JPH0323847A - Ｘ線ｃｔスキャナ装置 - Google Patents
Ｘ線ｃｔスキャナ装置Info
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- JPH0323847A JPH0323847A JP1158803A JP15880389A JPH0323847A JP H0323847 A JPH0323847 A JP H0323847A JP 1158803 A JP1158803 A JP 1158803A JP 15880389 A JP15880389 A JP 15880389A JP H0323847 A JPH0323847 A JP H0323847A
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-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/02—Arrangements for diagnosis sequentially in different planes; Stereoscopic radiation diagnosis
- A61B6/03—Computed tomography [CT]
- A61B6/032—Transmission computed tomography [CT]
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
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- Y10S378/901—Computer tomography program or processor
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［発明の口的］
（産業上の利用分野）
本発明は、複数のＸ線検出要素を有する検出モジュール
を環状に隙間なく配設してなるＸ線検出器を用いた、Ｓ
ｔａｔｉｏｎａｒｙ／ Ｒｏｔａｔｅ方式や第４阻代方
式などと称されているＸ線ＣＴ（Ｃｏｍｐｕｔｅｒｉｓ
ｅｄ ｉ’ｏｍｏｇｒａｐｈｙ ）スキャナ装置に関す
る。
を環状に隙間なく配設してなるＸ線検出器を用いた、Ｓ
ｔａｔｉｏｎａｒｙ／ Ｒｏｔａｔｅ方式や第４阻代方
式などと称されているＸ線ＣＴ（Ｃｏｍｐｕｔｅｒｉｓ
ｅｄ ｉ’ｏｍｏｇｒａｐｈｙ ）スキャナ装置に関す
る。
（槌来の技術）
Ｘ線ＣＴスキャナ装置は概略次のようになっている。す
なわち、Ｘ線検出器と、Ｘ線発生装置により駆動される
Ｘ線源とは、撮影域を挟んで対向配置され、この撮影域
内には被検体が置かれる。
なわち、Ｘ線検出器と、Ｘ線発生装置により駆動される
Ｘ線源とは、撮影域を挟んで対向配置され、この撮影域
内には被検体が置かれる。
そして、Ｓｔａｔｊｏｎａｒｙ／ Ｒｏｔａｔｅ方式や
第４川代方式などと称されているＸ線ＣＴスキャナ装置
であれば、Ｘ線源たけの回転により多方向からのＸ線投
影データを得るものであるため、Ｘ線検出器としては例
えば固体検出器を用いた環状型のちのを用いている。こ
の場合、Ｘ線源を回転することにより、被検体に対する
多方向からの透過Ｘ線に基づく投影データは、Ｘ線検出
器、Ｉ／Ｖ変換器，積分器，マルチプレクサ，及びＡ／
Ｄ変換器等を有するデータ収集器により収集され、再構
成処理系に送られ、該再構成処理系の前処理部にてＸ線
検出器及びデータ収集器の特性のバラッキ等を補正し、
処理後データを高速再構成ユニッ１・に送ってここで再
構或処理を施してスライス像を得、表示系にて表示を行
なうようにしている。
第４川代方式などと称されているＸ線ＣＴスキャナ装置
であれば、Ｘ線源たけの回転により多方向からのＸ線投
影データを得るものであるため、Ｘ線検出器としては例
えば固体検出器を用いた環状型のちのを用いている。こ
の場合、Ｘ線源を回転することにより、被検体に対する
多方向からの透過Ｘ線に基づく投影データは、Ｘ線検出
器、Ｉ／Ｖ変換器，積分器，マルチプレクサ，及びＡ／
Ｄ変換器等を有するデータ収集器により収集され、再構
成処理系に送られ、該再構成処理系の前処理部にてＸ線
検出器及びデータ収集器の特性のバラッキ等を補正し、
処理後データを高速再構成ユニッ１・に送ってここで再
構或処理を施してスライス像を得、表示系にて表示を行
なうようにしている。
このような第４世代Ｘ線ＣＴスキャナ装置における環状
型Ｘ線検出器としては、複数のＸ線検出要素（以下「チ
ャンネル」と称する。）を有する検出モジュール（以下
「モジュール」と称する。）を環状に隙′間なく配設し
てなるものが代表的であり、一般に、モジュール数は数
十以」二であり、１モジュールは数十にも及ぶチャンネ
ルを持ち、そして、チャンネル数は数千にも及ぶものが
ある。
型Ｘ線検出器としては、複数のＸ線検出要素（以下「チ
ャンネル」と称する。）を有する検出モジュール（以下
「モジュール」と称する。）を環状に隙′間なく配設し
てなるものが代表的であり、一般に、モジュール数は数
十以」二であり、１モジュールは数十にも及ぶチャンネ
ルを持ち、そして、チャンネル数は数千にも及ぶものが
ある。
例えば、現存の装置には、モジュール数が９６、ｌモジ
ュールか２４チャンネル、そして、チャンネル数が９
６ Ｘ ２ ４ ＝ ２．３ ０ ４のものがある。
ュールか２４チャンネル、そして、チャンネル数が９
６ Ｘ ２ ４ ＝ ２．３ ０ ４のものがある。
このように、モジュール数及びチャンネル数が膨大な数
である第４世代Ｘ線ＣＴスキャナ装置においては、一つ
のチャンネルが不良になった場合、二つ以上のチャンネ
ルが不良になり結果的にモジュールそのもそのが不良に
なった場合には、例えばシャワー状アーチファクトの現
