JPH04220784A - ピン使用方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は大形集積回路（ＬＳＩ）
用のピン、特にピンの数に余裕のない場合のピン使用方
法に関する。

【０００２】

【従来の技術】ＬＳＩ用のピンは通常信号の入力用又は
出力用の何れかに使用している。ＬＳＩを開発する場合
、各種回路を集積する以外に、各種回路を外部からテス
ト出来るようにする必要がある。

【０００３】このテストは、一般的に、各種回路に外部
より信号を入力し、各種回路の特定部分の信号をモニタ
する為に外部に出力して良否を判定するものである。こ
の外部に出力して良否を判定する為に使用するピンは、
ＬＳＩのピンの内、各種回路を使用する為に用いた残り
を充当するようにしている。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、残りの
ピンの数が少ない場合は、モニタする部分が少なくなり
、充分テストが出来なくなる問題点がある。

【０００５】本発明は、ピンを入力用及び出力用の２つ
の用途に使用出来るピン使用方法の提供を目的としてい
る。

【０００６】

【課題を解決するための手段】図１は本発明の原理ブロ
ック図である。図１に示す如く、第１のピン１に、制御
信号により入力方向又は出力方向に信号を流すようにす
る制御機能付双方向バッフア３を接続し、第２のピン２
に、特定パターンの信号を検出すると該制御機能付双方
向バッフア３に制御信号を送出する特定パターン検出部
４を設け、該第２のピン２に特定パターンの信号を入力
して該制御機能付双方向バッフア３の信号を流す方向を
変化し、該第１のピン１を、信号の入力用及び出力用に
使用出来るようにする。

【０００７】

【作用】本発明によれば、第２のピン２に、特定パター
ンの信号を入力することにより、第１のピン１を、例え
ば信号入力用に使用していたものを信号出力用に使用出
来るようになる。

【０００８】よって、テストする時モニタしたい回路の
部分を該制御機能付双方向バッフア３の出力信号用の部
分に接続しておけば、ピンを増加することなくモニタす
ることが出来るようになる。

【０００９】

【実施例】図２は本発明の実施例のブロック図、図３は
図２の各部の波形のタイムチャートである。

【００１０】図２のピン１には、信号を入力方向に流す
バッフア５とＬレベルの制御信号が入力すると、信号を
出力方向に流すバッフア６よりなる制御機能付双方向バ
ッフア３を接続し、図３（Ａ）に示す如き、先頭に１ビ
ットのパルスを持つフレームパターンを入力するピン２
に、上記フレームパターンに更に３ビット目にパルスを
持つ特定パターン信号を入力して、特定パターン検出部
４にて検出させ、制御機能付双方向バッフア３にＬレベ
ルの信号を出力させ、バッフア６を信号を出力方向に流
すようにさせる場合の例である。

【００１１】次に図２，図３を用いて、特定パターン検
出部４を主体にして説明する。図２の特定パターン検出
部４は、ピン２より入力する信号が図３（Ａ）に示す通
常のフレームパターンの場合は、フリップフロップ（以
下ＦＦと称す）１０，１１，１２を通り出力され、ＦＦ
１４の出力よりは（Ｂ）に示す如くＨレベルを出力しバ
ッフア６は信号を流さず、ピン１は、信号を入力方向に
流すバッフア５により、信号入力用として使用する。

【００１２】次に、図３（Ａ）に示す如き特定パターン
が入力すると、アンド回路１５よりＨレベルが出力され
、ＦＦ１４よりは図３（Ｂ）に示す如くＬレベルが出力
され、バッフア６は信号を出力方向に流すようになり、
ピン１は、信号出力用として使用出来るようになり、バ
ッフア６の入力側にモニタする回路の部分を接続してお
けば、モニタ信号の出力用として使用出来るようになる
。

【００１３】次に、又図３（Ａ）に示す如く特定パター
ンが入力すると、アンド回路１５よりＨレベルが出力さ
れ、ＦＦ１４よりは図３（Ｂ）に示す如くＨレベルが出
力されるようになり、バッフア６は信号を流さなくなり
、ピン１は、信号入力用として使用するようになる。

【００１４】即ち、ピン１を入力用，出力用の２通りに
使用出来るようになるので、ＬＳＩテスト時、データ入
力用として使用していたピン１を、モニタ用にも使用出
来るので、ＬＳＩ内部のモニタ点を増加することが出来
充分なテストが出来るようになる。

【００１５】尚特定パターン検出部４のＦＦ１４のリセ
ット端子は、ＬＳＩには必ずあるリセットピン２０に接
続してあり、テストの始め等にＬＳＩをリセットする時
一緒にリセットされるようになっている。又特定パター
ン検出部４用のクロックはＬＳＩ内部より加えるように
してある。

【００１６】

【発明の効果】以上詳細に説明せる如く本発明によれば
、１つのピンを入力用，出力用の２通りに用いることが
出来るようになる効果がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】は本発明の原理ブロック図、

【図２】本発明の実施例のブロック図、

【図３】は図２
の各部の波形のタイムチャートである。

【符号の説明】

１，２，２０はピン、３は制御機能付双方向バッフア、
４は特定パターン検出部、５，６はバッフア、１０〜１
４はフリップフロップ、１５はアンド回路を示す。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】　　第１のピン（１）に、制御信号により
   入力方向又は出力方向に信号を流すようにする制御機能
   付双方向バッフア（３）を接続し、第２のピン（２）に
   、特定パターンの信号を検出すると該制御機能付双方向
   バッフア（３）に制御信号を送出する特定パターン検出
   部（４）を設け、該第２のピン（２）に特定パターンの
   信号を入力して該制御機能付双方向バッフア（３）の信
   号を流す方向を変化し、該第１のピン（１）を、信号の
   入力用及び出力用に使用出来るようにしたことを特徴と
   するピン使用方法。