JPH11154010A - プラント制御装置の試験装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 試験状況及び試験結果が迅速、且つ詳細に把
握でき、また周辺ロジックとの関連性も理解できるよう
にし、異常時の対応が早急に行えるようにする。 【解決手段】 Ａ／Ｄ変換器、リミッタ等の電気回路の
各種のロジック１１と、入力値、測定値のテストポイン
ト（ＴＰ）１６と、これらを接続し信号の流れを示す矢
印とを組み合わせてブロック図化し、テストポイントで
の入力値２２、測定値２２、２４、２６及び誤差値２
３、２５、２７を表示し、測定結果に異常・不良個所が
あれば、その箇所１１ａを二重丸（または色別）等で強
調表示することにより、試験信号値だけでなく、信号の
流れや異常・不良個所を図示する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明は、プラント制御装
置の試験を行う試験装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】図１１は従来の試験装置の構成図であ
る。図において、１は試験対象であるプラント制御装
置、２は模擬入力を発生する信号発生器、３は測定器、
４は信号発生器とプラント制御装置を接続するマルチプ
ログラマ（スキャナ）、５は測定器とプラント制御装置
を接続するマルチプログラマ（スキャナ）、６は入力出
力信号、及び不良・異常個所を表示する計算機、７は表
形式による試験内容表示である。

【０００３】図１２は上記の計算機で表示された従来の
画面で、図１１の試験内容表示７の画面である。図にお
いて、１１は信号を処理する各種ロジックのＴＡＧ名
称、及びロジックのロケーション（ロケーションとはＴ
ＡＧ対象のロジックの制御盤内の位置）、１２は入力信
号値と出力測定値の別（ＩＮＰＵＴ，ＯＵＴＰＵＴ）、
１３はＴＡＧの機能内容で、例えば、Ｉ／Ｅは電流／電
圧変換の機能であり、Ｌ／ＬはＬＥＡＤ／ＬＡＧで、入
力信号を時間要素で模擬的に進めたり遅らせたりする機
能である。

【０００４】１４は入力信号、出力測定信号の単位、１
５は入力信号値、または出力測定値とその理想出力値
（基準測定値）、１６は模擬信号を入力するテストポイ
ントおよび出力信号値を測定するテストポイントの名
称、１７は最大誤差で、各ロジックにおける試験ステッ
プ（模擬信号の入力回数）中、出力測定値と理想出力値
の差の最大値、１８は判定基準となる許容誤差値、１９
は総合判定である。

【０００５】なお、ロジックはＡ／ＤまたはＤ／Ａ変換
器、リミッタ、増幅器等の各種の電気回路のロジックで
ある。

【０００６】次に動作について説明する。 操作者より試験開始を要求された計算機６は、画面に
試験を実施するプラント制御装置のロジックのＴＡＧ名
称、及びロケーション１１、入力信号値と出力測定値の
別１２、ＴＡＧの機能内容１３、入力信号、出力測定信
号の単位１４、入力信号値及び理想出力値１５［出力測
定値は空白］、模擬信号を入力するテストポイントや出
力信号値を測定するテストポイントの名称１６、各ロジ
ックの判定基準となる許容誤差値１８を表示する。

【０００７】その後、マルチプログラマ４、５を用い
て、信号発生器２および測定器３とプラント制御装置１
とを接続する。 そして、信号発生器２を操作し、プラント制御装置１
に模擬信号を入力して、装置の出力信号を測定器３で計
測する。

【０００８】その入力信号値、及び出力測定値１５を
画面に表示する。 全試験ステップ終了後、各ロジックの最大誤差値１８
を計算、表示し、試験結果を判定１９し、表示する。

【０００９】

【発明が解決しようとする課題】従来の試験装置は、試
験状況及び試験結果を以上のように表示していたので、
試験を行っているロジックの部位や信号の流れ方、不良
・異常ロジックの位置、及び 不良・異常ロジック発生
時の他ロジックへの影響範囲の確認には、人がブロック
図面と照らし合わせる必要があった。

