JPH04186536A - 光ディスク装置 - Google Patents
光ディスク装置Info
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- JPH04186536A JPH04186536A JP2317252A JP31725290A JPH04186536A JP H04186536 A JPH04186536 A JP H04186536A JP 2317252 A JP2317252 A JP 2317252A JP 31725290 A JP31725290 A JP 31725290A JP H04186536 A JPH04186536 A JP H04186536A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/135—Means for guiding the beam from the source to the record carrier or from the record carrier to the detector
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Optical Head (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、光ディスクの再生、記録または消去を行う光
デイスク装置に関する。
デイスク装置に関する。
従来の技術
近年、光ディスクはその高度な情報記録密度を生かして
情報処理機器の外部記憶装置や画像情報記録用として盛
んに活用されつつある。
情報処理機器の外部記憶装置や画像情報記録用として盛
んに活用されつつある。
従来の光ディスクでは、信号読み取りのだめの光ピツク
アップは、光源である半導体レーザ、レーザビームを略
平行ビームとする光学系、ビームスプリッタ−1偏向ミ
ラーおよび対物レンズ等が一体の筐体となっていた。第
3図に従来の一体型ノ光ピックアッyf用いた光デイス
ク装置の要部構成図を示し、以下その構成と動作を説明
すると、半導体レーザ1から出射する光ビームはコリメ
ートレンズ2で略平行光とされビームスプリッタ−3に
入射する。ビームスプリッター3で非点収差補正された
光ビームは、偏向ミラー4でディスク方向に偏向され対
物レンズ6に入射する。対物レンズで収束された光ビー
ムは記録担体である光ディスク6で反射され、同一光路
を戻υビームスプリッタ−3で反射され光検出器10.
11に入射する。光検出系12の動作は、既に公知でち
るので詳細な説明は省略する。
アップは、光源である半導体レーザ、レーザビームを略
平行ビームとする光学系、ビームスプリッタ−1偏向ミ
ラーおよび対物レンズ等が一体の筐体となっていた。第
3図に従来の一体型ノ光ピックアッyf用いた光デイス
ク装置の要部構成図を示し、以下その構成と動作を説明
すると、半導体レーザ1から出射する光ビームはコリメ
ートレンズ2で略平行光とされビームスプリッタ−3に
入射する。ビームスプリッター3で非点収差補正された
光ビームは、偏向ミラー4でディスク方向に偏向され対
物レンズ6に入射する。対物レンズで収束された光ビー
ムは記録担体である光ディスク6で反射され、同一光路
を戻υビームスプリッタ−3で反射され光検出器10.
11に入射する。光検出系12の動作は、既に公知でち
るので詳細な説明は省略する。
発明が解決しようとする課題
このような一体構造の光ピツクアップは全体の光学系が
一つの筐体に入っているので内部の光学系が麿や汚れに
さらされないという長所がある反面、光ピツクアップが
重くなるという欠点がある。
一つの筐体に入っているので内部の光学系が麿や汚れに
さらされないという長所がある反面、光ピツクアップが
重くなるという欠点がある。
光ピツクアップが重くなると光ディスクに対して光ピン
クアップを移動させる移送時間が長くなシ高速アクセス
などの要求に応じきれないなどの弊害が生じる。
