JPH0311007B2 - - Google Patents
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- JPH0311007B2 JPH0311007B2 JP56172400A JP17240081A JPH0311007B2 JP H0311007 B2 JPH0311007 B2 JP H0311007B2 JP 56172400 A JP56172400 A JP 56172400A JP 17240081 A JP17240081 A JP 17240081A JP H0311007 B2 JPH0311007 B2 JP H0311007B2
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 15
- 230000010365 information processing Effects 0.000 claims description 5
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 4
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 12
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 6
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 6
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/13—Optical detectors therefor
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は微小スポツト状に絞つた光を照射して
デイスク上の記録媒体に情報を記録しまた記録さ
れた情報を再生する光学装置に関し、特に記録媒
体上での微小スポツト光の大きさが記録再生動作
に対し常に最適径に保持されるように焦点制御を
行なう光学式情報処理装置に関するものである。
デイスク上の記録媒体に情報を記録しまた記録さ
れた情報を再生する光学装置に関し、特に記録媒
体上での微小スポツト光の大きさが記録再生動作
に対し常に最適径に保持されるように焦点制御を
行なう光学式情報処理装置に関するものである。
デイスクに記録された情報を光学的に再生する
手段としてはVLP等のようなビデオデイスクが
よく知られている。ビデオデイスクでは、直径約
1μｍ程度に絞つたスポツト光を焦点制御、トラ
ツキング制御等の制御を行ないながらあらかじめ
記録された情報トラツク上に照射し、トラツク上
を正しく追跡することによつて情報が再生され
る。しかしながら、ビデオデイスクのデイスク板
は読取動作において高速で回転駆動されるため、
回転時の面振れあるいは外部振動等によつてスポ
ツト光照射点の位置が絶えず変動する。従つて、
情報を正確に読取るためにはこのデイスク板の位
置変動に追従してスポツト光の焦点制御及びトラ
ツキング制御を確実に行なうことが要求され、デ
イスク板及び情報トラツクの位置検出機構及びス
ポツト光照射系の駆動制御機構が必要となる。
手段としてはVLP等のようなビデオデイスクが
よく知られている。ビデオデイスクでは、直径約
1μｍ程度に絞つたスポツト光を焦点制御、トラ
ツキング制御等の制御を行ないながらあらかじめ
記録された情報トラツク上に照射し、トラツク上
を正しく追跡することによつて情報が再生され
る。しかしながら、ビデオデイスクのデイスク板
は読取動作において高速で回転駆動されるため、
回転時の面振れあるいは外部振動等によつてスポ
ツト光照射点の位置が絶えず変動する。従つて、
情報を正確に読取るためにはこのデイスク板の位
置変動に追従してスポツト光の焦点制御及びトラ
ツキング制御を確実に行なうことが要求され、デ
イスク板及び情報トラツクの位置検出機構及びス
ポツト光照射系の駆動制御機構が必要となる。
本発明は、上述の焦点制御を簡単な光学系で行
なうことのできるピツクアツプ装置に焦点位置検
出機構を備えた新規有用な光学式情報処理装置を
