JPH0319055A - データ転送装置 - Google Patents

データ転送装置

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JPH0319055A
JPH0319055A JP1154219A JP15421989A JPH0319055A JP H0319055 A JPH0319055 A JP H0319055A JP 1154219 A JP1154219 A JP 1154219A JP 15421989 A JP15421989 A JP 15421989A JP H0319055 A JPH0319055 A JP H0319055A
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JP
Japan
Prior art keywords
test
data transfer
signal
command
control circuit
Prior art date
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Pending
Application number
JP1154219A
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English (en)
Inventor
Kunio Nakase
中瀬 邦夫
Tatsuhiko Tanimichi
谷道 龍彦
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NEC Corp
NEC Engineering Ltd
Original Assignee
NEC Corp
NEC Engineering Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明はデータ転送装置に間し、特にデータ転送装置に
下位装置を接続せずにデータ転送装置の試験を行えるデ
ータ転送装置に関するものである。
[従来の技術] 従来、情報処理システムにおけるデータ転送装置の試験
を行う場合、データ転送装置に下位装置、すなわちデー
タ転送機能を有する入出力装置または試験器を接続して
試験を行っている。また、稀にデータ転送装置内にデー
タ折り返し機能を設けて、データバスの試験を行ってい
るものもある。
[発明が解決しようとする課題1 しかし、情報処理システムの規模が大きくなると、主記
憶装置と接続された入出力専用のプロセッサの下位に多
数のデータ転送装置とこれの試験を行う入出力装置や試
験器が接続される。
そして、このような規模の大きい情報処理システムを製
造時に試験するとき、この試験を行う入出力装置や試験
器を全てのデータ転送装置に対応し2て準備することは
、多大な試験場のスペースを要するとともに、経費がか
かるという問題があった。
また、入出力装置等を接続して試験を行うことは、障害
が検出されたとき、その障害がデータ転送装置側にある
のかまたは入出力装置側にあるのかという障害の切り分
けが容易ではなく、このため情報処理システムを停止し
電源を落としてケーブルの接続替えを行ったのち、別の
入出力装置と入れ替えて試験を行わなければならないと
いう煩雑な問題もあった。
また、データ転送装置内に設けたデータバスの折り返し
試験では、上位装置である入出力専用のプロセッサを新
たに試験用に設定し直ししてから試験を行わなければな
らないという煩わしい問題もあった。
[課題を解決するための手段] このような課題を解決するために本発明に係るデータ転
送装置は、このデータ転送装置の試験を行う試験コマン
ドが格納される主記憶装置と、上位装置からの試験モー
ド指定信号に基づいて下位装置に閉塞信号を送出すると
ともに上位装置からのデータ転送指示信号により試験コ
マンド読みだし指示を行い、この読みだし指示により逐
次読み出された試験コマンドを受信して試験の実行制御
を行う試験モード制御回路と、試験コマンド読みだし指
示に基づいて上位装置に対して試験コマンドを読みだし
させる試験コマンド読みだし制御回路と、上位装置によ
り読み出された試験コマンドを受信して試験モード制御
回路に送出するコマンド受信回路とを備えたものである
[作用コ 試験モード制御回路は、試験モード指示信号を受信する
と、下位装置に閉塞信号を送出し、下位装置を閉塞させ
るとともに、データ転送指示信号を受信して試験コマン
ド読みだし指示を行い、読み出された試験コマンドに基
づいてデータ転送の試験を実行する。
[実施例] 次に、本発明について図面を参照して説明する。第1図
は本発明に係るデータ転送装置の一実施例を示すブロッ
ク図である。同図において、システムバス8にはそれぞ
れ主プロセッサ1.主記憶装置2.入出カプロセッサ3
