JPH0252514A - メカニカルフィルター - Google Patents
メカニカルフィルターInfo
- Publication number
- JPH0252514A JPH0252514A JP20444288A JP20444288A JPH0252514A JP H0252514 A JPH0252514 A JP H0252514A JP 20444288 A JP20444288 A JP 20444288A JP 20444288 A JP20444288 A JP 20444288A JP H0252514 A JPH0252514 A JP H0252514A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- vibrator
- vibration
- current
- vibrators
- mechanical filter
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 18
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 16
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims abstract description 16
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims abstract description 16
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 12
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims abstract description 9
- 230000006698 induction Effects 0.000 claims abstract description 7
- 230000005284 excitation Effects 0.000 claims description 12
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 14
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 9
- ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N Boron Chemical compound [B] ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 description 5
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N Hydrochloric acid Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 3
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 3
- 125000004435 hydrogen atom Chemical class [H]* 0.000 description 3
- 229910000041 hydrogen chloride Inorganic materials 0.000 description 3
- IXCSERBJSXMMFS-UHFFFAOYSA-N hydrogen chloride Substances Cl.Cl IXCSERBJSXMMFS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 3
- KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N Fluorane Chemical compound F KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000012670 alkaline solution Substances 0.000 description 2
- 125000004429 atom Chemical group 0.000 description 2
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 2
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 2
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 2
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 2
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 1
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 229910052681 coesite Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052906 cristobalite Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000005674 electromagnetic induction Effects 0.000 description 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 1
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 1
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 1