クアップを移動させる移送時間が長くなシ高速アクセス
などの要求に応じきれないなどの弊害が生じる。
これに対して光学系の偏向ミラー4と対物レンズ6とを
分離して移動させる分離型光ヘッドがある。この分離型
光ヘッドでは、移送荷重が軽くなり高速アクセスが可能
となる反面、光学系が分離されるので外部へのM高部分
が多くなり塵やほこりの影響を受けやすいという欠点が
ある。
分離して移動させる分離型光ヘッドがある。この分離型
光ヘッドでは、移送荷重が軽くなり高速アクセスが可能
となる反面、光学系が分離されるので外部へのM高部分
が多くなり塵やほこりの影響を受けやすいという欠点が
ある。
本発明では、この光学系の露出部分が多くなる分離型の
光ヘッドに防塵対策を施しかつ防塵効果をあげるだめの
方法を提供するのを目的とする。
光ヘッドに防塵対策を施しかつ防塵効果をあげるだめの
方法を提供するのを目的とする。
課題を解決するだめの手段
本発明は上記目的を達成するために、放射光源から出射
する光ビームを受け略平行ビームとするコリメート系と
前記略平行ビームを透過または分岐させる光学系とを含
む固定光学基台と、前記固定光学基台から出射する略平
行ビームを受け記録担体方向に偏向させるミラーおよび
記録担体上に収束させる対物レンズからなる可動光学基
台と、前記固定光学基台のビーム出射口および前記可動
光学基台のビーム入射口に前記略平行ビームに略垂直と
なるように取υ付けられた略平行の透明基板とからなる
構成とする。
する光ビームを受け略平行ビームとするコリメート系と
前記略平行ビームを透過または分岐させる光学系とを含
む固定光学基台と、前記固定光学基台から出射する略平
行ビームを受け記録担体方向に偏向させるミラーおよび
記録担体上に収束させる対物レンズからなる可動光学基
台と、前記固定光学基台のビーム出射口および前記可動
光学基台のビーム入射口に前記略平行ビームに略垂直と
なるように取υ付けられた略平行の透明基板とからなる
構成とする。
また必要に応じて、前記固定光学基台のビーム出射口お
よび前記可動光学基台のビーム入射口にある一対の略平
行の透明基板は、それぞれほぼ同じ素材でかつほぼ同じ
厚さであシ、略平行ビームの垂直方向より互いに反対方
向のほぼ同じ角度となるよう構成する。
よび前記可動光学基台のビーム入射口にある一対の略平
行の透明基板は、それぞれほぼ同じ素材でかつほぼ同じ
厚さであシ、略平行ビームの垂直方向より互いに反対方
向のほぼ同じ角度となるよう構成する。
さらに必要に応じて、前記透明基板の最も外側に導電性
の誘電体膜をコーティングし、かつその膜を接地するよ
うに構成するものである。
の誘電体膜をコーティングし、かつその膜を接地するよ
うに構成するものである。
作 用
本発明は上記の構成により、つぎのような作用を有する
。
。
その第1のポイントは、光学系の偏向ミラーと対物レン
ズとを固定光学基台から分離して移動させる分離型光ヘ
ッドの光路中に窓(透明基板)を設けて光学系の露出部
分を覆い、塵やほこりの影響を受けにくくすることにあ
る。
ズとを固定光学基台から分離して移動させる分離型光ヘ
ッドの光路中に窓(透明基板)を設けて光学系の露出部
分を覆い、塵やほこりの影響を受けにくくすることにあ
る。
その第2のポイントは、固定光学基台と可動光学基台と
にある1対の窓をほぼ同じ材質で作υ、かつほぼ同じ厚
さとして、さらに互いに反対方向に同じ角度だけ傾ける
ことによって、惣表面の反射光が検出光学系に混入して
信号の検出に悪影響を与えるのを防ぎ、かつ光路中に発
生する収差と、光軸の移動を避けることができる。
にある1対の窓をほぼ同じ材質で作υ、かつほぼ同じ厚
さとして、さらに互いに反対方向に同じ角度だけ傾ける
ことによって、惣表面の反射光が検出光学系に混入して
信号の検出に悪影響を与えるのを防ぎ、かつ光路中に発
生する収差と、光軸の移動を避けることができる。
その第3のポイントは、窓の表面に導電性のコーティン
グを施しその一端をヘッド筐体にアースすることにより
