JPH0421104Y2 - - Google Patents
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- JPH0421104Y2 JPH0421104Y2 JP1985192940U JP19294085U JPH0421104Y2 JP H0421104 Y2 JPH0421104 Y2 JP H0421104Y2 JP 1985192940 U JP1985192940 U JP 1985192940U JP 19294085 U JP19294085 U JP 19294085U JP H0421104 Y2 JPH0421104 Y2 JP H0421104Y2
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- JP
- Japan
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- conductive circuit
- circuit pattern
- inspection
- substrate
- circuit board
- Prior art date
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 27
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 21
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 20
- 238000009413 insulation Methods 0.000 claims description 15
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims description 15
- 238000004040 coloring Methods 0.000 claims 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 11
- 239000003550 marker Substances 0.000 description 9
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
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- 239000011265 semifinished product Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本考案は、プリント配線回路基板(以下単にプ
リント基板という)上に形成される導電回路パタ
ーンの導通、絶縁検査に加えて、その検査結果に
基づき良または不良を該当する導電回路パターン
上に直接かつ自動的にマーキングし得るプリント
基板用検査装置に関する。
リント基板という)上に形成される導電回路パタ
ーンの導通、絶縁検査に加えて、その検査結果に
基づき良または不良を該当する導電回路パターン
上に直接かつ自動的にマーキングし得るプリント
基板用検査装置に関する。
(従来の技術)
絶縁性シートや絶縁性板材上に導電回路を形成
してなる、所謂プリント基板は、フオトエツチン
グ加工によつて製作されることは周知のことであ
る。斯るフオトエツチング加工によれば、しばし
ば導電回路の断線、或いは隣接する配線同士が短
絡するといつた所謂ブリツジ不良が発生すること
があり、このため基板の導通、絶縁検査は不可欠
となつている。上記プリント基板の導通、絶縁検
査としては、従来一般には、プローブと呼ばれる
ばね式の探針を各電極部分に押し付けて導通ある
いは絶縁状態を電気信号処理する方法で行なわれ
ている。そして、このような導通、絶縁検査によ
つて判別された良、不良の結果は、ランプ表示、
CRT表示されることで、検査者に知らされ、こ
れに基づいて検査者は、基板の良、不良を選別し
て不良品を廃棄したり、あるいはその不良個所に
マーキング等を施すことで不良個所を基板の装置
からの取外し後に確認し得るように処理したりす
ることが一般に行なわれていた。
してなる、所謂プリント基板は、フオトエツチン
グ加工によつて製作されることは周知のことであ
る。斯るフオトエツチング加工によれば、しばし
ば導電回路の断線、或いは隣接する配線同士が短
絡するといつた所謂ブリツジ不良が発生すること
があり、このため基板の導通、絶縁検査は不可欠
となつている。上記プリント基板の導通、絶縁検
査としては、従来一般には、プローブと呼ばれる
ばね式の探針を各電極部分に押し付けて導通ある
いは絶縁状態を電気信号処理する方法で行なわれ
ている。そして、このような導通、絶縁検査によ
つて判別された良、不良の結果は、ランプ表示、
