JPH03232282A - 半導体レーザ駆動装置 - Google Patents

半導体レーザ駆動装置

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JPH03232282A
JPH03232282A JP2802090A JP2802090A JPH03232282A JP H03232282 A JPH03232282 A JP H03232282A JP 2802090 A JP2802090 A JP 2802090A JP 2802090 A JP2802090 A JP 2802090A JP H03232282 A JPH03232282 A JP H03232282A
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Shinsuke Funaki
信介 舟木
On Biru
ビル オン
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本発明は半導体レーザ駆動装置に関し、特に、半導体レ
ーザによるレーザ光による発光エネルギーを調整するこ
とにより、例えば感材上に連続階調を得るための装置の
改善技術に関する。
〈従来の技術〉 従来から、半導体レーザ(レーザダイオード;LD)で
発生したレーザ光を、外部に設けた光変調器によって強
度変調して感光材を露光走査させるよう構成されたレー
ザプリンタ等が知られているが、前記外部変調器を用い
ず半導体レーザに供給する電流を直接制御することによ
り半導体レーザの光出力を制御し、感光材上に連続階調
(デイザ法による画像ではなく、1画素が濃淡情報をも
っているもの)を得る方法としては以下のようなものが
あった。
半導体レーザは、供給される電流と発生する光出力との
間に一定の特性を有するため、電流を要求階調骨だけ制
御すれば、外部変調器を用いることなく直接光出力を制
御でき、例えば256(2’)階調を得るためには電流
を256ステツプに分解できれば良い。
また、半導体レーザに供給する電流は一定として光出力
を一定とし、1画素クロックのパルス巾(1画素当たり
の発光時間)を可変制御することでも、外部変調器を用
いないで連続階調を得られる0例えば、1画素クロック
が300ns (最大露光時間)である場合、ins刻
みでlns〜300nsまでパルス巾を制御すれば、3
00ステツプの時間分解能が得られて、この300ステ
ツプの露光時間制御によって300の連続階調が得られ
る(特開昭56−152372号、特開昭61−580
68号公報等参照)。
尚、上記のように、1画素クロックのパルス巾を制御す
る場合には、上記のようなディジタル処理の他、アナロ
グ処理によってパルス巾を変えることも可能である。
更に、半導体レーザの電流源として、相互に異なる電流
値のものを複数個Nだけ備えるようにし、これらの電流
源をディジタル的に組み合わせて2Mレベルの光量レベ
ルを得るようにすることもできる(特開昭63−184
773号公報等参照)。
また、半導体レーザの光出力及び露光時間を共に変調す
ることによって、多段階の階調を得るよう構成された装
置もある(特開昭61−124921号公報参照)。
〈発明が解決しようとする課題〉 ところで、前述のように電流を要求階調数に応じて分解
制御して連続階調を得る構成では、例えば使用する半導
体レーザの出力特性が第35図に示すようなものであり
、光出力の使用範囲を0〜3mWとすると、光出力範囲
における電流差は14mAとなる。ここで、256ステ
ツプの階調を得たいとすると、14m^/256 = 
55μAの精度で電流を制御する必要があり、第36図
に示すようにディジタル入力画像データをD/Aコンバ
ータにより変換してアンプを介して半導体レーザ(LD
)に電流を供給する構成では、D/Aコンバータとして
高速でかつ高精度のものが必要となってコストアップを
招くと共に、必要な精度を確保することも困難であると
いう問題がある。
また、ディジタル処理によって1画、素クロックのパル
ス巾を可変制御する場合、パルス巾のみから充分な階調
を得ようとすると、パルス巾の刻み(単位増加時間)を
細かく設定する必要があり、例えば1024ステツプの
階調を得たいときに、1画素クロックが300nsであ
れば、パルス巾の刻みは300ns/1024=0.3
nsとなり、GHzオーダーの時間分解能が要求される
。このような時間分解能を通常の回路技術で実現させる
ことは困難であり、上記のようにパルス巾を可変制御す
る方法は画素クロックの要求周波数が低い(KHzオー
ダー)ときには有効であるが、高くなると実現性が低く
なってしまう。
また、上記のようなパルス巾の可変制御をアナログ的に
処理して行わせる場合、例えば画素クロックに同期した
三角波を発生させ、これと入力データのアナログ値とを
比較してパルス巾に変換すれば良く、この場合高周波パ
ルスを必要としないが、実現性が困難である正確なスロ
ープをもつ三角波を発生させることが必要となり、また
、精度の点でもディジタル処理に比べて劣ることになる
更に、電流源を複数備えて連続階調を得る方法では、例
えば1024(210)ステップの階調を得たいときに
は10個の電流源が必要となるため、回路が複雑となっ
てコストアップが避けられない。また、電流源を複数用
いる手法を用いている例えば特開昭63−184773
号公報に開示されるものでは、半導体レーザの光出力と
電流との特性を第37図のように仮定しているが、実際
には前記第35図に示したように半導体レーザが発振を
開始する境界電流(閾電流)以下(自然放射領域)では
光出力がほとんど変化しないのに対し、前記境界電流を
越える(レーザ発振領域)と光出力が急激に増加する特
性を有しているため、電流源数をNとした場合に2Nレ
ベルの光量レベルが得られるとは言えない。
また、例えば第38図に示すように、光出力が等間隔Δ
P0となるように、電流を分割(■。、■1゜・・・)
すると、非線型領域の■。、I+、Igは互いに等しく
なく、線型領域の■、〜■、は等しくなる。従って、通
常のD/Aコンバータ等に用いられる最小ビット数(L
SB)をAとして、次のビット数を2A、更に4A、 
 ・・・2N−IAとして、これらの単位ユニットを組
み合わせて2N通りの光出力を得る制?!It(光出力
と電流との関係が線型であると仮定した制?III)が
行えない。
即ち、第38図に示す例では、LSB=1.であるが、
入力データ2に対応する電流は1.+1.≠2■・であ
り、入力データ3に対応する電流は【。
+ 11+ I t≠3■。であり、更に、入力データ
4に対応する電流はIo+ I++ Iz+ Ix≠4
Toであるから、前述のようなA、2A、4A、  ・
・・2N−IAのN−1個の単位ユニットから2N通り
の光出力を確実に得ることができないものである。
また、半導体レーザの光出力及び露光時間を共に変調す
る構成の場合、例えば特開昭61−124921号公報
における実施例によると、入力ディジタルデータを、下
位ビットと上位ビットとに分割し、下位ビットでパルス
巾、上位ビットで光出力(供給電流)を制御するように
している。この場合、半導体レーザに流れる電流波形は
、第39図及び第40図に示すようになるが、光出力を
切り換えるときに実際に得られる濃度に単調性が保証さ
れるか否かが問題となる。
即ち、第39図及び第40図に示す例の場合、「P。
×最大時間t0(1画素時間)で得られる濃度≦P2×
最小時間Δtで得られる濃度」を安定して成立させるこ
とが、感材のばらつき、経時変化、プロセスの経時変化
、感材の相反則不軌特性等を考慮すると困難であり、濃
度の単調性が得られないと階調特性が悪化し、忠実な濃
度再現が行えなくなってしまう。
本発明は上記問題点に鑑みなされたものであり、濃度単
