JPH03137575A - 測定試料の良否判定方法及びその装置 - Google Patents
測定試料の良否判定方法及びその装置Info
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- JPH03137575A JPH03137575A JP27567189A JP27567189A JPH03137575A JP H03137575 A JPH03137575 A JP H03137575A JP 27567189 A JP27567189 A JP 27567189A JP 27567189 A JP27567189 A JP 27567189A JP H03137575 A JPH03137575 A JP H03137575A
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- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
「産業上の利用分野］
この発明は、測定試料の良否判定方法及びその装置に係
り、さらに詳しくは、測定試料が例えば抵抗からコンデ
ンサに変わったような場合であっても、その都度、新た
に測定条件を設定し直すことなく、引き続きその良否を
判定することができる測定試料の良否判定方法及びその
装置に関する。 ［従来の技術］ コンデンサ等の回路素子が所定の規格水準に達している
か否かを知る手段としては、一般にＬＣＲメータが多く
用いられている。 また、上記ＬＣＲメータのなかには、コンパレータを内
蔵させることで、測定試料の測定値が所定の規格内にあ
るものか規格外にあるものかを自動的に比較し、その比
較結果を表示器等を介して外部に知らせることができる
ようになっているものもある。 第６図は、この種の比較機能を備えた従来タイプのＬＣ
Ｒメータについての概略構成の一例を示すブロック図で
あり、抵抗やコンデンサ等の回路素子からなる測定試料
を測定するための測定回路ｌと、この測定回路１を介し
て測定された測定値と予め設定されている基準値とを比
較する比較回路２とで構成され、この比較回路２は、内
蔵させた１つのコンパレータ３を有して形成されている
。 この場合、前記比較回路２には、測定試料の性能に対応
させた上限値と下限値とからなる基準値を予め設定して
おくことで、前記測定回路ｌを介して実際に測定された
測定値との間の比較が可能となっているので、その比較
結果に基づいて当該測定試料の良否を判別することがで
きるようになっている。 ［発明が解決しようとする課題］ ところで、内蔵させた１つのコンパレータ３を有してな
る従来タイプの上記ＬＣＲメータによれば、測定試料の
良否を自動的に判別することができ、検査や選別用の測
定器として非常に便利に用いることができる。 しかし、従来タイプの上記ＬＣＲメータの場合には、１
つのコンパレータ３を内蔵させた比較回路２しか用意さ
れていないため、測定試料を例えば抵抗からコンデンサ
に変えたような場合には、その都度、これに対応させて
コンパレータ３の設定条件も変えてやらなければならず
、煩雑で作業性に劣るという不都合があった。 Ｃ課題を解決するための手段］ この発明は、従来技術にみられた上記課題に鑑みてなさ
れたものであり、その方法発明としての構成上の特徴は
、測定試料を測定する測定手段と、測定試料の測定値を
基準値と比較する複数の比較部を有する比較手段と、測
定試料との関係で特定の比較部を選択的に作動させるた
めのスキャナ部の操作を可能とした選択手段と、前記比
較部の比較結果により当該測定試料の良否を判定する判
定部と、その判定結果を表示する表示部とを制御可能に
配設し、前記測定手段を介して測定される測定試料の測
定値は、前記選択手段を介して選択作動される比較部を
介して当該測定試料につき予め設定されている基準値と
比較させ、当該測定試料の良否は、比較結果に基づき前
記判定部を介して判定させ、その判定結果を前記表示部
を介して表示させることにある。 また、その装置発明としての構成上の特徴は、測定試料
に対応する測定用信号を加えて当該測定試料の測定を可
能とした測定手段と、この測定手段で測定される測定試
料の測定値と、測定試料との関係で予め設定されている
基準値との比較を可能とした各別に用意される複数の比
較部を有してなる比較手段と、これらの比較部と前記測