CRT表示されることで、検査者に知らされ、こ
れに基づいて検査者は、基板の良、不良を選別し
て不良品を廃棄したり、あるいはその不良個所に
マーキング等を施すことで不良個所を基板の装置
からの取外し後に確認し得るように処理したりす
ることが一般に行なわれていた。
(考案が解決しようとする問題点)
しかしながら、上述した導通、絶縁検査により
前者のように、その良否のみを判別しただけで
は、装置から取外した後にその判別がつかなくな
る虞れがあり、また一枚のシート状プリント基板
上に同一の導電回路パターンが多数存在している
場合には、どの導電回路パターンが不良個所であ
るかの判別が確認できなくなるといつた問題を生
じることもあり、その実用上で大きな問題となる
ものであつた。また、後者の場合には、このよう
な問題はある程度解消されるものの、人手による
マーキング作業では、その導電回路パターンが多
い場合などにおいて、人為的なミス等を生じ易
く、その信頼性の面で問題の大きいものであつ
た。
前者のように、その良否のみを判別しただけで
は、装置から取外した後にその判別がつかなくな
る虞れがあり、また一枚のシート状プリント基板
上に同一の導電回路パターンが多数存在している
場合には、どの導電回路パターンが不良個所であ
るかの判別が確認できなくなるといつた問題を生
じることもあり、その実用上で大きな問題となる
ものであつた。また、後者の場合には、このよう
な問題はある程度解消されるものの、人手による
マーキング作業では、その導電回路パターンが多
い場合などにおいて、人為的なミス等を生じ易
く、その信頼性の面で問題の大きいものであつ
た。
特に、上述した導通、絶縁検査を行なう従来の
検査装置は、一般によく使用されている硬質製の
基板を対象として準備されており、このような硬
質製基板では、上述した導通、絶縁不良は、その
基板全体の製品不良となり、廃棄されるものであ
るが、その一方において、硬質性シートによるフ
レキシブルプリント基板は、一枚のシートに複数
の導電回路パターンを形成し、これを裁断分割し
て使用することが多く、不良部分のみを除去すれ
ばよいことから、その良否の判別を確実に行なえ
るものであることが必要とされている。
検査装置は、一般によく使用されている硬質製の
基板を対象として準備されており、このような硬
質製基板では、上述した導通、絶縁不良は、その
基板全体の製品不良となり、廃棄されるものであ
るが、その一方において、硬質性シートによるフ
レキシブルプリント基板は、一枚のシートに複数
の導電回路パターンを形成し、これを裁断分割し
て使用することが多く、不良部分のみを除去すれ
ばよいことから、その良否の判別を確実に行なえ
るものであることが必要とされている。
したがつて、この種の軟質性シートによるフレ
キシブルプリント基板において、その不良個所
を、適正な部分と確実に区別し得る対策が必要
で、従来のような単なる表示装置による表示だけ
や、検査者に対する負担の大きな不良個所へのマ
ーキングといつた人為的なミスの避けられない面
倒な作業を行なうことは問題で、また表示装置と
しても、各導電回路パターン毎に良否を表示し得
るものが必要で、装置全体がコスト高となる割に
は、実用上で問題の大きいものであつた。
キシブルプリント基板において、その不良個所
を、適正な部分と確実に区別し得る対策が必要
で、従来のような単なる表示装置による表示だけ
や、検査者に対する負担の大きな不良個所へのマ
ーキングといつた人為的なミスの避けられない面
倒な作業を行なうことは問題で、また表示装置と
しても、各導電回路パターン毎に良否を表示し得
るものが必要で、装置全体がコスト高となる割に
は、実用上で問題の大きいものであつた。
また、プローブ及びマーカが一体化されるとと
もにこれらが基板上をX軸、Y軸方向に移動して
断線箇所近傍にマーキングする検査装置が知られ
ている。(例えば特開昭53−67878号公報)。しか
し、この検査装置は、X軸、Y軸方向に正確に移
動するための駆動機構が複雑であり、また、機械
的な移動を行うために多数の検査箇所があると検
査時間が長くなるという欠点があつた。
もにこれらが基板上をX軸、Y軸方向に移動して
断線箇所近傍にマーキングする検査装置が知られ
ている。(例えば特開昭53−67878号公報)。しか
し、この検査装置は、X軸、Y軸方向に正確に移
動するための駆動機構が複雑であり、また、機械
的な移動を行うために多数の検査箇所があると検
査時間が長くなるという欠点があつた。
本考案は上述した事情に鑑みてなされたもので
あり、電子部品を実装する以前の半製品状態での
導通、絶縁という品質検査を行なうと同時に、そ
の良または不良個所へのマーキングを自動的に行
なえ、しかも、構造が簡単であるとともに多数の
検査箇所があつても検査時間が短いプリント基板
用検査装置を得ることを目的とするものである。
あり、電子部品を実装する以前の半製品状態での
