JPH03233705A - 加工軌跡の表示方法 - Google Patents
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- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B19/00—Programme-control systems
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- G05B19/4069—Simulating machining process on screen
-
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- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23H—WORKING OF METAL BY THE ACTION OF A HIGH CONCENTRATION OF ELECTRIC CURRENT ON A WORKPIECE USING AN ELECTRODE WHICH TAKES THE PLACE OF A TOOL; SUCH WORKING COMBINED WITH OTHER FORMS OF WORKING OF METAL
- B23H7/00—Processes or apparatus applicable to both electrical discharge machining and electrochemical machining
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野コ
この発明は、放電加工装置等の工作機械の制御用に作成
された数値制御プログラム（以下これをＮＣプログラム
と称し、工作機械として放電加工装置を例に挙げて説明
する。）の内容、すなわち４例えば電極の移動軌跡、移
動軌跡に対応する電極座標値、あるいはこのＭＣプログ
ラムにより加工される被加工体を自動でＣＩ？Ｔ表示装
置等の表示手段に最適な大きさで最適な位置へ出力させ
ることにより１作成したＮＣプログラムが所定の加工を
行うかどうかを目視によって簡単かつ正確に検査できる
ようにした加工軌跡の表示方法に関するものである。
された数値制御プログラム（以下これをＮＣプログラム
と称し、工作機械として放電加工装置を例に挙げて説明
する。）の内容、すなわち４例えば電極の移動軌跡、移
動軌跡に対応する電極座標値、あるいはこのＭＣプログ
ラムにより加工される被加工体を自動でＣＩ？Ｔ表示装
置等の表示手段に最適な大きさで最適な位置へ出力させ
ることにより１作成したＮＣプログラムが所定の加工を
行うかどうかを目視によって簡単かつ正確に検査できる
ようにした加工軌跡の表示方法に関するものである。
［従来の技術］
第１図は特開昭６１−１１１１１１５４号公報に開示さ
れている放電加工装置の構成を示すブロック図である図
において、（Ｉ）は被加工物（２）に所定間隙を介して
対向し、放電加工装置の主軸（３）に着脱自在に取付け
られた加工用電極で、この加工用電極（１）はＺ信用直
流サーボモータ（４）により回転駆動されるボールネジ
（５）の正逆回転によって所定速度で昇降するようにな
されている。（６）は被加工物（２）固定し、かつ加工
液を収容した加工槽で、この加工槽（６）はＸ軸層直流
サーボモータ（７）と、Ｙ軸周直流サーボモータ（８）
とによってＸ軸方向とＹ軸方向とに８在に移動し得るよ
うになされている。
れている放電加工装置の構成を示すブロック図である図
において、（Ｉ）は被加工物（２）に所定間隙を介して
対向し、放電加工装置の主軸（３）に着脱自在に取付け
られた加工用電極で、この加工用電極（１）はＺ信用直
流サーボモータ（４）により回転駆動されるボールネジ
（５）の正逆回転によって所定速度で昇降するようにな
されている。（６）は被加工物（２）固定し、かつ加工
液を収容した加工槽で、この加工槽（６）はＸ軸層直流
サーボモータ（７）と、Ｙ軸周直流サーボモータ（８）
とによってＸ軸方向とＹ軸方向とに８在に移動し得るよ
うになされている。
（９）は直流電源、 （１０）はパルス発生器（１１）
によってオン・オフ制御されるスイッチング用トランジ
スタで、このトランジスタ（１０）は直流電源（９）の
電圧を所定のパルス電圧として加工用電極（１）と被加
工物（２）との間の放電加工間隙に可変抵抗器（１２）
を介して印加するために設けられたものである。