調性を保持でき、かつ、駆動電流の分解能を上げる必要
なく多階調の露光エネルギーを得られる半導体レーザ駆
動装置を提供することを目的とする。
〈課題を解決するための手段〉 そのため本発明では、半導体レーザによる発光エネルギ
ーを発光時間及び光出力を制御することによって多段階
に調整する半導体レーザ駆動装置であって、 所定発光エネルギーまでは半導体レーザによる光出力を
一定値に保持して発光時間を最大発光時間内で可変制御
することによって発光エネルギーを調整し、前記所定発
光エネルギー以上は発光時間を最大発光時間に固定し光
出力を前記一定値以上に増大制御することによって発光
エネルギーを調整するよう構成した。
ここで、バイアス光出力の増大制御により半導体レーザ
の光出力の増大制御を行うよう構成することができる。
また、半導体レーザの光出力の増大制御を、相互に並列
接続された複数の半導体レーザ用電流源を選択的に切り
換え制御することによって行うよう構成することもでき
る。
更に、半導体レーザの光路中に光出力減衰手段を介装し
、光出力を制御して発光エネルギーの調整を行うときに
供給電流の変化に対する光出力が線型となる領域で光出
力が制御されるよう構成することが好ましい。
〈作用〉 かかる構成の半導体レーザ駆動装置によると、必要とさ
れる発光エネルギーが所定未満であるときには、半導体
レーザ光出力を一定値に保持して発光時間を最大発光時
間(例えば1画素クロック)内で可変制御することで、
発光時間制御のステップに応じた種類の発光エネルギー
(感材を露光させる場合には階調)を得ることができ、
また、前記一定光出力の下に最大発光時間だけ発光させ
ても必要とされる発光エネルギーが得られないときには
、今度は発光時間を最大発光時間に固定し、代わりに光
出力を前記一定値以上に増大させることによってより大
きな発光エネルギーを得ることができ、このときには、
光出力の制御ステップに応じた種類の発光エネルギー(
感材を露光させる場合には階調)を得ることができ、結
果、発光時間制御時と光出力制御時とでそれぞれ制御さ
れた発光エネルギーのステップ数の合計として、最終的
な発光エネルギーの制御ステップが設定される。
ここで、光出力を制御するときには、発光時間を制御し
ているときに保持した光出力以上に増大させるから、発
光時間制御時と光出力制御とで得られる発光エネルギー
が重複することがない。
〈実施例〉 以下に本発明の詳細な説明する。尚、本実施例は、半導
体レーザに供給する電流を直接制御することにより露光
エネルギーを調整しつつレーザ光によって感材を露光走
査させて感材上に連続階調を得るよう構成されたレーザ
プリンタ等を前提とする。
まず、本発明にかかる半導体レーザ駆動装置の実施例を
説明する前に、半導体レーザで露光走査される感光材の
特性例を第4図に従って説明する。
第4図に示す線図は、縦軸が感光材のレーザ露光による
濃度D、横軸が供給電流制御パルス信号のパルス巾(露
光時間) Tw (ns)であり、半導体レーザの光出
力(m W )を変化させて、それぞれの光出力のとき
の特性を示しており、1画素の最大露光時間(1画素ク
ロック)は320nsとしである。
ここで、感光材のT特性(ガンマ特性)のため、ハイラ
イト(濃度0.4〜0.5)からシャドー(1,0〜1
.5)の最も階調ステップをもたせる必要のある部分で
、パルス巾Tw変化に対する濃度変化の傾きが急激にな
っている。また、半導体レーザの光出力を低くするとパ
ルス巾Twに対する濃度変化の傾きが緩くなるため、パ
ルス巾Twf#Jmによって精度良く濃度制御が行え、
パルス巾Twによる階調表現は容易になるが、光出力が
低い場合には1画素クロック分(320ns)だけ−杯
に露光させても最大濃度り、、、(1度1.6〜1.8
)が得られない。このため、最大濃度D□8を得ようと
して光出力を高めると、パルス巾Twに対する濃度変化
の傾きが急になるため、実際の階調に寄与できる部分が
少なく、パルス巾Twの刻み(分解能)をセブナノセカ
ンド以下にしないと必要な濃度分解能が得られない。
また、パルス巾Twを変調制御せずに、最大パルス巾(
320n+s)にて半導体レーザの光出力を変化させた
場合の特性を、第5図に示しである。
ここで、第4図と第5図とを比較参照してみると、例え
は半導体レーザの光出力を0.21として最初パルス巾
Tw制御を行い、最大パルス巾(1画素クロック分)と
なった時間(濃度1.5)で、光出力を増大させてより
高濃度を得られるよう制御することが好ましいことが分
かる。
即ち、第5図においてAの部分はパルス巾Tw制御、B
の部分は光出力制御とするものであり、この場合、第4
図におけるCのカーブ(光出力0.2mW)と第5図に
おけるDのカーブ(光出力0 、2n+W以上)とを合
成することになるため、濃度の単調性を確実に保証する
ことができ、また、パルス巾Tw制御によって階調を得
る第4図のCの部分は、パルス巾Twに対する濃度りの
立ち上がりが鈍いため、分解能を多く取ることが容易で
ある。、然も、光出力制御による分解能は、光出力制御
のみを行う場合に比べ、光出力制御による濃度制御範囲
が狭いので荒くて良く、駆動電流の分解能を上げる必要
もない。更に、上記の場合、濃度1.5までが最大パル
ス巾で得られれば良いから、パルス巾Tw制御時の光出
力を必要以上に上げる必要がなく、パルス巾Tw制御に
よる分解能を確保できると共に、パルス巾Tw制御によ
る分解能を確保するために最大濃度が得られなくなるこ
ともなく、パルス巾Tw@@のみによって濃度分解能を
上げ難い点と最大濃度が得られないという点も解決でき
る。
前述の例の場合、最大濃度最大濃度り、、、=1.8で
、パルス巾Tw制御と光出力制御との切り換えポイント
が1.5であるから、濃度差ΔD =1.8−1.5=
0.3が光出力制御による濃度制御範囲であり、例えば
濃度分解能を0.01とすれば、0.310.01=3
0ステツプの光出力分解能があれば良いことになる。
前記範囲の光出力変化は0.2→0.1raWであるか
ら、濃度1ステツプ当たりの光出力はリニアであると仮
定すると、lステップ当たり(0,7−0,2) /3
0 =0.016mWとなる。この0.016dに相当
する電流の刻み巾は、第35図に示す傾き特性が0.2
4d/mAであるとすると0.016niW 10゜2
4=67μAとなる。
一方、光出力制御(1流制御)のみで全濃度範囲(0,
1〜1.8)を、分解能0.01で分解しようとすると
、(1,8−0,1)10.01=170ステツプが必
要となり、この間の光出力は0.01→0.7−  で
あるから、濃度1ステツプ当たり(0,7−0,01)
/170 =0.004麟−の分解能を必要とし、これ
に相当する電流の刻み巾は、前述と同様にして算出する
と0.00410.24−17μ八となり、前述のよう
に濃度1.5以上の範囲を光出力制御により分解する場
合に比べ、約4倍の電流分解能が必要になってしまうと
共に、必要ステップ数も30(5ビツト)から170(
8ビツト)にアップしてD/Aコンバータのビット数が
多く必要となり、前述のように濃度1.5以上で光出力
制御させることが電流を分解能及びD/Aコンバータの
ビット数の点から有利であることが分かる。
ここで、上記の半導体レーザ駆動方法をまとめると、以
下のようになる。
即ち、第1段階(パルス中割?II)として、第6図に
示すように、一定の光出力の下にパルス中割?II(最
大発光時間内での発光時間制御)を行って、必要濃度の
増大に応じて最大パルス巾(1画素クロック;最大発光
時間)までの間単位パルス時間の分解能でパルス巾を増
大させる。そして1.前記一定光出力で最大パルス巾を
与えても所望の濃度(露光エネルギー)が得られないよ
うな画像データ領域のときには、第2段階(光出力制?