定手段との間に介在配置され、かつ、測定試料との関係
で選択された比較部のみの作動を可能としたスキャナ部
と、このスキャナ部に対しての選択操作を可能とした選
択手段と、スキャナ部を介して選択的に作動される比較
部での比較結果に基づき当該測定試料の良否の判定を可
能とした判定部と、この判定部での判定結果を表示可能
とした表示部とを有することにある。
り、さらに詳しくは、測定試料が例えば抵抗からコンデ
ンサに変わったような場合であっても、その都度、新た
に測定条件を設定し直すことなく、引き続きその良否を
判定することができる測定試料の良否判定方法及びその
装置に関する。 ［従来の技術］ コンデンサ等の回路素子が所定の規格水準に達している
か否かを知る手段としては、一般にＬＣＲメータが多く
用いられている。 また、上記ＬＣＲメータのなかには、コンパレータを内
蔵させることで、測定試料の測定値が所定の規格内にあ
るものか規格外にあるものかを自動的に比較し、その比
較結果を表示器等を介して外部に知らせることができる
ようになっているものもある。 第６図は、この種の比較機能を備えた従来タイプのＬＣ
Ｒメータについての概略構成の一例を示すブロック図で
あり、抵抗やコンデンサ等の回路素子からなる測定試料
を測定するための測定回路ｌと、この測定回路１を介し
て測定された測定値と予め設定されている基準値とを比
較する比較回路２とで構成され、この比較回路２は、内
蔵させた１つのコンパレータ３を有して形成されている
。 この場合、前記比較回路２には、測定試料の性能に対応
させた上限値と下限値とからなる基準値を予め設定して
おくことで、前記測定回路ｌを介して実際に測定された
測定値との間の比較が可能となっているので、その比較
結果に基づいて当該測定試料の良否を判別することがで
きるようになっている。 ［発明が解決しようとする課題］ ところで、内蔵させた１つのコンパレータ３を有してな
る従来タイプの上記ＬＣＲメータによれば、測定試料の
良否を自動的に判別することができ、検査や選別用の測
定器として非常に便利に用いることができる。 しかし、従来タイプの上記ＬＣＲメータの場合には、１
つのコンパレータ３を内蔵させた比較回路２しか用意さ
れていないため、測定試料を例えば抵抗からコンデンサ
に変えたような場合には、その都度、これに対応させて
コンパレータ３の設定条件も変えてやらなければならず
、煩雑で作業性に劣るという不都合があった。 Ｃ課題を解決するための手段］ この発明は、従来技術にみられた上記課題に鑑みてなさ
れたものであり、その方法発明としての構成上の特徴は
、測定試料を測定する測定手段と、測定試料の測定値を
基準値と比較する複数の比較部を有する比較手段と、測
定試料との関係で特定の比較部を選択的に作動させるた
めのスキャナ部の操作を可能とした選択手段と、前記比
較部の比較結果により当該測定試料の良否を判定する判
定部と、その判定結果を表示する表示部とを制御可能に
配設し、前記測定手段を介して測定される測定試料の測
定値は、前記選択手段を介して選択作動される比較部を
介して当該測定試料につき予め設定されている基準値と
比較させ、当該測定試料の良否は、比較結果に基づき前
記判定部を介して判定させ、その判定結果を前記表示部
を介して表示させることにある。 また、その装置発明としての構成上の特徴は、測定試料
に対応する測定用信号を加えて当該測定試料の測定を可
能とした測定手段と、この測定手段で測定される測定試
料の測定値と、測定試料との関係で予め設定されている
基準値との比較を可能とした各別に用意される複数の比
較部を有してなる比較手段と、これらの比較部と前記測
定手段との間に介在配置され、かつ、測定試料との関係
で選択された比較部のみの作動を可能としたスキャナ部
と、このスキャナ部に対しての選択操作を可能とした選
択手段と、スキャナ部を介して選択的に作動される比較
部での比較結果に基づき当該測定試料の良否の判定を可
能とした判定部と、この判定部での判定結果を表示可能
とした表示部とを有することにある。
【作 用］
したがって、この発明によれば、測定試料が例えば抵抗
からコンデンサに変わったような場合であっても、測定
が予定される種類を異にする測定試料に対応させた設定
条件を予めそれぞれの比較部との関係で各別に設定して
おくことにより、測定試料に対応する比較部を選択作動
させることで即応させることができ、当該測定試料の良