れた診断に供し得ない画像になってしまう。
である第４世代Ｘ線ＣＴスキャナ装置においては、一つ
のチャンネルが不良になった場合、二つ以上のチャンネ
ルが不良になり結果的にモジュールそのもそのが不良に
なった場合には、例えばシャワー状アーチファクトの現
れた診断に供し得ない画像になってしまう。
この場合、一つのチャンネルが不良になった場合には、
隣り合う２チャンネルから補間広等の手法により該当す
る不良チャンネルのデータを作り出すことができ、実際
に現イリする装置には、前述の手法をコンピュータプロ
グラムにて装備しているものも見受けられる。
隣り合う２チャンネルから補間広等の手法により該当す
る不良チャンネルのデータを作り出すことができ、実際
に現イリする装置には、前述の手法をコンピュータプロ
グラムにて装備しているものも見受けられる。
一方、モジュール構成の検出器では、一つのチャンネル
のみならずモジュールを構成する全チャンネル（例えば
２４チャンネル）か一括して不良になる場合が多々ある
。この場合、複数又は全チャンネルのデータを３１算に
より求めることができないので、現状では、システムダ
ウンとして扱われ、モジュール交換を待つことになる。
のみならずモジュールを構成する全チャンネル（例えば
２４チャンネル）か一括して不良になる場合が多々ある
。この場合、複数又は全チャンネルのデータを３１算に
より求めることができないので、現状では、システムダ
ウンとして扱われ、モジュール交換を待つことになる。
つまり、交換修理が終えるまでは診断ができなくなって
いた。
いた。
（発明が解決しようとする課題）
以上において、夜間等にシステムダウンが発生すると、
その時間は長いものになりかちであるが、この種の装置
は、緊急患者等のため一刻を争う診断結果を出し得る装
置であることを考えると、長時間に亙るシステムダウン
は山々しき問題である。
その時間は長いものになりかちであるが、この種の装置
は、緊急患者等のため一刻を争う診断結果を出し得る装
置であることを考えると、長時間に亙るシステムダウン
は山々しき問題である。
そこで本発明の目的は、検出器のモジュールか不良とな
った場合であってもシステムダウンとは５ ならずに、診断に使える画像を得ることを可能としたＸ
線ＣＴスキャナ装置を提供することにある。
った場合であってもシステムダウンとは５ ならずに、診断に使える画像を得ることを可能としたＸ
線ＣＴスキャナ装置を提供することにある。
［発明の構成］
本発明は上記課題を解決し且つ目的を達成するために次
のような手段を講じた構成としている。
のような手段を講じた構成としている。
すなわち、請求項１の発明は、複数のＸ線検出要素を有
する検出モジュールを環状に隙間なく配設してなるＸ線
検出器を用いたＸ線ＣＴスキャナ装置において、不良の
検出モジュールを検索する第１の手順と、この第１の手
順により検索された不良の検出モジュールを除いた正常
の検出モジュールの中で正規の再構成画像を得るに要す
る正常の検出モジュールだけからのデータ群を用いて再
び再構成処理だけを行う第２の手順とを実行する制御手
段を具備したことを特徴とする。
する検出モジュールを環状に隙間なく配設してなるＸ線
検出器を用いたＸ線ＣＴスキャナ装置において、不良の
検出モジュールを検索する第１の手順と、この第１の手
順により検索された不良の検出モジュールを除いた正常
の検出モジュールの中で正規の再構成画像を得るに要す
る正常の検出モジュールだけからのデータ群を用いて再
び再構成処理だけを行う第２の手順とを実行する制御手
段を具備したことを特徴とする。
請求項２の発明は、複数のＸ線検出要素を有する検出モ
ジュールを環状に隙間なく配設してなるＸ線検出器を用
いたＸ線ＣＴスキャナ装置において、不良の検出モジュ
ールを検索する第１の手順と、この第１の手順により検
索された不良の検出６ モジコールを除いた正幇の検出モジュールについてＸ線
照Ｕ・Ｊかなされ且つ正′２：（の検出モジュールの中
で正規の１１横成画像を得るに便する正常の検出モジュ
ールだけからのデータ群を用いてＩ’ｉ＋Ｍ成処理を行
う第２の手順とを実行する制御千段を具備したことを特
徴とする。
ジュールを環状に隙間なく配設してなるＸ線検出器を用
いたＸ線ＣＴスキャナ装置において、不良の検出モジュ
ールを検索する第１の手順と、この第１の手順により検
索された不良の検出６ モジコールを除いた正幇の検出モジュールについてＸ線
照Ｕ・Ｊかなされ且つ正′２：（の検出モジュールの中
で正規の１１横成画像を得るに便する正常の検出モジュ
ールだけからのデータ群を用いてＩ’ｉ＋Ｍ成処理を行
う第２の手順とを実行する制御千段を具備したことを特
徴とする。
請求項３の発明は、請求項］叉は２に記載のＸ線ＣＴス
キャナ装置における前記第１の手順は、自動検索モード
及び手動検索モードの少なくとも一方を行うものである
ことを特徴とする。
キャナ装置における前記第１の手順は、自動検索モード
及び手動検索モードの少なくとも一方を行うものである
ことを特徴とする。
（作用）
請求項１の発明によれば、第１の手順により、不良の検
出モジュールを検索し？１１、第２の手順により、当該
検索された不良の検出モジュールを除いた正幇の検出モ
ジュールの中で正規の再構Ｊ戊画像を得るに要する正常
の検出モシュールだけからのデータ群を用いて例えばハ
ーフスキャンに準した再＋１■或処理を行うことかでき
るので、検出器のモジュールか不良となった場合であっ
ても、診断に使える例えばハーフスキャンに準じた画像
か得られ、システムダウンを回避でき、緊急患者等の診
断要請に応しることかできる。
出モジュールを検索し？１１、第２の手順により、当該
検索された不良の検出モジュールを除いた正幇の検出モ
ジュールの中で正規の再構Ｊ戊画像を得るに要する正常
の検出モシュールだけからのデータ群を用いて例えばハ