l1l)として、第7図に示すように、最大パルス巾(
1画素クロック)までパルス巾を増大させた後は、パル
ス巾を最大パルス巾(最大発光時間)とした状態で光出
力をステップ毎に増大させて最大濃度を得る。
以下に上記の駆動方式による半導体レーザの駆動装置を
より具体的に説明する。
まず、第1実施例として、パルス巾変調回路とこれに接
続された電流スイッチ及び可変バイアス電流源の組み合
わせによって構成される装置を説明する。即ち、この第
1実施例では、第8図及び第9図に示すように最大パル
ス巾まで達した後は、。
バイアス電流(バイアス光出力Pit)を増加させるこ
とによって半導体レーザの光出力を増大させるものであ
り、前記バイアス電流の最小値P 、l1in(最小レ
ーザパワーに相当する)は、感材が露光しない光出力と
なるように設定される。勿論、バイアス電流の最小値を
零としても良い。
第1図は、上記第1実施例にかかる半導体レーザ駆動装
置の回路構成を示すものであり、データラッチ回路2は
、ディジタル入力画像データDφ〜D8を一時ラッチす
るものであり、また、マイクロプロセッサ(MPU)1
は複数の入出力ボートを有し、第2図のフローチャート
に示すような制御手順に従ってレーザ光出力の制御を実
行する。
第2図のフローチャートに示す制御手順(制御プログラ
ム)は、予めマイクロプロセッサ1内部ROMに格納さ
れている。
D/Aコンバータ6は、光出力制′4B(輝度変調)の
ための電流値の増減に用いるものであり、D/Aコンバ
ータ6の出力は、後述するバイアス電流設定用のD/A
コンバータ4の出力と加算器43にて加算される。また
、引算器41は、パルス巾制御と光出力制御との切り換
え点を示すディジタル人力データを記憶した設定値40
と、入力ディジタルデータとの引き算を行い、この引算
器41による引き算結果と、マイクロプロセッサ1から
の信号(MPXSET、MPXRESET)とがMPX
45で切り換えられてD/Aコンバータ6に入力される
D/Aコンバータ3〜5は、マイクロプロセ・ンサ1の
出力ポートに接続され、マイクロプロセッサ1から出力
する電圧値を指示するディジタルデ−タをアナログ電圧
■2〜■4に変換する。
ここで、D/Aコンバータ3の出力は、D/Aコンバー
タ6のスパン制御用であり、D/Aコンバータ6の入力
ディジタルデータに対する出力電圧の傾きを制御する。
一方、加算器43において、D/Aコンバータ6の出力
と加算されるD/Aコンバータ4の出力は、オフセット
バイアス値を制御するものである。更に、D/Aコンバ
ータ5の出力によって後述するようにパルス巾変調され
る半導体レーザ20のレーザパワーを制御するようにし
である。
上記構成要素1.3〜5によって、後述する2つの電圧
・電流変換回路11.12にそれぞれ異なった電圧を印
加する電圧印加回路30を構成する。
A/Dコンバータ8は、マイクロプロセッサ1の入力ポ
ートに接続され、フォトダイオード21からの電圧■。
をディジタルデータに変換して、マイクロプロセッサ1
に送る。マイクロプロセッサlは、A/Dコンバータ8
からフォトダイオード21の出力に応じて送られるディ
ジタルデータに応じて後述するようにD/Aコンバータ
3〜5に出力するデータを調整制御する。
前記2つの電圧・電流変換回路11.12は、電圧値を
電流値に変換するものであり、それぞれ入力電圧端子V
i、出力電流端子io及び出力電圧の開閉(電流発生)
を制御する入力制御端子Diを有する。前記出力電流端
子Ioは相互に並列接続され、この並列接続端子に半導
体レーザ20が直列接続されており、半導体レーザ20
には、各電圧・電流変換回路11.12から出力される
電流の合計が供給される。
ジェネレータ部16は、画素クロック信号CLK(同期
信号)を16分割し、入力データD4〜D7に応じてパ
ルス中を16通り作り出し、キャンセル部17は、前記
ジェネレータ部16で得たパルス中をデイレイライン等
を用いて更に16分割し、このジェネレータ部16とキ
ャンセル部17とで2’ X2’=2@通りのパルス中
を作り出す。
デコーダ42は、入力ディジタルデータをデコードし、
半導体レーザ20の光出力を増大制御する所定以上の濃
度領域に相当するときには、ハイレベル信号をセレクト
部15に出力する。
また、セレクト部15は、電圧・電流変換回路12にパ
ルス巾変調信号を出力するか否かをデコーダ42の出力
に応じて制御する。即ち、デコーダ42の出力がローレ
ベルのときには、キャンセル部17からのパルス巾制御
信号を電圧・電流変換回路12に送る。デコーダ42の
出力がハイレベルのときは、キャンセル部17からの信
号とは無関係に常にハイレベルの信号を電圧・電流変換
回路12に送る。この他に、第42図の実施例に示すよ
うに、マイクロプロセンサ1からのLON信号により強
制的に出力をハイレベルにする機能を備えていネ。尚、
電圧・電流変換回路11は常時ONされるようにしであ
る。
引算器41は、前述のように、パルス巾変調(第1段階
)と光出力制御(第2段階)との切り換えポイントに相
当する入力画像データ (設定値40に記憶されており
、かかる入力画像データが制御切り換え点の所定発光エ
ネルギーに相当する。)を、入力ディジタルデータから
ディジタル的に引き算し、その結果をD/Aコンバータ
6へ出力する。
また、MPX45は、マイクロプロセッサ1による光出
力初期設定時におけるマイクロプロセッサ1からの出力
(MPXSET、MPXRESET)と、引算器41か
らの画像データとを切り換えてD/Aコンバータ6に出
力する。即ち、光出力設定時にはマイクロプロセッサ1
からの出力をD/Aコンバータ6に伝え、それ以外では
引算器41からのデータをD/Aコンバータ6に入力さ
せる。第41図はMPX45の具体例で、マイクロプロ
セッサ1からの制御信号MPXSETがハイで、D/A
コンバータ6への入力は強制的に最大となる。同じく、
MPXSET、MPXRESETがローで、D/Aコン
バータ6への入力は強制的に零にされる。また、MPX
SETがロー、MPXRESETがハイで、引算器41
からのデータをD/Aコンバータ6に伝えることになる
半導体レーザ20は、前述のように2つの電圧・電流変
換回路11.12の出力電流端子IOと論理和接続(ワ
イヤードオア接続)され、この半導体レーザ20の光出
力(輝度)は、フォトダイオード21によって検出され
る。フォトダイオード21の出力電圧は、前述のように
A’/Dコンバータ8でディジタル値に変換されてマイ
クロプロセッサ1に送られる。尚、抵抗R5は、フォト
ダイオード21のアノードとアースとの間に接続された
負荷抵抗であり、Vccは電源電圧を示す。
第3図は、第1図に示した2つの電圧・電流変換回路1
1.12の回路構成を示す。
第3図において、117及び118は演算増幅器(OP
アンプ) 、119〜121はトランジスタ、122は
否定回路としてのオープンコレクタ型のバッファIC,
R6〜RIO,R20−R23は抵抗である。
ここで、R6−R9の各抵抗の値を一定値RA、即ち、