【００１０】また、不良・異常ロジック発生時、再試験
には不良・異常ロジックだけでなく他のロジックも試験
する必要があり、時間など余分な労力が必要であった。

【００１１】この発明は上記のような課題を解決するた
めになされたものであり、的確な試験を実施し、その試
験状況及び試験結果が迅速に把握し、また、周辺ロジッ
クとの関連性が理解できるようにすることを目的とす
る。また、不良・異常ロジック発生時のロジックの確認
し、また、他ロジックへの影響範囲の確認などが容易に
できるようにすることを目的とする。

【００１２】

【課題を解決するための手段】（１）この発明に係わる
プラント制御装置の試験装置は、プラント制御装置を試
験し、その試験結果を表示装置の画面上に表示するプラ
ント制御装置の試験装置において、上記プラント制御装
置に所定の電気信号を入力して出力される電気信号を計
測して試験し、上記表示装置において、試験対象の上記
プラント制御装置内の各種制御用のロジックと、これら
ロジック間の信号の流れを表わす信号線と、上記ロジッ
クの入出点を示すテストポイントとをブロック図化して
画面上に表示すると共に、上記各テストポイントでの入
力値、出力測定値、基準測定値、誤差値等の試験結果を
画面上に表示するようにしたものである。

【００１３】（２）また、プラント制御装置を試験し、
その試験結果を表示装置の画面上に表示するプラント制
御装置の試験装置において、試験対象の上記プラント制
御装置内の制御用ロジックを指定すると、そのロジック
に対して所定の電気信号を入力して出力される電気信号
を計測して試験し、上記表示装置において、上記指定さ
れたロジックと、このロジック近傍の信号の流れを表わ
す信号線と、上記指定されたロジックの入出力点を示す
テストポイントとをブロック図化して画面上に表示する
と共に、上記テストポイントでの入力値、出力測定値、
基準測定値、誤差値等の試験結果を画面上に表示するも
のである。

【００１４】（３）また、上記（１）または（２）にお
いて、試験の結果、異常のロジックがあった場合、表示
装置において上記異常ロジックの画面上の表示を形状・
色調等で強調表示するようにしたものである。

【００１５】（４）また、上記（１）〜（３）のいずれ
か１項において、表示装置において、上記ブロック図化
した表示及び上記試験結果の表示をする代わりに、ロジ
ック毎の誤差値をグラフ化して表示するか、または、ロ
ジック毎の誤差値をグラフ化して表示すると共に、上記
ブロック図化した表示および試験結果の表示の少なくと
もいずれか一方を同時に表示するようにしたものであ
る。

【００１６】

【発明の実施の形態】実施の形態１．以下、この発明の
実施の形態１を図に基づいて説明する。図１はこの発明
の各実施の形態に共通の試験装置の構成図である。図に
おいて、１は試験対象であるプラント制御装置、２は模
擬入力を発生する信号発生器、３は測定器、４は信号発
生器とプラント制御装置を接続するマルチプログラマ
（スキャナ）、５は測定器とプラント制御装置を接続す
るマルチプログラマ（スキャナ）、６は入力出力信号、
及び不良・異常個所を表示する計算機、８はブロック図
化、グラフ化による試験内容表示である。

【００１７】図２、図３は試験状況をブロック図表示化
したもので、図２はその画面表示の全体を示し、図面の
大きさの制限のため図２に数値表示する部分を別にして
いるが、実際は図２の画面中に図３も表示される。図４
は試験動作のフローチャートである。

【００１８】図２、図３において、１１は信号を処理す
るロジックのＴＡＧ名称、及びロジックのロケーショ
ン、そのＬ／Ｌ機能を有した回路において、てい（ロケ
ーションとはＴＡＧ対象のロジックの制御盤内の位
置）、１２は入力信号を出力測定値の別（ＩＮＰＵＴ，
ＯＵＴＰＵＴ）、１３はＴＡＧの機能内容で、電気回路
の機能であり、例えば、Ｉ／Ｅは電流／電圧変換の機能
であり、Ｌ／ＬはＬＥＡＤ／ＬＡＧで、入力信号を時間
要素で模擬的に進めたり遅らせたりする機能である。