ーフスキャンに準した再＋１■或処理を行うことかでき
るので、検出器のモジュールか不良となった場合であっ
ても、診断に使える例えばハーフスキャンに準じた画像
か得られ、システムダウンを回避でき、緊急患者等の診
断要請に応しることかできる。
請求項２の発明によれば、第１の手順により、不良の検
出モジュールを検索し得、第２の手順により、当該検索
された不良の検出モジュールを除いた正′后の検出モジ
ュールについてＸ線照射がなされ目つｉｌＥ常の検出モ
ジュールの中で正規の再構成画像を得るに要するに常の
検出モジュールだけからのデータ群を用いて例えばハー
フスキャンによる再構成処理を行うことができるので、
検出器のモジュールが不良となった場合であっても、診
断に使える例えばハーフスキャンによる画像か得られ、
システムダウンを回避でき、緊急患者等の診断要請に応
じることができる。
出モジュールを検索し得、第２の手順により、当該検索
された不良の検出モジュールを除いた正′后の検出モジ
ュールについてＸ線照射がなされ目つｉｌＥ常の検出モ
ジュールの中で正規の再構成画像を得るに要するに常の
検出モジュールだけからのデータ群を用いて例えばハー
フスキャンによる再構成処理を行うことができるので、
検出器のモジュールが不良となった場合であっても、診
断に使える例えばハーフスキャンによる画像か得られ、
システムダウンを回避でき、緊急患者等の診断要請に応
じることができる。
請求項３の発明によれば、自動検索モード及び手動検索
モードの少なくとも一方により請求項］又は２に記裁の
Ｘ線ＣＴスキャナ装置における前記第１の手順を実行で
きるので、所望の検索法により不良の検出モシュールを
検索し得る。
モードの少なくとも一方により請求項］又は２に記裁の
Ｘ線ＣＴスキャナ装置における前記第１の手順を実行で
きるので、所望の検索法により不良の検出モシュールを
検索し得る。
（丈施例）
以下本発明にかかるＸ線ＣＴスキャナ装置の一丈施例を
図面を参照して説明する。
図面を参照して説明する。
ノ５］図は本夫施例のＸ線ＣＴスキャナ装置てある第４
世代装置の構成図、第２図は同丈施利におけるシステム
制御器に装備される制御プログラムの流れ図、第３図〜
第５図は同実施例における作用を小ず図である。
世代装置の構成図、第２図は同丈施利におけるシステム
制御器に装備される制御プログラムの流れ図、第３図〜
第５図は同実施例における作用を小ず図である。
第１図に示すように、図示しない寝台，寝台制御装置を
含む架台］０は、円軌道を描いて高速回転し得るＸ線源
１２と、このＸ線源］２に対し撮影域内に置かれる被検
体１４を扶んで配置される固体検出器型環状Ｘ線検出器
１６とをモ゜シている。
含む架台］０は、円軌道を描いて高速回転し得るＸ線源
１２と、このＸ線源］２に対し撮影域内に置かれる被検
体１４を扶んで配置される固体検出器型環状Ｘ線検出器
１６とをモ゜シている。
なお、図示では、Ｘ線検出器１６の外周側にＸ線源］２
及びその軌道が置かれるか、これに限定されるものでは
なく、Ｘ線検出器１６の内周側にＸ線源１２及びその軌
道か置かれるものでもよい。
及びその軌道が置かれるか、これに限定されるものでは
なく、Ｘ線検出器１６の内周側にＸ線源１２及びその軌
道か置かれるものでもよい。
Ｘ線検出器１６の各チャンネル出力である投影データは
、Ｉ／Ｖ変換器，積分器，マルチプレクザ Ａ／Ｄａ換
器等をチャンネル分を有するデ９ 夕収集器１８により収集し、収集データを再構成処理系
２０に送ってここで再構或処理を施してスライス像を得
、表示系２２に表示を行なうようになっている。
、Ｉ／Ｖ変換器，積分器，マルチプレクザ Ａ／Ｄａ換
器等をチャンネル分を有するデ９ 夕収集器１８により収集し、収集データを再構成処理系
２０に送ってここで再構或処理を施してスライス像を得
、表示系２２に表示を行なうようになっている。
また、Ｘ線源］２は、Ｘ線発生装置２４により制御され
た高電圧が供給され、架台１０は、架台・寝台制御器２
６により制御されるようになっている。そして、Ｘ線発
生装置２４及び架台・寝台制御器２６は、システム制御
器２８の制御下にあり、このンステム制御器２８は、コ
ンソール３０と表示系２２とによりスキャン条件の設定
及びメッセージ表示等を制御し得る。システム制御器２
８は、Ｘ線発生装置２４に対し設定スキャン条件に基づ
くＸ線制御信号を与え、再構成処理系２０に対し設定ス
キャン条件に址つく再構成制御信号を与えるものとなっ
ている。
た高電圧が供給され、架台１０は、架台・寝台制御器２
６により制御されるようになっている。そして、Ｘ線発
生装置２４及び架台・寝台制御器２６は、システム制御
器２８の制御下にあり、このンステム制御器２８は、コ
ンソール３０と表示系２２とによりスキャン条件の設定
及びメッセージ表示等を制御し得る。システム制御器２
８は、Ｘ線発生装置２４に対し設定スキャン条件に基づ
くＸ線制御信号を与え、再構成処理系２０に対し設定ス
キャン条件に址つく再構成制御信号を与えるものとなっ
ている。
ここで、システム制御器２８は、通常の制御形態と異な
る、例えば、特定円弧部ではＸ線照射かなされないよう
に制御する、例えばハーフスキャンのためのＸ線制御信
号を坐Ｊ戊し、Ｘ線発上装置１０ ２４に与えることができ、また、システム制御器２８は
、通常の制御形態と異なる、例えば、特定チャンネルの
みのデータ群のみを用いた再構成処理として例えばハー
フスキャンに準じた再構成処理を行うための再構成制御
信号を生成し、再描成処理系２０に与えることができる
ようになっている。
る、例えば、特定円弧部ではＸ線照射かなされないよう
に制御する、例えばハーフスキャンのためのＸ線制御信
号を坐Ｊ戊し、Ｘ線発上装置１０ ２４に与えることができ、また、システム制御器２８は
、通常の制御形態と異なる、例えば、特定チャンネルの