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 1
- 229910052682 stishovite Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052905 tridymite Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002023 wood Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Piezo-Electric Or Mechanical Vibrators, Or Delay Or Filter Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は、シリコン基板に形成した振動梁を利用した、
メカニカルフィルターに関するものである。
メカニカルフィルターに関するものである。
〈従来の技術〉
第5図〜第7図は従来より一般に使用されている従来例
の構成説明図である。
の構成説明図である。
第5図は原理的構成説明図、第6図は第5図のA−A断
面図、第7図(A)、(B)は第5図を電気回路で示し
た図であり、第7図(B)はp形層とn+形層の間に逆
バイアス電圧を印加するための電源を示している。
面図、第7図(A)、(B)は第5図を電気回路で示し
た図であり、第7図(B)はp形層とn+形層の間に逆
バイアス電圧を印加するための電源を示している。
これらの図において、11は(Zoo)面を有する、例
えば不純物濃度1015原子/cm’以下のρ形のシリ
コン基板である。
えば不純物濃度1015原子/cm’以下のρ形のシリ
コン基板である。
この基板11の表面には部分的に不純物濃度10盲7程
度のn十拡散層(図では省略)が形成され、このn+拡
散層の一部に振動梁12が<001〉方向に形成されて
いる。なお、この振動梁12は基板11に形成されたn
十層およびp層をフォトリソグラフィとアンダエッチン
グの技術を用いて加工する。
度のn十拡散層(図では省略)が形成され、このn+拡
散層の一部に振動梁12が<001〉方向に形成されて
いる。なお、この振動梁12は基板11に形成されたn
十層およびp層をフォトリソグラフィとアンダエッチン
グの技術を用いて加工する。
13は振動梁12の略中央上部に振動梁12に直交し、
かつ、非接触の状態で設けられた磁石、14は絶縁膜と
しての5i02膜(第6図参照)である。
かつ、非接触の状態で設けられた磁石、14は絶縁膜と
しての5i02膜(第6図参照)である。
15a、15bは例えばアルミニウム(Al)などの金
属@極で、この金属な極15aの一端は振動梁12から
延長したn+層にSiO2層に設けたコンタクトホール
16a、を通じて接続され、他端はリード線を介して振
動梁12の抵抗値とほぼ等しい比較抵抗R0および増幅
器20の一端に接続されている。
属@極で、この金属な極15aの一端は振動梁12から
延長したn+層にSiO2層に設けたコンタクトホール
16a、を通じて接続され、他端はリード線を介して振
動梁12の抵抗値とほぼ等しい比較抵抗R0および増幅
器20の一端に接続されている。
増幅器20の出力は出力信号として取出されるとともに
分岐して一次コイルL1の一端に接続されている。この
コイルL +の1也端はコモンラインに接続されている
。
分岐して一次コイルL1の一端に接続されている。この
コイルL +の1也端はコモンラインに接続されている
。
一方比較抵抗R,の他端は中点がコモンラインに接続し
た2次コイルL2の他端に接続され、この2次コイルL
2の他端は振動梁12の11!!端に前記同様に形成さ
れた金属電極15bに接続されている。
た2次コイルL2の他端に接続され、この2次コイルL
2の他端は振動梁12の11!!端に前記同様に形成さ
れた金属電極15bに接続されている。
上記構成において、p形層(基板10)とn+形層(振
動梁12)の間に逆バイアス電圧を印加して絶縁し、振
動梁12に交流電流lを流すと振動梁12の共振周波数
において電磁誘導作用により振動梁のインピーダンスが
上昇して、比較抵抗Ro−および中点をコモンラインに
接続したL2により構成されるブリッジにより不平衡信
号を得ることができる。この信号を増幅器20で増幅し
、出力信号として取出す。
動梁12)の間に逆バイアス電圧を印加して絶縁し、振
動梁12に交流電流lを流すと振動梁12の共振周波数
において電磁誘導作用により振動梁のインピーダンスが
上昇して、比較抵抗Ro−および中点をコモンラインに
接続したL2により構成されるブリッジにより不平衡信
号を得ることができる。この信号を増幅器20で増幅し
、出力信号として取出す。
十記栖成において、振動梁12のインピーダンス)tは
固有振動数に応じて上昇する。このインピーダンスI(
は、次式のように表わすことができる。
固有振動数に応じて上昇する。このインピーダンスI(
は、次式のように表わすことができる。
トt −辷 (1/222) ・ (1/(Eg
γ ) l/2 )(AI3’ l’ /bh
2 ) ・ Q十 丁(0ここで、lシ;弾性率 g;重力加速 γ;振動子を構成している材料の密度 A:振動モードによって決まる定数 B;磁束密度 !;振動梁の長さ b:振動梁の幅 h;振動梁の厚さ Q;共振の鋭さ Ro:直流抵抗値 上式によれば振動梁のQが数百〜致方の値をとるため、
共振状態において増幅器の出力として、大きな振幅信号
を得ることができる。
γ ) l/2 )(AI3’ l’ /bh
2 ) ・ Q十 丁(0ここで、lシ;弾性率 g;重力加速 γ;振動子を構成している材料の密度 A:振動モードによって決まる定数 B;磁束密度 !;振動梁の長さ b:振動梁の幅 h;振動梁の厚さ Q;共振の鋭さ Ro:直流抵抗値 上式によれば振動梁のQが数百〜致方の値をとるため、
共振状態において増幅器の出力として、大きな振幅信号
を得ることができる。