提供することを目的とするものである。
なうことのできるピツクアツプ装置に焦点位置検
出機構を備えた新規有用な光学式情報処理装置を
提供することを目的とするものである。
以下、本発明を実施例に従つて図面を参照しな
がら詳説する。
がら詳説する。
第１図は本発明を用いたピツクアツプ装置の一
実施例を示す構成図である。
実施例を示す構成図である。
半導体レーザ１から放射されたレーザ光はその
偏光面が紙面と平行になるように設定されている
ため、偏光膜を有するビームスプリツター２に入
射した場合、偏光膜の有する特性によつてビーム
スプリツター２をほぼ完全に透過しコリメートレ
ンズ３に入射する。コリメートレンズ３によつて
平行にされた光束はλ／４板４を通過することに
より円偏光に変換された後、対物レンズ５に入射
される。対物レンズ５を出射した光束は集光させ
て対物レンズ５の焦点位置に配置されたデイスク
６面上に微小な光スポツトを形成する。デイスク
６面から反射された光束は入射時の光束に対して
逆回りの円偏光になつて再び対物レンズ５に入射
され、合焦状態で平行光束となりλ／４板４に入
射する。λ／４板４を出射した光束は入射時の光
束に対し直線偏光の向きが90゜変換され、再びコ
リメートレンズ３を通過した後偏光膜を有するビ
ームスプリツター２に入射され、ビームスプリツ
ター２でほぼ完全に反射し検出器８に入射され
る。
偏光面が紙面と平行になるように設定されている
ため、偏光膜を有するビームスプリツター２に入
射した場合、偏光膜の有する特性によつてビーム
スプリツター２をほぼ完全に透過しコリメートレ
ンズ３に入射する。コリメートレンズ３によつて
平行にされた光束はλ／４板４を通過することに
より円偏光に変換された後、対物レンズ５に入射
される。対物レンズ５を出射した光束は集光させ
て対物レンズ５の焦点位置に配置されたデイスク
６面上に微小な光スポツトを形成する。デイスク
６面から反射された光束は入射時の光束に対して
逆回りの円偏光になつて再び対物レンズ５に入射
され、合焦状態で平行光束となりλ／４板４に入
射する。λ／４板４を出射した光束は入射時の光
束に対し直線偏光の向きが90゜変換され、再びコ
リメートレンズ３を通過した後偏光膜を有するビ
ームスプリツター２に入射され、ビームスプリツ
ター２でほぼ完全に反射し検出器８に入射され
る。
第２図は本発明を用いたピツクアツプ装置の他
の実施例を示す構成図である。
の実施例を示す構成図である。
本実施例に於いては、半導体レーザ１から放射
されたレーザ光はまずコリメートレンズ３に入射
し、平行光にされた後ビームスプリツター２に入
射し、その後同様にλ／４板４、対物レンズ５を
透過した後デイスク６に集光される。デイスク６
面から反射された光束は同様にして対物レンズ
５、λ／４板４を透過後ビームスプリツター２で
ほぼ完全に反射されてカツプリングレンズ７に入
射する。カツプリングレンズ７を透過したレーザ
光は検出器８上に所定のビーム径で入射する。
されたレーザ光はまずコリメートレンズ３に入射
し、平行光にされた後ビームスプリツター２に入
射し、その後同様にλ／４板４、対物レンズ５を
透過した後デイスク６に集光される。デイスク６
面から反射された光束は同様にして対物レンズ
５、λ／４板４を透過後ビームスプリツター２で
ほぼ完全に反射されてカツプリングレンズ７に入
射する。カツプリングレンズ７を透過したレーザ
光は検出器８上に所定のビーム径で入射する。
第３図は上記実施例で用いた検出器８の主とし
て受光面の形状を示す構成図である。
て受光面の形状を示す構成図である。
この検出器８の受光面は両側に大きな受光面を
もつ２組の分割検出器８−a1，８−a2と８−b1，
８−b2と中央部に両側の検出器より小さな受光面
をもつ１組の分割検出器８−c1，８−c2からなつ
ており、各組の検出器の分割部が一直線状になる
ように近接して配置されている。検出器８は第１
図ではコリメートレンズ３の光軸上に、第２図で
はカツプリングレンズ７の光軸上に検出器中心が
一致するように光軸に垂直に設置されており、コ
リメートレンズ３あるいはカツプリングレンズ７
からの検出器８での間隔は検出器８の大きさとコ