、窓の表面に付着するゴミ等により帯電することを防止
し、逆甑性の荷電粒子が吸い寄せられて、窓ガラス上に
汚れが次々に堆積するのを防止し、かつ固定光学基台内
の高周波信号の外部への不要輻射の量を低減する。
グを施しその一端をヘッド筐体にアースすることにより
、窓の表面に付着するゴミ等により帯電することを防止
し、逆甑性の荷電粒子が吸い寄せられて、窓ガラス上に
汚れが次々に堆積するのを防止し、かつ固定光学基台内
の高周波信号の外部への不要輻射の量を低減する。
実施例
以下本発明の一実施例を図面に基づきその構成と動作を
説明する。第1図は本発明の光デイスク装置の要部構成
図である。光学系の構成は、従来例とほぼ同じであるが
、ビームスプリッタ−3と偏向ミラー4との間で分離さ
れていて、固定光学基台20と可動光学基台21に分か
れている。可動光学基台は、ディスクの半径方向に必要
なストロークだけ矢印A、B方向に移動することができ
る。光検出系12については、従来例と同じくすでに公
知の技術を用いて動作させることができるので詳細な説
明は省略する。本発明の例では、トラッキングサーボを
プッシュプル法を用いて、フォーカスサーボを非点収作
法を用いて示しである。
説明する。第1図は本発明の光デイスク装置の要部構成
図である。光学系の構成は、従来例とほぼ同じであるが
、ビームスプリッタ−3と偏向ミラー4との間で分離さ
れていて、固定光学基台20と可動光学基台21に分か
れている。可動光学基台は、ディスクの半径方向に必要
なストロークだけ矢印A、B方向に移動することができ
る。光検出系12については、従来例と同じくすでに公
知の技術を用いて動作させることができるので詳細な説
明は省略する。本発明の例では、トラッキングサーボを
プッシュプル法を用いて、フォーカスサーボを非点収作
法を用いて示しである。
光学系の性能向上には他にも必要な光学部品はあるが本
発明の本質には影響しないので説明を省略する。
発明の本質には影響しないので説明を省略する。
本発明は、再生専用、記録再生および記録再生消去のい
ずれの方式にも適用可能であり、また光磁気方式や相変
化方式、ホールバーニング等いずれの方式にも適用でき
る。固定光学基台と可動光学基台の光ビームの入出射端
面には光学系の中にゴミやほこりが入らないように透明
な窓(透明基板22.23が設けられている。窓は汚れ
をつきにくくするため垂直な面が望ましく、汚れにくく
、ふきやすい単純な構造にするのがよい2つの窓は互い
に平行もしくは少しウェッジ状となったガラス等の透明
体であシ、通常反射防止のだめのコーティングがなされ
ている。窓は光軸に対しほぼ垂直に配置すると光学系筐
体の加工上有利であるが、愈22,23の反射防、化膜
を性能のいいものにしないと窓22.23の表面の反射
光26が検出光学系に混入して特にサーボ信号の検出に
悪影響を与える。通常の反射防止膜の性能は波長変動等
を考慮に入れると0.5〜1チ以下であるがこの光がそ
のまま光検出器に戻るとフォーカスサーボでデフォーカ
スが生じる原因となったり、トラッキングサーボでオフ
トラックの原因となったシする。
ずれの方式にも適用可能であり、また光磁気方式や相変
化方式、ホールバーニング等いずれの方式にも適用でき
る。固定光学基台と可動光学基台の光ビームの入出射端
面には光学系の中にゴミやほこりが入らないように透明
な窓(透明基板22.23が設けられている。窓は汚れ
をつきにくくするため垂直な面が望ましく、汚れにくく
、ふきやすい単純な構造にするのがよい2つの窓は互い
に平行もしくは少しウェッジ状となったガラス等の透明
体であシ、通常反射防止のだめのコーティングがなされ
ている。窓は光軸に対しほぼ垂直に配置すると光学系筐
体の加工上有利であるが、愈22,23の反射防、化膜
を性能のいいものにしないと窓22.23の表面の反射
光26が検出光学系に混入して特にサーボ信号の検出に
悪影響を与える。通常の反射防止膜の性能は波長変動等
を考慮に入れると0.5〜1チ以下であるがこの光がそ
のまま光検出器に戻るとフォーカスサーボでデフォーカ
