JPS64576Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS64576Y2 JPS64576Y2 JP11478879U JP11478879U JPS64576Y2 JP S64576 Y2 JPS64576 Y2 JP S64576Y2 JP 11478879 U JP11478879 U JP 11478879U JP 11478879 U JP11478879 U JP 11478879U JP S64576 Y2 JPS64576 Y2 JP S64576Y2
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- Japan
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- sample
- light
- wavelength
- beams
- spectrometer
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- Expired
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 6
- 238000004611 spectroscopical analysis Methods 0.000 claims description 3
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 4
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 3
- 238000005375 photometry Methods 0.000 description 3
- CIWBSHSKHKDKBQ-JLAZNSOCSA-N Ascorbic acid Chemical compound OC[C@H](O)[C@H]1OC(=O)C(O)=C1O CIWBSHSKHKDKBQ-JLAZNSOCSA-N 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 2
- 239000002612 dispersion medium Substances 0.000 description 2
- 238000002798 spectrophotometry method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は二波長分光光度計に関する。二波長分
光測光では個々の試料について最も適当な二つの
波長を選択しなければならい。このため従来は本
来の測定に先立つて予め二つの波長を決定するた
めの分光的測定を行つていた。
光測光では個々の試料について最も適当な二つの
波長を選択しなければならい。このため従来は本
来の測定に先立つて予め二つの波長を決定するた
めの分光的測定を行つていた。
本考案は従来の二波長分光光度計に簡単な付加
を行つただけの構造で容易に二波長の選択ができ
かつ二波長測光が行える分光光度計を得ることを
目的としてなされた。
を行つただけの構造で容易に二波長の選択ができ
かつ二波長測光が行える分光光度計を得ることを
目的としてなされた。
通常の二波長分光光度計は試料セルを通過した
光を波長の異なる二種の光に分け、夫々の光につ
いて測光を行う構成になつている。本考案はこの
ような構成の分光光度計において二つに分けられ
た各光束の光路中に第2の試料室を設けたもので
ある。
光を波長の異なる二種の光に分け、夫々の光につ
いて測光を行う構成になつている。本考案はこの
ような構成の分光光度計において二つに分けられ
た各光束の光路中に第2の試料室を設けたもので
ある。
第1図は通常の二波長分光光度計を示す。Sは
光源、Cは試料セルで光源Sから出た光束は試料
セルCを通過後ビームスプリツタBによつて二光
束に分割され、各光束は夫々回折格子G1,G2
等の分光素子に入射せしめられ、互に異なる波長
の光が取出されて測光素子D1,D2に入射する
ようになつている。二波長分光光度計において試
料セルCの右側のレンズより右側の光学系は二つ
の分光器で、通常一つの外筐に囲まれており自由
に物を出入れすることはできないようになつてい
る。本考案はこのような分光光度計において試料
セルを通過した光束が2光束に分割された以後の
各光路の適宜の位置において分光器外筐に試料出
入用窓を設け、分光器内に第2の試料室を配置し
たものであつて、この位置は分光素子(第1図で
は格子G1,G2)通過後の位置に限ることはな
く、ビームスプリツタB以後の二光束に分割され
た各光束の光路内の光束が細く絞り込まれた位置
であればよく、実際上光束が細く絞り込まれてい
るのは分光器の入出射スリツト位置であるが、ス
リツト位置に試料を置くことはできないから、各