リメートレンズ３あるいはカツプリングレンズ７
の焦点距離及び口径で定まる所定の位置に設定さ
れている。
もつ２組の分割検出器８−a1，８−a2と８−b1，
８−b2と中央部に両側の検出器より小さな受光面
をもつ１組の分割検出器８−c1，８−c2からなつ
ており、各組の検出器の分割部が一直線状になる
ように近接して配置されている。検出器８は第１
図ではコリメートレンズ３の光軸上に、第２図で
はカツプリングレンズ７の光軸上に検出器中心が
一致するように光軸に垂直に設置されており、コ
リメートレンズ３あるいはカツプリングレンズ７
からの検出器８での間隔は検出器８の大きさとコ
リメートレンズ３あるいはカツプリングレンズ７
の焦点距離及び口径で定まる所定の位置に設定さ
れている。
次に第４図に従つて焦点制御を行うための合
焦、非合焦状態を検出する原理について説明す
る。尚、第４図では理解を容易にするために光デ
イスク６から反射して検出器８に入射するまでを
図示し、対物レンズ５とコリメートレンズ３ある
いはカツプリングレンズ７を１個の対物レンズ９
で代用している。対物レンズ９とデイスク６との
各位置での検出器上に照射される光スポツト１０
−ａ，１０−ｂ，１０−ｃ，１０−ｄの形状も合
せて図示する。
焦、非合焦状態を検出する原理について説明す
る。尚、第４図では理解を容易にするために光デ
イスク６から反射して検出器８に入射するまでを
図示し、対物レンズ５とコリメートレンズ３ある
いはカツプリングレンズ７を１個の対物レンズ９
で代用している。対物レンズ９とデイスク６との
各位置での検出器上に照射される光スポツト１０
−ａ，１０−ｂ，１０−ｃ，１０−ｄの形状も合
せて図示する。
まず第４図ｂに示すように合焦位置ではデイス
ク６から反射してきた光束は検出器８上に光スポ
ツト１０−ｂの形状で照射され、この時中央の１
組の分割検出器８−ｃの出力と両側の２組の分割
検出器８−ａ，８−ｂの出力の和が相等しくなる
ように検出器８が設定されている。尚、同図に明
瞭に記載されているように中央に配置された分割
検出器８−ｃの縦の長さは合焦状態での検出器８
への反射光スポツト１０−ｃの径に略一致してい
る。従つて中央の１組の分割検出器８−ｃの出力
と両側の２組の分割検出器８−ａ，８−ｂの出力
の和との差 VF＝｛V(8-a)＋V(8-b)｝−V(8-c)は零になる。ここ
で、V(8-a)，V(8-b)，V(8-c)は各組の分割検出器か
らの出力値を表わす。
ク６から反射してきた光束は検出器８上に光スポ
ツト１０−ｂの形状で照射され、この時中央の１
組の分割検出器８−ｃの出力と両側の２組の分割
検出器８−ａ，８−ｂの出力の和が相等しくなる
ように検出器８が設定されている。尚、同図に明
瞭に記載されているように中央に配置された分割
検出器８−ｃの縦の長さは合焦状態での検出器８
への反射光スポツト１０−ｃの径に略一致してい
る。従つて中央の１組の分割検出器８−ｃの出力
と両側の２組の分割検出器８−ａ，８−ｂの出力
の和との差 VF＝｛V(8-a)＋V(8-b)｝−V(8-c)は零になる。ここ
で、V(8-a)，V(8-b)，V(8-c)は各組の分割検出器か
らの出力値を表わす。
しかしながら第４図ａに示す如くデイスク６が
合焦状態からずれて対物レンズ９から遠ざかるに
つれ検出器８上の光スポツト１０−ａは小さくな
り、このため両側の２組の分割検出器８−ａ，８
−ｂへの入射光量は少なくなり、一方中央の１組
の分割検出器８−ｃへの入射光量は増加する。こ
のため、中央の１組の分割検出器８−ｃの出力と
両側の２組の分割検出器８−ａ，８−ｂの出力の
和とに差動出力差VF＝｛V(8-a)＋V(8-b)｝−V(8-c)＜
０が表われる。
合焦状態からずれて対物レンズ９から遠ざかるに
つれ検出器８上の光スポツト１０−ａは小さくな
り、このため両側の２組の分割検出器８−ａ，８
−ｂへの入射光量は少なくなり、一方中央の１組
の分割検出器８−ｃへの入射光量は増加する。こ
のため、中央の１組の分割検出器８−ｃの出力と
両側の２組の分割検出器８−ａ，８−ｂの出力の
和とに差動出力差VF＝｛V(8-a)＋V(8-b)｝−V(8-c)＜
０が表われる。