R6=R7=R8=R9=RAとし、RIOの抵抗値を
、RA > R10とすれば、トランジスタ119のコ
レクタ電流101は下式のようになる。但し、Viは入
力電圧端子の電圧とする。
10、=Vi/RIO 入力制御端子Diがローレベルであるとすると、トラン
ジスタ120はON状態となり、前述のコレクタ電流1
01に略等しい電流がトランジスタ120のコレクター
エミッタ間に流れる。また、入力制御端子Diがハイレ
ベルであるとすると、トランジスタ120はOFF状態
となり、コレクタ電流■。。
に略等しい電流がトランジスタ121のコレクタエミッ
タ間に流れ、出力端子I。に電流が生ずる。
このように、入力制御端子Diのレベルにより、■。、
L:、Vi/RIOに相当する変換電流をON・0FF
H制御できるものであり、第3図に示す回路は入力制御
端子Diのレベルに応じてスイッチング動作可能な電圧
・を流変換回路となる。
尚、第3図において抵抗R20,R2L R22,R2
3は予め、R20#R21#R23、R22X Io+
= 1〜2■となるように抵抗値を選んである。また、
トランジスタ119〜121の電流増幅率及び演算増幅
器117、118の電圧増幅率は非常に大きいものとす
る。
次に第1図に示す回路の動作を説明する。
D/Aコンバータ3〜5は、マイクロプロセンサ1から
送られた電圧値を指示するディジタルデータをそれぞれ
アナログ電圧V2〜■、に変換する。このうち■2は、
対応する電圧・電流変換回路12の入力電圧端子Viに
入力される。また、D/Aコンバータ4は、マイクロプ
ロセッサ1から送られた電圧値を指示するディジタルデ
ータをアナログ電圧(バイアス電圧)■、に変換し、こ
のN 圧V3とD/Aコンバータ6の出力電圧V、との
和■、が加算器43を介して電圧・電流変換回路11の
入力端子端子Viに人力される。このように、電圧・電
流変換回路11.12に入力する電圧はそれぞれ個別に
制御され、また、これらの電圧・電流変換回路11.1
2の出力電流はそれぞれIm、Inとなるように設定さ
れる。
前記電圧・電流変換回路11.12の出力端子■。
は、第1図に示すように論理和接続されているので、半
導体レーザ20に供給される電流ILは以下のように各
電流の合計されたものとなる。
IL =I、l XS−+1.(Sφはゼロ又は1)電
圧・電流変換回路12の入力制御端子(スイッチング端
子)Diは、出力電流をON・OFF制御できるので、
前述の電流rot及び電流■、の式から、電流■1は下
式のようになる。
It = S φ・Vz / R10+ Vm / R
IOここで、Sφは電圧・電流変換回路12の人力制御
端子DiのON・OFF状態を表しており、入力制御端
子DiがハイレベルのときにはSφ=1であり、入力制
御端子DiがローレベルのときにはSφ=φとなり、入
力制御端子Diへの入力パルス信号に応じて電流ILが
制御される。ここで、電流・電圧変換回路11.12の
抵抗RIOの値は、電流・電圧変換回路11.12が駆
動できる最大電流を決定するので、11と12とで異な
る抵抗値となる場合がある。
ところで、本実施例における半導体レーザ20の電流・
光出力特性は、第10図に示されるものとし、また、光
量(光出力)モニター用のフォトダイオード21の光出
力P l+  P W+  P wrmxに対応するそ
れぞれの出力電圧を■□、■工、Vah*xHとする。
従って、例えば半導体レーザ20の出力光量がPlであ
るときには、フォトダイオード21から電圧■□が出力
されることになる。
また、前記データラッチ回路2に入力するデータDφ〜
D8は画像データで、Dφが最下位ビット(LSB)、
D8が最上位ビット(MSB)であり、この9ビツトデ
ータに基づき後述するようにパルス巾変調によって25
6(2’)階調、光出力変調によって32階調、合計2
88階調のレーザ光エネルギー調整を行う。
入力画像データDφ〜D8は、画素クロック信号CLK
 (同期信号)の立ち上がりエツジに同期して取り込ま
れる。この入力画像データをデータランチ回路2でラッ
チするのは、外部から送り込まれた入力画像データDφ
〜D8の相互の立ち上がりのずれを補償するためである
。また、マイクロプロセッサ1から出力されるLON信
号は、セレクト部15に入力され、LON信号がローレ
ベルであれば、電圧・電流変換回路12の入力制御端子
Diはハイレベルになる。即ち、半導体レーザ20に電
流・電圧変換回路12よりも電流が供給される。
次に、第2図のフローチャートを参照してマイクロプロ
セッサ1の制御動作と本実施例の作用について説明する
まず、レーザによる感材への露光(プリント動作)をす
る前、即ち、画像データを出力する前に、マイクロプロ
セッサ1はD/Aコンバータ3〜5の出力を0■にさせ
る一方、LON信号をハイレベルとして電圧・電流変換
回路12の入力制御端子Diをローレベルにする。更に
、MPX45にマイクロプロセッサ1側に切り換えてお
いて、マイクロプロセッサ1よりMPXRESET信号
を出力し、MPX45の出力をゼロとする。結果として
、D/Aコンバータ6の入力データが零となってD/A
コンバータ6の出力がOVとなるようにする(ステップ
31)。
このとき、電圧・電流変換回路11.12の入力電圧V
 z、 V m ハ、V z = V m = Oとな
るノテ、半導体レーザ20に流れる電流■1は零となる
続いて、D/Aコンバータ4の出力電圧V、のみを所定
値ずつ上昇させる(ステップ32)。
同時に、マイクロプロセンサlは、A/Dコンバータ8
を介してフォトダイオード21からの電圧V、4を監視
する。半導体レーザ20が発光すれば、フォトダイオー
ド21に電流が流れ、フォトダイオード21と抵抗R5
との接点にプラスの電圧V、4が生じるので、マイクロ
プロセッサ1はこの電圧VMを測定することによって、
半導体レーザ20のレーザ光量(光出力)を求めること
ができる。
マイクロプロセッサ1は、この電圧V、4を監視しなが
らD/Aコンバータ4の出力Vz(=Vs;V、=Q)
を徐々に上昇させる。電圧・電流変換回路11の入力制
御端子Diは常時ハイレベルであるので、このとき、1
.=Vl (V3)/RIOの電流が半導体レーザ20
に流れる。半導体レーザ20が第1O図の光出力特性に
従って発光し、その光出力を検出したフォトダイオード
21からの電圧■にが設定値■□に達すると、マイクロ
プロセッサ1はD/Aコンバータ4の出力電圧■3の上
昇制御を停止させる。従って、設定値VIIMは第10
図における光出力P8に相当するフォトダイオード21
の出力であるから、半導体レーザ20は光出力Pgを発
生していることになる。このとき半導体レーザ20に流
れる電流ILは、第10図のバイアス電流■8に相当す
る。
次にマイクロプロセッサ1は、電圧vtを光出力Pw相
当値に保持して!、を半導体レーザ20に供給した状態
で、LON信号をローレベルにする(ステップ34)。
このとき電圧・電流変換回路12の入力制御端子Dfに
セレクト部15よりハイレベル信号が入力され(Sφが
1となって)、電圧・電流変換回路12の出力端子I0