によってオン・オフ制御されるスイッチング用トランジ
スタで、このトランジスタ（１０）は直流電源（９）の
電圧を所定のパルス電圧として加工用電極（１）と被加
工物（２）との間の放電加工間隙に可変抵抗器（１２）
を介して印加するために設けられたものである。
なお、この可変抵抗器（１２）と、直流電源（９）と、
スイッチング用トランジスタ（１０）と、パルス発生器
（１１）とによって放電加工用電源回路（１３）を構成
している。（１４）は主軸（３）、ボールネジ（５）、
加工槽（６）、 Ｘ軸層直流サーボモータ（７）、
Ｙ軸周直流サーボモータ（８）およびＺ信用直流サーボ
モータ（４）等を支持するベツドで、接地している床面
に対し相対的上位置を変えないようになされている。
スイッチング用トランジスタ（１０）と、パルス発生器
（１１）とによって放電加工用電源回路（１３）を構成
している。（１４）は主軸（３）、ボールネジ（５）、
加工槽（６）、 Ｘ軸層直流サーボモータ（７）、
Ｙ軸周直流サーボモータ（８）およびＺ信用直流サーボ
モータ（４）等を支持するベツドで、接地している床面
に対し相対的上位置を変えないようになされている。
（１５）はこのベツド（１４）に固定されたテーブル、
（１６）は加工槽（６）に取付けられたペン取付器であ
る。
（１６）は加工槽（６）に取付けられたペン取付器であ
る。
又、 （１７）はＮＣテープ（１８）のプログラムを
読み取るテープリーグ、（１９）はＮＣプログラムの指
定、データの人力、あるいは各装置を作動させる場合に
使用する人力スイッチ、 （２０）はこの人力スイッチ
（Ｉ９）によって指定されたプログラムをセットしたり
各装置を作動させる論理回路、 （２１）は操作者が設
定したデータあるいは指定したプログラムを表示したり
、各装置からの出力を表示するＣＲＴ表示手段（２２〉
はＮＣプログラムを記憶し、必要に応じてこれを呼び出
す記憶手段、 （２３）は論理回路（２０）によって設
定されたＮＣプログラムを検査するＮＣプログラム検査
手段、（２４）はこのｌｆｃプログラム検査手段（２３
）によって起動され、設定されたＮＣプログラムを解析
するＮＣプログラム解析手段、 （２５）はこのＩＩｃ
プログラム解析手段（２４）によって解析データがセッ
トされる解析データテーブル、 （２６）はこの解析デ
ータテーブル（２５）に設定されているデータをもとに
ＮＣプログラム検査手段（２３）がＣＲＴ表示手段（２
１）用に変換したデータを設定する表示データテーブル
（２７）はＮＣプログラム検査を行うときに、 ＮＣプ
ログラム検査手段（２３）を起動するための信号を論理
回路（２０）に人力するための検査スタートスイッチ。
読み取るテープリーグ、（１９）はＮＣプログラムの指
定、データの人力、あるいは各装置を作動させる場合に
使用する人力スイッチ、 （２０）はこの人力スイッチ
（Ｉ９）によって指定されたプログラムをセットしたり
各装置を作動させる論理回路、 （２１）は操作者が設
定したデータあるいは指定したプログラムを表示したり
、各装置からの出力を表示するＣＲＴ表示手段（２２〉
はＮＣプログラムを記憶し、必要に応じてこれを呼び出
す記憶手段、 （２３）は論理回路（２０）によって設
定されたＮＣプログラムを検査するＮＣプログラム検査
手段、（２４）はこのｌｆｃプログラム検査手段（２３
）によって起動され、設定されたＮＣプログラムを解析
するＮＣプログラム解析手段、 （２５）はこのＩＩｃ
プログラム解析手段（２４）によって解析データがセッ
トされる解析データテーブル、 （２６）はこの解析デ
ータテーブル（２５）に設定されているデータをもとに
ＮＣプログラム検査手段（２３）がＣＲＴ表示手段（２
１）用に変換したデータを設定する表示データテーブル
（２７）はＮＣプログラム検査を行うときに、 ＮＣプ
ログラム検査手段（２３）を起動するための信号を論理
回路（２０）に人力するための検査スタートスイッチ。
（２８）は検査するＮＣプログラムが加工する被加工物
を入力するためのワークデータ設定スイッチ、（２９）
はワークデータ設定スイッチ（２Ｂ）を押圧してから設
定した被加工物のデータをもとにＣＲＴ表示手段（２１
）の画面にスケールを設定するためのスケール値を計算
するスケール設定手段である。なお、（３０）はサーボ
制御手段、 （３１）はサーボモータ駆動手段（３２）
はＮＣプログラムをＮＣプログラム解析手段（２４）に
よって解析されるだけにして、その解析結果により各サ
ーボモータ（７） （８） （４）が駆動されないよう
にし、かつ電源回路（１３）に電流が流れないようにす
