JPH03159148A - 位置決め装置及びこの位置決め装置を利用したｉｃ試験装置 - Google Patents

位置決め装置及びこの位置決め装置を利用したｉｃ試験装置

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JPH03159148A
JPH03159148A JP1298648A JP29864889A JPH03159148A JP H03159148 A JPH03159148 A JP H03159148A JP 1298648 A JP1298648 A JP 1298648A JP 29864889 A JP29864889 A JP 29864889A JP H03159148 A JPH03159148 A JP H03159148A
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Masakazu Ando
正和 安東
Shigenori Kono
河野　重徳
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 この発明は例えば面実装型ＩＣを試験するＩＣ試験装置
に利用して好適な位置決め装置及びこの位置決め装置を
用いたＩＣ試験装置に関する。
「従来の技術」 ＩＣの形式をプリント基板への実装形式に関して分類す
るとデイツプ型と、面実装型とに分けることができる。
面実装型ＩＣはその端子の構造からＩＣ試験装置の試験
用ソケットの位置に被試験ＩＣを搬送する状態において
ＩＣをガイドレールに跨がせて搬送することができない
。このため面実装型ＩＣは空気の吸引力を利用した吸着
手段に吸着させ、この吸着手段を移動させて試験用ソケ
ットの位置に破滅ＭＩＣを搬送し、ソケットに装着させ
る方法が採られている。
ところでＩＣを自動的に試験用ソケットの位置に搬送し
、また試験が終わったＩＣを試験用ソケットから取り外
し、良品と不良品に仕分けして収納部に搬送することを
自動的に実行する部分をオートハンドラと称し、オート
ハンドラによって搬送されて来る破滅ＭＩＣを試験用ソ
ケットに受けて被試験ＩＣの各端子を試験装置本体に電
気的に接続する部分をテス・トヘッドと称している。
第８図にその配置の一例を示す。図中１０はオートハン
ドラ、２０はテストヘッド、３０は試験装置本体を示す
。
オートハンドラＩＯには被試験ｒＣを所望の温度に加熱
または冷却することができる恒温槽と、被試験ＩＣを収
納しておく収納部及び試験が終了して良品と不良品に仕
分けして収納する収納部と、収納部から取り出した被試
験ＩＣを恒温槽に運ぶ搬送装置と、恒温槽で所定の温度
に達したＩＣをテストへフド２０の上部位置まで運ぶ搬
送装置と、この搬送装置で搬送されて来た被試験ＩＣを
テストヘッド２０の上部に設けた試験用ソケットに装着
し、試験が終了したＩＣを試験用ソケットから取り外す
動作を行う搬送装置と、この搬送装置で試験用ソケット
から取り外したＩｃを良品と不良品の収納部に搬送する
搬送装置とを具備している。
テストヘッド２０は上部に試験用ソケットを具備し、こ
の試験用ソケットがケーブル２１を通じて試験装置本体
３０に接続される。
［発明が解決しようとする課題」 オートハンドラｌＯは機械装置である。これに対しテス
トヘッド２０は純粋な電気側路装置である。このためオ
ートハンドラ１０とテストヘッド２０は別々に作られて
共通のフレーム１１によって合体されて設置される。
然るにオートハンドラ１０の搬送装置がテストヘッド２
０に設けた試験用ソケットにＩＣを装着する場合の位置
精度はミクロン単位の精度で位置決めする必要がある。
つまり第５図に示すようにテストヘッド２０の上面には
パフォーマンスポード２２が設けられ、パフォーマンス
ポード２２の中央に試験用ソケット２３が設けられる。
試験用ソケット２３の上部にはオートハンドラＩＯの搬
送装置１３が横動自在に設けられる。つ士りＸ軸方向に