逆に第４図ｃに示すようにデイスク６が合焦状
態からずれて対物レンズ６に接近すると結像位置
は後方に移行し、検出器８上での光スポツト１０
−ｃは大きくなる。このため両側の２組の分割検
出器８−ａ，８−ｂへの入射光量は増大し、中央
の１組の分割検出器８−ｃへの入射光量は減少す
る。この結果、中央の１組の分割検出器８−ｃの
出力と両側の２組の分割検出器８−ａ，８−ｂの
出力の和との出力差に第４図ａの場合と逆符号の
出力差が現われる。
態からずれて対物レンズ６に接近すると結像位置
は後方に移行し、検出器８上での光スポツト１０
−ｃは大きくなる。このため両側の２組の分割検
出器８−ａ，８−ｂへの入射光量は増大し、中央
の１組の分割検出器８−ｃへの入射光量は減少す
る。この結果、中央の１組の分割検出器８−ｃの
出力と両側の２組の分割検出器８−ａ，８−ｂの
出力の和との出力差に第４図ａの場合と逆符号の
出力差が現われる。
このようにして、中央の１組の分割検出器８−
ｃからの出力と両側の２組の分割検出器８−ａ，
８−ｂからの出力との出力差VFから、デイスク
６の合焦位置を境としデイスク６位置により互い
に逆符号の信号が検出されることになる。
ｃからの出力と両側の２組の分割検出器８−ａ，
８−ｂからの出力との出力差VFから、デイスク
６の合焦位置を境としデイスク６位置により互い
に逆符号の信号が検出されることになる。
しかしながら第４図ａに示す位置よりも更にデ
イスク６が対物レンズ９から遠ざかつた場合には
検出器８前方で結像した後検出器８に照射するた
め検出器８上の光スポツトは次第に大きくなる。
このため中央の１組の分割検出器８−ｃからの出
力と両側の２組の分割検出器８−ａ，８−ｂから
の出力との出力差VFは第４図ａのデイスク６位
置より更に対物レンズ９から遠ざかるにつれて第
４図ｄに示すようになり第４図ｂに示すデイスク
位置に対応する出力差VFと同じ出力差VFが得ら
れる。第５図は対物レンズ９にデイスク６を密着
させ対物レンズ９からデイスク６を漸次離間せし
める際に上記３組の検出器より得られる出力差
VFの変化を示す信号波形図である。図中のａ，
ｂ，ｃ，ｄは各々第４図ａ，ｂ，ｃ，ｄに対応す
る信号である。このように３組の検出器の差動出
力VF＝｛V(8-a)＋V(8-b)｝−V(8-c)が零になるデイス
ク６位置は第４図ｂの合焦点位置と第４図ｄの擬
合焦点位置の２箇所存在するが、例えばデイスク
６を対物レンズ９から次第に離間せしめることに
よつて出力差VFが正符号から負符号に変化する
位置が合焦状態で負符号から正符号に変化する位
置が擬合焦状態となり、両者を区別することがで
きる。また、デイスク６を対物レンズ９に接近さ
せていた場合は上記と逆になることは明らかであ
り、差動出力VF′＝V(8-c)−｛V(8-a)＋V(8-b)｝を得
ることにより同様にデイスク６位置を検知するこ
とができる。
イスク６が対物レンズ９から遠ざかつた場合には
検出器８前方で結像した後検出器８に照射するた
め検出器８上の光スポツトは次第に大きくなる。
このため中央の１組の分割検出器８−ｃからの出
力と両側の２組の分割検出器８−ａ，８−ｂから
の出力との出力差VFは第４図ａのデイスク６位
置より更に対物レンズ９から遠ざかるにつれて第
４図ｄに示すようになり第４図ｂに示すデイスク
位置に対応する出力差VFと同じ出力差VFが得ら
れる。第５図は対物レンズ９にデイスク６を密着
させ対物レンズ９からデイスク６を漸次離間せし
める際に上記３組の検出器より得られる出力差
VFの変化を示す信号波形図である。図中のａ，
ｂ，ｃ，ｄは各々第４図ａ，ｂ，ｃ，ｄに対応す
る信号である。このように３組の検出器の差動出
力VF＝｛V(8-a)＋V(8-b)｝−V(8-c)が零になるデイス
ク６位置は第４図ｂの合焦点位置と第４図ｄの擬
合焦点位置の２箇所存在するが、例えばデイスク
６を対物レンズ９から次第に離間せしめることに
よつて出力差VFが正符号から負符号に変化する
位置が合焦状態で負符号から正符号に変化する位
置が擬合焦状態となり、両者を区別することがで
きる。また、デイスク６を対物レンズ９に接近さ
せていた場合は上記と逆になることは明らかであ