導通、絶縁という品質検査を行なうと同時に、そ
の良または不良個所へのマーキングを自動的に行
なえ、しかも、構造が簡単であるとともに多数の
検査箇所があつても検査時間が短いプリント基板
用検査装置を得ることを目的とするものである。
(問題点を解決するための手段)
このような要請に応えるために、本考案による
プリント配線回路基板用検査装置は、導電回路パ
ターンが形成された基板を載置するとともに上記
導電回路パターンの被マーキング位置に対応して
多数の透孔が形成された載置板と、上記導電回路
パターンの被検査位置に対応して多数のプローブ
が植設されたプローブ植設板が上記基板の上方に
昇降自在に備えられるとともに上記導電回路パタ
ーンの導通、絶縁検査を行なう電気的検査手段
と、上記透孔の位置に対応して多数設けられ上記
透孔に挿通可能としたマーカが上記基板の下方に
昇降自在に備えられるとともに上記電気的検査手
段による検査結果に基づいてその良否のいずれか
一方に該当する上記導電回路パターンに直接マー
キングするマーキング機構とからなるものであ
る。
プリント配線回路基板用検査装置は、導電回路パ
ターンが形成された基板を載置するとともに上記
導電回路パターンの被マーキング位置に対応して
多数の透孔が形成された載置板と、上記導電回路
パターンの被検査位置に対応して多数のプローブ
が植設されたプローブ植設板が上記基板の上方に
昇降自在に備えられるとともに上記導電回路パタ
ーンの導通、絶縁検査を行なう電気的検査手段
と、上記透孔の位置に対応して多数設けられ上記
透孔に挿通可能としたマーカが上記基板の下方に
昇降自在に備えられるとともに上記電気的検査手
段による検査結果に基づいてその良否のいずれか
一方に該当する上記導電回路パターンに直接マー
キングするマーキング機構とからなるものであ
る。
(考案の作用)
本考案によれば、導電回路パターンの被マーキ
ング位置に対応して多数の透孔が形成された載置
板に基板を載置し、導電回路パターンの被検査位
置に対応して設けられた多数のプローブが基板上
方から導電回路パターンの検査を行い、透孔の位
置に対応して多数設けられたマーカが検査結果に
基づいて基板下方から透孔を挿通して導電回路パ
ターンにマーキングする。したがつて、プリント
基板の導通、絶縁検査及びその検査結果の基板側
への良、不良表示を一つの装置で同時にしかも迅
速に行なえ、人為的なミス等を確実に防止し得る
ものである。
ング位置に対応して多数の透孔が形成された載置
板に基板を載置し、導電回路パターンの被検査位
置に対応して設けられた多数のプローブが基板上
方から導電回路パターンの検査を行い、透孔の位
置に対応して多数設けられたマーカが検査結果に
基づいて基板下方から透孔を挿通して導電回路パ
ターンにマーキングする。したがつて、プリント
基板の導通、絶縁検査及びその検査結果の基板側
への良、不良表示を一つの装置で同時にしかも迅
速に行なえ、人為的なミス等を確実に防止し得る
ものである。
(考案の実施例)
以下、本考案を図面に示した実施例を用いて詳
細に説明する。
細に説明する。
第1図ないし第2図は本考案に係るプリント基
板用検査装置の一実施例を示すものであり、ま
ず、第2図を用いて本考案装置を用いて検査する
プリント基板について簡単に説明すると、図中符
号1はフレキシブルプリント基板で、軟質性シー
ト2上に複数の導電回路3が形成されるととも
に、その所定の個所には補強用板材4が付設さ
れ、また別の個所には開口5やこの基板1取付け
用の穿孔6等が穿設され、さらにこの基板1を所
定の部材に貼付けるための貼付テープ7等も適宜
付設される。なお、上述したような一つの導電回
路3パターンを有するフレキシブルプリント基板
1は、周知のように、複数配列して形成されてな
る一枚のシートから所要の形状に裁断して分割す
ることで形成されるものであり、本実施例では、
このようなプリント基板1を複数配列して並設し
てなるシート状のプリント基板1を検査する場合
について説明する。
板用検査装置の一実施例を示すものであり、ま
ず、第2図を用いて本考案装置を用いて検査する
プリント基板について簡単に説明すると、図中符
号1はフレキシブルプリント基板で、軟質性シー
ト2上に複数の導電回路3が形成されるととも
に、その所定の個所には補強用板材4が付設さ
れ、また別の個所には開口5やこの基板1取付け
用の穿孔6等が穿設され、さらにこの基板1を所
定の部材に貼付けるための貼付テープ7等も適宜
付設される。なお、上述したような一つの導電回
路3パターンを有するフレキシブルプリント基板
1は、周知のように、複数配列して形成されてな
る一枚のシートから所要の形状に裁断して分割す
ることで形成されるものであり、本実施例では、
このようなプリント基板1を複数配列して並設し
てなるシート状のプリント基板1を検査する場合
について説明する。
