装され
たコンデンサ２０の極性マーク２１側に検査ウィンドウ
２２が発生している。極性マーク２１は、他の部分に比
して白いが極性マーク２１はかすれている場合があるの
で、他の部分が“１”にならない程度の低めの２値化レ
ベルを設定することで、部分的なかすれ部２３を極性マ
ーク２１部分と表示文字２４の部分だけが“１”になる
。したがって、検出回路１７で検出される最大ラベル面
積は、ほぼ極性マーク２１の面積になる。
パターン図である。図２（ａ）は正常な方向に実装され
たコンデンサ２０の極性マーク２１側に検査ウィンドウ
２２が発生している。極性マーク２１は、他の部分に比
して白いが極性マーク２１はかすれている場合があるの
で、他の部分が“１”にならない程度の低めの２値化レ
ベルを設定することで、部分的なかすれ部２３を極性マ
ーク２１部分と表示文字２４の部分だけが“１”になる
。したがって、検出回路１７で検出される最大ラベル面
積は、ほぼ極性マーク２１の面積になる。
【００１１】図２（ｂ）は逆方向に実装されたコンデン
サ２０ａの窪み２１ａとは反対方向に検査ウィンドウ２
２ａが発生されている。検査ウィンドウ２２ａには、表
示文字２１ａの部分があるが、表示文字同志は接続して
いないため、検査ウィンドウ２２ａ内には複数のラベル
が存在する。検出回路１７で検出される最大ラベル面積
は、前述の複数のラベルの内の、面積最大のラベル２５
だけの面積となる。以上より極性方向が逆に実装された
コンデンサ２０ａに発生した検査ウィンドウ２２ａで検
出される最大ラベル面積は、表示文字の内の一部分であ
るので、正常に実装されたコンデンサ２０に発生した検
査ウィンドウ２２内の最大ラベル面積より常に小さくな
ることがわかる。
サ２０ａの窪み２１ａとは反対方向に検査ウィンドウ２
２ａが発生されている。検査ウィンドウ２２ａには、表
示文字２１ａの部分があるが、表示文字同志は接続して
いないため、検査ウィンドウ２２ａ内には複数のラベル
が存在する。検出回路１７で検出される最大ラベル面積
は、前述の複数のラベルの内の、面積最大のラベル２５
だけの面積となる。以上より極性方向が逆に実装された
コンデンサ２０ａに発生した検査ウィンドウ２２ａで検
出される最大ラベル面積は、表示文字の内の一部分であ
るので、正常に実装されたコンデンサ２０に発生した検
査ウィンドウ２２内の最大ラベル面積より常に小さくな
ることがわかる。
【００１２】したがって、正常に実装されている場合と
逆方向に実装されている場合の検査ウィンドウ内の最大
ラベル面積の中間の面積を、判定回路１８に比較対象面
積として設定しておくことで、コンデンサの極性検査を
行なえる。
逆方向に実装されている場合の検査ウィンドウ内の最大
ラベル面積の中間の面積を、判定回路１８に比較対象面
積として設定しておくことで、コンデンサの極性検査を
行なえる。
【００１３】
【発明の効果】本発明のコンデンサ極性検査装置は、検
査ウィンドウ内の白い部分の面積の総和により検査を行
なう代りに、検査ウィンドウ内の複数の孤立した白い部
分の内の最大の面積により検査を行なうので、表示文字
のかすれや、表示文字自体が存在することによる影響を
受けることなく極性検査ができるという効果がある。
査ウィンドウ内の白い部分の面積の総和により検査を行
なう代りに、検査ウィンドウ内の複数の孤立した白い部
分の内の最大の面積により検査を行なうので、表示文字
のかすれや、表示文字自体が存在することによる影響を
受けることなく極性検査ができるという効果がある。
【図１】本発明の一実施例を示すブロック図ある。
【図２】（ａ），（ｂ）は本発明の原理を示すパターン
図である。
図である。
【図３】従来の一例を示すブロック図ある。
【図４】（ａ），（ｂ）は従来技術の原理を示すパター
ン図である。
ン図である。
１１ 照明
１２ コンデンサ
１３ カメラ
１４ ２値化回路
１５ ウィンドウ発生回路
１６ 計測回路
１７ 検出回路
１８ 判定回路
ａ 濃淡画像信号
ｂ ２値化画像信号
ｃ ウィンドウ内２値化画像信号ｄ ウィ
ンドウ内ラベル別面積信号ｅ 最大ラベル面積信
号
ンドウ内ラベル別面積信号ｅ 最大ラベル面積信
号
Claims (1)
- 【請求項１】（Ａ） 検査対象であるコンデンサに照明
光を照射する照明、 （Ｂ） 前記コンデンサの上方に取り付けられ、濃淡画
像信号を出力するカメラ、 （Ｃ） 前記濃淡画像信号を明るい部分に対応した“１
”と、暗い部分に対応した“０”の２値化画像信号に変
換する２値化回路、 （Ｄ） 前記２値化画像信号にもとづいて、２値化画像
にあらかじめ設定された寸法の検査領域を発生させ、ウ
ィンドウ内２値化画像信号を出力するウィンドウ発生回
路、（Ｅ） 前記ウィンドウ内２値化画像信号のラベル
別の“１”の面積を測定し、ウィンドウ内ラベル別面積
信号を出力する計測回路、 （Ｆ） 前記ウィンドウ内ラベル別面積信号にもとづい
て、“１”の面積が最大のラベルを検出し、最大ラベル
面積信号を出力する検出回路、 （Ｇ） 前記最大ラベル面積信号にもとづいて、前記最
大ラベル面積とあらかじめ設定された面積とを比較し、
最大ラベルの面積のほうが小さい場合は欠陥と判定する
判定回路、 とを含むことを特徴とするコンデンサ極性検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3004873A JP2565000B2 (ja) | 1991-01-21 | 1991-01-21 | コンデンサ極性検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3004873A JP2565000B2 (ja) | 1991-01-21 | 1991-01-21 | コンデンサ極性検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04236318A true JPH04236318A (ja) | 1992-08-25 |
| JP2565000B2 JP2565000B2 (ja) | 1996-12-18 |
Family
ID=11595792
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3004873A Expired - Lifetime JP2565000B2 (ja) | 1991-01-21 | 1991-01-21 | コンデンサ極性検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2565000B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001053499A (ja) * | 1999-08-09 | 2001-02-23 | Tdk Corp | 電子部品挿入機 |
| SG101468A1 (en) * | 2000-12-20 | 2004-01-30 | Seagate Technology Llc | Automatic optical inspection of printed circuit board packages with polarity |
| CN114429443A (zh) * | 2020-10-29 | 2022-05-03 | 技嘉科技股份有限公司 | 电容器极性判定方法 |
-
1991
- 1991-01-21 JP JP3004873A patent/JP2565000B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001053499A (ja) * | 1999-08-09 | 2001-02-23 | Tdk Corp | 電子部品挿入機 |
| SG101468A1 (en) * | 2000-12-20 | 2004-01-30 | Seagate Technology Llc | Automatic optical inspection of printed circuit board packages with polarity |
| CN114429443A (zh) * | 2020-10-29 | 2022-05-03 | 技嘉科技股份有限公司 | 电容器极性判定方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2565000B2 (ja) | 1996-12-18 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19960806 |