るだめのマシンロックスイッチ、 （３３）は論理回路
（２０）によって設定されたＮＣプログラムにより放電
加りする場合、そのスタート信号を送るスタートスイッ
チで、このスタートスイッチ（３３）により加丁スター
ト信号を受けた論理回路（２ｏ）からの信号により、こ
の論理回路（２０）によって設定されたＮＣプログラム
をｌＩＣプログラム解析手段（２４）が解析する。
を入力するためのワークデータ設定スイッチ、（２９）
はワークデータ設定スイッチ（２Ｂ）を押圧してから設
定した被加工物のデータをもとにＣＲＴ表示手段（２１
）の画面にスケールを設定するためのスケール値を計算
するスケール設定手段である。なお、（３０）はサーボ
制御手段、 （３１）はサーボモータ駆動手段（３２）
はＮＣプログラムをＮＣプログラム解析手段（２４）に
よって解析されるだけにして、その解析結果により各サ
ーボモータ（７） （８） （４）が駆動されないよう
にし、かつ電源回路（１３）に電流が流れないようにす
るだめのマシンロックスイッチ、 （３３）は論理回路
（２０）によって設定されたＮＣプログラムにより放電
加りする場合、そのスタート信号を送るスタートスイッ
チで、このスタートスイッチ（３３）により加丁スター
ト信号を受けた論理回路（２ｏ）からの信号により、こ
の論理回路（２０）によって設定されたＮＣプログラム
をｌＩＣプログラム解析手段（２４）が解析する。
前記装置において、被加工物（２）を放電加工する場合
は、前述のようにスタートスイッチ（３３）を作動させ
ることにより、 ＮＣテープ（１８）にプログラムされ
た内容をＮＣプログラム解析手段（２４）が解析しプロ
グラムされた形状加工が周知の方法により行われる。
は、前述のようにスタートスイッチ（３３）を作動させ
ることにより、 ＮＣテープ（１８）にプログラムされ
た内容をＮＣプログラム解析手段（２４）が解析しプロ
グラムされた形状加工が周知の方法により行われる。
ところで、被加工物（２）の加工前に、 ＩＣテープ（
１８）内にプログラムされた内容が、目的とする形状加
工を行う内容であるか確認する必要性が往々にしである
。次に、前記装置におけるＮＣプログラムの検査方法に
ついて第２図〜第４図を用いて説明する。第２図は２加
工軌跡の描画範囲を指定する時に、 ＣＲＴ表示手段（
２１）に表示される図、第３図は、 ＮＣ７’ログラム
をＣＲＴ表示手段（２■）に描画させた一例図である。
１８）内にプログラムされた内容が、目的とする形状加
工を行う内容であるか確認する必要性が往々にしである
。次に、前記装置におけるＮＣプログラムの検査方法に
ついて第２図〜第４図を用いて説明する。第２図は２加
工軌跡の描画範囲を指定する時に、 ＣＲＴ表示手段（
２１）に表示される図、第３図は、 ＮＣ７’ログラム
をＣＲＴ表示手段（２■）に描画させた一例図である。
第２図及び第３図において、 （３４）は放電加工装置
のテーブルストローク枠、 （３５）は描画範囲枠、
（３６）はスケール設定手段（２９）により設定された
スケール値、 （３７）は表示領域の座標値（３８）は
加工開示地点、 （３９）は加工軌跡、 （４０）はＣ
ＲＴ表示手段（２１）に固定長さで表示されるスケール
基準表示である。
のテーブルストローク枠、 （３５）は描画範囲枠、
（３６）はスケール設定手段（２９）により設定された
スケール値、 （３７）は表示領域の座標値（３８）は
加工開示地点、 （３９）は加工軌跡、 （４０）はＣ
ＲＴ表示手段（２１）に固定長さで表示されるスケール
基準表示である。
ＮＣプログラムのＣＲＴ表示手段（２１）での検査は先
ず検査員は検査したいＮＣプログラムを論理回路（２０
）にセットする（第４図の２ｇ）。このセントの要領は
２例えばＮＣプログラムによってプログラムをセットし
たり、または記憶手段（２２）のｌｌＣプログラムを指
定したり、あるいはＣＲＴ表示手段（２１）に大力スイ
ｌチ（１９）によりＮＣプログラムを書いてセットする
というような多様の手段でセントできる。
ず検査員は検査したいＮＣプログラムを論理回路（２０
）にセットする（第４図の２ｇ）。このセントの要領は
２例えばＮＣプログラムによってプログラムをセットし
たり、または記憶手段（２２）のｌｌＣプログラムを指
定したり、あるいはＣＲＴ表示手段（２１）に大力スイ
ｌチ（１９）によりＮＣプログラムを書いてセットする
というような多様の手段でセントできる。
次に、検査員は描画範囲を論理回路（２０）にセットす
る（第４図の２ｂ）。このセット要領は２人力スイノチ
（１９）内の描画範囲キーを押圧すると、第２１図に示