スリツトに近接したスリツト前後位置であればよ
く、このような位置は各光束毎に4個所あるか
ら、各光束毎にそれら4個所のうちの一つを採用
すればよい。以下実施例によつて本考案を説明す
る。
光源、Cは試料セルで光源Sから出た光束は試料
セルCを通過後ビームスプリツタBによつて二光
束に分割され、各光束は夫々回折格子G1,G2
等の分光素子に入射せしめられ、互に異なる波長
の光が取出されて測光素子D1,D2に入射する
ようになつている。二波長分光光度計において試
料セルCの右側のレンズより右側の光学系は二つ
の分光器で、通常一つの外筐に囲まれており自由
に物を出入れすることはできないようになつてい
る。本考案はこのような分光光度計において試料
セルを通過した光束が2光束に分割された以後の
各光路の適宜の位置において分光器外筐に試料出
入用窓を設け、分光器内に第2の試料室を配置し
たものであつて、この位置は分光素子(第1図で
は格子G1,G2)通過後の位置に限ることはな
く、ビームスプリツタB以後の二光束に分割され
た各光束の光路内の光束が細く絞り込まれた位置
であればよく、実際上光束が細く絞り込まれてい
るのは分光器の入出射スリツト位置であるが、ス
リツト位置に試料を置くことはできないから、各
スリツトに近接したスリツト前後位置であればよ
く、このような位置は各光束毎に4個所あるか
ら、各光束毎にそれら4個所のうちの一つを採用
すればよい。以下実施例によつて本考案を説明す
る。
第2図は本考案の一実施例分光光度計を示す。
Sは光源、l1,l2はレンズでl1,l2の間
に第1試料室R1が設けられ、レンズl2の後方
にビームスプリツタBが配置される。第1試料室
を通過した光束はビームスプリツタBで二つの光
束に分割され、夫々の光束はレンズl2によつて
スリツトS1,S2上に集光せしめられ、S1,
S2を通つて回折格子G1,G2に入射する。こ
の実施例では第2試料室R2,R2′がビームス
プリツタBとスリツトS1,S2との間で前述し
たようにスリツトS1,S2に近接した位置に設
けられている。なおこゝで試料室と云うのは個々
に分離して囲まれた空間の意ではなく、分光器の
所定の位置に取付けられた、試料を位置決めして
設置するための試料位置決め装置の意味である。
回折格子G1,G2は相互独立に波長走査可能で
あり、また連動させることもできる。回折格子G
1,G2で回折され光のうち或る波長のものが出
口スリツトS1′,S2′上に集光せしめられ、同
スリツトを通過して測光素子D1,D2に入射す
る。
Sは光源、l1,l2はレンズでl1,l2の間
に第1試料室R1が設けられ、レンズl2の後方
にビームスプリツタBが配置される。第1試料室
を通過した光束はビームスプリツタBで二つの光
束に分割され、夫々の光束はレンズl2によつて
スリツトS1,S2上に集光せしめられ、S1,
S2を通つて回折格子G1,G2に入射する。こ
の実施例では第2試料室R2,R2′がビームス
プリツタBとスリツトS1,S2との間で前述し
たようにスリツトS1,S2に近接した位置に設
けられている。なおこゝで試料室と云うのは個々
に分離して囲まれた空間の意ではなく、分光器の
所定の位置に取付けられた、試料を位置決めして
設置するための試料位置決め装置の意味である。
回折格子G1,G2は相互独立に波長走査可能で
あり、また連動させることもできる。回折格子G
1,G2で回折され光のうち或る波長のものが出
口スリツトS1′,S2′上に集光せしめられ、同
スリツトを通過して測光素子D1,D2に入射す
る。
上述装置において二波長分光分析を行う場合、
まず試料を入れた試料セルを第2試料室R2に置
き、他の第2試料室R2′に空の試料セル或は試
料室が分散媒に分散されたようなものであるとき
は分散媒のみを入れた試料セルを置いてG1,G
2を同一波長で連動させて波長走査を行つて二光
束につき夫々測光してその結果を比較すれば、試
料に対して特異な吸収を示す波長とその波長に近
く試料によつて特別な吸収を受けない波長とを容
易に見出すことができる。従つてその後第2試料
室R2,R2′は空にして第1試料室R1に試料
を置いて選択された二波長を用いて測光を行う。
まず試料を入れた試料セルを第2試料室R2に置
き、他の第2試料室R2′に空の試料セル或は試
料室が分散媒に分散されたようなものであるとき
は分散媒のみを入れた試料セルを置いてG1,G
2を同一波長で連動させて波長走査を行つて二光
束につき夫々測光してその結果を比較すれば、試
料に対して特異な吸収を示す波長とその波長に近
く試料によつて特別な吸収を受けない波長とを容
易に見出すことができる。従つてその後第2試料
室R2,R2′は空にして第1試料室R1に試料
を置いて選択された二波長を用いて測光を行う。
第3図は本考案の他の実施例を示す。この実施
例は第2試料室R2,R2′を二光束が夫々特定
の波長に分光された後の出口スリツトS1′,S
2′の背後に配置したものである。Mはビームス
