JPH0340091B2 - - Google Patents

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JPH0340091B2
JPH0340091B2 JP5895686A JP5895686A JPH0340091B2 JP H0340091 B2 JPH0340091 B2 JP H0340091B2 JP 5895686 A JP5895686 A JP 5895686A JP 5895686 A JP5895686 A JP 5895686A JP H0340091 B2 JPH0340091 B2 JP H0340091B2
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melting
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intermetallic compound
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JP5895686A
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  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
  • Manufacture And Refinement Of Metals (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) この発明は、帯溶融法による金属の精製法に関
するものであり、更に詳しくは被精製金属と他の
金属との間で金属間化合物半導体を形成し、該金
属間化合物半導体を帯溶融法により精製した後、
精製された金属間化合物半導体を、元の金属に分
離して目的とする被精製金属を精製するものであ
る。
(従来技術) 帯溶融法(zone refining)は、金属乃至半導
体の精製法として周知な方法である。
この帯溶融法によれば、ある特定の不純物に対
して極めて有効で、濃度比を10-10程度まで下げ
ることができる。
(発明の解決しようとする問題点) しかし、この帯溶融法も、別の特定の不純物に
対しては殆ど効果のないことがある。
これは、母体金属(又は半導体)に対する不純
物原子の偏析係数K=CS/CL(CS/CLは金属の融
点付近のある一定温度で、固相中の不純物濃度CS
と液相中の不純物濃度CLとの比を表わす)が、
不純物原子の種類により異なることによる。
即ち、K〓1またはK〓1であるような不純物
元素に対しては、帯溶融法は極めて有効である
が、K1の不純物に対しては余り有効でない。
K1の不純物は、何回帯溶融を繰り返しても
除去されにくいばかりでなく、長時間帯溶融に掛
ると、周囲から他の不純物が侵入することにな
り、精製が進まなくなる。
そこで、この発明はK1の不純物に対しても
有効な帯溶融による金属の精製法を開発すること
を目的とするものである。
(問題点を解決するための手段) 以上の問題点を解説するため、本願発明者等は
鋭意研究の結果、族、族、族、族に属す
る被精製金属と他種類の金属とを組み合せること
により−族または−族の金属間化合物半
導体を形成し、該金属間化合物半導体を帯溶融に
より精製し、精製された金属間化合物半導体を、
元の金属に分離して金属の精製を行なう方法を提
案するものである。
即ち、族、族、族、族に属する被精製
金属については該金属を母体とするとき、不純物
元素の偏析係数がK1であつても、他種類の金
属と組み合わせることにより−族または−
族の金属間化合物半導体を形成すると、K>1
またはK<1となり、帯溶融法が有効に行なわれ
る。
例えば、帯溶融法により10-5〜10-6程度に不純
物濃度を下げたInとSb(最高純度金属)を原料と
して金属間化合物半導体InSbを作り、化学量論
組成に近付けるための帯溶融を数十回行なうと、
InSb結晶中に含まれる全不純物原子数を1015cm-3
以下(濃度比:6.7×10-8)にすることができ
る。このInSb結晶を溶融点付近(500℃)に加
熱して真空蒸留するとSbとInを分離することが
でき、InSbの結晶と同程度、即ち10-8程度の不純
物濃度の金属Inと金属Sbとが得られる。
そこで、この発明においては上述のように
族、族、族、族に属する被精製金属に対し
て例えば化学量論組成1:1の−族または
−族の金属間化合物半導体を形成し、この金属
間化合物半導体について帯溶融製法を行なつた
後、精製された金属間化合物半導体を元の金属に
分離して金属の精製を行なうものである。
なお、この発明の方法は上述のIn、Sbの精製
にのみ適用されるものでなく、−族または
−族の金属間化合物半導体を形成することがで
きる金属、例えばZn、Cd、Hg等の族、Al、
Ga等の族、P、As等の族、S、Se、Te
族の金属の精製についてこの発明の方法を適用す
ることができる。
また、精製された金属間化合物半導体を元の金
属に分離する方法としては、蒸留法等により行な
うことができる。
(実施例) 以下、金属In及び金属Sbの高純度化を行なう
ために、この発明を適用した実施例を示す。
(1) 原料 In:〜1.0Kg(純度 10-6) Sb:〜1.1Kg(純度 10-6) In、Sb共に帯溶融法で精製したインゴツト
を使用する。
インゴツトの取扱い、計量は清浄室で行なつ
た。Inは液体室素温度に冷却して砕くことがで
き、Sbは室温で砕くことができる。
(2) 使用する装置 (a) るつぼ るつぼとしては、第1図に示すように深皿
状の溶融石英製ボート1を使用し、該ボート
1は濃硫酸、次いで蒸留水を使用して超音波
洗浄し、更に10-4Paの真空中で約1000℃に
加熱し、30分間空焼きしておく。
(b) 帯溶融炉 第2図に示すような透明の石英管2を水平
面に対して±15゜まで傾斜できるように配置
し、更に該石英管2の両端にはステンレス鋼
製のキヤツプ3aとキヤツプ3bをバイトン
ゴム製のOリング4を介して気密に接続す
る。
なお、キヤツプ3aには高純度水素の入口
5aと排気系からの不純物の逆流を防ぐため
の液体窒素トラツプ6を設け、またキヤツプ
3bには高純度水素の出口5bを設ける。
また、石英管2の外側には内部に冷却水の