す様に描画範囲枠（３４）が表示され１人力スイノチ（
１９）内のＥＥＩキー又は［１［［Ｉ ＩＦ Ｅ −１
−一により１描画範囲枠（３４〉を縮小拡大又はＬＦ左
右移動させた後１人カスイノチ（１９）内のインプット
キーを押圧してセットしたり、または第４図の２３で設
定されたＮＣプログラムを解析して自動的に加工形状全
体が表示できる。描画範囲をセットするというような多
様の手段でセットできる。このようにして肛プログラム
と描画範囲をセットしたあと１人カスイノチ（１９）内
の描画スタートキーを押圧すると、 ＮＣプログラムは
自動的に検査される（第４図の２Ｃ）。すなわち描画ス
タートキーを押圧すると、 ＣＲＴ表示手段（２１）に
スケール基準表示（４０）に相当するスケール値（３６
〉とＣＲＴ表示手段（２１）に表示領域の座標値（３７
）を表示する（第４図の２ｄ）。
る（第４図の２ｂ）。このセット要領は２人力スイノチ
（１９）内の描画範囲キーを押圧すると、第２１図に示
す様に描画範囲枠（３４）が表示され１人力スイノチ（
１９）内のＥＥＩキー又は［１［［Ｉ ＩＦ Ｅ −１
−一により１描画範囲枠（３４〉を縮小拡大又はＬＦ左
右移動させた後１人カスイノチ（１９）内のインプット
キーを押圧してセットしたり、または第４図の２３で設
定されたＮＣプログラムを解析して自動的に加工形状全
体が表示できる。描画範囲をセットするというような多
様の手段でセットできる。このようにして肛プログラム
と描画範囲をセットしたあと１人カスイノチ（１９）内
の描画スタートキーを押圧すると、 ＮＣプログラムは
自動的に検査される（第４図の２Ｃ）。すなわち描画ス
タートキーを押圧すると、 ＣＲＴ表示手段（２１）に
スケール基準表示（４０）に相当するスケール値（３６
〉とＣＲＴ表示手段（２１）に表示領域の座標値（３７
）を表示する（第４図の２ｄ）。
次にＮＣプログラム解析手段（２４）を起動し、１ブロ
ック分のＮＣプログラムの解析データを作成するこれを
、解析データテーブル（２５）にセットした後解析終了
の信号をＮＣプログラム検査手段（２３）に人力する（
第４図の２ｅ）。解析入力信号によりＮＣプログラム検
査手段（２３）が起動し、解析データからＣＲＴ表示手
段（２＋）［のデータを変換し２表示データテーブル（
２６）にデータをセットしてＣＲＴ表示手段（２１）を
起動させ（第４図の２ｆ）。ＣＲＴ表示手段（２１）に
ｌｌＣプログラムの加【軌跡を描画する（第４図の２ｇ
）。プログラムエンドになるまで第４図の２ｅ〜第４図
の２ｇを繰返し行う。
ック分のＮＣプログラムの解析データを作成するこれを
、解析データテーブル（２５）にセットした後解析終了
の信号をＮＣプログラム検査手段（２３）に人力する（
第４図の２ｅ）。解析入力信号によりＮＣプログラム検
査手段（２３）が起動し、解析データからＣＲＴ表示手
段（２＋）［のデータを変換し２表示データテーブル（
２６）にデータをセットしてＣＲＴ表示手段（２１）を
起動させ（第４図の２ｆ）。ＣＲＴ表示手段（２１）に
ｌｌＣプログラムの加【軌跡を描画する（第４図の２ｇ
）。プログラムエンドになるまで第４図の２ｅ〜第４図
の２ｇを繰返し行う。
従来のＮＣプログラムの加工軌跡の表示におけるスケー
ル表示は以上のように表示しているので。
ル表示は以上のように表示しているので。
スケール基準表示の長さが固定であり、それに伴うスケ
ール値は有効桁を全て表示するため、長さを直感的に認
識することは困難であった。また座標軸表示にスケール
目盛りの表示がなかったため形状寸法の認識も不的確に
しか判らなかった。
ール値は有効桁を全て表示するため、長さを直感的に認
識することは困難であった。また座標軸表示にスケール
目盛りの表示がなかったため形状寸法の認識も不的確に
しか判らなかった。
［目的］
この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、ＮＣプログラムをＣＲＴ表示手段で検査し、
加工軌跡を描画する際のスケール値の表示有効桁数の上
位１桁又は上位２桁を除く下位桁をＯとして表示するこ
とにより、ＮＣプログラムの加工軌跡の大きさや位置が
簡単・迅速かつ正確に検査できる数値制御装置のスケー
ル目盛り表示方法を得ることを目的とする。
たもので、ＮＣプログラムをＣＲＴ表示手段で検査し、
加工軌跡を描画する際のスケール値の表示有効桁数の上
位１桁又は上位２桁を除く下位桁をＯとして表示するこ
とにより、ＮＣプログラムの加工軌跡の大きさや位置が
簡単・迅速かつ正確に検査できる数値制御装置のスケー
ル目盛り表示方法を得ることを目的とする。