さて、本考案によるプリント基板用検査装置に
よれば、第1図に示すように、基板1上に形成さ
れた導電回路3パターンの導通、絶縁検査を行な
う電気的検査手段10と、この電気的検査手段1
0による検査結果に基づいてその良否のいずれか
一方に該当する導電回路3パターン上に直接マー
キングするマーキング機構11とを備えてなる機
構としたところに特徴を有している。
よれば、第1図に示すように、基板1上に形成さ
れた導電回路3パターンの導通、絶縁検査を行な
う電気的検査手段10と、この電気的検査手段1
0による検査結果に基づいてその良否のいずれか
一方に該当する導電回路3パターン上に直接マー
キングするマーキング機構11とを備えてなる機
構としたところに特徴を有している。
すなわち、本装置は、前述したような第2図に
示すような導電回路3パターンを有する複数のプ
リント基板1を一枚のシートに順次並設して形成
してなる軟質性シート(図示せず)を載置する載
置板12と、その上部に被測定物としてのプリン
ト基板1を載置した状態で積層される上部押え板
13と、この上部押え板13の上方で昇降自在に
配設されるプローブ植設板14等により構成され
ている。そして、この植設板14には、その所定
個所に多数のプローブ15(探針)が上下動自在
に設けられ、これによつて基板1上の導電回路3
の導通、リーク、および絶縁検査を行なえるよう
な構成とされている。
示すような導電回路3パターンを有する複数のプ
リント基板1を一枚のシートに順次並設して形成
してなる軟質性シート(図示せず)を載置する載
置板12と、その上部に被測定物としてのプリン
ト基板1を載置した状態で積層される上部押え板
13と、この上部押え板13の上方で昇降自在に
配設されるプローブ植設板14等により構成され
ている。そして、この植設板14には、その所定
個所に多数のプローブ15(探針)が上下動自在
に設けられ、これによつて基板1上の導電回路3
の導通、リーク、および絶縁検査を行なえるよう
な構成とされている。
一方、20は前記マーキング機構11を構成す
るマーカで、載置板12の適宜の位置に穿設され
た透孔21に対向し、図中22で示すソレノイ
ド、流体圧シリンダ等による駆動手段により、
上、下動されて前記プリント基板1に直接接触さ
れることで、マーキングを行なうような構成とさ
れている。
るマーカで、載置板12の適宜の位置に穿設され
た透孔21に対向し、図中22で示すソレノイ
ド、流体圧シリンダ等による駆動手段により、
上、下動されて前記プリント基板1に直接接触さ
れることで、マーキングを行なうような構成とさ
れている。
なお、図中16は上述したプローブ15からの
検出信号が導かれるコントローラで、上述した検
出信号を周知の論理回路等により判定してプリン
ト基板1上の導電回路3パターンの品質検査を行
ない、その出力信号を前記マーキング機構11を
構成する所要の駆動手段22に伝達するような構
成とされている。
検出信号が導かれるコントローラで、上述した検
出信号を周知の論理回路等により判定してプリン
ト基板1上の導電回路3パターンの品質検査を行
ない、その出力信号を前記マーキング機構11を
構成する所要の駆動手段22に伝達するような構
成とされている。
したがつて、上述した構成によれば、導通及び
絶縁検査を電気的に処理し、しかもこれに同期し
てコントローラ16(勿論、検査結果に基づいて
手動スイツチで操作してもよい)により選択的に
駆動されるマーカ20により、導電回路3パター
ンの良否のいずれかを、プリント基板1の所要の
パターン上にマーキングすることができるため、
検査装置から取外したシート状基板のうち、所要
の基板1部分だけを不良品として取除くことが、
確実な良否の判別が可能であることからきわめて
簡単かつ適切に行なえるもので、従来のような人
為的な作業ミス等は全くなくなるもので、時間的
にも、信頼性の面からも、その実用上の効果は大
きいものである。
絶縁検査を電気的に処理し、しかもこれに同期し
てコントローラ16(勿論、検査結果に基づいて
手動スイツチで操作してもよい)により選択的に
駆動されるマーカ20により、導電回路3パター
ンの良否のいずれかを、プリント基板1の所要の
パターン上にマーキングすることができるため、
検査装置から取外したシート状基板のうち、所要
の基板1部分だけを不良品として取除くことが、
確実な良否の判別が可能であることからきわめて
簡単かつ適切に行なえるもので、従来のような人
為的な作業ミス等は全くなくなるもので、時間的
にも、信頼性の面からも、その実用上の効果は大
きいものである。
なお、本考案は上述した実施例構造に限定され
ず、各部の形状、構造などを必要に応じて適宜変
形、変更することは自由である。たとえば上述し
たマーキング機構11を構成するマーキング手段
としてのマーカ20は、基板1によるシート上に
形成された導電回路3パターンの数に合せて適宜