に電流が流れる状態となり、半導体レーザ20に流れる
電流ILは下式にようになる。
IL=Vz/R10+ Is (但し、I、=V、/R
IO)次にマイクロプロセッサ1は、A/Dコンバータ
8を介してフォトダイオード21から出力される電圧■
にを監視しながら、この電圧vNが予め定められた所定
値■1.l、1(光出力Pw相当値)に達するで、D/
Aコンバータ5の出力電圧■2を徐々に増大させる(ス
テップS5.ステップS6)。
電圧■イが前記所定値V工に達したときには、D/Aコ
ンバータ4から出力される先出カPI相当の電圧■3と
、D/Aコンバータ5がら出力される電圧■2との合計
によって所定値V工が得られたことになり、換言すれば
、D/Aコンバータ4によって光出力23分(電流■、
)を、更に、D/Aコンバータ5によってP、4−P、
分(電流風)の出力を制御していることになる。
次に、D/Aコンバータ4.5がら出力される電圧V、
、V、を、ステップ6までに得られた一定値に保持した
まま、D/Aコンバータ6への入力データを最大画像デ
ータの入力時と同一のデータに設定しくMPX45にマ
イクロプロセッサ1によりMPXSET信号を出力し、
MPX45の出力を最大画像データに設定し) 、D/
Aコンバータ3の出力電圧V4を徐々に上昇させて、電
圧V、1が光出力P。Xに相当する所定値V□、になっ
たところで出力電圧V4の上昇を停止させ、D/Aコン
バータ3の出力電圧■4を決定する(ステップS7.S
8.S9)。
以上のようにして、D/Aコンバータ3〜5の出力電圧
は、予め設定された半導体レーザ2oの光出力P、、P
、、P、、、(第10図参照)が得られる値に調整され
るので、半導体レーザ20の温度や特性バラツキによる
光出力の変動を防止し、常に安定した光出力を得ること
ができる。即ち、所定の光出力を得るために必要とされ
る電圧値(電流値)は予め設定できるが、温度変化や特
性バラツキがあると、初期設定した電圧では所望の光出
力を得られないことがあるので、フォトダイオード21
で半導体レーザ20の実際の光出力を監視して、実際に
所望の光出力が得られる電圧値を求めるようにしたもの
である。
次に、マイクロプロセッサ1は、LON信号をハイレベ
ルに、MPX45を引算器41側に設定しくステップ5
10)、画像データの読み込みとプリント動作を開始す
る(ステップ5ll)。このとき、Dφ〜D8の入力画
像データがデータラッチ回路2及びジェネレータ部16
.キャンセル部17.セレクト部15を通り、288ス
テツプの露光エネルギー(発光エネルギー)に変換され
る。本実施例では、パルス巾変調で256(2@)ステ
ップを得る構成となっており、残りの32ステップ分は
電流値制御によって露光エネルギーが調整され、上記パ
ルス変調と電流値制御(光量変調)とによって合計28
8ステツプの階調が得られるようにしである。
入力データDφ〜D8のうち、下位8ピントDφ〜D7
がパルス巾識別用に用いられ、入力画像データが256
を越えるまではパルス変調に基づいて入力画像データに
対応する階調を得て、256を越える画像データの人力
があると、後述するようにバイアス電流の増加を図るよ
うにしである。
次にジェネレータ部16について詳細に説明する。
ジェネレータ部16は、画素クロック信号CLK(同期
信号)を大まかに16分割する機能を有し、パルス巾認
識用の下位8ビツトの中の上位4■ツトD4〜D7に基
づいて16通りのパルス巾を作る。
第11図はこのジェネレータ部16の回路例を示し、ジ
ェネレータ部16はフリップフロップ回路51a〜51
f、4ビット2進ダウンカウンタ52.  NAND回
路53.NOR回路54等によって構成されている。
また、画素クロック信号CLKを16分割するために、
画素クロックCLKの16倍のクロック16×CKを用
いるようにしである。前記16倍のクロック16XcK
は、例えば画素クロックCLK (同期信号)を作るた
め16分周器(図示省略)を用いていれば、当然画素ク
ロックの16倍のクロック(高周波信号)が必要である
ため、これを用いることができるが、画素クロックCL
KLかないときには、第12図に示すようなPLL (
フェーズロックドループ)を用い、16倍のクロック1
6XCKを発生させることは容易である。或いは、画素
クロックCLKと16倍のクロック16XCKとの同期
関係(位相)を無視すれば、単独に画素クロックCLK
の16倍のクロックを発生させる水晶発振器を用いても
良い。
ジェネレータ部16は、第11図に示すように、4ビツ
ト2進ダウンカウンタ52によって画像入力データD4
〜D7をカウンタにロードし、ダウンカウント後のキャ
リーをフリツプフロップ51eに入力させると共に、第
13図に示すように、フリップフロップ回路51a〜5
1dとNAND回路53との組合わせによって分割パル
スout pisの立ち上がり制御信号Jinを作り、
また、前記フリップフロップ51eの出力と前記立ち上
がり制御信号Jinの否定論理和によって分割パルスo
ut pisの立ち下がり制御信号Kinを作る。第1
3図の例では、D7〜D4に「3」が入力された場合の
タイムチャートである。
そして、画像入力データD4〜D7の4ビツトで示され
るφ〜15の値にそれぞれ対応する第14図に示すよう
な16ステツプのパルス巾を得ることができるようにな
っており、例えばrD7.D6゜D5.D4Jが[φ、
  1. 1.  IJであるときには、画素クロック
CLKの2のパルス巾の分割パルスout pisが出
力される。ここで、分割後のパルス巾は、最小が1/1
6CL Kであって、この1/16CLK刻みに増大し
て最大がCL K (16/16CLK)そのままにな
る。尚、ジェネレータ部16におけるパルス巾分割は、
16分割に限定されるものでないことは明らかである。
次に、キャンセル部17の詳細を説明する。
第15図はキャンセル部17の回路例を示すものであり
、ジェネレータ部16で作られた最小を1/16 CL
Kとする16ステツプの分割パルスout pisを、
更にデイレイ・ライン61を用いて16分割に細分化し
、これによりパルス巾変調のステップ数を16×16 
= 256ステツプとする。従って、デイレイ・ライン
61の各タップ間の遅延時間は、1/16X1/16C
LK=1/256 CLKとなる。
デイレイ・ライン61は、ジェネレータ部16から分割
パルスout pis(基本パルス巾)と別に出力され
るτ丁パルス(高周波信号)を第16図に示すように1
6通り(tl−tl5)に遅延させるものであり、Da
ta 5electer62により入力画像データDφ
〜D3の値に応じてこの遅延パルスのt2〜t15の中
から1つを選択し、最終的には第17図に示すように、
ジェネレータ部16で作られた分割パルスout pi
sを更に16通りに細分化しており、入力の分割パルス
out pisをCL K/256の精度でキャンセル
(消去)することになる。第16図の例では、D3〜D
φに「2」が入力され、t3がデータセレクタ62によ