否を迅速、かつ、容易に判定することができる。 ［実施例］ 以下、図面を参照してこの発明の実施例を詳説する。 第１図は、この発明に係る装置の全体構成の一例を示す
ブロック図であり、大別すると測定手段ｌ】とスキャナ
部２１と選択手段２５と比較手段３１と判定部３５と表
示部４１と制御手段５１とを有して構成されている。 このうち、測定手段１１は、抵抗やコンデンサなどの回
路素子からなる測定試料１５の種別に合せての測定信号
を発信させることができる信号発信部１２と、測定試料
１５の電圧特性等を測定する場合に必要なＡＭＰ部１部
上３所要の測定回路を設けてなる測定回路部１４とを有
して構成されており、この測定回路部１４と前記ＡＭＰ
部１３との間には、抵抗やコンデンサなどの回路素子か
らなる必要な測定試料１５が配置されるようになってい
る。 また、スキャナ部２１は、測定試料１５との関係で選択
される特定の比較部３２のみの作動を可能とすべく測定
手段１１と比較手段３１との間に切り換え機能を有して
介在配置されるものであり、例えば第２図のようにＡ／
Ｄ変換器２２と切換部２３とを有して構成されている。 選択手段２５は、ＯＲ回路からなる選択部２６を有し、
かつ、前記スキャナ部２１に対し、装置本体の側に配設
される内部選択スイッチ２７と、外部コントローラ等の
外部選択スイッチ２８とを介してのそれぞれのスイッチ
入力が可能となっており、これらのいずれかの側からの
選択スイッチ入力があった場合に前記スキャナ部２１へ
の選択操作を可能とする論理和をとることができるよう
になっている。 比較手段３１は、測定手段１１を介して取り込まれた測
定試料１５の測定値を予め設定されている基準値と比較
させるべく、１ ％ ｎ個の複数のコンパレータからな
る比較部３２を並列接続することで形成されており、前
記スキャナ部２１を介することで、その選択作動を可能
にして配設されている。 一方、判定部３５は、前記比較手段３１での比較結果に
基づいて測定試料１５の良否を判定するために設けられ
るものであり、前記制御手段５１における制御部５２を
介してその判別が行われている。 また、表示部４１は、前記判定部３５を介しての判定結
果を表示可能にして形成されており、第３図はその具体
的な構成例を第１図の実施例に対応させて示したもので
ある。この図示例によれば、比較手段３１を構成してい
る５つステップからなる比較部３２のうち、現在作動し
ているのがどのステップの比較部３２であるかを明示す
るステップ表示欄４２と、このステップ表示欄４２のそ
れぞれに対応させて、測定値が規格以上であることを示
すＨｉ表示欄４３と、規格内にあることを示すＩＮ表示
欄４４と、規格以下であることを示すＬｏ表示欄４５と
を設けて形成されている。その結果、ＬＥＤなどで点灯
状態にステップ表示欄４２をみることで現に選択作動し
ている比較部３２を知ることができ、しかも、Ｈｉ表示
欄４３と【Ｎ表示欄４４とＬｏ表示欄４５とのいずれか
における点灯状態をみることで、特定の測定試料１５の
良否を判然と識別することができるようになっている。 なお、表示部４１の構成は、図示例に限られるものでは
なく、例えば規格内にあることを示すＩＮ表示欄と、上
限値と下限値との関係は問わずに単に規格外であること
を示すＯＵＴ表示欄とで形成するなど、必要により適宜
の態様をとることができる。 また、制御手段５１は、上記した測定手段１１とスキャ
ナ部２１と選択手段２５と比較手段３１と判定部３５と
表示部４１との各構成要素を統括して制御するものであ
り％ＲＡＭ５３やＲＯＭなどのメモリやＣＰＵ５４等か
らなる制御部５２と、その操作部であるスイッチ部５５
とを有して構成されており、このスイッチ部５５を操作
することで、制御された必要な測定操作が可能となって
いる。 なお、この発明装置においては、前記選択手段２５を設
けたことにより、測定試料供給装置などの外部自動機に
対し必要な出力信号を送出することもできる。 この発明に係る装置は、上述のようにして構成されてい
るので、例えばラインに供給されるコンデンサや抵抗な
どの回路素子からなる測定試料１５は、測定手段１１を
介して所定の測定条件のもとで測定することができる。 また、当該測定試料１５の測定値は、選択手段２５カー
らの選択操作に応動するスキャナ部２１を介することで
、その種別に応じた比較部３２を作動させることができ
、予め設定されている基準値と比較させることができる
。 比較部３２を介しての比較結果は、判定部３５により判