みのデータ群のみを用いた再構成処理として例えばハー
フスキャンに準じた再構成処理を行うための再構成制御
信号を生成し、再描成処理系２０に与えることができる
ようになっている。
次に、第２図を参照して同丈施例におけるシステム制御
器に装備される制御プログラムにかかる制御手順を説明
する。ここで、ステップＳＬによるスキャン条件設定、
続いてステップｓ２によるＸ線照射・データ収集、続い
てステップｓ３による再構成、続いてステップＳ４によ
る表示に至る一連手順は、通常の制御ルーチンであり、
これに本実施例では、モジュール不良対処ルーチンＭＴ
Ｒを設けている。
器に装備される制御プログラムにかかる制御手順を説明
する。ここで、ステップＳＬによるスキャン条件設定、
続いてステップｓ２によるＸ線照射・データ収集、続い
てステップｓ３による再構成、続いてステップＳ４によ
る表示に至る一連手順は、通常の制御ルーチンであり、
これに本実施例では、モジュール不良対処ルーチンＭＴ
Ｒを設けている。
このモジュール不良対処ルーチンＭＴＲは、通常の制御
ルーチンの終了であるステップｓ４の終了後に図示の結
合子■を経て実行されるものである。すなわち、ステッ
プＳ４では、例えば表示系１１ とオペレータとの表示を介した対話により、不良モジュ
ールが発生し且つその対策を講しない、として例えばコ
ンソールにより操作したときは、終了となり、また、講
じるとして例えばコンソールにより操作したときは、モ
ジュール不良対処ルーチンＭＴＲのステップＳ６に進む
。なお、モジュール不良であるとの判断は、オペレータ
の祖覚による、つまり、表示画像を観察し、当該画像上
に顕著なシャワー状アーチファクトが発生しているとき
には、モシュール不良であるとの判断する。
ルーチンの終了であるステップｓ４の終了後に図示の結
合子■を経て実行されるものである。すなわち、ステッ
プＳ４では、例えば表示系１１ とオペレータとの表示を介した対話により、不良モジュ
ールが発生し且つその対策を講しない、として例えばコ
ンソールにより操作したときは、終了となり、また、講
じるとして例えばコンソールにより操作したときは、モ
ジュール不良対処ルーチンＭＴＲのステップＳ６に進む
。なお、モジュール不良であるとの判断は、オペレータ
の祖覚による、つまり、表示画像を観察し、当該画像上
に顕著なシャワー状アーチファクトが発生しているとき
には、モシュール不良であるとの判断する。
ステップＳ６では、先ず、不良モジュールの検索を行う
ものであり、手動操作で行うとするか、自動操作で行う
とするか、例えば表示系とオペレータとの表示を介した
対話によりいずれかを操作により設定する。ここで、手
動操作すると設定するとステップＳ７に進み、自動操作
すると設定するとステップＳ８に進む。この場合、手動
動操作のためのステップＳ７及び自動操作のためのステ
ップＳ８にかかるプログラムは、システム制御器２８に
予め格納されている。
ものであり、手動操作で行うとするか、自動操作で行う
とするか、例えば表示系とオペレータとの表示を介した
対話によりいずれかを操作により設定する。ここで、手
動操作すると設定するとステップＳ７に進み、自動操作
すると設定するとステップＳ８に進む。この場合、手動
動操作のためのステップＳ７及び自動操作のためのステ
ップＳ８にかかるプログラムは、システム制御器２８に
予め格納されている。
１２
先ず、手動動操作のためのステップＳ７にかかるプログ
ラムを、第３図及び第４図を参照して説明する。第３図
（ａ）は環状検出器１６とスキャン範囲とを模式的に図
示したものであり、環状検出器１６内の矢印範囲がスキ
ャン範囲を示している。第３図（ｂ）はスキャン範囲に
伴うビーム照射野及び画像を模式的に図示したものであ
り、環状ビーム照射野の中に被検体の腹部断層像が現れ
ていることを示している。
ラムを、第３図及び第４図を参照して説明する。第３図
（ａ）は環状検出器１６とスキャン範囲とを模式的に図
示したものであり、環状検出器１６内の矢印範囲がスキ
ャン範囲を示している。第３図（ｂ）はスキャン範囲に
伴うビーム照射野及び画像を模式的に図示したものであ
り、環状ビーム照射野の中に被検体の腹部断層像が現れ
ていることを示している。
第４図（ａ）〜第４図（ｃ）はいずれも、環状検出器１
６とスキャン範囲とを模式的に図示したものであり、環
状検出器１６内の矢印範囲がスキャン範囲を示し、第４
図（ａ）から第４図（ｃ）へと不良モジュールの検索に
至る手順を示している。
６とスキャン範囲とを模式的に図示したものであり、環
状検出器１６内の矢印範囲がスキャン範囲を示し、第４
図（ａ）から第４図（ｃ）へと不良モジュールの検索に
至る手順を示している。
すなわち、モジュール不良検索のための手動操作手順は
、先に、第３図（ａ）（ｂ）に示すように、画像上に顕
著なシャワー状アーチファクトが発生していると、オペ
レータの視覚判断により、モジュール不良であるとの判
断を前提とし、第４１３ 図（ａ）に示す画像を表示系に表示することによりなさ
れる。画像上で任意の一つのシャワー線ρ１を定め、そ
の両端のモジュールを不良候袖Ｐ１，不良候補Ｐ２とす
る。次に、別の第４図（ｂ）に示す画像を表示系に表示
し、画像上で前記のシャワー線ｉｌｌとは異なる任意の
一つのシャワー線Ｄ２を定め、その両端のモジュールを
不良候補Ｐ３，不良候補Ｐ４とする。
、先に、第３図（ａ）（ｂ）に示すように、画像上に顕
著なシャワー状アーチファクトが発生していると、オペ
レータの視覚判断により、モジュール不良であるとの判
断を前提とし、第４１３ 図（ａ）に示す画像を表示系に表示することによりなさ
れる。画像上で任意の一つのシャワー線ρ１を定め、そ
の両端のモジュールを不良候袖Ｐ１，不良候補Ｐ２とす
る。次に、別の第４図（ｂ）に示す画像を表示系に表示