り、差動出力VF′＝V(8-c)−｛V(8-a)＋V(8-b)｝を得
ることにより同様にデイスク６位置を検知するこ
とができる。
以上の如く、３組の検出器の差動出力VFの変
化を検出することにより合焦状態と非合焦状態の
識別を行うことができ、またデイスク６の合焦位
置を境とする互いに逆符号の信号を検出すること
により合焦位置と擬合焦位置の識別を行なうこと
ができる。差動出力VFはデイスク位置検出信号
として光学系の駆動機構に帰還され、光学系は集
光スポツトを合焦状態でデイスク６面へ照射する
ように制御駆動される。
化を検出することにより合焦状態と非合焦状態の
識別を行うことができ、またデイスク６の合焦位
置を境とする互いに逆符号の信号を検出すること
により合焦位置と擬合焦位置の識別を行なうこと
ができる。差動出力VFはデイスク位置検出信号
として光学系の駆動機構に帰還され、光学系は集
光スポツトを合焦状態でデイスク６面へ照射する
ように制御駆動される。
次に第６図に従つてトラツキング制御を行うた
めのトラツク位置を検出する原理について説明す
る。第６図はデイスク６面のトラツクに情報とし
て記録されたピツト１１と集光スポツト１３の各
位置関係とそれに対応する検出器８への入射光ス
ポツト１０、ピツト像１２を模式図として示して
いる。
めのトラツク位置を検出する原理について説明す
る。第６図はデイスク６面のトラツクに情報とし
て記録されたピツト１１と集光スポツト１３の各
位置関係とそれに対応する検出器８への入射光ス
ポツト１０、ピツト像１２を模式図として示して
いる。
まず第６図ｂに示す如く、ピツト１１中心と集
光スポツト１３中心が正確に合致してトラツク上
に光照射されているときには、検出器上の入射光
スポツト１０−ｂの中央部にピツト像１２が形成
される。このため検出器８の中央線で上下２分割
された上半分の３個の分割検出器８−a1，８−
b1，８−c1の和の出力と下半分の３個の分割検出
器８−a2，８−b2，８−c2の和の出力は相等しく
なるため図中の上半分の分割検出器８−a1，８−
b1，８−c1の和に対応する出力と下半分の分割検
出器８−a2，８−b2，８−c2の和に対応する出力
の差VTは零になる。
光スポツト１３中心が正確に合致してトラツク上
に光照射されているときには、検出器上の入射光
スポツト１０−ｂの中央部にピツト像１２が形成
される。このため検出器８の中央線で上下２分割
された上半分の３個の分割検出器８−a1，８−
b1，８−c1の和の出力と下半分の３個の分割検出
器８−a2，８−b2，８−c2の和の出力は相等しく
なるため図中の上半分の分割検出器８−a1，８−
b1，８−c1の和に対応する出力と下半分の分割検
出器８−a2，８−b2，８−c2の和に対応する出力
の差VTは零になる。
次に第６図ａに示す如くピツト１１中心が集光
スポツト１３中心からずれ、図中では下方に移動
した場合、検出器上の入射光スポツト１０−ｂの
上方にピツト像１２が形成される。このため検出
器８の図中の上半分の３個の分割検出器８−a1，
８−b1，８−c1の和の出力は下半分の３個の分割
検出器８−a2，８−b2，８−c2の和の出力より小
さくなるため上半分の分割検出器８−a1，８−
b1，８−c1の和に対応する出力と下半分の分割検
出器８−a2，８−b2，８−c2の和に対応する出力
の差VTが差動出力として発生する。
スポツト１３中心からずれ、図中では下方に移動
した場合、検出器上の入射光スポツト１０−ｂの
上方にピツト像１２が形成される。このため検出
器８の図中の上半分の３個の分割検出器８−a1，
８−b1，８−c1の和の出力は下半分の３個の分割
検出器８−a2，８−b2，８−c2の和の出力より小
さくなるため上半分の分割検出器８−a1，８−
b1，８−c1の和に対応する出力と下半分の分割検
出器８−a2，８−b2，８−c2の和に対応する出力
の差VTが差動出力として発生する。
一方、第６図ｃに示す如くピツト１１中心が集
光スポツト１３中心からずれて、図中では上方に
移動した場合には第６図ａとは逆の結果になり検
出器上の入射光スポツト１０−ｂの下方にピツト
像１２が形成される。このため、検出器８の図中
