JPH0376352A - 擬似試験装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、データ転送装置に利用する。特に、データ転
送装置に下位装置を接続することなく、上位装置から自
装置の試験が行えるデータ転送装置に関する。

〔概要〕

本発明は、データ転送装置に下位装置を接続せずに上位
装置からデータ転送装置の試験を行う手段において、 データ転送装置に擬障を発生させてこの状態をチエツク
することにより、 試験工数の削減を図ることができるようにしたものであ
る。

〔従来の技術〕

従来、データ転送装置にデータ転送を行う入出力装置ま
たは試験器などを接続してデータ転送装置の試験を行っ
ている。また、データ転送装置内にデータ折返しの手段
を設けてデータバスの試験を行っている。

〔発明が解決しようとする問題点〕

しかし、情報処理システムの規模によっては、主記憶装
置の接続されたシステムバスに入出力専用のプロセッサ
を接続し、このプロセッサの下位に数百台ものデータ転
送装置とこれに接続された入出力装置が設けられること
がある。このようなシステムの製造時に、データ転送装
置のすべてに入出力装置や試験器を接続して試験を行う
ことは、試験準備のために多大の経費と床面積とを必要
とする欠点がある。また、入出力装置などを接続して試
験を行い、障害が検出されたときにその障害がデータ転
送装置側にあるのか入出力装置側にあるのかを切り分け
ることが容易でなく、別の入出力装置または試験器など
と入れ替えての試験を要し、このためにはシステムを停
止し、電源を落としてケーブルの接続替えを行わなけれ
ばならない煩雑さがある。また、データの折返しによる
データバスの試験では、上位装置が試験モードであるこ
とを意識して毎回コマンドを発行するので、−連の動作
シーケンスの試験ができない欠点がある。

本発明は、このような欠点を除くもので、入出力装置は
閉塞中としておき、データ転送装置を折返し状態として
上位装置からのコマンドと内部に格納しているコマンド
とを実行することにより、あたかも入出力装置を接続し
てデータ転送装置を介して入出力装置と一連の動作シー
ケンスが行われているようにデータ転送装置が動作して
試験が行え、コマンドシーケンスの任意のタイミングで
擬障を発生させることができるデータ転送装置を提供す
ることを目的とする。

〔問題点を解決するための手段〕

本発明は、上位装置と下位装置との間の経路に挿入され
チャネル装置を含むデータ伝送装置にかかわる擬似試験
装置において、複数個の試験用コマンドとこの試験用コ
マンドのそれぞれに対応する擬似障害発生データとを格
納する記憶領域と、上記上位装置から与えられる試験モ
ードを示す指示に応じて上記データ伝送装置と上記下位
装置との間の経路を閉塞させる指示を発行する試験モー
ド制御手段と、上記データ伝送装置と上記下位装置との
間の経路の閉塞を確認して上記記憶領域に格納された前
記試験用コマンドを順次読み出し、読み出した試験用コ
マンドを解析して上記チャネル装置に対して実行する試
験用コマンド読出制御回路と、この試験用コマンド読出
制御回路の読み出しに際して読み出される前記試験用コ
マンドに対応する擬似障害発生データが示す擬似障害を
上記チャネル装置に発生させる擬障発生制御回路とを備
えたことを特徴とする。

〔作用〕

上位装置から送られる周辺装置用のコマンドを受信する
。上位装置から試験モードの指示が与えられたときに、
周辺装置に閉塞信号を与える。主記憶装置に格納されて
いる試験用コマンド群を上位装置から与えられる先頭番
地から逐次読み出し、解析後実行する。主記憶装置にコ
マンド群とそれぞれ対応する擬障発生指示データを設け
、コマンドを読み出す際に付随して読み出し、擬障発生
の制御を行う。

〔実施例〕

以下、本発明の一実施例について図面を参照して説明す
る。

第１図はこの実施例の構成を示すブロック構成図であり
、データ転送装置が入出カプロセッサに接続されたチャ
ネル装置である場合を示す。第１図に示すように、シス
テムバスに主プロセツサ１、主記憶装置２、人出カプロ
セッサ３および診断プロセッサ４が接続され、さらに入
出カプロセッサ３には複数のチャネル装置５が接続され
、チャネル装置５のそれぞれに人出力制御装置６を介し
て入出力装置７が接続される。チャネル装置５は従来か
ら設けられているチャネル制御回路５０と、システムバ
ス幅と同バイトの送信バッファ５１と、送信バッファ５
１に接続されたセレクタ５２と、セレクタ５２に接続さ
れた１バイトの送信レジスタ５３と、送信レジスタ５３
の内容を入出力制御装置６との間のデータ転送線に送出
する１バイトのドライバＤＲと、このデータ送受線に接
続された１バイトのレシーバＲＥと、レシーバＲＥから
の出力を受け・る１バイトの受信レジスタ５５と、受信
レジスタ５５の内容をシステムバス幅と同バイト分蓄積
して出力する受信バッファ５４とを有し、新たに送信バ
ッファ５１への入力を並列に引込んで送信されるコマン
ドを受信するコマンド受信回路５６と、主記憶装置２に
格納されている試験用コマンド群２１を逐次読み出して
解析後に実行する試験用コマンド読出制御回路５７と、
読み出したコマンドに対応して主記憶装置２に格納され
ている擬障発生指示データ２２を読み出し、擬障発生の
制御を行う擬障発生制御回路５Ａと、チャネル制御回路
５０の人出力線を並列に引き込んだ試験モード制御回路
５８と、レシーバＲＥと受信レジスタ５５この間に設け
られ試験モード制御回路５８の制御に応じてレシーバＲ
Ｅの出力と試験用コマンド読出制御回路５７からの出力
とを切替えて受信レジスタ５５に出力するセレクタ５９
とを有する。