搬送用レール１２が架設され、この搬送用レール１２に
＋ｃＢ送装置１３が可動自在に支持される。
ＩＣ搬送装置１３の下部にはエアチャックのような吸着
装置１３Ａが設けられ、吸着装置１３Ａの上部に昇降装
置１３Ｂが設けられる。第１！！送装置１６によって運
ばれて来た被試験ＩＣ４０は吸着装置１３Ａに吸着され
て第１搬送装置１６がら試験用ソケット２３の上部に移
動され、試験用ソケット２３に装着される。昇降装置１
３Ｂが作動して試験が終わったＩＣは試験用ソケット２
３から取り外されて第２搬送装置１７に移動される。
第１搬送装置１６と第２搬送装置１７はそれぞし直線レ
ール１６Ａ、１７Ａと、この直線レール１６Ａ、１７Ａ
に案内されて移動する移動台１６Ｂ、４７Ｂとによって
構成され、第１Ｂ送装置は恒温槽から被試験ＩＣ４０を
テストヘッド２０の上部まで運ぶ動作を行う。また第２
′ｖ！ｉ送装置１７は試験が終了したＩＣを収納部に戻
す動作を行う。
ここで第１ｍ送装置１６に乗せられて来た被試験ＴＣ４
０を搬送装置１３は吸着装置１３Ａを降下させて吸着し
、その後吸着装置１３Ａを上昇させてＸ軸方向に移動し
、試験用ソケット２３の上部で停止して吸着装置１３Ａ
を降下させ、被試験ＩＣ４０を試験用ソケット２３に装
着する。
このとき、被試験ＩＣ４０の端子を試験用ソケットの所
定のコンタクトに接触させなくてはならない。このため
に搬送装置１３によって運ばれて来た被試験ＩＣ４０と
試験用ソケットとの間の位置が正確に合致していなくて
はならない。
試験用ソケット２３の上に運ばれた状態にある被試験Ｉ
Ｃ４０の位置と、試験用ソケット２３の位置との間の位
置ズレは第６図及び第７図に示すような形態が考えられ
る。つまり、第６図に示したように被試験ＩＣ４０がＸ
軸方向またはＹ軸方向のそれぞれの方向に平行にズして
いる状態と、第７図に示すようにＸ軸及びＹ軸方向の双
方に複合して回転ズレを生じている状態が考えられる。
第６図に示した位置ズレはＸ軸方向への位置ズレは搬送
装置１３の停止位置を調整すれば位置合わせすることが
できる。
またＹ軸方向への位置ズレは第１［送手段１６の停止位
置を調整すれば位置合わせすることができる。
更にＸ軸方向とＹ軸方向の双方に位置ズレしても各軸に
対して平行した位置ズレであれば搬送装置１３と第１搬
送手段１６の停止位置を調整して位置合わせすることが
できる。
しかしながら第７図に示すように回転を伴う位置ズレは
搬送装置１３及び第１搬送手段１６の停止位置を調整し
ても位置合わせすることはできない。
従って、このような場合はテストヘッド２０の取付位置
を調整しなければならないが、テストヘッド２０の重量
は大きいため、その位置合わせ作業はむずかしいことと
されている。
「課題を解決するための手段」 この出願の第１発明では、 互いに直交する二つの面を持ち、この二つの面によって
第１直交座標を規定する第１カムと、この第１カムの互
いに直交する二つの面と対向する二つの直交する面を持
ち、第１カムが規定する第１直交座標に対して座標軸が
任意の角度に変換した向きに装着されて第２直交座標を
規定する第２カムと、 これら第１カムと第２カムのカム面によって囲まれた空
間に配置され、第１カムのカム面と第２カムのカム面に
当接されて第１直交座標と第２直交座標で規定される姿
勢に転換される可動ブロックと、 によって位置決め装置を構成する。
この第１発明の構成によれば可動ブロックは第１カムで
規定される姿勢と、第２カムで規定される姿勢に転換す
ることができる。
従って任意の角度の回転方向の位置ズレが与えられても
その位置ズレを修正し位置決めすることができる。
この出願の第２発明では、第１発明で提案した位置決め
装置を試験用ソケットにＩＣを供給する搬送装置の部分
に適用したＩＣ試験装置を提案するものである。
この第２発明のＩＣ試験装置によればオートハンドラと
テストヘッドとの位置合わせを簡素に済ませることがで
きる。よって設置が容易なＩＣ試験装置を提供すること
ができる。