の位置に配置されるもので、またその配設位置
は、基板1の下である。このように、プローブ1
5を基板1の上にマーカ20を基板1の下に配設
することにより、マーカ20とプローブ15とが
干渉することがないので、多数のプローブ15及
びマーカ20を高密度に設けることができる。
ず、各部の形状、構造などを必要に応じて適宜変
形、変更することは自由である。たとえば上述し
たマーキング機構11を構成するマーキング手段
としてのマーカ20は、基板1によるシート上に
形成された導電回路3パターンの数に合せて適宜
の位置に配置されるもので、またその配設位置
は、基板1の下である。このように、プローブ1
5を基板1の上にマーカ20を基板1の下に配設
することにより、マーカ20とプローブ15とが
干渉することがないので、多数のプローブ15及
びマーカ20を高密度に設けることができる。
また、電気的検査手段10及びマーキング機構
11には、X軸、Y軸へ移動させる駆動機構がな
いので、構造が極めて簡単である。
11には、X軸、Y軸へ移動させる駆動機構がな
いので、構造が極めて簡単である。
さらに、電気的検査手段10は、多数の検査箇
所を電気的スイツチの切換えにより検査するの
で、多数の検査箇所を機械的に移動しながら検査
する装置に比べて極めて高速である。
所を電気的スイツチの切換えにより検査するの
で、多数の検査箇所を機械的に移動しながら検査
する装置に比べて極めて高速である。
さらに、上述した実施例では、マーキング機構
11として、マーカ20による着色表示を行なう
場合を説明したが、本考案はこれに限定されず、
たとえばパンチによる穿孔や、レーザ等による切
傷などというような識別性を有するマークを、電
気的検査手段10からの検査信号に応じて基板1
の対応する導電回路3パターン上にマーキングし
得るように構成されておればよいものである。
11として、マーカ20による着色表示を行なう
場合を説明したが、本考案はこれに限定されず、
たとえばパンチによる穿孔や、レーザ等による切
傷などというような識別性を有するマークを、電
気的検査手段10からの検査信号に応じて基板1
の対応する導電回路3パターン上にマーキングし
得るように構成されておればよいものである。
また、本考案は、上述したような複数のプリン
ト基板1を有するシートの検査用に限定されず、
導電回路パターンを有するフレキシブル、硬質性
のプリント基板に用いてその効果を発揮し得るこ
とは容易に理解されよう。
ト基板1を有するシートの検査用に限定されず、
導電回路パターンを有するフレキシブル、硬質性
のプリント基板に用いてその効果を発揮し得るこ
とは容易に理解されよう。
(考案の効果)
以上説明したように、本考案に係るプリント配
線回路基板用検査装置によれば、導電回路パター
ンの被マーキング位置に対応して多数の透孔が形
成された載置板に基板を載置し、導電回路パター
ンの被検査位置に対応して設けられた多数のプロ
ーブが基板上方から導電回路パターンの検査を行
い、透孔の位置に対応して多数設けられたマーカ
が検査結果に基づいて基板下方から透孔を挿通し
て導電回路パターンにマーキングすることによ
り、次の効果を奏する。
線回路基板用検査装置によれば、導電回路パター
ンの被マーキング位置に対応して多数の透孔が形
成された載置板に基板を載置し、導電回路パター
ンの被検査位置に対応して設けられた多数のプロ
ーブが基板上方から導電回路パターンの検査を行
い、透孔の位置に対応して多数設けられたマーカ
が検査結果に基づいて基板下方から透孔を挿通し
て導電回路パターンにマーキングすることによ
り、次の効果を奏する。
プローブを基板の上にマーカを基板の下に配
設することにより、マーカとプローブとが干渉
することを避けることができ、プローブ及びマ
ーカを高密度に設けることができる。
設することにより、マーカとプローブとが干渉
することを避けることができ、プローブ及びマ
ーカを高密度に設けることができる。
電気的検査手段及びマーキング機構には、X
軸、Y軸へ移動させる駆動機構がないので、構
造を極めて簡単にできる。
軸、Y軸へ移動させる駆動機構がないので、構
造を極めて簡単にできる。
電気的検査手段が多数の検査箇所を電気的ス
イツチの切換えにより検査するので、多数の検
査箇所を機械的に移動しながら検査する装置に
比べて極めて高速に検査できる。
イツチの切換えにより検査するので、多数の検
査箇所を機械的に移動しながら検査する装置に
比べて極めて高速に検査できる。
図面は本考案に係るプリント配線回路基板用検
査装置の一実施例を示すもので、第1図はその要
部断面図、第2図は検査すべきプリント基板を部
分的に例示する概略斜視図である。 1……プリント配線回路基板、3……導電回
路、10……電気的検査手段、11……マーキン
グ機構、12……載置板、13……上部押え板、
14……プローブ植設板、15……プローブ、2
0……マーカ、21……透孔、22……駆動手
