JPH03248543A - フィルムキャリアテープ - Google Patents

フィルムキャリアテープ

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JPH03248543A
JPH03248543A JP4632890A JP4632890A JPH03248543A JP H03248543 A JPH03248543 A JP H03248543A JP 4632890 A JP4632890 A JP 4632890A JP 4632890 A JP4632890 A JP 4632890A JP H03248543 A JPH03248543 A JP H03248543A
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hole
olb
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lead
carrier tape
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Toyoichi Ichii
市井 豊一
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    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
    • H05K3/32Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
    • H05K3/34Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
    • H05K3/341Surface mounted components
    • H05K3/3421Leaded components

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  • Wire Bonding (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は多リード化した半導体装置に好適のフィルムキ
ャリアテープに関する。
[従来の技術] 第7図は従来のフィルムキャリアテープを示す平面図で
ある。
ポリイミド等からなる絶縁フィルム6cは帯吠に成形さ
れており、この絶縁フィルム8cの幅方向の縁部には、
搬送及び位置決め用のスプロヶットホール1cが絶縁フ
ィルム6cの長手方向に沿って規則的に配列されている
。また、絶縁フィルム6cの幅方向の中央には、接続さ
れるべき半導体チップ2cよりも若干大きく開口したデ
バイスホール3cが設けられている。このデバイスボー
ル3cも、絶縁フィルム8cの長手方向に沿って、所定
の間隔毎に設けられている。そして、このデバイスホー
ル3cの周囲には、デバイスホール3Cの1辺に対応し
て1個のアウターリードボンディングホール(以下;O
LBホールという)13Cが台形状に成形されて設けら
れている。
絶縁フィルム6c上には、銅等の金属箔からなるリード
4cが所定のパターンで形成されている。
こ(DU  F4cの一方の端部はデバイスホール3C
の内側に導出されており、このリード4cはOLBホー
ル13c上を横断して、OLBホール13cの外側に形
成された電気選別パッド5cに接続されている。
このフィルムキャリアテープは以下に示すようにして製
造されている。
先ず、ポリイミド等の絶縁フィルム6cにデバイスホー
ル3c10LBホール13c及びスプロケットホール1
cを穿設する。次に、この絶縁フィルム8c上に銅等の
金属箔を被着する。次いで、エツチング等により前記金
属箔を所定の形状に成形することにより、リード4c及
び電気選別パッド5cを形成する。これにより、フィル
ムキャリアテープが完成する。
第8図及び第9図は、上述した従来のフィルムキャリア
テープと半導体チップとの接続方法を示す断面図である
半導体チップ2cには、予めその上面の電極端子上に金
属突起物であるバンプ7cが設けられている。この半導
体チップ2Cをフィルムキャリアテープのデバイスホー
ル3Cの中央に配置し、リード4cとバンプ7cとを熱
圧着法又は共晶法等により接合(インナーリードボンデ
ィング)する。