「実施例」 第１図にこの出願の第１発明の実施例を示す。
図中１００は第１カム、２００は第２カム、３００は可
動ブロックを示す。
第１カム１００は直交する二つの面１０１と１０２を有
し、第１直交座標Ｘ−Ｙを規定する。
この例では第１カム１００は角形の平板体１０３の四周
に土手１０４を突設し、この上手１０４によって互いに
直交する二つの面１０１と１０２を形成した場合を示す
。
第２カム２００は５字状の金属ブロックによって構成さ
れ互いに直交する二つの面２０１と２０２を有する。第
２カム２００はツマミ付きのネジ２０３によって第１カ
ム１００を構成する平板体１０３に締め付けられる。ネ
ジ２０３のネジ孔は平板体１０３に形成され、このネジ
孔にネジ２０３が螺入され、ツマミ部分で第２カム２０
０を締め付ける。第２カム２００にはネジ２０３のネジ
部分を貫通させる孔が形成される。この孔の直径はネジ
２０３のネジ部分の直径より大きく、ツマミの直径より
小さい直径に選定される。従ってネジ２０３を緩めた状
態では第２カム２００はネジ２０３と、このネジ２０３
を貫通させる孔の直径の差によって生・しる遊びの範囲
内で二つの而２０１と２０２の向きを自由に設定するこ
とができる。
従って、例えば図示するように第１カム１００が規定す
る第１直交座標Ｘ−Ｙに対し、この第１直交座標Ｘ−Ｙ
からθだけ回転した第２直交座標ＸＸ−ＹＹを設定する
ことができる。
可動ブロック３００は第１カムｌＯＯと第２カム２００
の各面１０１，１０２と２０１，２０２によって囲まれ
る空間内に配置され、この空間内において平板体１０３
に沿って移動できるように設けられ、例えばエヤシリン
ダのような直線駆動装置４００によって第１カムｌＯＯ
に当接する状態と、第２カム２００に当接する状態に移
動される。
直線駆動装置４００は一端が軸４０１によって支持され
、可動ロッド４０２が平板体１０３の板面と平行する方
向に回動できるように支持される。
可動ロッド４０２の先端に可動ブロック３００が回動自
在に取り付けられる。可動ロッド４０２に対する可動ブ
ロック３００の回動面は平板体１０３の面と平行する面
とされ、平板体１０３と平行する面内において可動ブロ
ック３００が回動することによって可動ブロック３００
上ば仮想した座標軸の角度が変更される。
可動ブロック３００は例えば正四角形とされ、その中心
部に可動ロンド４０２が回動自在に連結される。更に四
隅にはローラ３０１が取り付けられ、各カム面１０１．
１０２と２０１，２０２との摩擦系数を小さくしている
。
直線駆動装置４００の可動ロッド４０２の推動方向は第
１カム１００のカム面１０１，１０２及び第２カム２０
０のカム面２０１，２０２に対して４５°方向とされ、
４５°の方向に可動ブロック３００を移動させることに
よって可動ブロック３００を第１カム１００に当接する
状態と、第２カム２００に当接する状態に操作すること
ができ、その当接した状態において各二つのカム面ｌｏ
ｔと１０２及び２０１と２０２によって可動ブロック３
００の姿勢が規定され、第１直交座標Ｘ−Ｙの姿勢から
第２直交座標ＸＸ−ＹＹの姿勢に転換する動作及び第２
直交座標ＸＸ−ＹＹの姿勢から第１直交座標Ｘ−Ｙの姿
勢への転換を行うことができる。
第２図及び第３図は第１発明の変形実施例を示す。この
例では直線駆動装置を４０ＯＡと４００Ｂの２個を用い
、可動ブロック３００をＸ軸方向とＹ軸方向に駆動させ
るように構成すると共に第１カム１００と第２カム２０
０の各一方の面１０１と２０１にＶ溝１０１Ｖと２０１
Ｖを設け、この■溝１０１Ｖと２０１Ｖによって可動ブ
ロック３００の回動支点を定め、この回動支点を中心に
可動ブロック３００を第１直交座標Ｘ−Ｙから第２直交
座標ｘｘ−ｙｙへ転換する動作及び第２直交座標ｘｘ−
ｙｙから第１直交座標へ転換する動作を行わせるように
構成した場合を示す。
このように構成した場合も、第１図の実施例と同様の作
用効果を得ることができる。
なお、第１図に示した実施例において、直線駆動装置４