し、画像上で前記のシャワー線ｉｌｌとは異なる任意の
一つのシャワー線Ｄ２を定め、その両端のモジュールを
不良候補Ｐ３，不良候補Ｐ４とする。
この場合、シャワー状アーチファクトは同一不良モジュ
ールによるものであるから、不良候補ＰＬ，Ｐ２，Ｐ３
，Ｐ４のうち一つは同一となるから、第４図（ｂ）に示
す画像を表示系に表示し、図示の如く例えば不良候補Ｐ
２（Ｐ３）が不良モジュールであることが分かる。この
判定された不良モジュールを画像上から特定し、該特定
データを以降の処理に用いる。
ールによるものであるから、不良候補ＰＬ，Ｐ２，Ｐ３
，Ｐ４のうち一つは同一となるから、第４図（ｂ）に示
す画像を表示系に表示し、図示の如く例えば不良候補Ｐ
２（Ｐ３）が不良モジュールであることが分かる。この
判定された不良モジュールを画像上から特定し、該特定
データを以降の処理に用いる。
以上の手動操作手順は、オペレータの視覚判断の手順を
画像の支援を受けて行うものであるが、ステップＳ８の
かかる手動操作手順は、上記のオペレータの視覚判断そ
のものをコンピュータの判１４ 断によって行うようにプログラムすることにより丈現さ
れ得る。
画像の支援を受けて行うものであるが、ステップＳ８の
かかる手動操作手順は、上記のオペレータの視覚判断そ
のものをコンピュータの判１４ 断によって行うようにプログラムすることにより丈現さ
れ得る。
以上のステップＳ７又はステップＳ８の丈行により、不
良モジュールの特定データか得られ、次に、ステップＳ
９又はステソプＳ↓０の彦択丈？ｉにより診断モードＭ
ｌ．，Ｍ２ ．Ｍ３のいずれかか実行される。
良モジュールの特定データか得られ、次に、ステップＳ
９又はステソプＳ↓０の彦択丈？ｉにより診断モードＭ
ｌ．，Ｍ２ ．Ｍ３のいずれかか実行される。
診断モードＭ」は、ステップＳ８における、“不良モジ
ュールを除いて再びＸ線照射・データ収果するか？”に
おいて、謹処裡を実行するとオペレータが判断したとき
に実行されるものである。
ュールを除いて再びＸ線照射・データ収果するか？”に
おいて、謹処裡を実行するとオペレータが判断したとき
に実行されるものである。
この診断モードＭ１は、再度の撮影のためにスキャン条
件そのものを設定するものであり、例えばハーフスキャ
ンを実行するための条件設定を行うものである。
件そのものを設定するものであり、例えばハーフスキャ
ンを実行するための条件設定を行うものである。
診断モー１・Ｍ２は、ステップＳ８における、゛″不良
モジュールを除いて再びＸ ＮＭ照射・データ収集する
か？”において、該処理を丈行しないとオペレータが判
断し、しかも、ステップＳ９におけろ、“再び再構或だ
けするか？”において、該１５ 処理を実行しないとオペレータが判断したときに実行さ
れるものである。この診断モー＋： Ｍ ２は、スキャ
ン条件を設定するか、不良モジュールを含めてスキャン
を行い、例えばハーフスキャンを実行するための再構或
処理のための条件設定を行うものである。
モジュールを除いて再びＸ ＮＭ照射・データ収集する
か？”において、該処理を丈行しないとオペレータが判
断し、しかも、ステップＳ９におけろ、“再び再構或だ
けするか？”において、該１５ 処理を実行しないとオペレータが判断したときに実行さ
れるものである。この診断モー＋： Ｍ ２は、スキャ
ン条件を設定するか、不良モジュールを含めてスキャン
を行い、例えばハーフスキャンを実行するための再構或
処理のための条件設定を行うものである。
診断モードＭ３は、ステップＳ８における、゛不良モジ
ュールを除いて再びＸ線照射・データ収集するか？”に
おいて、該処理を尖行しないとオペレータが判断し、し
かも、ステップＳ９における、゛′再び再構成だけずる
か？”において、該処理を実行するとオペレータか判断
したときに実行されるものである。この診断モードＭ３
は、スキャン条件（Ｘ線照射を行わない。）を設定する
ことなく、先に得られた投影データ群の中から、例えば
ハーフスキャンを実行するに必要なデータ群のみを選定
し、該選定データに基づき再構成処理を行うものである
。なお、ハーフスキャンにより再構成できるデータ範囲
は、１８０°＋ファン角度にあるチャンネルのデータ範
囲である。
ュールを除いて再びＸ線照射・データ収集するか？”に
おいて、該処理を尖行しないとオペレータが判断し、し
かも、ステップＳ９における、゛′再び再構成だけずる
か？”において、該処理を実行するとオペレータか判断
したときに実行されるものである。この診断モードＭ３
は、スキャン条件（Ｘ線照射を行わない。）を設定する
ことなく、先に得られた投影データ群の中から、例えば
ハーフスキャンを実行するに必要なデータ群のみを選定
し、該選定データに基づき再構成処理を行うものである
。なお、ハーフスキャンにより再構成できるデータ範囲
は、１８０°＋ファン角度にあるチャンネルのデータ範
囲である。
１６
以上の如く構成された本実施例によれば、不良モシュー
ルが発生した場合、不良の検出モジュルを自動又は手動
にて検索し得、診断モー１・ＭＩＭ２のいずれかを丈行
したときは、検索された不良の検出モジュールを除いた
正フ；（の検出モジュルについてＸ線照射かなされ且つ
正常の検出モジュールの中で正規の再構成画像を得るに
要する正常の検出モジュールだけからのデータ群を用い
て例えば第５図（ａ）に示すハーフスギャンによる再構
成処理を行うことかできるので環状Ｘ検出器１６のモジ
ュールが不良となった場合であっても、゛診断に使える
例えばハーフスキャンによる例えば第５図（ｂ）に示す
画像か得られ、システムダウンを同避でき、緊急患者等
の診断要請に応しることができる。
ルが発生した場合、不良の検出モジュルを自動又は手動
にて検索し得、診断モー１・ＭＩＭ２のいずれかを丈行
したときは、検索された不良の検出モジュールを除いた