【００１９】１６は模擬信号を入力するテストポイント
や出力信号値を測定するテストポイントの名称、２１、
２２、２４、２６は入力信号値、または出力測定値とそ
の理想出力値（基準測定値）とその単位、２３、２５、
２７は各試験ステップにおける、出力測定値と理想出力
値の差とその最大値、及び判定基準となる許容誤差値、
１９は総合判定である。また、図２で信号の流れを矢印
で表す。

【００２０】次に動作について図４のフローチャートと
共に説明する。 操作者より試験開始を要求された計算機６は、ブロッ
ク図情報３１を参照する（ステップＳ１）。その内容
は、画面に試験を実施するプラント制御装置のロジック
のＴＡＧ名称、及びロジックのロケーション１１、ＴＡ
Ｇの機能内容１３、模擬信号を入力するテストポイント
や出力信号値を測定するテストポイントの名称１６等で
ある。

【００２１】次に試験情報（３２）を参照する。その
内容は、各ロジックの判定基準となる許容誤差値２３
ａ、２５ａ、２７ａ［出力測定値と理想出力値の差、及
びその最大値は空白］を参照する（ステップＳ２）。 ステップＳ１，２の参照情報を表示する（ステップＳ
３）。

【００２２】試験はマルチプログラマ４、５を用い
て、信号発生器、測定器とプラント制御装置を接続し
て、試験を開始する（ステップＳ４）。 信号発生器２を操作し、プラント制御装置に模擬信号
を入力して、装置の出力信号を測定器３で計測し、その
入力信号値、及び出力測定値２２、２４、２６と、出力
測定値と理想出力値との誤差値２３、２５、２７をロジ
ック毎に計算し、全試験ステップ終了後、各ロジックの
最大誤差値を計算し、最後に総合判定１９する（ステッ
プＳ５）。

【００２３】ステップＳ５の測定結果を図２，図３の
ように表示する（ステップＳ６）。 ステップＳ５の測定結果をディスク３３に格納する
（ステップＳ７）。

【００２４】尚、上記実施の形態では、試験状況をブロ
ック図化のみで表示した場合であるが、従来の表示も併
用することにより、より一層、試験状況がくわしく理解
できる。

【００２５】以上のようにこの実施の形態１において
は、試験状況及び試験結果の表示をブロック図化しなが
ら、試験時の信号値だけでなく信号の流れを示したた
め、試験状況が容易に、より深く把握できる。

【００２６】実施の形態２．以下、この発明の実施の形
態２を図に基づいて説明する。図５、図６は試験状況を
ブロック図表示化したもので、不良・異常ロジックを明
確化したものである。図５はその画面表示の全体を示
し、図面の大きさの制限のため図６に数値表示する部分
を別にしているが、実際は図５の画面中に図６も表示さ
れる。図７は試験動作のフローチャートである。

【００２７】図５、図６において、実施の形態１の図
２、図３と同一符号は同一のものを示し、説明を省略す
る。１１ａは不良・異常のロジックである。

【００２８】次に動作について図７のフローチャートと
共に説明する。 ステップＴ１からＴ５までは、実施の形態１の図４の
フローチャートのステップＳ１〜Ｓ５と同一であり、こ
れを実行する。 ステップＴ５の試験結果により、誤差値と許容誤差値
とを比較して誤差値が許容誤差値を超えておれば、その
ロジックは不良・異常と判定する（ステップＴ６）。 異常がなれれば、実施の形態１と同様にステップＴ５
の試験結果を表示し（ステップＴ７）、 その試験結果をディスクに格納する（ステップＴ
８）。 ステップＴ６で異常があると、ブロック図情報３１を
参照し、異常箇所のブロック図表示情報を検索する（ス
テップＴ９）。 ステップＴ５の試験結果を表示すると共に、ステップ
Ｔ９で検索した異常箇所を強調表示する。（ステップ１
０） この強調表示はマーキング（もしくは色付け）する。例
えば、図５の１１ａに示すように、二重丸で表示する。
また赤色表示したり、フリッカさせたりする。

【００２９】以上のようにこの実施の形態２において
は、正常・異常（良好・不良）ロジックの別を明確にし
たため、異常ロジック発生時などの場合に、適切な処置
をするための即応支援ができる。

