JPH0366604B2 - - Google Patents
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- JPH0366604B2 JPH0366604B2 JP3362383A JP3362383A JPH0366604B2 JP H0366604 B2 JPH0366604 B2 JP H0366604B2 JP 3362383 A JP3362383 A JP 3362383A JP 3362383 A JP3362383 A JP 3362383A JP H0366604 B2 JPH0366604 B2 JP H0366604B2
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- Japan
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- wavelength
- light
- telemeter
- slit
- spectrometer
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- Expired
Links
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- 239000000126 substance Substances 0.000 description 4
- 238000004611 spectroscopical analysis Methods 0.000 description 3
- 238000002835 absorbance Methods 0.000 description 2
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 2
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 2
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 1
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- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 238000002798 spectrophotometry method Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/314—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry with comparison of measurements at specific and non-specific wavelengths
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/42—Absorption spectrometry; Double beam spectrometry; Flicker spectrometry; Reflection spectrometry
- G01J3/427—Dual wavelengths spectrometry
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
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- General Health & Medical Sciences (AREA)
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- Pathology (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
(イ) 産業上の利用分野
本発明は２波長分光器の改良に関する。
(ロ) 従来技術
２波長分光法はバツクグラウンドノイズを除去
する方法としてよく用いられる。例えば組織構造
を持つた試料中の特定物質の含有量を吸光法によ
つて測定しようとする場合、組織構造による散乱
によつて見掛上吸光度が大きく測定される。この
場合、特定物質定量のために選択した波長に近い
波長で特定物質による特異的な吸収を受けない波
長の光によつて組織構造による散乱の影響を検出
して補正を行うことによつて特定物質による正し
い吸光度を求めることができる。また発光分析で
は定量しようとする元素の輝線スペクトルを測定
するが、この場合光源自体或る波長分布を持つた
強いバツクグラウンドを有し、光源のゆらぎによ
つてバツクグラウンドが変動しており、測定しよ
うとする輝線はこの強いバツクグラウンドの上に
小さなピークを形成しているに過ぎない。この場
合測定しようとする輝線波長に近い波長の光によ
つてバツクグラウンドをモニタすることによつて
Ｓ／Ｎ比を大幅に向上させることができる。この
ような場合に２波長分光法が用いられる。
する方法としてよく用いられる。例えば組織構造
を持つた試料中の特定物質の含有量を吸光法によ
つて測定しようとする場合、組織構造による散乱
によつて見掛上吸光度が大きく測定される。この