正フ；（の検出モジュルについてＸ線照射かなされ且つ
正常の検出モジュールの中で正規の再構成画像を得るに
要する正常の検出モジュールだけからのデータ群を用い
て例えば第５図（ａ）に示すハーフスギャンによる再構
成処理を行うことかできるので環状Ｘ検出器１６のモジ
ュールが不良となった場合であっても、゛診断に使える
例えばハーフスキャンによる例えば第５図（ｂ）に示す
画像か得られ、システムダウンを同避でき、緊急患者等
の診断要請に応しることができる。
また、診断モードＭ３が実行されると、検索された不良
の検出モジュールを除いた正，ｊ＋ｊ，の検出モジュー
ルの中で正規の再構成画像を得るに要する正フ；９の検
出モジュールだけからのデータ群を用いて例えばハーフ
スキャンに準じた再構成処理を行１７ うことができるので、環状Ｘ検出器１６のモジュルか不
良となった場合であっても、診断に使える例えばハーフ
スキャンに準じた例えば第５図（ｂ）に示す画像が得ら
れ、システムダウンを回避でき、緊急患者等の診断要請
に応じることができる。なお、第５図（ａ）は環状検出
器１６とハーフスキャン範囲とを模式的に図示したもの
であり、環状検出器１６内の矢印範囲かハーフスキャン
範囲を示している。第５図（ｂ）はハーフスキャン範囲
に伴うビーム照射野及び画｛象を模式的に図示したもの
であり、環状ビーム照射野の中に被検体の腹部断層像が
現れていることを示している。
の検出モジュールを除いた正，ｊ＋ｊ，の検出モジュー
ルの中で正規の再構成画像を得るに要する正フ；９の検
出モジュールだけからのデータ群を用いて例えばハーフ
スキャンに準じた再構成処理を行１７ うことができるので、環状Ｘ検出器１６のモジュルか不
良となった場合であっても、診断に使える例えばハーフ
スキャンに準じた例えば第５図（ｂ）に示す画像が得ら
れ、システムダウンを回避でき、緊急患者等の診断要請
に応じることができる。なお、第５図（ａ）は環状検出
器１６とハーフスキャン範囲とを模式的に図示したもの
であり、環状検出器１６内の矢印範囲かハーフスキャン
範囲を示している。第５図（ｂ）はハーフスキャン範囲
に伴うビーム照射野及び画｛象を模式的に図示したもの
であり、環状ビーム照射野の中に被検体の腹部断層像が
現れていることを示している。
なお、不良ユニッ１・の検出個数は、ハーフスキャンに
より再横戊できるデータ範囲を確保できる限り、１個に
限らず２個以上でもできる。
より再横戊できるデータ範囲を確保できる限り、１個に
限らず２個以上でもできる。
また、診断モードＭ１では、再構成に不要な不良モジュ
ールにＸ線を照射しないので、Ｘ線照射量の低減か図ら
れる。
ールにＸ線を照射しないので、Ｘ線照射量の低減か図ら
れる。
本発明は上記実施例に限定されるものではなく、例えば
、」二記の診断モードのうち少なくとも一つ］８ のモードを締えるものであってもよい。この他、本発明
の要旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施てきるもの
てある。
、」二記の診断モードのうち少なくとも一つ］８ のモードを締えるものであってもよい。この他、本発明
の要旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施てきるもの
てある。
［発明の効果］
以上のように、請求項１の発明によれば、第１の手順に
より、不良の検出モジュールを検索し？１Ｉ１第２の手
順により、当該検索された不良の検出モジュールを除い
た正常の検出モジュールの中で正規の再構成画像を得る
に要する正常の検出モンユルだけからのデータ群を用い
て例えばハーフスキャンに準じな再構成処理を行うこと
かできるので、検出器のモジュールか不良となった場合
であっても、診断に使える例えばハーフスキャンに準じ
た画像が得られ、システムダウンを回避でき、緊急患者
等の診断要請に応しることかできる。
より、不良の検出モジュールを検索し？１Ｉ１第２の手
順により、当該検索された不良の検出モジュールを除い
た正常の検出モジュールの中で正規の再構成画像を得る
に要する正常の検出モンユルだけからのデータ群を用い
て例えばハーフスキャンに準じな再構成処理を行うこと
かできるので、検出器のモジュールか不良となった場合
であっても、診断に使える例えばハーフスキャンに準じ
た画像が得られ、システムダウンを回避でき、緊急患者
等の診断要請に応しることかできる。
請求項２の発明によれば、＠１の手順により、不良の検
出モジュールを検索し得、第２の手順により、当該検索
された不良の検出モジュールを除いた正常の検出モジュ
ールについてＸ線照射かなされ且つ正常の検出モジュー
ルの中て正規の再構１９ 成画慮を？７るＩ，：要する正祁゛の検出モジュールだ
けからのデータ群を用いて例えばハーフスキャンによる
再構戊処理を行うことができるので、検出器のモジュー
ルが不良となった場合であっても、診断に使える例えば
ハーフスキャンによる画像が得られ、システムダウンを
回避でき、緊急患者等の診断要請に応じることかできる
。
出モジュールを検索し得、第２の手順により、当該検索
された不良の検出モジュールを除いた正常の検出モジュ
ールについてＸ線照射かなされ且つ正常の検出モジュー
ルの中て正規の再構１９ 成画慮を？７るＩ，：要する正祁゛の検出モジュールだ
けからのデータ群を用いて例えばハーフスキャンによる
再構戊処理を行うことができるので、検出器のモジュー
ルが不良となった場合であっても、診断に使える例えば
ハーフスキャンによる画像が得られ、システムダウンを
回避でき、緊急患者等の診断要請に応じることかできる
。
請求項３の発明によれば、自動検索モード及び手動検索
モードの少なくとも一方により請求項１又は２に記載の
Ｘ線ＣＴスキャナ装置における前記第１の手順を実行で