この場合に、リード4cの先端部の変形を防止するため
に、第8図に示すように、リード先端部近傍に、予め絶
縁フィルム6Cの枠であるサスペンダー80を設けてお
くこともある。また、半導体装置の信頼性向上及び機械
的保護のために、第9図に示すように、半導体チップ2
c上に樹脂9aをポツティングして半導体チップ2cの
電極端子形成面を樹脂封止することもある。
その後、電気選別パッド5cに試験装置の接触子を接触
させて電気選別及びバイアス試験を行う。
このようにして製造されたフィルムキャリアテープ型半
導体装置は、以下に示すようにしてプリント基板上に実
装される。
第10図はフィルムキャリアテープ型半導体装置の実装
方法を示す断面図である。先ず、リード4cをOLBホ
ール13cの半導体チップ2cから遠い側の縁部に沿っ
て切断する。そして、半導体チップ2cをその電極端子
形成面を上方にして、接着材10cによりプリント基板
11c上の所定の位置に接着する。
次に、リード4cをプリント基板lieに形成されたポ
ンディングパッド12cに接合(アウターリードボンデ
ィング)する。これにより半導体装置の実装が完了する
フィルムキャリアテープを使用すると、リード4Cの数
に拘らず、インナーリードボンディングが一度で処理で
きるために、ボンディング速度が速いという長所がある
。また、スプロケットホールICにより搬送及び位置決
めを行うことができるために、作業の自動化が容易であ
るという利点もある。
[発明が解決しようとする課題] しかしながら、従来のフィルムキャリアテープは、リー
ド4cか細く且つ薄いために、リードの変形が発生し易
く、実装作業が複雑又は煩雑であるという欠点がある。
特に、リード4cの数が多い場合は、リード4cの配列
ピッチが小さくリード40間の間隔が狭くなるため、例
えば半田によりリード4cとポンディングパッド12c
とを接続しようとすると、リード40間に半田ブリッジ
が形成され易く、シロート等の不都合が発生する虞れが
ある。
一般的に、半田による半導体装置の実装は、半導体装置
のリード先端のピッチが0.5+o11の場合が安定し
て実装できる限界とされている。しかし、従来のフィル
ムキャリアテープを使用して200乃至300ピン以上
のリードを有する多リード半導体装置を製造する場合、
0.5mmピッチでリード先端を配列しようとすると、
半導体装置の面積を大きくする必要がある。
近年、半導体装置はその能力の向上に伴って多リード化
が著しいが、フィルムキャリアテープ型半導体装置の場
合、インナーリード側は多リード化に容易に対応できる
のに対して、上述の如く、アウターリード側において多
リード化が制約されてしまう。つまり、従来のフィルム
キャリアテープを使用した半導体装置は、実装密度に関
しては他のパッケージと同一であり、リードが薄いため
に実装が困難であるという問題点がある。
本発明はかかる問題点に鑑みてなされたものであって、
多リード化された半導体装置においても、半導体装置の
面積の増大が抑制され、高密度実装を可能とするフィル
ムキャリアテープを提供することを目的とする。
[課題を解決するための手段] 本願の第1発明に係るフィルムキャリアテープは、絶縁
フィルムと、この絶縁フィルムに設けられた矩形のデバ
イスホールと、このデバイスホールの周囲に前記デバイ
スホールの1辺に対して2個以上設けられた第1のアウ
ターリードボンディングホールと、この第1のアウター
リードボンディングホールの外側の領域に穿設された第
2のアウターリードボンディングホールと、前記絶縁フ
ィルム上に形成されその一端が前記デバイスホールの内
側に導出されており他端が前記第1のアウターリードボ
ンディングホール及び第2のアウターリードボンディン
グホールのいずれか一方の上を選択的に横断している複
数本のリードとを有することを特徴とする。
本願の第2発明に係るフィルムキャリアテープは、絶縁
フィルムと、この絶縁フィルムに設けられた矩形のデバ
イスホールと、このデバイスホールの周囲に前記デバイ
スホールの1辺に対して2個以上設けられたアウターリ
ードボンディングホールと、前記絶縁フィルム上に形成
されその一端が前記デバイスホールの内側に導出されて
おり他端が前記アウターリードボンディングホールのデ
バイスホールに近い側の辺及びこの辺に対向する辺から
前記アウターリードボンディングホールの内側に導出さ
れた複数本のリードとを有し、前記リードの他端は前記