【００３０】実施の形態３．以下、この発明の実施の形
態３を図に基づいて説明する。図８はロジック毎の試験
における試験状況をブロック図表示化したものである。
図９は試験動作のフローチャートである。図８におい
て、実施の形態１の図２、図３と同一符号は同一のもの
を示し、説明を省略する。

【００３１】次に動作について説明する。不良・異常ロ
ジック発生などのとき、操作者より単ロジックの試験開
始を要求された計算機６は、次の動作を実行する。 ステップＵ１からＵ３までは、実施の形態１の図４の
フローチャートのステップＳ１〜Ｓ３と同一であり、こ
れを実行する。

【００３２】操作者は試験範囲を指定する（ステップ
Ｕ４）。指定範囲の指定の仕方は、例えば、画面上でロ
ジックのＬＭ−５１７（１１）を指定する。複数のロジ
ックを指定する場合は、その初めのロジックと終わりの
ロジックを指定する。

【００３３】指定された範囲を中心として図８のよう
に表示される（ステップＵ５）。 試験が開始され、試験結果が測定される（ステップＵ
６、Ｕ７）。 異常箇所の有無を判定し（ステップＵ８）、

【００３４】異常が無ければ、試験結果を表示すると
共に、ディスクに格納する（ステップＵ９、Ｕ１０）。 ステップＵ８で異常箇所が有れば、ブロック図情報３
１から異常箇所を検索して、その部分を強調表示する
（ステップＵ１１、Ｕ１２）。

【００３５】以上のようにこの実施の形態３において
は、ロジック毎またはロジックの範囲を限定して試験を
可能にしたため、異常ロジック発生時などの再試験の効
率が向上でき、ロジックの状態がより詳しく把握でき
る。

【００３６】実施の形態４．以下、この発明の実施の形
態４を図に基づいて説明する。図１０は、ロジック毎に
測定値と理想出力値の誤差値をグラフ表示化したもの
で、図において、実施の形態１の図２、図３と同一符号
は同一のものを示し、説明を省略する。４１は入力値、
４２は測定値と理想値、４３は誤差値及び最大誤差値、
４３ｂは許容誤差値である。

【００３７】次に動作について説明する。操作者よりグ
ラフ表示を要求された計算機６は、実施の形態１の図４
のフローと同様の動作を実行する。但し、ステップＳ６
の試験結果の表示が異なる。即ち、図１０（ｂ）のよう
にステップＮｏ毎に入力信号値４１、出力測定値４２、
出力測定値と理想出力値の誤差値及び最大誤差値４３、
許容誤差値４３ｂを表示し、図１０（ａ）のように、グ
ラフ上にプロットする。

【００３８】なお、この実施の形態４は、実施の形態２
の図５、図６の表示の状態、または実施の形態３の図８
の表示の状態から図１０（ａ）のようにグラフ化するよ
うにしてもよい。

【００３９】以上のようにこの実施の形態４において
は、測定値と理想出力値の誤差値をグラフ表示化したた
め、試験状況の視認性が向上し、試験者の負荷低減に効
果がある。

【００４０】

【発明の効果】以上のようにこの発明によれば、試験状
況及び試験結果の表示をブロック図化すると共に、試験
時の信号値だけでなく信号の流れを示すようにしたの
で、試験状況が容易に把握でき、試験の効率化が図れ
る。