きるので、所望の検索法により不良の検出モジュールを
検索し得る。
モードの少なくとも一方により請求項１又は２に記載の
Ｘ線ＣＴスキャナ装置における前記第１の手順を実行で
きるので、所望の検索法により不良の検出モジュールを
検索し得る。
従って、本発明によれば、検出器のモジュールが不良と
なった場合であってもシステムダウンとはならずに、診
断に使える画像を得ることを可能としたＸ線ＣＴスキャ
ナ装置を提供できる。
なった場合であってもシステムダウンとはならずに、診
断に使える画像を得ることを可能としたＸ線ＣＴスキャ
ナ装置を提供できる。
第１図は本発明にかかるＸ線ＣＴスキャナ装置の一実施
例の構成図、第２図は同実施例におけるシステム制御器
に装備される制御プログラムの流２０ れ図、第３図〜第５図は同実施例における作用を示す図
である。 １０・・・架台、１２・・・Ｘ線源、１４・・・被検体
、１６・・・固体検出器型環状Ｘ線検出器、１８・・デ
ータ収集器、２０・・・再構成処理系、２２・・・表示
系、２４・・・Ｘ線発生装置、２６・・・架台・寝台制
御器、２８・・・システム制御器、３０・・・システム
制御器。
例の構成図、第２図は同実施例におけるシステム制御器
に装備される制御プログラムの流２０ れ図、第３図〜第５図は同実施例における作用を示す図
である。 １０・・・架台、１２・・・Ｘ線源、１４・・・被検体
、１６・・・固体検出器型環状Ｘ線検出器、１８・・デ
ータ収集器、２０・・・再構成処理系、２２・・・表示
系、２４・・・Ｘ線発生装置、２６・・・架台・寝台制
御器、２８・・・システム制御器、３０・・・システム
制御器。
Claims (3)
- （１）複数のＸ線検出要素を有する検出モジュールを環
状に隙間なく配設してなるＸ線検出器を用いたＸ線ＣＴ
スキャナ装置において、不良の検出モジュールを検索す
る第１の手順と、この第１の手順により検索された不良
の検出モジュールを除いた正常の検出モジュールの中で
正規の再構成画像を得るに要する正常の検出モジュール
だけからのデータ群を用いて再び再構成処理だけを行う
第２の手順とを実行する制御手段を具備したことを特徴
とするＸ線ＣＴスキャナ装置。 - （２）複数のＸ線検出要素を有する検出モジュールを環
状に隙間なく配設してなるＸ線検出器を用いたＸ線ＣＴ
スキャナ装置において、不良の検出モジュールを検索す
る第１の手順と、この第１の手順により検索された不良
の検出モジュールを除いた正常の検出モジュールについ
てＸ線照射がなされ且つ正常の検出モジュールの中で正
規の再構成画像を得るに要する正常の検出モジュールだ
けからのデータ群を用いて再構成処理を行う第２の手順
とを実行する制御手段を具備したことを特徴とするＸ線
ＣＴスキャナ装置。 - （３）前記第１の手順は、自動検索モード及び手動検索
モードの少なくとも一方を行うものであることを特徴と
する請求項１又は２に記載のＸ線ＣＴスキャナ装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1158803A JPH0323847A (ja) | 1989-06-21 | 1989-06-21 | Ｘ線ｃｔスキャナ装置 |
| EP19900111678 EP0404118A3 (en) | 1989-06-21 | 1990-06-20 | X-ray ct scanner device |
| US07/540,601 US5025463A (en) | 1989-06-21 | 1990-06-20 | X-ray CT scanner device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1158803A JPH0323847A (ja) | 1989-06-21 | 1989-06-21 | Ｘ線ｃｔスキャナ装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0323847A true JPH0323847A (ja) | 1991-01-31 |
Family
ID=15679697
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1158803A Pending JPH0323847A (ja) | 1989-06-21 | 1989-06-21 | Ｘ線ｃｔスキャナ装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5025463A (ja) |
| EP (1) | EP0404118A3 (ja) |
| JP (1) | JPH0323847A (ja) |
Families Citing this family (17)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03262947A (ja) * | 1990-03-14 | 1991-11-22 | Hitachi Ltd | コンピュータ断層撮影装置及びその方法並びにコンピュータ断層撮影走査装置 |
| IL98945A0 (en) * | 1991-07-24 | 1992-07-15 | Elscint Ltd | Multiple slice ct scanner |
| US5241576A (en) * | 1991-12-23 | 1993-08-31 | General Electric Company | Segmented detector containing sub-elements for separate measuring of a fan beam |