って選択された場合である。
即ち、キャンセル部17は、画像データDφ〜D3の値
に応じて選択した遅延パルスAと、τ丁パルスとの論理
和Bをとると共に、この論理和Bとジェネレータ部16
からのout pisとの論理積をとることによって、
out pisをCL K/256の精度で削ってou
t pisを更に細分化するものである。
このような方法によらず、例えば、第18図及び第19
図に示すように、デイレイライン出力と画素クロックC
LK又は基本パルス中信号(out pis)との論理
和OR又は論理積ANDをとる方法(特開昭56−15
2373号、特開昭63−296558号公報等参照)
では、基本パルスは必ず立ち上がり又は立ち下がりのエ
ツジが必要となるため、最小パルス巾又は最大パルス巾
でのデイレイラインを用いた細分化ができなくなり、そ
の部分で細分化されてパルス巾の飛躍が生じて画質の低
下を招くことがある。
例えば、本実施例のように、ジェネレータ部16での1
6分割段階で画像入力データD4〜D7が「1.1,1
.1」のとき、1画素クロック間連続してハイレベル信
号が出力されるため(第14図参照)、パルス巾のエツ
ジがない。従って、デイレイライン出力と画素クロック
CLK又は基本パルス巾信号とのOR又はANDをとる
方法では、パルスのデイレイができず、D4〜D7がr
l、1゜1.1」のときにはこれ以上に細分化できない
ことになってしまう。
つまり、画像入力データD4〜D7が「φ、φ2φ、φ
」〜rl、1,1.  φ」までであって1百素クロツ
クCLK中にパルスの立ち上がり又は立ち下がりがある
ときには、その中をデイレイラインのタップ数分だけ細
分化させることができるが、rl、1.1.IJのとき
には上記細分化が行えないため、ここで、パルス巾の変
化に飛躍が生じるものである。
逆に、D4〜D7が「φ、φ、φ、φ」のときに1画素
クロックCLK間ローレベルが出力されるとすれば、D
4〜D7がrl、  1. 1. 1.で15/16 
CL K間ハイレベルのパルスとなり、15/16のエ
ツジを用いてパルス巾を細分化できるが、今度は「φ、
φ、φ、φ」は1画素クロックCLK間においてローレ
ベルとなってパルスがない(エツジがない)ために、こ
こで細分化不能となる。
従って、この場合「φ、φ、φ、■」〜ri、i。
1.1」ではデイレイラインを用いて細分化できるが、
「φ、φ、φ、φ」ではできないため、やはり、パルス
巾変調に飛躍が生じる。
尚、前者の例を第20図(a)〜(d)に示してあり、
ここでは、説明を簡略化するために、基本パルス巾(ジ
ェネレータ部16から出力されるout pisが相当
する)を4種類(1/4CLK、2/4CLK、3/4
CLK、ICLK)とした。
一方、本実施例のようにしてパルス巾を細分化する方式
では、基本パルス巾(ジェネレータ部16における細分
化パルスout pls)を遅延させず、基本パルス巾
の最小分解能に相当する時間(本実施例では1/16c
LK)のパルス巾を遅延させることで上記のような不具
合を解消している。即ち、第21図に示すように、D4
〜D7が全て1でジェネレータ部16から出力される分
割パルスout pisが連続してハイレベルのもので
あっても、ジェネレータ部16から同時出力されるパル
ス信号τ丁とデイレイパルスとの論理和ORをとること
でデイレイラインのタップ数だけパルス巾を細分差でき
るものである。
本実施例では、第15図の遅延パルスBと基本パルス巾
out pisとの論理積ANDをとることにより、基
本パルス巾out plsを削って(消去して)いたが
、前述の説明から明らかなように、第22図に示すハー
ドウェア構成に基づき第23図に示すように、遅延パル
スBと基本パルス巾out pisとのOR(論理和)
をとってパルス巾を増やすようにしても良い、この場合
は、第14図に示す例とは逆に、ジェネレータ部16の
出力out plsは、D4〜D7が「φ、φ、φ、φ
」であるときに1画素クロックCLK間でローレベルと
なり、rl、1゜1、■」で15/16CL Kの場合
に適用できる。
尚、上記の例では、いずれも基本パルス巾outpls
O後縁(立ち下がり)を増減させてパルス巾を変化させ
るよう構成したが、前縁(立ち上がり)で同様のことを
行っても良いのは明らかである。
以上で、ジェネレータ部16で16分割されたパルス巾
out pisが、キャンセル部17で更に16分割さ
れて256ステツプのパルス巾変調が行われることを説
明した。
次にセレクト部15について説明する。セレクト部15
では、キャンセル部17からのパルス巾変調信号を、入
力画像データがパルス巾変調領域に相当する間はSφと
してそのまま出力し、電圧・電流変換回路12を介して
半導体レーザ20をP。の光出力でパルス巾変調を行う
。パルス巾を最大パルスとしても必要とする露光エネル
ギーが得られないような画像データが入力されると、デ
コーダ42の出力がハイレベルとなり、1画素時間中S
φはハイレベルとなり、電圧・電流変換回路12は最大
パルス中の時間(1画素時間)半導体レーザ20に電流
1.を流す。
また、入力画像データと設定値(パルス巾変調と光出力
変調との切り換えタイミングに相当する入力画像データ
)との引き算データが、MPX45を介してD/Aコン
バータ6に入力される。従って、入力画像データに応じ
てバイアス電流I、が増減することになる。このとき、
I7は常にONとなり、結果、第9図に示すように、光
出力はP。
からPl、の間を入力画像データに応して可変制御され
る。
尚、上記のようにして光出力を制御するときには、露光
時間は1画素時間一定となる。上記例では、バイアス電
流Isを常に半導体レーザ20に印加しているが、バイ
アス電流I、を零としてこの電流分■、をパルス巾変調
時の電流1wに吸収させるようにしても良い。即ち、第
10図のL+I。
を新しい1.とじ、電圧・電流変換回路12により半導
体レーザ20に供給する。光出力変調時には、電圧・電
流変調回路11と12との加算された電流が半導体レー
ザ20に供給される。
以上の例では、ジェネレータ部16.キャンセル部17
.セレクト部I5に2のべき乗の状態を割り振っている
が、必ずしもこれに限定されるものではない。例えば、
キャンセル部17で6段階、ジェネレータ部16で13
段階とすると、6<23=8.13<2’=16となる
からそれぞれに3ビツトと4ビツトとのデータを与える
ようにすれば良い。この場合、第24図に示すように、
ROM等で構成した変換テーブル(LUT)を用意し、
入力画像データDφ〜D6をDφ′〜D6’に変換する
。即ち、第25図に示すように、入力画像データをこの
場合は6進数(キャンセル部17)とその上位は12進
数(ジェネレータ部16)に相当するピッチで変換デー
タが増加するようにすれば良い。
また、バイアス電流I、用の電圧・電流変換回路11の
入力制御端子DiをVccではなく、Dφ〜D8の論理
和を入力させるようにして、入力画像データが全て「φ
」であるときには、バイアス電流■、をオフするように
しても良い。