又、この発明はＮＣプログラムをＣＲＴ表示手段で検査
し、加工軌跡を描画する際、スケール目盛りを表示する
と共に、スケール目盛りのスケール値の表示有効桁数の
上位１桁又は上位２桁を除く下位桁を０として表示する
ことにより、 ＮＣプログラムの加工軌跡の大きさや位
置が簡単・迅速かつ正確に検査できる数値制御装置のス
ケール目盛り表示方法を得ることを目的とする。
し、加工軌跡を描画する際、スケール目盛りを表示する
と共に、スケール目盛りのスケール値の表示有効桁数の
上位１桁又は上位２桁を除く下位桁を０として表示する
ことにより、 ＮＣプログラムの加工軌跡の大きさや位
置が簡単・迅速かつ正確に検査できる数値制御装置のス
ケール目盛り表示方法を得ることを目的とする。
［発明の実施例］
以下、この発明の一実施例を図について説明する。
第５図はこの発明の一実施例に係るｆｆｃプログラムを
ＣＲＴ表示手段（２１）で検査する数値制御装置を示す
ブロック図で１図中第１図と同一符号は同一のものとし
、その説明を一部省略する。
ＣＲＴ表示手段（２１）で検査する数値制御装置を示す
ブロック図で１図中第１図と同一符号は同一のものとし
、その説明を一部省略する。
第５図において、 （４１）は論理回路（２０）によっ
て設定された描画範囲からもつとも最適なスケール値を
解析するスケール値解析手段である。
て設定された描画範囲からもつとも最適なスケール値を
解析するスケール値解析手段である。
次に動作について、第５図、第６図と第７図、第８図の
フローチャートを用いて説明する。第６図は、ＮＣプロ
グラムをＣＲＴ表示手段（２１）に描画させた図である
。
フローチャートを用いて説明する。第６図は、ＮＣプロ
グラムをＣＲＴ表示手段（２１）に描画させた図である
。
図において、（４０）は１目盛りのスケール、 （３６
）は１［盛り当たりのスケール値、 （４２）は基準点
、（４３）はスケール目盛り、 （３７）は座標値、
（３ｇ）は加工開始点、 （３９）は加工軌跡である。
）は１［盛り当たりのスケール値、 （４２）は基準点
、（４３）はスケール目盛り、 （３７）は座標値、
（３ｇ）は加工開始点、 （３９）は加工軌跡である。
ＮＣプログラムのＣＲＴ表示手段（２１〉での検査は、
検査員の検査したいＮＣプログラムを論理回路（２０）
にセットする（第７図のｌａ）。 このセット要領は従
来と同様に行う。
検査員の検査したいＮＣプログラムを論理回路（２０）
にセットする（第７図のｌａ）。 このセット要領は従
来と同様に行う。
次に描画範囲を論理回路（２０）にセットする（第７図
のＩｂ）。このセット要領も従来と同様に行うＮＣプロ
グラムと描画範囲をセット後２人力スイッチ（１９）内
の描写スタートキーを押圧する（第７図ＩＣ）と、 Ｎ
Ｃプログラムは自動的に検査される。すなわち、描画ス
タートキーが押圧されると、スケール値解析手段（４１
）が起動され、後述する計算方法によりスケール値の表
示有効桁の上位１桁を除く下位桁をＯとなるスケール値
を求める（第７図のＩｄ）。計算方法は、論理回路（２
０）にセットされた表示領域の最大座標から最小座標を
引き１表示スケール値を求める（第８図の１ｄ−１）。
のＩｂ）。このセット要領も従来と同様に行うＮＣプロ
グラムと描画範囲をセット後２人力スイッチ（１９）内
の描写スタートキーを押圧する（第７図ＩＣ）と、 Ｎ
Ｃプログラムは自動的に検査される。すなわち、描画ス
タートキーが押圧されると、スケール値解析手段（４１
）が起動され、後述する計算方法によりスケール値の表
示有効桁の上位１桁を除く下位桁をＯとなるスケール値
を求める（第７図のＩｄ）。計算方法は、論理回路（２
０）にセットされた表示領域の最大座標から最小座標を
引き１表示スケール値を求める（第８図の１ｄ−１）。
次に表示スケール値を表示領域のドツト数で割り、１ド
ツト当たりのスケール値を求める（第８図の１ｄ−２）
。次に１ドツト当たりのスケール値に基本Ｉ目盛りドツ
ト数をかけてＩＩＪ盛り当たりのスケール値を求める（
第８図の１ｄ−３）。 この基本１目盛りドツト数は表
示領域の大きさからあらかじめ最適な間隔のドツト数範
囲が記憶手段（２２）にセットされている。次に１目盛
り当たりのスケール値の表示有効桁の上位２桁目を４捨
５人した後上位１桁を除く下位桁をＯにする（第８図の
１ｄ−４）という手段である。
ツト当たりのスケール値を求める（第８図の１ｄ−２）
。次に１ドツト当たりのスケール値に基本Ｉ目盛りドツ
ト数をかけてＩＩＪ盛り当たりのスケール値を求める（
第８図の１ｄ−３）。 この基本１目盛りドツト数は表