上半分の３個の分割検出器８−a1，８−b1，８−
c1の和の出力は下半分の３個の分割検出器８−
a2，８−b2，８−c2の和の出力より大きくなるた
め、上半分の分割検出器８−a1，８−b1，８−c1
の和に対応する出力と下半分の分割検出器８−
a2，８−b2，８−c2の和に対応する出力の差VTが
第６図ａとは逆符号の差動出力として現われる。
光スポツト１３中心からずれて、図中では上方に
移動した場合には第６図ａとは逆の結果になり検
出器上の入射光スポツト１０−ｂの下方にピツト
像１２が形成される。このため、検出器８の図中
上半分の３個の分割検出器８−a1，８−b1，８−
c1の和の出力は下半分の３個の分割検出器８−
a2，８−b2，８−c2の和の出力より大きくなるた
め、上半分の分割検出器８−a1，８−b1，８−c1
の和に対応する出力と下半分の分割検出器８−
a2，８−b2，８−c2の和に対応する出力の差VTが
第６図ａとは逆符号の差動出力として現われる。
即ち、第６図ａのようにピツト１１中心が集光
スポツト１３中心より下方に位置した場合と第６
図ｃのように上方に位置した場合とでは第６図ｂ
のようにピツト１１中心と集光スポツト１３中心
が合致した状態を境にして分割検出器８−a1，８
−b1，８−c1の和の出力に対応する出力と分割検
出器８−a2，８−b2，８−c2の和の出力に対応す
る出力は反転するため上記２組に対応する和の出
力の差動増幅を行なうことによつてピツト位置即
ちトラツク位置に対応した互いに逆符号の信号が
検出されることになる。
スポツト１３中心より下方に位置した場合と第６
図ｃのように上方に位置した場合とでは第６図ｂ
のようにピツト１１中心と集光スポツト１３中心
が合致した状態を境にして分割検出器８−a1，８
−b1，８−c1の和の出力に対応する出力と分割検
出器８−a2，８−b2，８−c2の和の出力に対応す
る出力は反転するため上記２組に対応する和の出
力の差動増幅を行なうことによつてピツト位置即
ちトラツク位置に対応した互いに逆符号の信号が
検出されることになる。
第７図は集光スポツト１３がピツト列を横切つ
た場合の和信号即ち各分割検出器の和の出力とト
ラツク誤差信号即ちVT＝｛V(8-a1)＋V(8-b1)＋
V(8-c1)｝−｛V(8-a2)＋V(8-b2)＋V(8-c2)｝の信号を一
例を示す波形図である。ここでトラツク誤差信号
が零となる位置が和信号の最少値になる時と、和
信号の最大置になる時の２箇所存在するが和信号
が最大値となる時はピツトとピツトの中間位置に
集光スポツト１３が在る時であり、和信号が最少
値となる時は集光スポツト１３がピツト中心に合
致した時である。更にトラツク誤差信号に示した
ように上述の２つの場合は信号の変化の様子すな
わち図中では信号が負から正に変化する所が合ト
ラツク状態になつていることから識別することが
できる。
た場合の和信号即ち各分割検出器の和の出力とト
ラツク誤差信号即ちVT＝｛V(8-a1)＋V(8-b1)＋
V(8-c1)｝−｛V(8-a2)＋V(8-b2)＋V(8-c2)｝の信号を一
例を示す波形図である。ここでトラツク誤差信号
が零となる位置が和信号の最少値になる時と、和
信号の最大置になる時の２箇所存在するが和信号
が最大値となる時はピツトとピツトの中間位置に
集光スポツト１３が在る時であり、和信号が最少
値となる時は集光スポツト１３がピツト中心に合
致した時である。更にトラツク誤差信号に示した
ように上述の２つの場合は信号の変化の様子すな
わち図中では信号が負から正に変化する所が合ト
ラツク状態になつていることから識別することが
できる。
このようにして得られたデイスク位置検出信号
とトラツク位置検出信号を各々の駆動系に於ける
制御用コイルに帰還して光学系の光照射点を移動
させ焦点制御、トラツキング制御を行なうことに
よりデイスク６が振動した場合でも常に合焦状態
でトラツク上に正確に集光スポツトを照射するこ
とができ、安定した情報再生動作が確立される。
さらに第６図で示したようにトラツク位置を検出
するには図中上半分の３個の分割検出器の和の出
力と、下半分の３個の分割検出器の和の出力の差
の出力値を検出するだけでなく、少なくとも上下