上記の第1実施例によると、パルス巾変調による階調と
光出力変調による階調との合計として最終的な階調数が
決定されるから、一方のみを変調して同じ階調数を得る
場合に比べ、パルス巾又は光出力の制御単位を細かくす
る必要がない。また、パルス巾変調を行うときに一定値
に保持される光出力よりも大きな範囲で光出力変調を行
わせるから、濃度の単調性が確保できる。
上記第1実施例では、第1図に示すように、バイアス電
流用の電圧・電流変換回路11を別途備えるようにした
が、バイアスが零の場合には、第26図に示す第2実施
例のように、電圧・電流変換回路11.12を統合し、
電圧・電流変換回路12のみの構成とすることもできる
。尚、前記第26図において第1図と同一要素には同一
符号を付しである。
第26図に示す回路構成では、第1図の構成に対して、
電圧・電流変換回路11が省略されると共に、バイアス
電流制御用のD/Aコンバータ4が省略され、光出力制
御用のD/Aコンバータ5の出力電圧V2をD/Aコン
バータ4の出力電圧■、の代わりに加算器43に入力さ
せ、加算器43の出力電圧V、を電圧・電流変換回路1
2のvi端子に入力させている。
かかる構成において、パルス巾変調によって階調を得る
入力画像データ領域(第1段階)では、電圧・電流変換
回路12の入力制御端子Diにパルス巾変調信号をセレ
クト部15から出力させ、光出力はD/Aコンバータ5
により第27図に示すようにPwに固定され、かかる一
定光出力P。を保持して人力画像データに応じたパルス
巾(発光時間=露光時間)変調が行われる。また、前記
光出力P、で1画素クロック間発光させても、入力画像
データに応じた露光エネルギー(濃度)が得られないと
きには、第2段階として、第28図に示すようにD/A
コンバータ6を介して半導体レーザ20の光出力をP。
からP wax  まで増減する。
更に、第10図に示す光出力変調領域で、電流変化に対
する光出力変化が線型であるときには、特開昭63−1
84773号公報又は本出願人が先に出願した特願平1
−55145号に示されるように、複数の電圧・電流変
換回路を所定の重み付けに基づいて組み合わせて用いる
ことで、光出力変調を行うようにすることもできる。即
ち、相互に並列接続された複数(Nコ)の電圧・電流変
換回路を備え、これらの電圧・電流変換回路の組み合わ
せである2N通りの光出力変調を、パルス巾変調後の第
2段階で行わせるものであり、かかる第3実施例の回路
構成を第29図に示しである。尚、第29図において第
1図と同一要素には同一符号を付しである。
前記第29図に示す回路構成において、電圧・電流変換
回路9には、セレクト部15からのパルス巾変調信号S
φが入力され、パルス巾変調を行うものであり、第1図
に示す第1実施例と異なる部分は、第2段階の光出力変
調部分であり、10〜12の各電圧・電流変換回路によ
って23=8通りの光出力が得られるようになっている
従って、第1段階のパルス巾変調については上記第1実
施例と同一であるが、第2段階の光出力変調では、第1
段階と第2段階との切り換えポイントに相当する画像デ
ータ(設定値40に記憶されている)の数値を入力画像
データから引き算した結果を、電圧・電流変換回路10
〜12にそれぞれ出力する。尚、電圧・電流変換回路1
0〜12にそれぞれ出力される引き算結果は、図中に示
すように、AφをLSB、A2をMSBとしである。
第29図に示す第3実施例では、前記設定値40に記憶
されている切り換えポイントに相当する画像データがF
FHで、最大入力値が255+ 23−1 =262と
なる。例えば、入力画像データが260である場合、A
φ〜A2は第30図に示すようにrl、0゜I J =
 5 =260−255が出力される。
ここで、例えば第31図に示すような半導体レーザ20
の特性において、Plがバイアス光出力、P。
P、がパルス巾変調時の一定光出力、P mmxPwが
光出力変調領域とすると、光出力変調は3つの電圧・電
流変換回路10〜12で行うが、電圧・電流変換回路1
2が(P、、、−P、)/8を、電圧・電流変換回路1
1が(P、、、−P、)/4を、電圧・電流変換回路1
0が(P、、、−PW)/2の光出力を出力できる電流
を半導体レーザ20に出力できるものとすると、人力画
像データと光出力との関係は第30図に示すようになる
また、第29図におけるAdjust回路46は、マイ
クロプロセッサ1にて各D/Aコンバータ3〜6を初期
設定するときに、半導体レーザ20を強制的に点灯させ
るために使用されるものであり、第32図に示すような
回路構成としである。
上記D/Aコンバータ3〜6の初期設定プログラムを、
第33図のフローチャートに示しである。
前記第33図に示すフローチャートは、基本的に第2図
のフローチャートと同様であるが、設定すべきD/Aコ
ンバータが増加した分だけ、処理ステップが増えている
。尚、第33図のフローチャートに示すプログラムにお
いて、例えばS22において電圧v14ト比較されるV
lllN+ L<twallg−pw)isにおける■
?(P+es寛−Pw)/lは先出カフ (P、−pw
)/8に相当する電圧を示すものである。
ところで、光出力を変調する領域が、第34図に示すよ
うに半導体レーザ20の線型領域でない場合には、電流
加算による光出力変調では、前述のように所望の階調を
得ることができなくなるため、この場合には、光路中に
光量減衰手段としての減衰器を介装し、光学系の効率を
低下させることで、半導体レーザ20の光出力制御範囲
を全体にアップさせ、線型領域で光出力変調を行わせる
ようにすることができる。
第34図に示すように、使用領域に初期設定した領域が
非線型領域である場合、光出力の変調切り換えポイント
であるP。−0,1mWを0.51以上の線型領域に移
動させるには、0.110.5 =20%以下の透過率
をもつ減衰器(フィルタ)を光路中に介装することで、
減衰器を介装させない場合と同様な露光エネルギーを確
保するためにP。を0.5mW以上に移行させることが
できる。これにより、光出力変調を、半導体レーザ20
の線型領域で行わせ、所望の階調が得られるようになる
〈発明の効果〉 以上説明したように本発明によると、発光時間(供給電
流パルス)変調と光出力変調とによってそれぞれ半導体
レーザの発光エネルギー(階調)を多段階に調整し、そ
れぞれの変調によって得られる合計として最終的な調整
ステップを得るよう構成したので、光出力制御のみによ
って発光エネルギーを調整する場合に比べ、高精度なり
/Aコンバータ等を必要とすることがなくコスト低下を
図れる一方、発光時間変調のみによって発光エネルギー
を調整する場合のように調整単位時間を細かく設定する
必要がなくなる。また、発光時間制御時には一定光出力
とし、光出力を制御するときには前記一定光出力以上に
光出力を増大制御するようにしたので、個々の発光エネ
ルギー調整の独自性(濃度の単調性)が確保され、レー
ザプリンタに適用された場合には忠実な濃度再現が行え