| US5867554A (en) * | 1996-06-20 | 1999-02-02 | Siemens Aktiengesellschaft | Spiral scan computed tomography apparatus having a modular surface detector for radiation |
| US6081576A (en) * | 1998-08-25 | 2000-06-27 | General Electric Company | Scalable data acquisition system |
| US6285741B1 (en) | 1998-08-25 | 2001-09-04 | General Electric Company | Methods and apparatus for automatic image noise reduction |
| DE10009746B4 (de) * | 2000-03-01 | 2008-11-20 | Siemens Ag | Verfahren zur Reduzierung von Strichartefakten in einem CT-Bild |
| DE10143045B4 (de) * | 2001-09-03 | 2006-11-02 | Siemens Ag | Verfahren und zur Durchführung dieses Verfahrens ausgebildete medizinische Einrichtung |
| US6879657B2 (en) * | 2002-05-10 | 2005-04-12 | Ge Medical Systems Global Technology, Llc | Computed tomography system with integrated scatter detectors |
| US7477763B2 (en) * | 2002-06-18 | 2009-01-13 | Boston Scientific Scimed, Inc. | Computer generated representation of the imaging pattern of an imaging device |
| JP2006015050A (ja) * | 2004-07-05 | 2006-01-19 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | Ｘ線ｃｔ装置 |
| US7570732B2 (en) * | 2005-11-09 | 2009-08-04 | Dexela Limited | Methods and apparatus for obtaining low-dose imaging |
| CN102451015B (zh) * | 2010-10-20 | 2014-03-19 | 上海西门子医疗器械有限公司 | Ct设备、以及确定探测器中不稳定通道的方法 |
| CN103674979B (zh) * | 2012-09-19 | 2016-12-21 | 同方威视技术股份有限公司 | 一种行李物品ct安检***及其探测器装置 |
| US8798230B2 (en) * | 2012-11-19 | 2014-08-05 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Radiation imaging apparatus, computed tomography apparatus, and radiation imaging method |
| US10067076B2 (en) | 2013-12-23 | 2018-09-04 | Johnson Matthey Public Limited Company | Scanning method |
| US9508127B1 (en) * | 2015-06-30 | 2016-11-29 | Konica Minolta Laboratory U.S.A., Inc. | Processing for creating a transmission image without artificial noises |
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| JPH0799539B2 (ja) * | 1985-09-30 | 1995-10-25 | ジーイー横河メディカルシステム株式会社 | 放射線断層撮影装置 |
| EP0364612B1 (de) * | 1988-10-17 | 1993-02-10 | Siemens Aktiengesellschaft | Computertomograph |
-
1989
- 1989-06-21 JP JP1158803A patent/JPH0323847A/ja active Pending
-
1990
- 1990-06-20 EP EP19900111678 patent/EP0404118A3/en not_active Withdrawn
- 1990-06-20 US US07/540,601 patent/US5025463A/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6348249U (ja) * | 1986-09-10 | 1988-04-01 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0404118A3 (en) | 1991-01-16 |
| US5025463A (en) | 1991-06-18 |
| EP0404118A2 (en) | 1990-12-27 |
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