アウターリードボンディングホールにおいて千鳥状に配
列されていることを特徴とする。
[作用コ 本願の第1発明においては、デバイスホールの周囲にデ
バイスホールの1辺に対して2個以上の第1のOLBホ
ールが設けられている。また、この第1のOLEホール
の外側に第2のOLBホールが設けられている。そして
、リードは第1のOLBホール又は第2のOLBホール
のいずれか一方の上を選択的に横断している。即ち、第
1のOLBホール上を横断しているリードは、従来と同
様に第1のOLBホールのデバイスホール側縁部に延出
し、第1のOLBホール上を横断している。
そして、第2のOLBホールを横断するリードは、例え
ば2個の第1のOLBホールの間に配線され、第1のO
LBホールを横断することなく、第2のOLBホールの
縁部に延出し、第2のOLBホール上を横断している。
本発明のフィルムキャリアテープは、このような構造を
有しており、半導体チップとリードとは、従来と同様に
してインナーリードボンディングされる。そして、基板
に実装されるに際して、リードのアウターリード側は、
第1及び第2のOLBホールのデバイスホールから遠い
側の縁部において切断され、所定の形状に成形されて実
装される。
つまり、アウターリードボンディング時には、第1のO
LBホールのリード及び第2のOLBホールのリードが
2列に配列されて基板上に配置される。これにより、リ
ード先端の間隔が従来に比して大きくなり、実装時に半
田ブリッジ等が発生することを抑制できる。また、半導
体装置の大きさが実装条件により制限されることが回避
され、半導体装置の高密度実装が達成される。
本願の第2発明においては、OLBホール側のリード先
端部は、OLBホールの対向する2辺からOLBホール
の内側に千鳥状に配列されて導出されている。即ち、O
LBホールにおいて、OLBホールの一方の辺から導出
されたリード間の中央の位置に他方の辺から導出された
リードが整合するようにしてリード先端が配列されてい
る。
この場合に、一方のリードは、従来と同様に、デバイス
ホール側からOLBホールに導出されており、例えば他
方のリードは2個のOLBホール間に配線されていてデ
バイスホールから遠い側のOLBホールの縁部に延出し
、この縁部からOLBホール内に導出されている。これ
により、本願の第1発明と同様に、リード間隔を従来に
比して拡大でき、半田ブリッジ等の不都合が回避される
と共に、半導体装置の高集積化が達成できる。
[実施例コ 次に、本発明の実施例について添付の図面を参照して説
明する。
第1図は本願の第1発明の実施例に係るフィルムキャリ
アテープを示す平面図である。
絶縁フィルム6aには、従来と同様に、幅方向の縁部に
搬送及び位置決め用のスプロケットホール1aが規則的
に配列されて穿設されており、幅方向の中央に半導体チ
ップ2aが配置されるデバイスホール3aが穿設されて
いる。
デバイスホール3aの周囲には、第1のOLBホール1
3aがデバイスホール3aの1辺に対シて2個穿設され
ている。この第1のOLBホール13aは、1斜辺を有
する台形であり、従来のフィルムキャリアテープのOL
Bホールをデバイスホール3aの辺に対して直交する方
向で2分割した形状である。
この第1のOLBホール13aの外側には、第2のOL
Bホール14aがデバイスホール3aの1辺に対して2
個穿設されている。この第2のOLBホール14aの形
状は矩形である。
リード4aは、その一端がデバイスホール3aの内側に
導出されている。そして、デバイスホール3aの各辺の
中央部に配置されたリード4aは、2個の第1のOLB
ホール13aの間に配線されていて、第2のOLBホー
ル14a上を横断し、第2のOLBホール14aの外側
に形成された電気選別バッド5aに接続されている。ま
た、デバイスホール3bの角部側に配置されたり−ド4
aは、第1のOLBホール13a上を横断して、第1の
OLBホール13aの外側に形成された電気選別パッド
5aに接続されている。
第2図は本実施例に係るフィルムキャリアテープに半導
体チップを接続した状態を示す断面図である。
半導体チップ2aはデバイスホール3aの中央部に配置
される。この半導体チップ2aの上面に形成されている
電極端子上にはバンプ7aが設けられており、このバン
ブ7aがリード4aとインナーリードボンディングされ
る。そして、半導体チップ2aの上面は、例えば樹脂9