【００４１】また、ロジック毎または所定範囲のロジッ
クの試験を可能にしたので、異常ロジック発生時などの
再試験が容易にでき、試験効率の向上が図れる。

【００４２】また、異常（不良）ロジックを明確に表示
するようにしたので、異常ロジック発生時に即応性のあ
る適切な処置を支援することができる。

【００４３】また、誤差値をグラフ化して表示したの
で、試験状況の視認性が向上し、試験者の負荷低減が図
れる。

【図面の簡単な説明】

【図１】 この発明の実施の形態１による試験装置の構
成図である。

【図２】 この発明の実施の形態１による試験状況をブ
ロック図化した表示画面の図である。

【図３】 この発明の実施の形態１による試験状況をブ
ロック図化した表示画面の一部の図である。

【図４】 この発明の実施の形態１による試験動作のフ
ローチャートである。

【図５】 この発明の実施の形態２による試験状況をブ
ロック図化し、異常ロジックを明確化した表示画面の図
である。

【図６】 この発明の実施の形態２による試験状況をブ
ロック図化し、異常ロジックを明確化した表示画面の一
部の図である。

【図７】 この発明の実施の形態２による試験動作のフ
ローチャートである。

【図８】 この発明の実施の形態３によるロジック毎の
試験における試験状況をブロック図化した表示画面の図
である。

【図９】 この発明の実施の形態３による試験動作のフ
ローチャートである。

【図１０】 この発明の実施の形態４によるロジック毎
の測定値、理想出力値、の誤差値とグラフ化した表示画
面の図である。

【図１１】 従来の試験装置の構成図である。

【図１２】 従来の試験結果を表示した画面の図であ
る。

【符号の説明】

１ プラント制御装置 ２ 信号発生器 ３ 測定器 ４，５ マルチプログ
ラマ（スキャナ） ６ 計算機 ７ 表形式による試験
内容表示 ８ ブロック図化、グラフ化による試験内容表示 １１ロジックのＴＡＧ名称及びロケーション ｌ１ａ不良・異常ロジック １２ 入力信号値と出
力測定値の別 １３ ＴＡＧの機能内容 １４ 入力信号及び出
力測定信号の単位 １５ 入力信号値または出力測定値とその理想出力値
（基準測定値） １６ テストポイント １７ 最大値誤差 １８ 許容誤差 １９ 総合判定 ２１，４１ 入力信号値 ２２ ２４ ２６ ４２ 出力測定値とその理想出力値
（基準測定値） ２３ ２５ ２７ ４３ 誤差値及び最大誤差値 ２３ａ ２５ａ ２７ａ ４３ｂ 判定基準となる許容
誤差値 ２７ｂ 許容誤差超過の誤差値 ３１ ブロック図情報 ３２ 試験情報 ３３ ディスク

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 プラント制御装置を試験し、その試験結
   果を表示装置の画面上に表示するプラント制御装置の試
   験装置において、上記プラント制御装置に所定の電気信
   号を入力して出力される電気信号を計測して試験し、上
   記表示装置において、試験対象の上記プラント制御装置
   内の各種制御用のロジックと、これらロジック間の信号
   の流れを表わす信号線と、上記ロジックの入出点を示す
   テストポイントとをブロック図化して画面上に表示する
   と共に、上記各テストポイントでの入力値、出力測定
   値、基準測定値、誤差値等の試験結果を画面上に表示す
   るようにしたことを特徴とするプラント制御装置の試験
   装置。
2. 【請求項２】 プラント制御装置を試験し、その試験結
   果を表示装置の画面上に表示するプラント制御装置の試
   験装置において、試験対象の上記プラント制御装置内の
   制御用ロジックを指定すると、そのロジックに対して所
   定の電気信号を入力して出力される電気信号を計測して
   試験し、上記表示装置において、上記指定されたロジッ
   クと、このロジック近傍の信号の流れを表わす信号線
   と、上記指定されたロジックの入出力点を示すテストポ
   イントとをブロック図化して画面上に表示すると共に、
   上記テストポイントでの入力値、出力測定値、基準測定
   値、誤差値等の試験結果を画面上に表示するようにした
   ことを特徴とするプラント制御装置の試験装置。
3. 【請求項３】 請求項１または請求項２のプラント制御
   装置の試験装置において、試験の結果、異常のロジック
   があった場合、表示装置において上記異常ロジックの画
   面上の表示を形状・色調等で強調表示するようにしたこ
   とを特徴とするプラント制御装置の試験装置。
4. 【請求項４】 請求項１〜３のいずれか１項のプラント
   制御装置の試験装置において、表示装置において、上記
   ブロック図化した表示及び上記試験結果の表示をする代
   わりに、ロジック毎の誤差値をグラフ化して表示する
   か、または、ロジック毎の誤差値をグラフ化して表示す
   ると共に、上記ブロック図化した表示および試験結果の
   表示の少なくともいずれか一方を同時に表示するように
   したことを特徴とするプラント制御装置の試験装置。