スが生じる原因となったり、トラッキングサーボでオフ
トラックの原因となったシする。
このために窓22.23からの反射光が直接光検巴器1
0.11の中に入射しないように窓22゜23を光軸よ
り少し傾けて設定する。角度の設定は、検出系の設計に
より異なるが窓での表面反射光が光検出器に入射しない
ようにする。設計例として検出レンズの焦点距離を30
ffとして光検出器の大きさを1ffX1jllとすれ
ば窓の傾きを約0.5°−以上とすることで不要な反射
光が光検出器10.11に混入するのを防ぐことができ
る。種々条件を変えて、傾きは0.1°〜3°程度が適
当であった。
0.11の中に入射しないように窓22゜23を光軸よ
り少し傾けて設定する。角度の設定は、検出系の設計に
より異なるが窓での表面反射光が光検出器に入射しない
ようにする。設計例として検出レンズの焦点距離を30
ffとして光検出器の大きさを1ffX1jllとすれ
ば窓の傾きを約0.5°−以上とすることで不要な反射
光が光検出器10.11に混入するのを防ぐことができ
る。種々条件を変えて、傾きは0.1°〜3°程度が適
当であった。
窓22,23ははマ同じ素材の、はソ同じ厚さの透明基
板であり、かつ窓を傾ける角度は第1図に示すように互
いに反対方向に同じ程度の角度だけ傾けると収差に補正
される。したがって光学系の性能の劣化が少くなり、か
つビームの光軸の平行移動分も補正されるので良好な光
スポットを得ることができる。
板であり、かつ窓を傾ける角度は第1図に示すように互
いに反対方向に同じ程度の角度だけ傾けると収差に補正
される。したがって光学系の性能の劣化が少くなり、か
つビームの光軸の平行移動分も補正されるので良好な光
スポットを得ることができる。
この窓22により固定光学基台20の内部は、はぼ完全
にシールされているので内部の光学系にゴミやほこりが
付着することはない。一方可動光学基台21では対物レ
ンズ6をフォーカス方向やトラッキング方向に移動させ
るために若干の隙間が生じるために窓23だけでは完全
にシールすることは出来ないが偏向ミラー4上に堆積す
るほこりやゴミに対して防塵効果は十分にある。窓表面
には反射防止膜(図示せず)があり、相当な硬度がある
ので塵やほこりが堆積しても不織布等で拭きとれば十分
に取ることができる。
にシールされているので内部の光学系にゴミやほこりが
付着することはない。一方可動光学基台21では対物レ
ンズ6をフォーカス方向やトラッキング方向に移動させ
るために若干の隙間が生じるために窓23だけでは完全
にシールすることは出来ないが偏向ミラー4上に堆積す
るほこりやゴミに対して防塵効果は十分にある。窓表面
には反射防止膜(図示せず)があり、相当な硬度がある
ので塵やほこりが堆積しても不織布等で拭きとれば十分
に取ることができる。
第2図は、本発明の他の実施例を示すもので、光学系の
構成は同一であるが、窓22’、23’の表面には透明
な導電性薄膜24がコーティングされている。もし複数
層のコーティングを施すときは、少くともその最外側の
膜を導電性とする。透明な導電性薄膜材料としてITO
膜等がある。透明導電膜の一端は固定光学基台2oおよ
び可動光学基台21の導電体部分を通じて接地26され
ている。
構成は同一であるが、窓22’、23’の表面には透明
な導電性薄膜24がコーティングされている。もし複数
層のコーティングを施すときは、少くともその最外側の
膜を導電性とする。透明な導電性薄膜材料としてITO
膜等がある。透明導電膜の一端は固定光学基台2oおよ
び可動光学基台21の導電体部分を通じて接地26され
ている。
窓の表面に透明導電性薄膜24がコーティングされてい
ると、帯電性のゴミや塵が窓に付着する際に電荷が透明
導電性薄膜により接地され窓表面に帯電しない。したが
って帯電によりゴミや塵が雪だるま式に集まるような現
象はなくなる。また固定光学系2oを導電性コーティン
グ24を含む導電体でほぼ完全にシールドすることで、
固定光学系内のレーザのC/N比改善の目的で行ってい