aにより封止される。
第3図は本実施例に係るフィルムキャリアテープを使用
した半導体装置の実装方法を示す断面図である。
先ず、第2のOLBホール14aのデバイスホール3a
から遠い側の縁部に沿ってリード4a及び絶縁フィルム
6aを切断する。次に、リード4bをカルピング状に成
形する。即ち、リード4aを第1及び第2のOLBホー
ル13a、14aのデバイスホールに近い側の縁部で略
垂直に屈曲すると共に、リード4aの先端部を絶縁フィ
ルム6aに対して平行になるように屈曲する。その後、
必要に応じて、第3図に示すように半導体チップ2aの
上面を樹脂9aで封止する。
次いで、ポンディングパッド!2aを有するプリント基
板11a上の所定位置に接着材10aにより半導体チッ
プ2aを接着する。そして、各リード4aを一括してア
ウターリードボンディングする。
本実施例においては、複数本のり−ド4aが第1のOL
Bホール13a及び第2のOLBホール14aに分散さ
れて配置されているため、アウタ−リード側のリード4
a先端の間隔を従来に比して拡大することができる。こ
のため、半導体装置の実装時に、半田ブリッジ等の不都
合が発生することを回避できる。従って、半導体装置の
大きさの制約が解消されるため、半導体装置を小型化す
ることができる。
第4図は本願の第2発明の実施例に係るフィルムキャリ
アテープを示す平面図である。
本実施例の絶縁フィルム6bも、従来と同様に、その長
手方向の縁部にスプロケットホール1bが規則的に配列
されており、幅方向の中央部に穿設された矩形のデバイ
スホール3bが設けられている。
このデバイスホール3bの周囲にはOLBホール13b
がデバイスホール3bの1辺に対して2個ずつ設けられ
ている。このOLBホール13bの形状は1斜辺を有す
る台形であり、従来のフィルムキャリアテープのOLB
ホールを2分割した形状である。絶縁フィルム6b上に
形成されたり−ド4bの一方の端部は、デバイスホール
3bの内側に導出している。そして、デバイスホール3
bの角部側に配置されたリード4bはOLBホール13
bのデバイスホール3bに近い側の縁部に設けられた電
気選別パッド5bに接続されており、この電気選別パッ
ド5bからOLBホール13b内に導出している。また
、残りのり−ド4bは、OLBホール13b間に配線さ
れていて、OLBホール13bのデバイスホール3bか
ら遠い側の縁部に設けられた電気選別パッド5bに接続
されており、この電気選別パッド5bからOLBホール
13b内に導出している。これらのリード4bは、OL
Bホール13b内において千鳥状に配列されている。従
って、各リード4bの先端は比較的離れている。
第5図は本実施例に係るフィルムキャリアテープに半導
体チップを接続した状態を示す断面図である。
本実施例においては、半導体チップ2bをデバイスホー
ル3bの中央部に配置し、半導体チップ2bのバンプ7
bとリード4bとをインナーリードボンディングする。
その後、半導体チップ2bの上面を樹脂9bにより封止
する。
第6図は本実施例に係るフィルムキャリアテープを使用
した半導体装置の実装方法を示す断面図である。
先ず、リード4を切断しないようにして、フィルムキャ
リアテープをOLBホール13bの外側で切断する。そ
して、リード4bを所定のカルピング状に成形する。
次に、ポンディングパッド12bが形成されたプリント
基板11b上に接着材10bにより半導体チップ2bを
接着する。そして、リード4bを一括してOLBする。
これにより、半導体装置の実装が完了する。
本実施例においても、第1の実施例と同様の効果を得る
ことができる。
[発明の効果] 以上説明したように本願の第1発明によれば、デバイス
ホールの周囲に第1及び第2のOLBホールが設けられ
ており、複数本のリードはこの第1及び第2のOLBホ
ールに分散されて配設されているから、アウターリード
側のリード先端間の間隔が従来に比して大きい。このた
め、アウターリードボンディング時のショート不良が抑
制される。また、半導体チップの大きさが実装時の制約
により制限されることが回避されるため、半導体装置が
小型化され、半導体装置の高密度実装が達成できる。
また、本願の第2発明によれば、リードのアウターリー
ドボンディング側先端部がOLBホールの対向する2辺
からOLBホールの内側に導出しており、この各リード
先端は千鳥状に配列されているから、リード先端間の間