るようになる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の第1実施例におけるシステム全体を示
す回路図、第2図は同上実施例における制御内容を示す
フローチャート、第3図は第1図示の電圧・電流変換回
路の回路構成例を示す回路図、第4図は同上実施例にお
ける半導体レーザに対する電流供給時間(パルス巾)と
感材上に得られる濃度との関係を示す線図、第5図は半
導体レーザの光出力と濃度との関係を示す線図、第6図
及び第7図はそれぞれ本発明にかかる半導体レーザ駆動
装置における基本的な制御特性を示す線図、第8図及び
第9図はそれぞれ同上第1実施例における制御特性を示
す線図、第10図は同上第1実施例における制御特性を
電流と光出力との関係で示す線図、第11図は第1図示
のジェネレータ部の回路例を示す回路図、第12図は同
上第1実施例で用いることが可能なPLLの回路例を示
すブロック図、第13図は第11図示のジェネレータ部
の制御特性を示すタイムチャート、第14図は第13図
示の制御特性における入力データと変換結果とを示す対
照図、第15図は第1図示のキャンセル部の回路例を示
す回路図、第16図は第15図示のキャンセル部におけ
る制御特性を示すタイムチャート、第17図は第16図
示の制御特性をおける入力データと変換結果とを示す対
照図、第18図はパルス巾分割装置の他の例を示す回路
図、第19図は第18図示の回路による制御特性を示す
タイムチャート、第20図(a)〜(d)はそれぞれ第
1実施例と対比されるパルス分割装置における問題点を
説明するためのタイムチャート、第21図は第1実施例
におけるパルス巾分割特性を示すタイムチャート、第2
2図は第1図示のキャンセル回路の他の回路例を示す回
路図、第23図は第22図示の回路における入力データ
と変換結果とを示す対照図、第24図は第1図示の回路
構成における入力データのビット数を変えた実施例を示
すブロック図、第25図は第24図示の変換テーブルを
示す対照図、第26図は本発明の第2実施例におけるシ
ステム全体を示す回路図、第27図及び第28図はそれ
ぞれ同上第2実施例における制御特性を示す線図、第2
9図は本発明の第3実施例におけるシステム全体を示す
回路図、第30図は同上第3実施例における入力データ
と光出力値との関係を示す対照図、第31図は第30図
示の対照関係における光出力制御の特性を電流と光出力
との関係で示す線図、第32図は第29図示のAjus
t回路の回路構成を示す回路図、第33図は同上第3実
施例における制御内容を示すフローチャート、第34図
は光出力制御範囲と半導体レーザの線型・非線型領域と
の関係を示す線図、第35図は半導体レーザにおける電
流と光出力との関係を温度別に示す線図、第36図は従
来の半導体レーザ駆動装置の一例を示すブロック図、第
37図は従来の駆動装置における問題点を説明するため
の半導体レーザ特性図、第38図は半導体レーザの線型
・非線型領域の特性を示す線図、第39図及び第40図
はそれぞれ発光時間制御と光出力制御とを共に行う従来
装置における問題点を説明するための線図、第41図は
第1図示のMPXの具体例を示す回路図、第42図は第
1図示のセレクト部の具体例を示す回路図である。 1・・・マイクロプロセッサ  2・・・データラッチ
3〜6・・・D/Aコンバータ  8・・・A/Dコン
バータ  11.12・・・電圧・電流変換回路  1
5・・・セレクト部  16・・・ジェネレータ部  
17・・・キャンセル部  20・・・半導体レーザ 
 21・・・フォトダイオード  40・・・設定値 
 41・・・引算器  42・・・デコーダ  43・
・・加算器  45・・・MPX第14図 第22rI!J 第32図 41 第34図 第35図 第36図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 (1)半導体レーザによる発光エネルギーを発光時間及
    び光出力を制御することによって多段階に調整する半導
    体レーザ駆動装置であって、 所定発光エネルギーまでは半導体レーザによる光出力を
    一定値に保持して発光時間を最大発光時間内で可変制御
    することによって発光エネルギーを調整し、前記所定発
    光エネルギー以上は発光時間を最大発光時間に固定し光
    出力を前記一定値以上に増大制御することによって発光
    エネルギーを調整するよう構成したことを特徴とする半
    導体レーザ駆動装置。(2)請求項1記載の半導体レー
    ザ駆動装置において、バイアス光出力の増大制御により
    半導体レーザの光出力の増大制御を行うよう構成したこ
    とを特徴とする半導体レーザ駆動装置。 (3)請求項1記載の半導体レーザ駆動装置において、
    半導体レーザの光出力の増大制御を、相互に並列接続さ
    れた複数の半導体レーザ用電流源を選択的に切り換え制
    御することによって行うよう構成したことを特徴とする
    半導体レーザ駆動装置。 (4)半導体レーザの光路中に光出力減衰手段を介装し
    、光出力を制御して発光エネルギーの調整を行うときに
    供給電流の変化に対する光出力が線型となる領域で光出
    力が制御されるよう構成したことを特徴とする請求項1
    、2又は3のいずれかに記載の半導体レーザ駆動装置。
JP2802090A 1989-03-09 1990-02-07 半導体レーザ駆動装置 Pending JPH03232282A (ja)

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JP2802090A JPH03232282A (ja) 1990-02-07 1990-02-07 半導体レーザ駆動装置
EP19900104366 EP0386741A3 (en) 1989-03-09 1990-03-07 Semiconductor laser driving apparatus
US07/490,057 US4998257A (en) 1989-03-09 1990-03-07 Semiconductor laser driving apparatus

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014086426A (ja) * 2012-10-19 2014-05-12 Nippon Seiki Co Ltd レーザー出力制御装置及びレーザー走査型表示装置
JP2017068270A (ja) * 2016-10-31 2017-04-06 セイコーエプソン株式会社 表示装置及び表示装置の制御方法

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JP2014086426A (ja) * 2012-10-19 2014-05-12 Nippon Seiki Co Ltd レーザー出力制御装置及びレーザー走査型表示装置
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