るeoo〜800MHzの高周波重量27による不要輻
射の量を低減することができる。高周波重量の技術につ
いてはすでに公知でsb、不要輻射レベルを一定以下と
するために様々な工夫が凝らされている。たとえば高周
波重畳回路を入れたシールドケースをはんだでヘッド筐
体にしつかシと接地する等されている。一方分離形ヘッ
ドでは固定光学基台2oの前方が開いておりこの開いた
部分より漏洩する不要輻射が多くなる。この部分を導電
性材料すなわち導電性コーティング24でシールドすれ
ば漏洩はすくなくなる。
ると、帯電性のゴミや塵が窓に付着する際に電荷が透明
導電性薄膜により接地され窓表面に帯電しない。したが
って帯電によりゴミや塵が雪だるま式に集まるような現
象はなくなる。また固定光学系2oを導電性コーティン
グ24を含む導電体でほぼ完全にシールドすることで、
固定光学系内のレーザのC/N比改善の目的で行ってい
るeoo〜800MHzの高周波重量27による不要輻
射の量を低減することができる。高周波重量の技術につ
いてはすでに公知でsb、不要輻射レベルを一定以下と
するために様々な工夫が凝らされている。たとえば高周
波重畳回路を入れたシールドケースをはんだでヘッド筐
体にしつかシと接地する等されている。一方分離形ヘッ
ドでは固定光学基台2oの前方が開いておりこの開いた
部分より漏洩する不要輻射が多くなる。この部分を導電
性材料すなわち導電性コーティング24でシールドすれ
ば漏洩はすくなくなる。
このように本実施例によれは窓2 d’ 、 23’の
表面の導電性コーティングはゴミや稟の付着を防ぎ、か
つ窓22′においては静電シールドの役目を兼ねるもの
である。
表面の導電性コーティングはゴミや稟の付着を防ぎ、か
つ窓22′においては静電シールドの役目を兼ねるもの
である。
発明の詳細
な説明したこうに本発明によれば、光学系に愈(透明基
板)を設けることで固定光学基台および可動光学基台の
内部はほぼ完全に密閉されているので、内部の光学系に
ゴミやほこシが付着することがなくなる。また簡単な構
造のため、窓の外部に付着したゴミは容易に拭き取るこ
とができる。
板)を設けることで固定光学基台および可動光学基台の
内部はほぼ完全に密閉されているので、内部の光学系に
ゴミやほこシが付着することがなくなる。また簡単な構
造のため、窓の外部に付着したゴミは容易に拭き取るこ
とができる。
この際窓の面を光軸より少し傾けることにより、不要な
反射光が光検出器に混入することを防ぐ。
反射光が光検出器に混入することを防ぐ。
また窓の表面に透明導電性薄膜をコーティングし、それ
を接地することにより、帯電性のゴミや塵が窓に付着し
ても、電荷が透明導電性薄膜により接地され窓表面に帯
電しない。したがって帯電によりゴミや塵が雪だるま式
に集まるような現象がなくなる。
を接地することにより、帯電性のゴミや塵が窓に付着し
ても、電荷が透明導電性薄膜により接地され窓表面に帯
電しない。したがって帯電によりゴミや塵が雪だるま式
に集まるような現象がなくなる。
さらに固定光学系を導電体でほぼ完全にシールドするこ
とで、レーザのC/N比改善の目的で行っている600
〜B OOMHzの高周波変調による不要輻射の量を低
減できるなど、実用効果の高い光デイスク装置を提供す
るものである。
とで、レーザのC/N比改善の目的で行っている600
〜B OOMHzの高周波変調による不要輻射の量を低
減できるなど、実用効果の高い光デイスク装置を提供す
るものである。
第1図は本発明の一実施例の光デイスク装置の要部構成
図、第2図は同じく他の実施例の光デイスク装置の要部
構成図、第3図は従来例の光デイスク装置の要部構成図
である。 1・・・・・・レーザ、2− ・・−コリメートレンズ
、3・・・12.ビームスプリッタ−14・・・・・・
偏向ミラー、6・・・・・・対物レンズ、6・・・・・
・光ディスク、2o・・・・・・固定光学基台、21・
・・・・・可動光学基台、22.22’。 23.23’・・・・・・光学系の窒、24・・・・・