各一対の分割検出器の出力の差の出力、例えば第
８図に示すように、中央部の上下の分割検出器の
差の出力あるいは第９図に示すように両側の上下
の分割検出器の差の出力を検出することによつて
同様の原理によりトラツク位置を検出することが
できる。
とトラツク位置検出信号を各々の駆動系に於ける
制御用コイルに帰還して光学系の光照射点を移動
させ焦点制御、トラツキング制御を行なうことに
よりデイスク６が振動した場合でも常に合焦状態
でトラツク上に正確に集光スポツトを照射するこ
とができ、安定した情報再生動作が確立される。
さらに第６図で示したようにトラツク位置を検出
するには図中上半分の３個の分割検出器の和の出
力と、下半分の３個の分割検出器の和の出力の差
の出力値を検出するだけでなく、少なくとも上下
各一対の分割検出器の出力の差の出力、例えば第
８図に示すように、中央部の上下の分割検出器の
差の出力あるいは第９図に示すように両側の上下
の分割検出器の差の出力を検出することによつて
同様の原理によりトラツク位置を検出することが
できる。
以上詳述したように複数の分割検出器よりなる
検出器系を用いることによつて焦点制御を簡単な
光学系で行なうことのできる焦点制御機構を備え
たピツクアツプ装置の光学系を構成することがで
き、情報読取を確実に実行し得る光学式情報処理
装置が得られる。
検出器系を用いることによつて焦点制御を簡単な
光学系で行なうことのできる焦点制御機構を備え
たピツクアツプ装置の光学系を構成することがで
き、情報読取を確実に実行し得る光学式情報処理
装置が得られる。
第１図及び第２図はそれぞれ本発明のデイスク
位置検出系を有するピツクアツプ装置の実施例を
示す構成図である。第３図は第１図及び第２図の
ピツクアツプ装置で用いた検出器の１実施例を示
す説明図である。第４図は焦点誤差検出機構の原
理を説明する説明図である。第５図はデイスク位
置検出信号すなわち焦点誤差信号の１例を示す波
形図である。第６図はトラツク誤差検出機構の原
理を説明する説明図である。第７図はトラツク位
置検出信号すなわちトラツク誤差信号の１例を示
す波形図である。第８図及び第９図は本発明の他
の実施例を示す検出器の説明図である。 １……半導体レーザ素子、２……偏光ビームス
プリツタ、３……コリメートレンズ、４……λ／
４板、５……対物レンズ、６……デイスク、７…
…カツプリングレンズ、８……検出器、９……対
物レンズ、１０−ａ，１０−ｂ，１０−ｃ，１０
−ｄ……入射スポツト光、１１……ピツト、１２
……ピツト像、１３……集光スポツト。
位置検出系を有するピツクアツプ装置の実施例を
示す構成図である。第３図は第１図及び第２図の
ピツクアツプ装置で用いた検出器の１実施例を示
す説明図である。第４図は焦点誤差検出機構の原
理を説明する説明図である。第５図はデイスク位
置検出信号すなわち焦点誤差信号の１例を示す波
形図である。第６図はトラツク誤差検出機構の原
理を説明する説明図である。第７図はトラツク位
置検出信号すなわちトラツク誤差信号の１例を示
す波形図である。第８図及び第９図は本発明の他
の実施例を示す検出器の説明図である。 １……半導体レーザ素子、２……偏光ビームス
プリツタ、３……コリメートレンズ、４……λ／
４板、５……対物レンズ、６……デイスク、７…
…カツプリングレンズ、８……検出器、９……対
物レンズ、１０−ａ，１０−ｂ，１０−ｃ，１０
−ｄ……入射スポツト光、１１……ピツト、１２
……ピツト像、１３……集光スポツト。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ デイスク面上の記録トラツクに微少スポツト
光を照射して光学的に記録情報の再生を実行する
光学式情報処理装置において、 正常状態で前記微少スポツト光が前記デイスク
面において合焦状態となるように入射光学系を配
置し、 前記デイスク面からの反射光が結像される結像
位置の近傍に３種の光検出器を横一列に互いに近
接して配置し、 前記合焦状態で前記反射光の像が前記３種の光
検出器に跨り、且つ中央に配置された光検出器の
縦の長さが合焦状態での光検出器への反射光スポ
ツト径に略一致し、その両側の光検出器の縦の長