(上位装置)1診断プロセッサ4が接続されている。そ
して、さらに入出カプロセッサ3にはそれぞれデータバ
ス10、制御信号路11を介して複数の被試験装置であ
るデータ転送装置5が接続され、さらにこのデータ転送
装置5にそれぞれデータバス12.制御信号路13を介
して入出力制御装置6(下位装置)が、そしてこの入出
力制御装置6にはさらに入出力装置7が接続されている
。また、主記憶装置2内にはデータ転送装置5の試験を
行うための試験コマンド群21が格納されている。
そして、データ転送装置5は次のように構成されている
。すなわち、データ転送装置5はチャンネル制御回路5
0と、入出カプロセッサ3からの1回分の伝送データが
蓄積される送信バッファ51と、送信バッファ51に接
続されたセレクタ52と、セレクタ52に接続され1バ
イトのデータを蓄積する送信レジスタ53と、1バイト
のデータの蓄積容量を有し送信レジスタ53の内容をデ
ータバス12を介して入出力制御装置6に送出するドラ
イバDRと、このデータバス12に接続され1バイトの
1バイトのデータを蓄積するレシーバREと、チャンネ
ル制御回路50と並列に接続され試験に実行制御を行う
試験モード制御回路54と、試験コマンド読みだし指示
により入出カプロセッサ3に対して試験コマンド群21
の読みだしをさせる診断コマンド読みだし制御回路55
(試験コマンド読みだし制御回路)と、試験モード制御
回路54に制御されてレシーバREからのデータまたは
診断コマンド読みだし制御回路55からの読みだし制御
信号を選択するセレクタ56と、1バイトのデータの蓄
積容量を有しセレクタ56を介してレシーバREからの
データまたは診断コマンド読みだし制御回路55からの
データを受信する受信レジスタ57と、受信レジスタ5
7の内容を入出カプロセッサ3に対する1回分の伝送デ
ータが蓄積される受信バッファ58と、送信バッファ5
1と並列に接続されたコマンド受信回路59とから構成
されている。
なお、チャンネル制御回路50は、入出カプロセッサ3
から制御信号路11を介して送出される試験モード指定
信号aと試験モード解除信号(図示せず)との2つの制
御信号は無視するが、後述するその他の制御信号はこれ
を全て受信して、例え、試験モード中であってもこれを
実行する。
また、試験モード制御回路54は、入出カプロセッサ3
との間で試験モード指定信号aと試験モード解除信号と
の2つの信号の受信することにより、この間、すなわち
試験モード中のときは入出力制御装置6に対して後述す
る閉塞信号すを送出して入出力制御装置を閉塞させ、入
出力制御装置6に代わってチャンネル制御回路50との
間で後述するその他の制御信号の送受を行う。すなわち
、試験モード制御回路54は9本来入出力制御装置6か
ら入出カプロセッサに対して伝送されるべきデータ転送
の制御信号(試験コマンド読みだし指示信号)を入出力
制御装置6に代って処理し、この制御信号の伝送の指示
を行う。この指示に基づいて診断コマンド読みだし制御
回路55は、セレクタ56.受信レジスタ57および受
信バッファ58を介して入出カプロセッサ3にこの指示
された制御信号を送出する。この結果、入出カプロセッ
サ3は、この制御信号に基づいて主記憶袋W2内の試験
コマンド群21からこの制御コマンドに対応する試験コ
マンドを読み出して、コマンド受信回路59に送信する
。試験モード制御回路54は、この読み出された試験コ
マンドをコマンド受信回路59から入力してこの試験コ
マンドに基づいてデータ転送試験の実行制御を行う。
次に、第2図はデータ転送装置5のデータ転送動作を示
すシーケンス図である。同図において、第1図のデータ
転送装置と同等部分は同一符号を付してその説明を省略
する。第2図において、a〜n、d’〜n°はデータ転
送およびこのデータ転送の試験を行うための制御信号で
ある。同図の点線部分は試験モード中には行われないデ
ータの転送動作を示している。第2図のシーケンス図に
基づいてデータ転送装置の動作を詳細に説明する。
まず、主プロセツサ1または診断プロセッサ4からデー
タ転送装置5のアドレス指定が行われ、次いで試験モー
ドの指定が行われると、入出カプロセッサ3はこの情報
を受信して指定されたアドレスのデータ転送装置5に対
して制御信号路11を介して試験モード指定aを送出す
る。試験モード制御回路54は、これを受信して入出力
制御装置6に閉塞信号すを送出して入出力制御装置6と
の接続路、すなわちデータバス12と制御信号路13と
を閉塞する。
次いで、主プロセツサ1または診断プロセッサ4は入出
カプロセッサ3に対してデータ転送指示信号を送出する
。これを受信した入出カプロセッサ3は、指定されたア
ドレスのデータ転送装置5に対して起動信号dを送出す
る。この起動信号dは、起動信号d°とじて本来はチャ
ンネル制御回路50を介して入出力制御装置6に送出さ
れることになり、入出力制御装置6はこの信号に対する