通水管を設けた合金化用コイル7と帯溶融コ
イル8を設け、該コイル7,8には高周波電
源9(〜400KHz)を接続する。
以上のような石英管2内には原料を装填した
ボート1を配置し、該ボート1は溶融石英棒1
0を用いて牽引し、石英管2内を移動できるよ
うにしてある。
(3) 精製方法 (a) 合金化 In及びSbインゴツトをそれぞれ凡そ3等
分し、原子比1:1の割合で合わせる。例え
ば、In330.0grにはSb350.1grを加える。
以上のように原料を装填したボート1は石
英管2内の合金化用コイル7部分に配置し、
更に石英管2内を〜10-4Paまで排気し、高
純度水素を導入する。
なお、ここで高純度水素としては液体水素
から蒸発して得られたもの、または液体窒素
トラツプを通して酸素と水分を十分に除去し
たもの等を使用する。
次いで、石英管2内を0.1気圧の加圧状態
を保ちながら高周波電源9の出力を上げて行
く。
高周波電源9の出力を上げることによりIn
が融解(融点156.6℃)してその溶融液がボ
ート1全体に拡がり、Sb塊を濡らすように
なつた後、温度をSbの融点(630.7℃)以上
に上げ、全体を溶かして合金化させるように
する。
合金化終了後、InSbインゴツトの太さを
一様に保つために、石英管2を水平に対して
約10度傾斜させ、ボート1の先端が下向きに
なるようにする。
なお、水素ガスの流量(10KPa 1/
min)は、出口5bのチエツクバルブ通過
後、モニターするようにしてある。
(b) 帯溶融 上記のようにしてInとSbが完全に溶融し
た後、ボート1を速さ3mm/minでA点方向
に移動させる。ボート1がA点に達すると帯
溶融を始める。
そこで、水素の流量をそのまゝにしてボー
ト1の速度を1.5mm/minに減速する。
なお、帯溶融においては各溶融帯の幅を10
〜20mmに揃えるように、電源の出力とコイル
の間隔を調整しておく。
ボート1の先端がB点に達したら、ボート
1の先端をA点に戻し、この後同じ操作を4
回を繰り返し、溶融帯を30回通して終了す
る。
他の2/3ずつのInとSbについても同様な処
理を行なつた。
(c) 帯溶融 上記帯溶融でInSbインゴツト3本を作
成した。このインゴツトの両端を端から60〜
80mmずつ割り取り、残りを半分ずつ、帯溶融
と同様にして溶融帯を30回通す。帯溶融終
了後帯溶融と同様に2本のInSbの両端を
切り捨て、残りを分離する。
(d) 分離 精製したInSbは蒸留法でInとSbに分離す
る。蒸留炉は超高真空(〜10-8Pa)にして、
〜1000℃に加熱し、不純物を除去する。
InSbを加熱するためのるつぼは、上記帯溶融
に使用したボート1をそのまゝ利用した。
InSbを入れたボート1を蒸留炉内に入れ、〜
10-8Paまで排気した後、電子ビーム(または高
周波)でInSbを徐々に加熱し、Sbの蒸気圧が0.5
〜1Paに保持されるように温度(〜500℃)を調
整する。
次いで、第3図に示すように溶融石英製の円錐
筒11,……の列設下方を矢印方向に、ボート1
を通過させると、蒸発したSbは円錐筒11の内
壁に付着し、堆積する。一方Inはボート1内に残
留する。
円錐筒11内に数mmの厚みで堆積したSbは、
円錐筒11を液体窒素内に挿入して急冷させる
と、石英とSbとの熱膨張率の差によりSbが円錐
筒11内壁より剥離することができる。InがSb
中に残留しているときは、帯溶融法を繰り返すこ
とによりInを除去する。
一方Inについては、Sbの堆積していない新し
い円錐筒に変え、ボート1の温度を700〜800℃に
して残りのSbと不純物を蒸発させる。
ボート1内のInの中に残留するSbを除くため、
更に帯溶融精製を行なつた。この帯溶融の回数
は、蒸留後純度の中間テストの結果から判定する
が、10〜20回で良い。
この結果、分離によつて不純物濃度比10-8程度
の金属Sbと金属Inが得られた。
(発明の効果) 以上要するに、従来金属単体を対象とした帯溶
融精製法では不純物濃度比を10-3〜10-6まで下げ
るのが限度であつたが、この発明によれはこの限
界を更に2〜3桁下げ、10-7〜10-9にまで下げる
ことができる。
これ等高純度の金属は液体ヘリウム温度での電
子素子の高性能化や、超LSI製作の原料として使
用することができる。
【図面の簡単な説明】
図面は、この発明の一実施例を示すもので、第
1図は実施例に使用したボートの平面図、第2図
は帯溶融精製部の概略図、第3図は蒸留部の側面
図である。 図中、1は溶融石英製ボート、2は石英管、7
は合金化コイル、8は帯溶融用コイル、11は円
錐筒である。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 族、族、族、族に属する被精製金属
    と他種類の金属を組み合せることにより−族
    または−族の金属間化合物半導体を形成し、
    該金属間化合物半導体を帯溶融により精製し、精
    製された金属間化合物半導体を、元の金属に分離
    して被精製金属の精製を行なうことを特徴とする
    金属の精製方法。
JP5895686A 1986-03-17 1986-03-17 金属の精製方法 Granted JPS62214139A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5895686A JPS62214139A (ja) 1986-03-17 1986-03-17 金属の精製方法

Applications Claiming Priority (1)

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JP5895686A JPS62214139A (ja) 1986-03-17 1986-03-17 金属の精製方法

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Publication Number Publication Date
JPS62214139A JPS62214139A (ja) 1987-09-19
JPH0340091B2 true JPH0340091B2 (ja) 1991-06-17

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