場合、特定物質定量のために選択した波長に近い
波長で特定物質による特異的な吸収を受けない波
長の光によつて組織構造による散乱の影響を検出
して補正を行うことによつて特定物質による正し
い吸光度を求めることができる。また発光分析で
は定量しようとする元素の輝線スペクトルを測定
するが、この場合光源自体或る波長分布を持つた
強いバツクグラウンドを有し、光源のゆらぎによ
つてバツクグラウンドが変動しており、測定しよ
うとする輝線はこの強いバツクグラウンドの上に
小さなピークを形成しているに過ぎない。この場
合測定しようとする輝線波長に近い波長の光によ
つてバツクグラウンドをモニタすることによつて
Ｓ／Ｎ比を大幅に向上させることができる。この
ような場合に２波長分光法が用いられる。
２波長分光法を実施する場合、２つの波長が相
当離れているときは、フイルタを用いて光源の光
を２波長に分離することができ、或は分光素子に
よつて形成されるスペクトル像の上で目的とする
２つの波長位置に夫々測光素子を配置すると云う
方法を用い得るが、発光分析のように目的とする
波長が輝線スペクトルであり、参照光の波長が、
その輝線波長にきわめて接近していることが望ま
れる場合には、フイルタによつて２波長を分離す
ることはできず、分光素子によるスペクトル像で
２つの波長位置に測光素子を配置しようとして
も、測光素子が互に衝突して所定の波長位置にセ
ツトできない。従つてこのような場合、２台の分
光器を用いることが必要であつた。
当離れているときは、フイルタを用いて光源の光
を２波長に分離することができ、或は分光素子に
よつて形成されるスペクトル像の上で目的とする
２つの波長位置に夫々測光素子を配置すると云う
方法を用い得るが、発光分析のように目的とする
波長が輝線スペクトルであり、参照光の波長が、
その輝線波長にきわめて接近していることが望ま
れる場合には、フイルタによつて２波長を分離す
ることはできず、分光素子によるスペクトル像で
２つの波長位置に測光素子を配置しようとして
も、測光素子が互に衝突して所定の波長位置にセ
ツトできない。従つてこのような場合、２台の分
光器を用いることが必要であつた。
本発明は一台の装置で２波長の分離ができ、し
かも光学的構成を極力簡潔化して分光的性能を高
めた２波長分光器を提供しようとするものであ
る。
かも光学的構成を極力簡潔化して分光的性能を高
めた２波長分光器を提供しようとするものであ
る。
(ニ) 構成
本発明２波長分光器は同一軸上に互に独立して
回動できるように２個の回折格子を設け、一つの
入射スリツトと一つのコリメータ鏡と、２個のテ
レメータ鏡と２つの出射スリツトを用いて、一つ
の波長の光に関してはツエルニターナ型の分光器
配置とし、他の波長の光に関しては通称クロスツ
エルニターナ型と云われる分光器配置とした点に
特徴を有する。
回動できるように２個の回折格子を設け、一つの
入射スリツトと一つのコリメータ鏡と、２個のテ
レメータ鏡と２つの出射スリツトを用いて、一つ
の波長の光に関してはツエルニターナ型の分光器
配置とし、他の波長の光に関しては通称クロスツ
エルニターナ型と云われる分光器配置とした点に
特徴を有する。
(ホ) 実施例
第１図に本発明の一実施例を示す。Ｇ１，Ｇ２
は回折格子で共通軸Ｘを中心として互に独立して
駆動されるようになつている。Ｓ１は入射スリツ
トで光源からの光が入射する。Ｍ１はコリメータ
鏡で、入射スリツトＳ１から入射した光を平行束
にして回折格子Ｇ１，Ｇ２に入射させている。回
折格子Ｇ１に入射した光のうち一つの波長の光は
反射回折されてテレメータ鏡Ｍ２に入射し、Ｍ２
によつて反射されて出射スリツトＳ２に集光せし
められ、光検出器PM１に入射する。即ち入射ス
リツトＳ１、コリメータ鏡Ｍ１、回折格子Ｇ１、
テレメータ鏡Ｍ２、出射スリツトＳ２によつて一
つの分光器が構成されており、その光学素子の配
置はツエルニターナ型マウントと呼ばれる型にな
つている。次にコリメータ鏡Ｍ１から回折格子Ｇ
２に入射した光のうち一つの波長の光は回折され
てテレメータ鏡Ｍ３に入射し、Ｍ３で反射されて
出射スリツトＳ３上に集光せしめられて光検出素
子PM２に入射する。入射スリツトＳ１、コリメ
ータ鏡Ｍ１、回折格子Ｇ２、テレメータ鏡Ｍ３、
出射スリツトＳ３によつてクロスツエルニターナ
型マウントの分光器が構成されている。
は回折格子で共通軸Ｘを中心として互に独立して
駆動されるようになつている。Ｓ１は入射スリツ
トで光源からの光が入射する。Ｍ１はコリメータ
鏡で、入射スリツトＳ１から入射した光を平行束
にして回折格子Ｇ１，Ｇ２に入射させている。回
折格子Ｇ１に入射した光のうち一つの波長の光は
反射回折されてテレメータ鏡Ｍ２に入射し、Ｍ２
によつて反射されて出射スリツトＳ２に集光せし
められ、光検出器PM１に入射する。即ち入射ス
リツトＳ１、コリメータ鏡Ｍ１、回折格子Ｇ１、
テレメータ鏡Ｍ２、出射スリツトＳ２によつて一
つの分光器が構成されており、その光学素子の配
置はツエルニターナ型マウントと呼ばれる型にな
つている。次にコリメータ鏡Ｍ１から回折格子Ｇ
２に入射した光のうち一つの波長の光は回折され
てテレメータ鏡Ｍ３に入射し、Ｍ３で反射されて
出射スリツトＳ３上に集光せしめられて光検出素
子PM２に入射する。入射スリツトＳ１、コリメ
ータ鏡Ｍ１、回折格子Ｇ２、テレメータ鏡Ｍ３、