なお、チャネル制御回路５０は入出カプロセッサ３を介
して与えられる試験モード指定信号と試験モード解除信
号との２つの信号は無視するが、他の制御信号ならびに
制御はすべて試験モード中であっても実行する。また、
試験モード制御回路５８は入出カプロセッサ３との間で
は試験モード指定信号と試験モード解除信号との２つの
信号の受信を行い、この指定と解除との期間は人出力制
御装置６へ閉塞信号（例えば、低レベル〉を送出し、入
出力制御装置６に代わってチャネル制御回路５６の受信
コマンドを実行し、入出力制御装置６から入出カプロセ
ッサ３へ送られるべきコマンドを主記憶装置２から読み
出し、試験用コマンド読出制御回路５７からセレクタ５
９を介して送出させたり、擬障発生指示データ２２を主
記憶装置２から読み出し、通常の動作の途中であらかじ
め設定しである擬障を発生させる動作を行う。

すなわち、この実施例は、複数個の試験用コマンドとこ
の試験用コマンドのそれぞれに対応する擬似障害発生デ
ータとを格納する記憶領域である主記憶装置２と、上位
装置から与えられる試験モードを示す指示に応じてデー
タ伝送装置と下位装置との間の経路を閉塞させる指示を
発行する試験モード制御手段である試験モード制御回路
５８と、上記データ伝送装置と上記下位装置との間の経
路の閉塞を確認して上記記憶領域に格納された前記試験
用コマンドを順次読み出し、読み出した試験用コマンド
を解析して上記データ伝送装置に含まれるチャネル装置
に対して実行する試験用コマンド読出制御回路５７と、
この試験用コマンド読出制御回路５７の読み出しに際し
て読み出される前記試験用コマンドに対応する擬似障害
発生データが示す擬似障害を上記チャネル装置に発生さ
せる擬障発生制御回路５Ａとを備えたことを特徴とする
。

第２図は試験モード中でのデータ転送動作を示すシーケ
ンス図であり、チャネル装置と入出力装置（入出力制御
装置を含む〉との間の点線は試験モード中でない場合に
送受されることを示す。以下、第２図を参照してこの実
施例の動作を説明する。

まず、主プロセツサ１または診断プロセッサ４からチャ
ネル装置５のアドレスを指定して試験モード指定が行わ
れると、入出カプロセッサ１はこの情報を受けて指定さ
れたアドレスのチャネル装置５に制御信号線を介して試
験モード指定を行う。

試験モード制御回路５８はこの指定を受けて人出力制御
装置６に閉塞信号を送出し、チャネル装置５との間のす
べての接続線を開放状態にさせる。次に主プロセツサ１
または診断プロセッサ４はデータ転送の指示を入出カプ
ロセッサ３に与える。そこで、入出カプロセッサ３は主
記憶装置２の指定された制御情報から指定されているチ
ャネル装置５のアドレスを知り、このチャネル装置５に
起動信号を送る。この起動信号はチャネル制御回路５０
を介して人出力制御回路６へ送出されるが、入出力制御
回路６は受けることができず、代わりに試験モード制御
回路５８が受ける。試験モード制御回路５８は起動信号
を受けると、試験用コマンド読出制御回路５７に指示し
てあらかじめ上位装置より与えられた試験用コマンド群
２１の先頭番地をもとに主記憶装置２から試験用コマン
ドを読み出させ、セレクタ５９、受信レジスタ５５およ
び受信／＜ツファ５４を介してこのコマンドを人出カプ
ロセッサ３に割込み信号として与える。続いて、試験モ
ード制御回路５８は擬障発生制御回路５Ａに指示して読
み出した試験用コマンド群２１に対応する擬障発生指示
データ２２を主記憶装置２から読み出させ、試験モード
制御回路５８内に保持する。そこで、入出カプロセッサ
３は再び通常の手順で主記憶装置２の指定された制御情
報から送受信の指定、主記憶装置２の転送データのアド
レスおよびカウントなどの情報を含んだデータコントロ
ールワードを送信する。このデータコントロールワード
はコマンド受信回路５６で受信され、この信号が試験モ
ード制御回路５８に伝えられると、試験モード制御回路
５８は再び試験用コマンド読出制御回路５７に指示して
主記憶装置２に格納されている試験用コマンド群２１を
読み出させ、前回と同様にセレクタ５９などを介して入
出カプロセッサ３に割込み信号として与える。その結果
、人出カプロセッサ３は通常の手順で主記憶装置２の指
定されたアドレスからのデータを送信バッファ５１へ転
送する。このときにチャネル制御回路５０は試験モード
制御回路５８との間で制御信号の送受を行いつつ転送デ
ータを送信バッファ５１に受信させ、受信されたデータ
をセレクタ５２、送信レジスタ５３およびドライバＤＲ
に送出して廃棄させる。ここで、試験モード制御回路５
８内に格納されている擬障発生指示データによって擬障
発生の指示があれば、試験モード制御回路５８はチャネ
ル装置５内の任意に指定された回路に擬障を発生させる
ことができ、その結果としてチャネル制御回路５０でエ
ラーが検出され、転送が終了する。試験モード制御回路
５８は試験用コマンド読出制御回路５７に指示して終了
ステータス要求コマンドを送出させ、制御線を介してチ
ャネル制御回路５０が受けたｌｉｌ！認信号全信号て再
び試験用コマンド読出制御回路５７に指示し、終了ステ
ータスおよび終了コマンドを前回と同様にセレクタ５９
などを介して入出カプロセッサ３に送出させて一連の動
作を終了する。