プリツタとしての扇形回転鏡であり、その他第2
図と対応する部分には同じ符号を付し一々の説明
は省略する。なおこの実施例ではビームスプリツ
タに扇形回転鏡Mを用いているので分割された二
光束の各々についての情報は時分割的に交互に得
られるから、鏡mを用い二つの光束を一個の測光
素子Dに入射させ、Dの出力を電気的操作によつ
て各光束の情報に分離するようにしている。この
ような信号処理は第2図の例でもビームスプリツ
タBを扇形回転鏡とすることによつて実施できる
ことは云うまでもない。
例は第2試料室R2,R2′を二光束が夫々特定
の波長に分光された後の出口スリツトS1′,S
2′の背後に配置したものである。Mはビームス
プリツタとしての扇形回転鏡であり、その他第2
図と対応する部分には同じ符号を付し一々の説明
は省略する。なおこの実施例ではビームスプリツ
タに扇形回転鏡Mを用いているので分割された二
光束の各々についての情報は時分割的に交互に得
られるから、鏡mを用い二つの光束を一個の測光
素子Dに入射させ、Dの出力を電気的操作によつ
て各光束の情報に分離するようにしている。この
ような信号処理は第2図の例でもビームスプリツ
タBを扇形回転鏡とすることによつて実施できる
ことは云うまでもない。
本考案分光光度計は上述したような構成で単に
二波長分光分析の準備測定が簡単にできると云う
だけでなく、第2試料室を利用することにより一
波長二光束方式の測定にも使うことができ、構造
上は第二試料室が付加されるだけで光学系や信号
処理の電気系は従来の二波長分光光度計と同じて
あるから構造上、価格上従来例と大差なしに機能
的向上が得られる。
二波長分光分析の準備測定が簡単にできると云う
だけでなく、第2試料室を利用することにより一
波長二光束方式の測定にも使うことができ、構造
上は第二試料室が付加されるだけで光学系や信号
処理の電気系は従来の二波長分光光度計と同じて
あるから構造上、価格上従来例と大差なしに機能
的向上が得られる。
第1図は従来の二波長分光光度計の平面図、第
2、第3図は夫々本考案の異なる実施例分光光度
計の平面図である。 S……光源、S1,S2……入口スリツト、S
1′,S2′……出口スリツト、C……試料セル、
G1,G2……回折格子、B……ビームスプリツ
タ、R1……第1試料室、R2,R2′……第2
試料室、D,D1,D2……測光素子。
2、第3図は夫々本考案の異なる実施例分光光度
計の平面図である。 S……光源、S1,S2……入口スリツト、S
1′,S2′……出口スリツト、C……試料セル、
G1,G2……回折格子、B……ビームスプリツ
タ、R1……第1試料室、R2,R2′……第2
試料室、D,D1,D2……測光素子。
Claims (1)
- 光源の光を二光束に分割し、各光束毎に分光を
行う型の二光束分光器を備えた分光光度計におい
て、光源とビームスプリツタとの間に試料室を設
け、上記ビームスプリムツタ以後の二光束の各光
路毎に、入出射スリツトに近接したスリツト前後
位置の何れかに試料を設置し得るために、上記分
光器外筐に試料出入用の窓を設けると共に分光器
の上記位置に夫々試料を位置決めして設置する試
料位置決め装置を取付けてなる分光光度計。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11478879U JPS64576Y2 (ja) | 1979-08-20 | 1979-08-20 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11478879U JPS64576Y2 (ja) | 1979-08-20 | 1979-08-20 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5633534U JPS5633534U (ja) | 1981-04-02 |
JPS64576Y2 true JPS64576Y2 (ja) | 1989-01-09 |
Family
ID=29347030
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11478879U Expired JPS64576Y2 (ja) | 1979-08-20 | 1979-08-20 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS64576Y2 (ja) |
-
1979
- 1979-08-20 JP JP11478879U patent/JPS64576Y2/ja not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5633534U (ja) | 1981-04-02 |
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