示領域の大きさからあらかじめ最適な間隔のドツト数範
囲が記憶手段（２２）にセットされている。次に１目盛
り当たりのスケール値の表示有効桁の上位２桁目を４捨
５人した後上位１桁を除く下位桁をＯにする（第８図の
１ｄ−４）という手段である。
次に、第７図のＩｄ で求めたスケール値を基に１目
盛りのスケール（４０）と１目盛り当たりのスケール値
（３６）を表示すると共に、加工開始地点（３８）を基
準点（４２）としてスケール目盛り（４３）と座標値（
３７）を表示する。
盛りのスケール（４０）と１目盛り当たりのスケール値
（３６）を表示すると共に、加工開始地点（３８）を基
準点（４２）としてスケール目盛り（４３）と座標値（
３７）を表示する。
次に、第７図の２ｅ〜第７図の２ｇを従来と同じ手段で
プログラムエンドになるまで繰返し行う。
プログラムエンドになるまで繰返し行う。
なお、上記実施例では１目盛り当たりのスケール値を表
示有効桁数の上位１桁を除く下位桁を０としたが、１目
盛り当たりのスケール値を表示有効桁数の上位２桁を除
く下位桁をＯとしてもよいさらに、上位１桁を除く下位
桁をＯとする場合に上位１桁を１．２．５と判読し易い
数字のスケール値としてもよい。
示有効桁数の上位１桁を除く下位桁を０としたが、１目
盛り当たりのスケール値を表示有効桁数の上位２桁を除
く下位桁をＯとしてもよいさらに、上位１桁を除く下位
桁をＯとする場合に上位１桁を１．２．５と判読し易い
数字のスケール値としてもよい。
また、上記実施例では、スケール目盛りの座標値（３７
）を絶対座標表示としたが、第９図に示す様に基準点（
４２）を基に相対座標表示としてもよく。
）を絶対座標表示としたが、第９図に示す様に基準点（
４２）を基に相対座標表示としてもよく。
この座標表示を絶対座標にするか相対座標にするか選択
するようにしても上記実施例と同様の効果を奏する。
するようにしても上記実施例と同様の効果を奏する。
また、上記実施例では、スケール目盛りの基準点（４２
）を加工開始地点（３８）としたが、第１０図に示す様
に、加工軌跡のＸ、Ｙ軸の最小座標点を基準点とし、ス
ケール目盛り表示してもよく、この基準点を加工開始地
点とするかＸ、Ｙ軸の最小座標点とするかを選択するに
してもＥ記実流側と同様の効果を奏する。第１Ｏ図は最
小座標を基準点とした例である。
）を加工開始地点（３８）としたが、第１０図に示す様
に、加工軌跡のＸ、Ｙ軸の最小座標点を基準点とし、ス
ケール目盛り表示してもよく、この基準点を加工開始地
点とするかＸ、Ｙ軸の最小座標点とするかを選択するに
してもＥ記実流側と同様の効果を奏する。第１Ｏ図は最
小座標を基準点とした例である。
また、ｌ：記実流側では、 ＣＲＴ表示手段の場合につ
いて説明したが、液晶やプラズマ等のグラフィック表示
１号能な表示であってもよく、上記実施例と同様の効果
を奏する。
いて説明したが、液晶やプラズマ等のグラフィック表示
１号能な表示であってもよく、上記実施例と同様の効果
を奏する。
史に又、前記各実施例においては、工作機械として放電
加工装置を例に挙げて説明したが１例えばレーザ加ｆ装
置あるいは旋盤その他の機械加工装置にも適用できるこ
とは明らかである。
加工装置を例に挙げて説明したが１例えばレーザ加ｆ装
置あるいは旋盤その他の機械加工装置にも適用できるこ
とは明らかである。
以上のように、この発明によれば、加工軌跡に対するス
ケール値を前記表示手段に表示すると共に、スケール値
の表示有効桁数の上位１桁又は上位２桁を除く下位桁を
Ｏとして表示するので、加工軌跡の大きさや位置が分か
りやすく、かつ見易くなり、 ＮＣプログラムの表示装
置上での検査が筒中・迅速かつ正確にできる効果がある
。
ケール値を前記表示手段に表示すると共に、スケール値
の表示有効桁数の上位１桁又は上位２桁を除く下位桁を
Ｏとして表示するので、加工軌跡の大きさや位置が分か
りやすく、かつ見易くなり、 ＮＣプログラムの表示装
置上での検査が筒中・迅速かつ正確にできる効果がある
。
更に又、この発明によれば、加工軌跡に対するスケール
目盛りを表示すると共に、スケール目盛りのスケール値
の表示有効桁数のＬ位１桁叉は２桁を除くＦ位桁をＯと
してｆモ意の基準点を基に表示するように構成したので
、Ｌ記聞様の効果がある。
目盛りを表示すると共に、スケール目盛りのスケール値
の表示有効桁数のＬ位１桁叉は２桁を除くＦ位桁をＯと
してｆモ意の基準点を基に表示するように構成したので
、Ｌ記聞様の効果がある。
第１図は従来のＮＣプログラムをＣＲＴ表示手段で検査
する数値制御装置を用いた放電加工装置を示すブロック