定され、その判定結果は、既に述べたようにして表示部
４１に表示され、当該測定試料１５の良否を判別するこ
とができる。 次に、この発明に係る回路素子の合否判定方法について
説明する。 第４図は、上記判定方法についての処理手順の一例を示
すフローチャートである。 同図によれば、初期設定をした後、まず、比較手段３１
を介しての比較開始の要否が判別される。 この際、比較開始の必要がなければ、通常の測定条件を
設定した上で、測定処理と表示処理とが行われる。 一方、比較開始の必要ありと判別された場合には、まず
１選択手段２５における選択部２６を介して内部選択ス
イッチ２７と外部選択スイッチ２８との論理和がとられ
、いずれか、若しくは双方からの選択スイッチ入力があ
れば、スキャナ部２１を選択操作させ、比較手段３１の
どのステップにおける比較部３２を作動させるかが判別
される。 その結果、ｌｘｎ個のステップからなる複数の比較部３
２のなかから当該測定試料１５に対応する特定の比較部
３２が選択され、当該ステップに対応するメモリから当
該測定試料１５のための測定条件が取り出される。 このようにして取り出された測定条件は、制御手段５１
を介して測定手段１１に設定され、当該測定試料１５に
ついての測定が行われる。 測定の結果は、選択されている前記比較部３２を介して
予め設定されている基準値と比較され、その良否が判定
部３５を介して判定される。 かかる判定結果は、表示部４１を介して表示され、かつ
、ブザー等の出力手段を介して合格であれば良品情報を
出力し、不合格であれば不良品情報を出力する。 かくして、同様な処理が予め用意されている１〜ｎ個の
比較部３２についての全ステップについて終了するまで
繰り返し行われ、その終了を待って処理を終える。 なお、第５図は、特定された測定条件に対応する比較条
件の比較部３２への設定方法の一例を示すフローチャー
トであり、比較手段３１を構成している各比較部３２の
数に応じて１〜０個の各ステップについて個別に具体的
な比較条件が設定される。 これを１個目の比較部３２であるステップｌを例に説明
すれば、まず、ステップ１であるか否かが判別され、ス
テップ１であると判別された場合には、これに対応する
測定条件が選択され、設定される。このような選択・設
定が正しいものであれば、当該測定条件がメモリに書き
込まれる。 次いで、当該測定条件についての上限値が設定され、正
しければ当該上限値がメモリに書き込まれる。 しかる後、当該測定条件についての下限値が設定され、
正しければ当該下限値がメモリに書き込まれる。 以下、ステップｎに至るまで同様の処理が繰り返し行わ
れ、比較条件を設定することができる。 ［発明の効果〕 以上述べたようにこの発明によれば、回路素子からなる
測定試料の種別に応じた測定条件を設定して当該測定試
料を測定し、その際の測定条件に対応する基準値との関
係で測定値を比較し、かつ、その良否を判別して判定結
果を表示することができるので、測定試料の種類や特性
などが変わった場合であっても、これに即応させてその
良否の判定作業を継続して行なわせることができ、作業
性の向上を図ることができる。
からコンデンサに変わったような場合であっても、測定
が予定される種類を異にする測定試料に対応させた設定
条件を予めそれぞれの比較部との関係で各別に設定して
おくことにより、測定試料に対応する比較部を選択作動
させることで即応させることができ、当該測定試料の良
否を迅速、かつ、容易に判定することができる。 ［実施例］ 以下、図面を参照してこの発明の実施例を詳説する。 第１図は、この発明に係る装置の全体構成の一例を示す
ブロック図であり、大別すると測定手段ｌ】とスキャナ
部２１と選択手段２５と比較手段３１と判定部３５と表
示部４１と制御手段５１とを有して構成されている。 このうち、測定手段１１は、抵抗やコンデンサなどの回
路素子からなる測定試料１５の種別に合せての測定信号
を発信させることができる信号発信部１２と、測定試料
１５の電圧特性等を測定する場合に必要なＡＭＰ部１部
上３所要の測定回路を設けてなる測定回路部１４とを有
して構成されており、この測定回路部１４と前記ＡＭＰ
部１３との間には、抵抗やコンデンサなどの回路素子か
らなる必要な測定試料１５が配置されるようになってい
る。 また、スキャナ部２１は、測定試料１５との関係で選択
される特定の比較部３２のみの作動を可能とすべく測定