出射スリツトＳ３によつてクロスツエルニターナ
型マウントの分光器が構成されている。
第２図は第１図の実施例の平面図である。入射
スリツト及びコリメータ鏡が二つの分光器に対し
て共通であり、二つのテレメータ鏡Ｍ２，Ｍ３が
コリメータ鏡の両側に配置される結果、一つの分
光器はツエルターナ型となり、他の一つの分光器
はクロスツエルニターナ型となる。第３図は第１
図の実施例の光路を真直に展開した側面図で回折
格子Ｇ１，Ｇ２、テレメータ鏡Ｍ２，Ｍ３及び出
射スリツトＳ２，Ｓ３の上下の位置関係が示され
ている。
スリツト及びコリメータ鏡が二つの分光器に対し
て共通であり、二つのテレメータ鏡Ｍ２，Ｍ３が
コリメータ鏡の両側に配置される結果、一つの分
光器はツエルターナ型となり、他の一つの分光器
はクロスツエルニターナ型となる。第３図は第１
図の実施例の光路を真直に展開した側面図で回折
格子Ｇ１，Ｇ２、テレメータ鏡Ｍ２，Ｍ３及び出
射スリツトＳ２，Ｓ３の上下の位置関係が示され
ている。
(ヘ) 効果
本発明２波長分光器は上述したような構成で、
２台の分光器が回転軸を共通にして取付けられ、
入射スリツト及びコリメータ鏡を２台の分光器に
対して共通としたから、２台の分光器を用いるの
に比し、装置として大へんコンパクトになり、か
つ夫々の分光器は出射スリツトが夫々独立してい
るので夫々の出射スリツトに共通入射スリツトの
全像が形成されており、従つて一つの光源の同じ
場所を２つの分光器が見ていることになり、光源
内部の場所的不同の影響がない。
２台の分光器が回転軸を共通にして取付けられ、
入射スリツト及びコリメータ鏡を２台の分光器に
対して共通としたから、２台の分光器を用いるの
に比し、装置として大へんコンパクトになり、か
つ夫々の分光器は出射スリツトが夫々独立してい
るので夫々の出射スリツトに共通入射スリツトの
全像が形成されており、従つて一つの光源の同じ
場所を２つの分光器が見ていることになり、光源
内部の場所的不同の影響がない。
なお上述実施例のように２つの分光器を、一方
をツエルニターナ型、他方をクロスツエルニター
ナー型にすると、両分光器ともテレメータ鏡を同
じように小さな軸外し角で使うことができ、テレ
メータ鏡の軸外しによる収差を最小にすることが
できる。
をツエルニターナ型、他方をクロスツエルニター
ナー型にすると、両分光器ともテレメータ鏡を同
じように小さな軸外し角で使うことができ、テレ
メータ鏡の軸外しによる収差を最小にすることが
できる。
第１図は本発明の一実施例の斜視図、第２図は
同じく平面図、第３図は同じく光路を真直に展開
して示した側面図である。 Ｇ１，Ｇ２……回折格子、Ｘ……両回折格子共
通の回転軸、Ｓ１……入射スリツト、Ｓ２，Ｓ３
……出射スリツト、Ｍ１……コリメータ鏡、Ｍ
２，Ｍ３……テレメータ鏡、PM１，PM２……
光検出素子。
同じく平面図、第３図は同じく光路を真直に展開
して示した側面図である。 Ｇ１，Ｇ２……回折格子、Ｘ……両回折格子共
通の回転軸、Ｓ１……入射スリツト、Ｓ２，Ｓ３
……出射スリツト、Ｍ１……コリメータ鏡、Ｍ
２，Ｍ３……テレメータ鏡、PM１，PM２……
光検出素子。
Claims (1)
- １ 共通の軸に互に独立して回転可能に二つの回
折格子を取付け、これらの回折格子に共通の一つ
のコリメータ鏡と、同コリメータ鏡に光を入射さ
せる一つの入射スリツトと、上記二つの回折格子
に夫々対応させた二つのテレメータ鏡と、これら
各テレメータによつて集光された光を取出す二つ
の出射スリツトを設けてなる２波長分光器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3362383A JPS59159030A (ja) | 1983-02-28 | 1983-02-28 | ２波長分光器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3362383A JPS59159030A (ja) | 1983-02-28 | 1983-02-28 | ２波長分光器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59159030A JPS59159030A (ja) | 1984-09-08 |
| JPH0366604B2 true JPH0366604B2 (ja) | 1991-10-18 |
Family
ID=12391573
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3362383A Granted JPS59159030A (ja) | 1983-02-28 | 1983-02-28 | ２波長分光器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59159030A (ja) |
-
1983
- 1983-02-28 JP JP3362383A patent/JPS59159030A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS59159030A (ja) | 1984-09-08 |
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