図、第２図は従来の描画範囲を指定する時にＣＲＴ表示
手段に表示される図、第３図は従来のＮＣプログラムを
ＣＲＴ表示手段に描画した図、第４図は従来の上記ブロ
ック図中のプログラム制御動作を図示したフローチャー
ト図、第５図はこの発明の一実施例に係るＮＣプログラ
ムをＣＲＴ表示手段で検査する数値制御装置を用いた放
電加工装置を示すブロック図、第６図はこの発明の一実
施例によるＮＣプログラムをＣＲＴ表示手段に描画した
同第７図及び第８図は上記ブロック図中のプログラム制
御動作を図示したフローチャート図、第９図はこの発明
の一実施例のスケール目盛りの座標値を相対座標表示し
た例を示す図、第１Ｏ図はこの発明の一実施例のスケー
ル１■盛りの基準点を加工軌跡のＸ、Ｙ軸の最小座標点
とした例を示す図である。なお９図中同一または相当部
分には同一符号を付しである。 図中、 （２１）は表示手段、 （１８）はＮＣプ
ログラム。 （２４）はＮＣプログラム解析手段である。
する数値制御装置を用いた放電加工装置を示すブロック
図、第２図は従来の描画範囲を指定する時にＣＲＴ表示
手段に表示される図、第３図は従来のＮＣプログラムを
ＣＲＴ表示手段に描画した図、第４図は従来の上記ブロ
ック図中のプログラム制御動作を図示したフローチャー
ト図、第５図はこの発明の一実施例に係るＮＣプログラ
ムをＣＲＴ表示手段で検査する数値制御装置を用いた放
電加工装置を示すブロック図、第６図はこの発明の一実
施例によるＮＣプログラムをＣＲＴ表示手段に描画した
同第７図及び第８図は上記ブロック図中のプログラム制
御動作を図示したフローチャート図、第９図はこの発明
の一実施例のスケール目盛りの座標値を相対座標表示し
た例を示す図、第１Ｏ図はこの発明の一実施例のスケー
ル１■盛りの基準点を加工軌跡のＸ、Ｙ軸の最小座標点
とした例を示す図である。なお９図中同一または相当部
分には同一符号を付しである。 図中、 （２１）は表示手段、 （１８）はＮＣプ
ログラム。 （２４）はＮＣプログラム解析手段である。
Claims (7)
- （１）数値制御プログラムを解析して前記数値制御プロ
グラムに基づく加工軌跡を表示手段に表示する加工軌跡
の表示方法であって、前記加工軌跡に対するスケール値
を前記表示手段に表示すると共に、前記スケール値の表
示有効桁数の上位１桁又は上位２桁を除く下位桁を０と
して表示する加工軌跡の表示方法。 - （２）数値制御プログラムを解析して前記数値制御プロ
グラムに基づく加工軌跡を表示手段に表示する加工軌跡
の表示方法であって、前記加工軌跡に対するスケール目
盛りを表示すると共に前記スケール目盛りのスケール値
の表示有効桁数の上位１桁又は上位２桁を除く下位桁を
０として表示する加工軌跡の表示方法。 - （３）スケール目盛りの基準となる基準点を表示し、こ
の基準点を基にスケール目盛りを表示有効桁数の上位１
桁又は上位２桁を除く下位桁を０として表示することを
特徴とする特許請求の範囲第２項記載の加工軌跡の表示
方法。 - （４）スケール目盛りを基準点を基に絶対座標表示する
ことを特徴とする特許請求の範囲第３項記載の加工軌跡
の表示方法。 - （５）スケール目盛りを基準点を基に相対座標表示する
ことを特徴とする特許請求の範囲第３項記載の加工軌跡
の表示方法。 - （６）スケール目盛りの基準点を、表示手段の任意の位
置に設定できることを特徴とする特許請求の範囲第３項
記載の加工軌跡の表示方法。 - （７）数値制御プログラムを解析して前記数値制御プロ
グラムに基づく加工軌跡を表示手段に表示する加工軌跡
の表示方法であって、上記加工軌跡のプログラムを読み
込み、上記加工軌跡が上記表示手段に表示可能なスケー
ルを計算し、上記表示手段の選択されたドットを含むス
ケール目盛りを発生し、上記ドットの数とスケール目盛
りの大きさに応じて上記スケール目盛りのスケール値を
丸めた数字に制御することを特徴とする加工軌跡の表示
方法。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2030079A JPH03233705A (ja) | 1990-02-09 | 1990-02-09 | 加工軌跡の表示方法 |
| EP90122845A EP0440904A1 (en) | 1990-02-09 | 1990-11-29 | Method and apparatus for displaying scaled representations on a CRT or other display apparatus |