手段１１と比較手段３１との間に切り換え機能を有して
介在配置されるものであり、例えば第２図のようにＡ／
Ｄ変換器２２と切換部２３とを有して構成されている。 選択手段２５は、ＯＲ回路からなる選択部２６を有し、
かつ、前記スキャナ部２１に対し、装置本体の側に配設
される内部選択スイッチ２７と、外部コントローラ等の
外部選択スイッチ２８とを介してのそれぞれのスイッチ
入力が可能となっており、これらのいずれかの側からの
選択スイッチ入力があった場合に前記スキャナ部２１へ
の選択操作を可能とする論理和をとることができるよう
になっている。 比較手段３１は、測定手段１１を介して取り込まれた測
定試料１５の測定値を予め設定されている基準値と比較
させるべく、１ ％ ｎ個の複数のコンパレータからな
る比較部３２を並列接続することで形成されており、前
記スキャナ部２１を介することで、その選択作動を可能
にして配設されている。 一方、判定部３５は、前記比較手段３１での比較結果に
基づいて測定試料１５の良否を判定するために設けられ
るものであり、前記制御手段５１における制御部５２を
介してその判別が行われている。 また、表示部４１は、前記判定部３５を介しての判定結
果を表示可能にして形成されており、第３図はその具体
的な構成例を第１図の実施例に対応させて示したもので
ある。この図示例によれば、比較手段３１を構成してい
る５つステップからなる比較部３２のうち、現在作動し
ているのがどのステップの比較部３２であるかを明示す
るステップ表示欄４２と、このステップ表示欄４２のそ
れぞれに対応させて、測定値が規格以上であることを示
すＨｉ表示欄４３と、規格内にあることを示すＩＮ表示
欄４４と、規格以下であることを示すＬｏ表示欄４５と
を設けて形成されている。その結果、ＬＥＤなどで点灯
状態にステップ表示欄４２をみることで現に選択作動し
ている比較部３２を知ることができ、しかも、Ｈｉ表示
欄４３と【Ｎ表示欄４４とＬｏ表示欄４５とのいずれか
における点灯状態をみることで、特定の測定試料１５の
良否を判然と識別することができるようになっている。 なお、表示部４１の構成は、図示例に限られるものでは
なく、例えば規格内にあることを示すＩＮ表示欄と、上
限値と下限値との関係は問わずに単に規格外であること
を示すＯＵＴ表示欄とで形成するなど、必要により適宜
の態様をとることができる。 また、制御手段５１は、上記した測定手段１１とスキャ
ナ部２１と選択手段２５と比較手段３１と判定部３５と
表示部４１との各構成要素を統括して制御するものであ
り％ＲＡＭ５３やＲＯＭなどのメモリやＣＰＵ５４等か
らなる制御部５２と、その操作部であるスイッチ部５５
とを有して構成されており、このスイッチ部５５を操作
することで、制御された必要な測定操作が可能となって
いる。 なお、この発明装置においては、前記選択手段２５を設
けたことにより、測定試料供給装置などの外部自動機に
対し必要な出力信号を送出することもできる。 この発明に係る装置は、上述のようにして構成されてい
るので、例えばラインに供給されるコンデンサや抵抗な
どの回路素子からなる測定試料１５は、測定手段１１を
介して所定の測定条件のもとで測定することができる。 また、当該測定試料１５の測定値は、選択手段２５カー
らの選択操作に応動するスキャナ部２１を介することで
、その種別に応じた比較部３２を作動させることができ
、予め設定されている基準値と比較させることができる
。 比較部３２を介しての比較結果は、判定部３５により判
定され、その判定結果は、既に述べたようにして表示部
４１に表示され、当該測定試料１５の良否を判別するこ
とができる。 次に、この発明に係る回路素子の合否判定方法について
説明する。 第４図は、上記判定方法についての処理手順の一例を示
すフローチャートである。 同図によれば、初期設定をした後、まず、比較手段３１
を介しての比較開始の要否が判別される。 この際、比較開始の必要がなければ、通常の測定条件を
設定した上で、測定処理と表示処理とが行われる。 一方、比較開始の必要ありと判別された場合には、まず
１選択手段２５における選択部２６を介して内部選択ス
イッチ２７と外部選択スイッチ２８との論理和がとられ
、いずれか、若しくは双方からの選択スイッチ入力があ
れば、スキャナ部２１を選択操作させ、比較手段３１の
どのステップにおける比較部３２を作動させるかが判別