応答信号として制御情報読みだしコマンド信号e′を送
信することになるが、接続路が閉塞されているためこの
起動信号d″を受信することができない。このため入出
力制御装置6に代わって試験モード制御回路54がこの
起動信号dを受信する。
すなわち、試験モード制御回路54はこの起動信号dを
受信すると、診断コマンド読みだし制御回路55に対し
て制御情報読みだしコマンド信号eの送出指示を行うと
ともに、セレクタ56を制御する。この指示に基づいた
診断コマンド読みだし制御回路55は、上記で制御され
たセレクタ56、受信レジスタ57.受信バッファ58
を介して入出カプロセッサに対しこの制御情報読みだし
コマンド信号eを割り込み信号として送出する。
そして、これを受信した入出カプロセッサ3は、主記憶
装置2に格納されている試験コマンド群の中のデータコ
ントロールワード信号fをデータバス10を介してコマ
ンド受信回路59に対し送信する。このデータコントロ
ールワード信号fを受信したコマンド受信回路59は、
これを試験モード制御回路54に送出する。このデータ
コントロールワード信号fは、本来はデータコントロー
ルワード信号f°として入出力制御装置6に送出され、
同装置からデータ転送要求コマンド信号g′として送信
されるが接続路が閉塞されているためこれらの信号の伝
送を行うことができない。
従って、入出力制御装置6に代わり試験モード制御回路
がこの信号を受信する。このデータコントロールワード
信号fを受信した試験モード制御回路54は、再び診断
コマンド読みだし制御回路55に対してデータ転送要求
コマンド信号gの送出の指示を行うとともに、セレクタ
56を制御する。この指示に基づいた診断コマンド読み
だし制御回路55は、制御されたセレクタ56.受信レ
ジスタ57および受信バッファ58を介して人出カプロ
セッサに対しこのデータ転送要求コマンドgを割り込み
信号として送出する。そして、これを受信した人出カプ
ロセッサ3は、主記憶装置2の中の試験コマンド群21
に格納されている指定されたアドレスのデータhをデー
タバス10を介して送信バッファ51に転送する。
なお、このとき試験モード制御回路54は、チャンネル
制御回路50との間でデータ転送に係る他の制御信号(
図示せず)の送受を行いながらこの転送データhを送信
バッファ51に格納させる。この格納された転送データ
hはセレクタ52、送信レジスタ53を介して送信ドラ
イバDRに送信され廃棄される。このデータhは、本来
はデータh′として入出力制御装置6に送出され、デー
タ転送終了後、同装置6から終了ステータス要求コマン
ド信号j°とじて送信されることになるが、接続路が閉
塞されているためこれらの信号の伝送を行うことができ
ない。このため、入出力制御装置6に代わって試験モー
ド制御回路がこれを代行することになる、 従って、所定のデータが転送された後、試験モード制御
回路54は、診断コマンド読みだし制御回路55に対し
て終了ステータス要求コマンド信号jの送出指示指示を
行い、上記したと同様にこの終了ステータス要求コマン
ド信号jを割り込み信号として送出させる。この結果、
入出カプロセッサ3はこのコマンド信号jを受信して試
験コマンド群の中から確認信号kを読みだし、制御信号
路11を介して送出する。この確認信号にはチャンネル
制御回路50で受信され、本来はこのチャンネル制御回
路50から入出力制御装置6に送出されて、この結果、
同装置6から終了ステータス転送信号m°とそれに続く
終了コマンド信号n°とが送信されることになる。しか
し、上記したように接続路が閉塞されているので入出力
制御装置6はこれを行うことができない。
従って、これを代行する試験コマンド読みだし回路54
はこの確認信号kを受信して診断コマンド読みだし制御
回路55に対して終了ステータス転送信号mとそれに続
く終了コマンド信号nの送出指示を行い、この指示され
た終了ステータス転送信号mと終了コマンド信号nとを
割り込み信号として送出させる。この結果、入出カプロ
セッサ3はこの終了ステータス転送信号mと終了コマン
ド信号nとに基づいて、制御信号路11を介して試験モ
ード解除信号(図示せず)を送出する。そして、この試
験モード解除信号を受信した試験モード制御回路54は
、一連のデータ転送の試験の終了制御を行い、試験を終
了させる。
なお、上記のデータ転送では入出カプロセッサ3から入
出力制御装置6に転送されるデータの転送試験について
説明したが、入出力制御装置6から入出カプロセッサ3
に転送されるデータの転送試験については、予め主記憶
装置2内に特定のデータiを格納しておいて、この特定
のデータiを送信バッファ51.セレクタ52.送信レ
ジスタ53.ドライバDRを介し、さらにこのデータi
をあたかも入出力制御装置6からの送信データi゛のよ
うにレシーバRE、セレクタ56.受信レジスタ57.