| KR1019910001311A KR940000363B1 (ko) | 1990-02-09 | 1991-01-26 | 스케일눈금 표시방법 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2030079A JPH03233705A (ja) | 1990-02-09 | 1990-02-09 | 加工軌跡の表示方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03233705A true JPH03233705A (ja) | 1991-10-17 |
Family
ID=12293792
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2030079A Pending JPH03233705A (ja) | 1990-02-09 | 1990-02-09 | 加工軌跡の表示方法 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0440904A1 (ja) |
| JP (1) | JPH03233705A (ja) |
| KR (1) | KR940000363B1 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1999058281A1 (fr) * | 1998-05-13 | 1999-11-18 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Appareil de commande numerique pour machine d'electroerosion |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2773517B2 (ja) * | 1992-02-27 | 1998-07-09 | 三菱電機株式会社 | プログラム表示装置 |
| KR100541116B1 (ko) * | 1998-12-31 | 2006-03-23 | 두산인프라코어 주식회사 | 와이어 방전 가공기에 있어서의 가공방법 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6115205A (ja) * | 1984-06-30 | 1986-01-23 | Fanuc Ltd | 数値制御装置用グラフイツクデイスプレイの描画方法 |
-
1990
- 1990-02-09 JP JP2030079A patent/JPH03233705A/ja active Pending
- 1990-11-29 EP EP90122845A patent/EP0440904A1/en not_active Withdrawn
-
1991
- 1991-01-26 KR KR1019910001311A patent/KR940000363B1/ko not_active IP Right Cessation
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1999058281A1 (fr) * | 1998-05-13 | 1999-11-18 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Appareil de commande numerique pour machine d'electroerosion |
| CN1108223C (zh) * | 1998-05-13 | 2003-05-14 | 三菱电机株式会社 | 导线放电加工机用数控装置 |
| US6721621B1 (en) | 1998-05-13 | 2004-04-13 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Numerical controller for wire electrical discharge machine |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR940000363B1 (ko) | 1994-01-19 |
| KR910021281A (ko) | 1991-12-20 |
| EP0440904A1 (en) | 1991-08-14 |
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