KR900013609A - 집적 회로용 이벤트 제한 검사 구조물 - Google Patents

집적 회로용 이벤트 제한 검사 구조물 Download PDF

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Abstract

내용 없음

Description

집적 회로용 이벤트 제한 검사 구조물
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제 1도는 본 발명의 경계 검사 구조물을 사용하는 집적 회로의 블록도를 도시한 도면,
제 2도는 본 발명의 클럭 및 출력 제어 입력에 사용된 검사 셀들의 블록도를 도시한 도면,
제 3도는 본 발명의 데이터 입력에 사용된 검사회로의 블록도를 도시한 도면,
제 4도는 본 발명의 데이터 출력에 사용된 검사 회로의 블럭도를 도시한 도면.

Claims (10)

  1. 집적 회로에 관련하여 사용하기 위한 검사 구조물에 있어서, 인입 데이터를 수신하기 위한 입력 회로, 집력회로로부터 데이터를 출력하기 위한 출력 회로, 상기 인입 데이터에서 요구된 기능을 수행하기 위해 상기 입력 및 출력 회로 사이에 접속된 논리 회로, 및 집적 회로가 기능 모드에 있을 때 선정된 상태에 응답하여 데이터를 저장하기 위해 상기 입력 및 출력회로에 접속된 검사회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 검사 구조물.
  2. 제 1항에 있어서, 상기 검사 회로가 상기 입력 회로에 접속된 입력 검사회로, 상기 출력 회로에 접속된 출력 검사 회로 및 상기 선정된 상태가 발생될 띠를 나타내도록 상기 입력 및 출력 검사 회로에 접속된 이벤트 제한 회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 검사 구조물.
  3. 제 1항에 있어서, 상기 출력회로를 통해 흐르는 정상 데이터가 상기 전송기에 의해 간섭되지 않도록 상기 출력 회로로부터 분리하여 집적 회로로부터 상기 저장된 데이터를 전송하기 위한 주사 경로 회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 검사 구조물.
  4. 집적 회로에 사용하기 위한 경계 검사 구조물에 있어서, 인입 데이터를 수신하기 위한 입력회로, 집적 회로로부터 데이터를 출력하기 위한 출력회로, 상기 인입 데이터에서 요구된 기능을 수행하기 위해 상기 입력 및 출력 회로들 사이에 접속된 논리 회로, 및 집적 회로가 기능 모드에 있을 때 선정된 상태에 응답하여 집적회로로부터 출력될 수 있는 검사 데이터를 삽입하기 위해 상기 출력 회로에 접속된 검사 회로 선정된 상태의 발생을 검출하는 스텝 및 집적 회로가 기능 모드에 있을 때 상기 선정된 상태에 응답하여 입력 데이터를 프로세싱하는 스텝을 포함하는 것을 특징으로 하는 경계 검사 구조물.
  5. 제 4항에 있어서, 상기 검사 회로가 상기 입력 회로에 접속된 입력 검사 회로, 상기 출력회로에 접속된 출력 검사 회로 및 상기 선정된 상태가 발생될때를 나타내도록 상기 입력 및 출력 회로에 접속된 이벤트 제한회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 경계 검사 구조물.
  6. 제 4항에 있어서, 상기 출력 검사 회로가 상기 출력 회로를 통해 흐르는 정상 데이터를 간섭함이 없이 삽입될 수 있게 상기 데이터에 의해 로드될 수 있도록 상기 출력 회로로부터 분리되는 주사 경로 회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 경계 검사 구조물.
  7. 인입 데이터를 수신하는 스텝, 상기 인입 데이터에서 요구된 기능을 수행하는 스텝, 상기 기능이 수행된 데이터를 출력하는 스텝을 포함하는 것을 특징으로 하는 집적회로의 검사방법.
  8. 인입 데이타를 수신하는 스텝, 상기 인입 데이터에서 요구된 기능을 수행하는 스텝, 선정된 상태의 발생을 검출하는 스텝; 및 선정된 상태의 검출에 응답하여 집적 회로로부터 검사 데이터를 출력하는 스텝을 포함하는 것을 특징으로 하는 집적회로의 검사방법.
  9. 검사 동작이 요구되는지 여부를 결정하기 위해 제 1신호를 검출하는 스텝, 상기 제 1신호에 응답하여 요구된 프로토콜을 나타내는 제 2신호를 검출하는 스텝 및 상기 요구된 프로토콜을 사용하여 검사 동작을 수행하는 스텝을 포함하는 것을 특징으로 하는 집적회로의 검사방법.
  10. 검사동작이 요구되는지 여부를 결정하도록 제 1신호를 검출하기 위한 회로, 상기 제 1신호에 응답하여 요구된 프로토콜을 나타내는 제 2신호를 검출하기 위한 회로 및 상기 요구된 프로토콜을 사용하여 검사 동작을 수행하기 위한 회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 집적회로를 검사하기 위한 장치.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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