受信バッファ58を介して入出力プロセッサ3に転送す
るようにしてもよい、また、データコントロールワード
信号fに折り返し情報を含ませておき、この折り返し情
報に基づく制御により受信したデータhを廃棄しないで
、さらにこのデータhをレシーバRE、セレクタ56、
受信レジスタ57.受信バッファ58を介して入出カプ
ロセッサ3に転送するようにしてもよい。
また、本実施例では入出カプロセッサ3とデータ転送装
置との間で送受されるコマンドは、データバス10を介
して行われるように構成したが、このコマンドを全て制
御信号路11を介して行うようにしてもよい、この場合
にはコマンド受信回路59および診断コマンド読みだし
制御回路55は、ともに制御信号路11に並列に接続さ
れることになる。
[発明の効果] 以上説明したように本発明のデータ転送装置によれば、
試験モード制御回路が試験モード指示信号を受信すると
、下位装置に閉塞信号を送出し、下位装置を閉塞させる
とともに、データ転送指示信号を受信して試験コマンド
読みだし指示を行い、読み出された試験コマンドに基づ
いてデータ転送の試験を実行するように構成したので、
下位装置、すなわち入出力装置等を使用しないでデータ
転送試験を行うことができ、データ転送試験に伴う経費
やスペースが節減できるという効果がある。また、デー
タ転送試験を行うとき、入出カプロセッサを新たに試験
用に設定し直す必要がないので、データ転送試験に伴う
煩雑さが解消されるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明のデータ転送装置の一実施例を示すブロ
ック図、第2図はこの動作説明に供するシーケンス図で
ある。 1・・・・主プロセツサ、2・・・・主記憶装置、3・
・・・入出カプロセッサ、4・・・・診断プロセッサ、
5・・・・データ転送装置、6・・・・入出力制御装置
、7・・・・入出力装置、21・・・・試験コマンド群
、50・・・・チャンネル制御回路、51−・・・送信
バッファ、52.56・・・・セレクタ、53・・・・
送信レジスタ、54・・・・試験モード制御回路、55
・・・・診断コマンド読みだし制御回路、57・・・・
受信レジスタ、58・・・・受信バッファ、59・・・
・コマンド受信回路。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 情報処理システムの上位装置と下位装置との間にあって
    、これらの装置間で送受されるデータの転送を行うデー
    タ転送装置において、 このデータ転送装置の試験を行う試験コマンドが格納さ
    れる主記憶装置と、 前記上位装置からの試験モード指定信号に基づいて前記
    下位装置に閉塞信号を送出するとともに上位装置からの
    データ転送指示信号により前記試験コマンド読みだし指
    示を行い、この読みだし指示により逐次読み出された試
    験コマンドを受信して試験の実行制御を行う試験モード
    制御回路と、前記試験コマンド読みだし指示に基づいて
    前記上位装置に対して前記試験コマンドを読みだしさせ
    る試験コマンド読みだし制御回路と、 前記上位装置により読み出された前記試験コマンドを受
    信して前記試験モード制御回路に送出するコマンド受信
    回路と を備えてなるデータ転送装置。
JP1154219A 1989-06-16 1989-06-16 データ転送装置 Pending JPH0319055A (ja)

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JP1154219A JPH0319055A (ja) 1989-06-16 1989-06-16 データ転送装置

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JP2002039099A (ja) * 2000-07-25 2002-02-06 Minebea Co Ltd 整流翼
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