される。 その結果、ｌｘｎ個のステップからなる複数の比較部３
２のなかから当該測定試料１５に対応する特定の比較部
３２が選択され、当該ステップに対応するメモリから当
該測定試料１５のための測定条件が取り出される。 このようにして取り出された測定条件は、制御手段５１
を介して測定手段１１に設定され、当該測定試料１５に
ついての測定が行われる。 測定の結果は、選択されている前記比較部３２を介して
予め設定されている基準値と比較され、その良否が判定
部３５を介して判定される。 かかる判定結果は、表示部４１を介して表示され、かつ
、ブザー等の出力手段を介して合格であれば良品情報を
出力し、不合格であれば不良品情報を出力する。 かくして、同様な処理が予め用意されている１〜ｎ個の
比較部３２についての全ステップについて終了するまで
繰り返し行われ、その終了を待って処理を終える。 なお、第５図は、特定された測定条件に対応する比較条
件の比較部３２への設定方法の一例を示すフローチャー
トであり、比較手段３１を構成している各比較部３２の
数に応じて１〜０個の各ステップについて個別に具体的
な比較条件が設定される。 これを１個目の比較部３２であるステップｌを例に説明
すれば、まず、ステップ１であるか否かが判別され、ス
テップ１であると判別された場合には、これに対応する
測定条件が選択され、設定される。このような選択・設
定が正しいものであれば、当該測定条件がメモリに書き
込まれる。 次いで、当該測定条件についての上限値が設定され、正
しければ当該上限値がメモリに書き込まれる。 しかる後、当該測定条件についての下限値が設定され、
正しければ当該下限値がメモリに書き込まれる。 以下、ステップｎに至るまで同様の処理が繰り返し行わ
れ、比較条件を設定することができる。 ［発明の効果〕 以上述べたようにこの発明によれば、回路素子からなる
測定試料の種別に応じた測定条件を設定して当該測定試
料を測定し、その際の測定条件に対応する基準値との関
係で測定値を比較し、かつ、その良否を判別して判定結
果を表示することができるので、測定試料の種類や特性
などが変わった場合であっても、これに即応させてその
良否の判定作業を継続して行なわせることができ、作業
性の向上を図ることができる。
第１′図は、この発明装置の全体構成を示すブロック図
、第２図は、第１図におけるスキャナ部と比較手段等と
の具体的な関係を示す構成図、第３図は、表示部の具体
的な構成例を示す正面図、第４図は、この発明方法につ
いての一実施例としての処理手順を示すフローチャート
、第５図は、第４図において測定条件に対応する比較条
件を設定する場合の処理手順の一例を示すフローチャー
ト、第６図は、従来装置における測定回路と比較部との
具体的な関係を示す構成図である。 １１・・・測定手段、 １２・・・信号発振部、１
３・・・ＡＭＰ部、 １４・・・測定回路部、１５
・・・測定試料、 ２１・・・スキャナ部、２２・
・・Ａ／Ｄ変換器、 ２３・・・切換部、２５・・・選
択手段、 ２６・・・選択部、２７・・・内部選択
スイッチ、 ２８・・・外部選択スイッチ、 ３１・・・比較手段、 ３２・・・比較部、３５・
・・判定部、 ４１・・・表示部、４２・・・ス
テップ表示欄、４３・・・Ｈｉ表示欄、４４・・・ＩＮ
表示欄、 ４５・・・Ｌｏ表示欄、５１・・・制御手
段。 ５３・・・ＲＡＭ。 ５５・・・スイッチ部 ５２・・・制御部、 ５４・・・ｃｐｕ。
、第２図は、第１図におけるスキャナ部と比較手段等と
の具体的な関係を示す構成図、第３図は、表示部の具体
的な構成例を示す正面図、第４図は、この発明方法につ
いての一実施例としての処理手順を示すフローチャート
、第５図は、第４図において測定条件に対応する比較条
件を設定する場合の処理手順の一例を示すフローチャー
ト、第６図は、従来装置における測定回路と比較部との
具体的な関係を示す構成図である。 １１・・・測定手段、 １２・・・信号発振部、１
３・・・ＡＭＰ部、 １４・・・測定回路部、１５
・・・測定試料、 ２１・・・スキャナ部、２２・
・・Ａ／Ｄ変換器、 ２３・・・切換部、２５・・・選
択手段、 ２６・・・選択部、２７・・・内部選択
スイッチ、 ２８・・・外部選択スイッチ、 ３１・・・比較手段、 ３２・・・比較部、３５・
・・判定部、 ４１・・・表示部、４２・・・ス
テップ表示欄、４３・・・Ｈｉ表示欄、４４・・・ＩＮ
表示欄、 ４５・・・Ｌｏ表示欄、５１・・・制御手