・透明導電性コーティング。 代理人の氏名 弁理士 小鍜治 明 ほか2名5″か
一しンス 2S−反JFj梵 第1図 ! −本場1不レーデ 2− コ リメートレン又 J−・・ヒ゛−ムスフゝリウター 4 °4jI−ミラー 第2図 乙
図、第2図は同じく他の実施例の光デイスク装置の要部
構成図、第3図は従来例の光デイスク装置の要部構成図
である。 1・・・・・・レーザ、2− ・・−コリメートレンズ
、3・・・12.ビームスプリッタ−14・・・・・・
偏向ミラー、6・・・・・・対物レンズ、6・・・・・
・光ディスク、2o・・・・・・固定光学基台、21・
・・・・・可動光学基台、22.22’。 23.23’・・・・・・光学系の窒、24・・・・・
・透明導電性コーティング。 代理人の氏名 弁理士 小鍜治 明 ほか2名5″か
一しンス 2S−反JFj梵 第1図 ! −本場1不レーデ 2− コ リメートレン又 J−・・ヒ゛−ムスフゝリウター 4 °4jI−ミラー 第2図 乙
Claims (3)
- (1)放射光源から出射する光ビームを受け略平行ビー
ムとするコリメート系と前記略平行ビームを透過または
分岐させる光学系とを含む固定光学基台と、前記固定光
学基台から出射する略平行ビームを受け、記録担体方向
に偏向させるミラーおよび記録担体上に収束させる対物
レンズからなる可動光学基台と、前記固定光学基台のビ
ーム出射口および前記可動光学基台のビーム入射口に前
記略平行ビームに略垂直となるように取り付けられた略
平行の透明基板とからなる光ディスク装置。 - (2)固定光学基台のビーム出射口および可動光学基台
のビーム入射口の一対の略平行の透明基板は、それぞれ
ほぼ同じ素材でかつほぼ同じ厚さであり、略平行ビーム
の垂直方向より互いに反対方向のほぼ同じ角度となるよ
うに取り付けられた請求項1記載の光ディスク装置。 - (3)略平行の透明基板の最も外側に透明導電性の誘電
体膜をコーティングし、固定光学基台および可動光学基
台の導電体部分を通じて接地されている請求項1または
2記載の光ディスク装置。
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JP2317252A JPH04186536A (ja) | 1990-11-20 | 1990-11-20 | 光ディスク装置 |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2317252A JPH04186536A (ja) | 1990-11-20 | 1990-11-20 | 光ディスク装置 |
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Family Applications (1)
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JP2317252A Pending JPH04186536A (ja) | 1990-11-20 | 1990-11-20 | 光ディスク装置 |
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JP (1) | JPH04186536A (ja) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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- 1991-11-18 US US07/793,164 patent/US5175717A/en not_active Expired - Lifetime
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US5175717A (en) | 1992-12-29 |
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