なお、前述のデータ転送は入出力装置７への送信の場合
であるが、受信の試験ではあらかじめ主記憶装置２に特
定のデータを格納しておいてこれを送出してもよいし、
データコントロールワードに折返し情報を含ませ、この
折返し情報を受けた試験モード制御回路５８は送信バッ
ファ５１が受けたデータをドライバＤＲおよびレジ−／
（ＲＥを介して受信バッファ５４に蓄積させ、チャネル
制御回路５０に指示して返送させてもよい。

なお、この実施例では、入出カプロセッサ３とチャネル
装置５との間に送受されるコマンドはデータバスを介し
て行われるが、これらのコマンドが制御線を介して行わ
れる場合には、コマンド受信回路５６、試験用コマンド
読出制御回路５７および擬障発生制御回路５Ａは共に入
出カプロセッサ３との間の制御線に並列に接続される。

〔発明の効果〕

本発明は、以上説明したように、データ転送装置内に入
出力装置へのコマンドを受信腰上記憶装置に格納されて
いる試験用コマンド群を逐次読み出し、これらのコマン
ドを実行し、あたかも入出力装置を接続して入出力装置
との一連の動作シーケンスを行っているようにすること
ができ、また、試験用コマンドに対応して主記憶装置に
格納されている擬障発生指示データを読み出し、チャネ
ル装置で擬障を発生させることにより障害検出手段のチ
エツクができ、データ転送装置に入出力装置または試験
器を接続せずにデータ転送装置の試験を行えるので、試
験工数を大幅に削減できる効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明実施例の構成を示すブロック構成国。 第２図は本発明実施例によるデータ転送動作の一例を示
すシーケンス図。 ｌ・・・主プロセツサ、２・・・主記憶装置、３・・・
入出カプロセッサ、４・・・診断プロセッサ、５・・・
チャネル装置、６・・・入出力制御装置、７・・・入出
力装置、２１・・・試験用コマンド群、２２・・・擬障
発生指示データ、５０・・・チャネル制御装置、５１・
・・送信バッファ、５２．５９・・・セレクタ、５３・
・・送信レジスタ、５４・・・受信バッファ、５５・・
・受信レジスタ、５６・・・コマンド受信回路、５７・
・・試験用コマンド読出制御回路、５８・・・試験モー
ド制御回路、５Ａ・・・擬障発生制御回路。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、上位装置と下位装置との間の経路に挿入されチャネ
   ル装置を含むデータ伝送装置にかかわる擬似試験装置に
   おいて、 複数個の試験用コマンドとこの試験用コマンドのそれぞ
   れに対応する擬似障害発生データとを格納する記憶領域
   と、 上記上位装置から与えられる試験モードを示す指示に応
   じて上記データ伝送装置と上記下位装置との間の経路を
   閉塞させる指示を発行する試験モード制御手段と、 上記データ伝送装置と上記下位装置との間の経路の閉塞
   を確認して上記記憶領域に格納された前記試験用コマン
   ドを順次読み出し、読み出した試験用コマンドを解析し
   て上記チャネル装置に対して実行する試験用コマンド読
   出制御回路と、この試験用コマンド読出制御回路の読み
   出しに際して読み出される前記試験用コマンドに対応す
   る擬似障害発生データが示す擬似障害を上記チャネル装
   置に発生させる擬障発生制御回路と を備えたことを特徴とする擬似試験装置。