００を第２図及び第３図に示したように２個用いること
もできる。
第４図はこの出願の第２発明の実施例を示す。
この出願の第２発明では第１発明で提案した位置決め装
置を利用したＩＣ試験装置を提案するものである。
この実施例では第５図で説明した平面実装型ＩＣ４０を
試験用ソケット２３に装着する動作を行う搬送装置Ｉ３
に、第１発明で提案した位置決め装置を適用した場合を
示す。
つまりＸ軸方向に移動する搬送装置１３の昇降装置１３
Ｂの下側に位置決め装置５００を実装し、吸着装置１３
Ａを上述した位置決め装置５００を構成する可動ブロッ
ク３００　（第１図乃至第３図参照）に支持させる。
従って可動ブロック３００を駆動することによって吸着
装Ｗｌ　３Ａの姿勢を第１直交座標Ｘ−Ｙの姿勢から第
２直交座標ＸＸ−ＹＹの姿勢に或いは第２直交座標ＸＸ
−ＹＹの姿勢から第１直交座標Ｘ−Ｙの姿勢に変換する
ことができる。
よって第１搬送装置１６から吸着装置１３Ａに吸着した
状態の被試験ＩＣ４０の姿勢と、試験用ソケット２３の
姿勢に第７図に示す回転方向のズレがあっても、この回
転方向のズレは位置決め装置５００の第２カム２００の
位置を調整するだけで位置合わせすることができる。
従ってテストヘッド２００の位置を動かすことなく、オ
ートハンドラ１０とテストヘッド２０の試験用ソケット
２３との間の位置合わせを行うことができる。よってＩ
Ｃ試験装置の設置を容易に行うことができる。
「発明の効果」 以上説明したように、この発明によれば簡単な構造によ
って回転ズレを伴った位置ズレを修正し、位置合わせす
ることができる。従ってＩＣのような精密部品の位置合
わせ等に利用してその効果は頗る大である。
【図面の簡単な説明】
第１図はこの出願の第１発明の実施例を示す平面図、第
２図及び第３図は第１発明の変形実施例を示す平面図、
第４回はこの出願の第２発明の実施例を示す斜視図、第
５図は従来の技術を説明するための斜視図、第６図及び
第７図は位置ズレの形態を説明するための平面図、第８
図は面実装型ＩＣの試験装置の概要を説明するための側
面回である。 １００：第１カム、２００：第２カム、１０１゜１０２
　２０１．２０２：互いに直交する二つのカム面、３０
０：可動ブロック、４００：直線駆動装置、Ｘ−Ｙ　：
第１直交座標、ＸＸ−ＹＹ：第２直交座標。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. （１）Ａ、互いに直交する二つの面を持ち、この二つの
    面によって第１直交座標を規定する第１カムと、 Ｂ、この第１カムの互いに直交する二つの面と対向する
    二つの直交する面を持ち、第１カムが規定する第１直交
    座標に対して座標軸を任意の角度に変換した向きに装着
    されて第２直交座標を規定する第２カムと、 Ｃ、上記第１カムと第２カムのカム面によって囲まれた
    空間に配置され、第１カムのカム面と第２カムのカム面
    に当接されて第１直交座標と第２直交座標で規定される
    姿勢に転換される可動ブロックと、 によって構成した位置決め装置。
  2. （２）請求項１記載の第１カム及び第２カムをＩＣ搬送
    装置に装着すると共に、上記可動ブロックにＩＣ吸着装
    置を装着し、ＩＣをＩＣ吸着装置に吸着する状態と、Ｉ
    Ｃを試験用ソケットに装置する状態とで上記可動ブロッ
    クを上記第１カムに当接して位置決めされる状態から、
    第２カムに当接して位置決めされる状態に変換し、第２
    カムの設定位置に応じて試験用ソケットとＩＣ搬送装置
    との間の位置ズレを修正するように構成したことを特徴
    とするＩＣ試験装置。
JP1298648A 1989-11-16 1989-11-16 位置決め装置及びこの位置決め装置を利用したｉｃ試験装置 Pending JPH03159148A (ja)

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