隔が従来に比して大きい。このため、本願の第1発明と
同様に、アウターリードボンディング時のショート不良
が抑制されると共に、半導体装置の高密度実装が達成で
きる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本願第1発明の実施例に係るフィルムキャリア
テープを示す平面図、第2図は同じくそのフィルムキャ
リアテープに半導体チップを接続した状態を示す断面図
、第3図は同じくそのフィルムキャリアテープを使用し
た半導体装置の実装方法を示す断面図、第4図は本願第
2発明の実施例に係るフィルムキャリアテープを示す平
面図、第5図は同じくそのフィルムキャリアテープに半
導体チップを接続した状態を示す断面図、第6図は同じ
くそのフィルムキャリアテープを使用した半導体装置の
実装方法を示す断面図、第7図は従来のフィルムキャリ
アテープを示す平面図、第8図及び第9図は同じくその
フィルムキャリアテープと半導体チップとの接続方法を
示す断面図、第10図は従来のフィルムキャリアテープ
型半導体装置の実装方法を示す断面図である。 la、1b*  lc;スプロケットホール、2a。 2 b r  2 c ;半導体チップ、3a+  3
bt  3c;デバイスホール、4a、4b、4c;リ
ード、5a、5bt 5c;電気選別パッド、eat 
6b*6c;絶縁フィルム、7a+  7b、7c;バ
ンブ、8c;サスペンダ、9a+ 9b* 9c;樹脂
、1Oa+  10bt  10c;接着材、11a+
11b。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)絶縁フィルムと、この絶縁フィルムに設けられた
    矩形のデバイスホールと、このデバイスホールの周囲に
    前記デバイスホールの1辺に対して2個以上設けられた
    第1のアウターリードボンディングホールと、この第1
    のアウターリードボンディングホールの外側の領域に穿
    設された第2のアウターリードボンディングホールと、
    前記絶縁フィルム上に形成されその一端が前記デバイス
    ホールの内側に導出されており他端が前記第1のアウタ
    ーリードボンディングホール及び第2のアウターリード
    ボンディングホールのいずれか一方の上を選択的に横断
    している複数本のリードとを有することを特徴とするフ
    ィルムキャリアテープ。
  2. (2)絶縁フィルムと、この絶縁フィルムに設けられた
    矩形のデバイスホールと、このデバイスホールの周囲に
    前記デバイスホールの1辺に対して2個以上設けられた
    アウターリードボンディングホールと、前記絶縁フィル
    ム上に形成されその一端が前記デバイスホールの内側に
    導出されており他端が前記アウターリードボンディング
    ホールのデバイスホールに近い側の辺及びこの辺に対向
    する辺から前記アウターリードボンディングホールの内
    側に導出された複数本のリードとを有し、前記リードの
    他端は前記アウターリードボンディングホールにおいて
    千鳥状に配列されていることを特徴とするフィルムキャ
    リアテープ。
JP4632890A 1990-02-27 1990-02-27 フィルムキャリアテープ Expired - Lifetime JPH0831500B2 (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0629348A (ja) * 1992-05-12 1994-02-04 Akira Kitahara 表面実装部品及びその半製品
JPH0697224A (ja) * 1992-09-12 1994-04-08 Pfu Ltd テープ・キャリア・パッケージ及び実装用パッド

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0629348A (ja) * 1992-05-12 1994-02-04 Akira Kitahara 表面実装部品及びその半製品
JPH0697224A (ja) * 1992-09-12 1994-04-08 Pfu Ltd テープ・キャリア・パッケージ及び実装用パッド

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