段。 ５３・・・ＲＡＭ。 ５５・・・スイッチ部 ５２・・・制御部、 ５４・・・ｃｐｕ。
Claims (2)
- （１）測定試料を測定する測定手段と、測定試料の測定
値を基準値と比較する複数の比較部を有する比較手段と
、測定試料との関係で特定の比較部を選択的に作動させ
るためのスキャナ部の操作を可能とした選択手段と、前
記比較部の比較結果により当該測定試料の良否を判定す
る判定部と、その判定結果を表示する表示部とを制御可
能に配設し、前記測定手段を介して測定される測定試料
の測定値は、前記選択手段を介して選択作動される比較
部を介して当該測定試料につき予め設定されている基準
値と比較させ、当該測定試料の良否は、比較結果に基づ
き前記判定部を介して判定させ、その判定結果を前記表
示部を介して表示させることを特徴とする測定試料の良
否判定方法。 - （２）測定試料に対応する測定用信号を加えて当該測定
試料の測定を可能とした測定手段と、この測定手段で測
定される測定試料の測定値と、測定試料との関係で予め
設定されている基準値との比較を可能とした各別に用意
される複数の比較部を有してなる比較手段と、これらの
比較部と前記測定手段との間に介在配置され、かつ、測
定試料との関係で選択された比較部のみの作動を可能と
したスキャナ部と、このスキャナ部に対しての選択操作
を可能とした選択手段と、スキャナ部を介して選択的に
作動される比較部での比較結果に基づき当該測定試料の
良否の判定を可能とした判定部と、この判定部での判定
結果を表示可能とした表示部とを有することを特徴とす
る測定試料の良否判定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27567189A JPH03137575A (ja) | 1989-10-23 | 1989-10-23 | 測定試料の良否判定方法及びその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27567189A JPH03137575A (ja) | 1989-10-23 | 1989-10-23 | 測定試料の良否判定方法及びその装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03137575A true JPH03137575A (ja) | 1991-06-12 |
Family
ID=17558728
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27567189A Pending JPH03137575A (ja) | 1989-10-23 | 1989-10-23 | 測定試料の良否判定方法及びその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03137575A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013117420A (ja) * | 2011-12-02 | 2013-06-13 | Hioki Ee Corp | 測定装置 |
| US9175817B2 (en) | 2009-05-04 | 2015-11-03 | Koninklijke Philips N.V. | Light source comprising a light emitter arranged inside a translucent outer envelope |
-
1989
- 1989-10-23 JP JP27567189A patent/JPH03137575A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9175817B2 (en) | 2009-05-04 | 2015-11-03 | Koninklijke Philips N.V. | Light source comprising a light emitter arranged inside a translucent outer envelope |
| JP2013117420A (ja) * | 2011-12-02 | 2013-06-13 | Hioki Ee Corp | 測定装置 |
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