段。
査装置の一実施例を示すもので、第1図はその要
部断面図、第2図は検査すべきプリント基板を部
分的に例示する概略斜視図である。 1……プリント配線回路基板、3……導電回
路、10……電気的検査手段、11……マーキン
グ機構、12……載置板、13……上部押え板、
14……プローブ植設板、15……プローブ、2
0……マーカ、21……透孔、22……駆動手
段。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 導電回路パターンが形成された基板を載置す
るとともに上記導電回路パターンの被マーキン
グ位置に対応して多数の透孔が形成された載置
板と、上記導電回路パターンの被検査位置に対
応して多数のプローブが植設されたプローブ植
設板が上記基板の上方に昇降自在に備えられる
とともに上記導電回路パターンの導通、絶縁検
査を行なう電気的検査手段と、上記透孔の位置
に対応して多数設けられ上記透孔に挿通可能と
したマーカが上記基板の下方に昇降自在に備え
られるとともに上記電気的検査手段による検査
結果に基づいてその良否のいずれか一方に該当
する上記導電回路パターンに直接マーキングす
るマーキング機構とからなるプリント配線回路
基板用検査装置。 (2) マーキング機構は、着色、穿孔、切傷等によ
る識別性を有するマークを、電気的検査手段か
らの検査信号に応じて基板の対応する導電回路
パターン上にマーキングし得るように構成され
ていることを特徴とする実用新案登録請求の記
載第1項記載のプリント配線回路基板用検査装
置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1985192940U JPH0421104Y2 (ja) | 1985-12-17 | 1985-12-17 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1985192940U JPH0421104Y2 (ja) | 1985-12-17 | 1985-12-17 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62102173U JPS62102173U (ja) | 1987-06-29 |
JPH0421104Y2 true JPH0421104Y2 (ja) | 1992-05-14 |
Family
ID=31148494
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1985192940U Expired JPH0421104Y2 (ja) | 1985-12-17 | 1985-12-17 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0421104Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5215026B2 (ja) * | 2008-04-23 | 2013-06-19 | 日置電機株式会社 | 絶縁検査装置および絶縁検査方法 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5367878A (en) * | 1976-11-29 | 1978-06-16 | Fujitsu Ltd | Device for inspecting electrode |
JPS61235766A (ja) * | 1985-04-11 | 1986-10-21 | Toppan Printing Co Ltd | 翻訳機 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0413664Y2 (ja) * | 1985-01-07 | 1992-03-30 |
-
1985
- 1985-12-17 JP JP1985192940U patent/JPH0421104Y2/ja not_active Expired
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5367878A (en) * | 1976-11-29 | 1978-06-16 | Fujitsu Ltd | Device for inspecting electrode |
JPS61235766A (ja) * | 1985-04-11 | 1986-10-21 | Toppan Printing Co Ltd | 翻訳機 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS62102173U (ja) | 1987-06-29 |
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