さが前記中央に配置された光検出器の縦の長さに
比して十分長くなるように前記３種の光検出器を
構成し、 前記中央に配置された光検出器の検出出力と前
記両側の光検出器の検出出力和との出力差を前記
微少スポツト光の焦点位置検出信号として検出す
る検出手段を具備したことを特徴とする光学式情
報処理装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56172400A JPS5873024A (ja) | 1981-10-27 | 1981-10-27 | 光学式情報処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56172400A JPS5873024A (ja) | 1981-10-27 | 1981-10-27 | 光学式情報処理装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5873024A JPS5873024A (ja) | 1983-05-02 |
| JPH0311007B2 true JPH0311007B2 (ja) | 1991-02-15 |
Family
ID=15941236
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56172400A Granted JPS5873024A (ja) | 1981-10-27 | 1981-10-27 | 光学式情報処理装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5873024A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4742218A (en) * | 1985-03-11 | 1988-05-03 | Hitachi, Ltd. | Focus error detection apparatus utilizing focusing an front and rear sides of focal planes |
| JPH05210858A (ja) * | 1991-10-29 | 1993-08-20 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | サーボ・クロストークを減少させるための収差補償を備えた光学式データ記憶システム |
| JP2685015B2 (ja) * | 1995-03-17 | 1997-12-03 | 株式会社日立製作所 | 光ディスク装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS53100203A (en) * | 1977-02-15 | 1978-09-01 | Mitsubishi Electric Corp | Optical reproducer |
| JPS53123103A (en) * | 1977-04-02 | 1978-10-27 | Mansei Kogyo Kk | Optical information reader |
-
1981
- 1981-10-27 JP JP56172400A patent/JPS5873024A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS53100203A (en) * | 1977-02-15 | 1978-09-01 | Mitsubishi Electric Corp | Optical reproducer |
| JPS53123103A (en) * | 1977-04-02 | 1978-10-27 | Mansei Kogyo Kk | Optical information reader |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5873024A (ja) | 1983-05-02 |
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