なお、振動梁の加工手段および形状は本実施例に限るも
のではなく、例えば、n形シリコン基板にB(ボ西ン)
を4X10”原子/ c m 3以上拡散して選択性エ
ツチングにより形成したものを用いてもよい。
のではなく、例えば、n形シリコン基板にB(ボ西ン)
を4X10”原子/ c m 3以上拡散して選択性エ
ツチングにより形成したものを用いてもよい。
しかしながら、この様な装置においては、振動梁12に
発生する逆起電力を交流ブリッジを用いて検出している
が、入力信号の成分を、交流ブリッジで完全に抑圧する
ことは事実上不可能であるから、ブリッジ出力には入力
成分の一部が乗ってくる。
発生する逆起電力を交流ブリッジを用いて検出している
が、入力信号の成分を、交流ブリッジで完全に抑圧する
ことは事実上不可能であるから、ブリッジ出力には入力
成分の一部が乗ってくる。
このために、S/N比が悪く安定な出力信号が44>ら
れない。
れない。
この様な問題点を解決するために、本願出願人は昭和6
2年10月27日出願の特願昭62−271557号「
発明の名称;メカニカルフィルタ」を出願している。
2年10月27日出願の特願昭62−271557号「
発明の名称;メカニカルフィルタ」を出願している。
以上、この出願について、第8図から第11図により説
明する。
明する。
第8図は特願昭62−271557号の一実施例の原理
的要部構成説明図である。
的要部構成説明図である。
図において、第5図と同一記号の構成は同一機能を表わ
す。
す。
以下、第5図と相違部分のみ説明する。
30は振動子本体である。振動子本体30は両端か基板
11に同定され互いに平行に配置された第1振動子31
.第2振動子32と、第1振動子31 第2振動子32
の振動の腹の部分を相互に機械的に結合する連結梁動3
3とを備える。
11に同定され互いに平行に配置された第1振動子31
.第2振動子32と、第1振動子31 第2振動子32
の振動の腹の部分を相互に機械的に結合する連結梁動3
3とを備える。
40は振動子本体30に直交する直流磁界を磁石】3に
より加え第1振動子3】の両端に交流電流を入カドラン
ス41により流して磁気誘導作用により振動子本体30
を磁界と電流に直交する方向に励振する励振手段である
。
より加え第1振動子3】の両端に交流電流を入カドラン
ス41により流して磁気誘導作用により振動子本体30
を磁界と電流に直交する方向に励振する励振手段である
。
入カドランス41は一次側が入力端子42に接続されて
いる。二次側は第1振動子31の両端に接続されている
。
いる。二次側は第1振動子31の両端に接続されている
。
50は他方の第2振動子32の両端に発生する起電力を
検出する振動検出手段である。この場合は、出カドラン
ス51が用いられている。出カドランス51の一次側は
第2振動子32の両端に接続され、二次側は増幅器52
を介して出力端子53に接続されている。
検出する振動検出手段である。この場合は、出カドラン
ス51が用いられている。出カドランス51の一次側は
第2振動子32の両端に接続され、二次側は増幅器52
を介して出力端子53に接続されている。
以上の構成において、励振手段40に入力された入力信
号により振動子本体30は励振される。
号により振動子本体30は励振される。
振動子本体30の振動は振動検出手段50により検出さ
れ出力信号として取出される。
れ出力信号として取出される。
この結果、振動子本体30は、励振用の第1振動子31
と、起電力検出用の第2振動子32に分けられ、連結梁
33で、第1振動子31の振動の腹の部分を結合するよ
うにされなので、電気的には分離されているが、機械的
には結合されているため、高い入力成分除去比(SN比
)が得られる。
と、起電力検出用の第2振動子32に分けられ、連結梁
33で、第1振動子31の振動の腹の部分を結合するよ
うにされなので、電気的には分離されているが、機械的
には結合されているため、高い入力成分除去比(SN比
)が得られる。
第9図は振動子本体30の実際例で、第10図は第9図
のB−B断面図である。
のB−B断面図である。
第10図において、振動子本体30は、振動子31.3
2のQfliを高くするために、シェル60で振動子本
体30を覆い、振動子31.32の周面に隙間62を設
けて真空室61に封じ込められた状態を承す。
2のQfliを高くするために、シェル60で振動子本
体30を覆い、振動子31.32の周面に隙間62を設
けて真空室61に封じ込められた状態を承す。
第8図、第9図においては、分りやすくするために、シ
ェル60は示されていない。
ェル60は示されていない。
この様な装置は、例えば、第11図に示す如くして作ら
れる。
れる。
(1)第11図<A>に示すごとく、n型シリコン(1
00)面にカットされた基板11に、シリコン酸化物あ
るいはシリコン窒化物の膜101を形成する。膜101
の所要の箇所102をホトリソグラフィにより除去する
。
00)面にカットされた基板11に、シリコン酸化物あ
るいはシリコン窒化物の膜101を形成する。膜101
の所要の箇所102をホトリソグラフィにより除去する
。
(2)第11図(B )に示すごとく、1050℃。
の水素(H2)雰囲気中で、塩化水素でエツチングを行
い、基板11に所要箇所102をエツチングして膜10
1をアンダーカットして、四部103を形成する。
い、基板11に所要箇所102をエツチングして膜10
1をアンダーカットして、四部103を形成する。
なお、塩化水素の代りに、高温水蒸気、酸素を用いるか
、あるいは、40℃〜130℃のアルカリ液による異方
性エツチングでもよい。
、あるいは、40℃〜130℃のアルカリ液による異方
性エツチングでもよい。
(3)第11図(C)に示すごとく、1050℃の水素
(H2)雰囲気中でソースカスに塩化水素(H(1)ガ
スを混入して選択エピタキシャル成長法を行う。
(H2)雰囲気中でソースカスに塩化水素(H(1)ガ
スを混入して選択エピタキシャル成長法を行う。
すなわち、
■ボロンの濃度10”cm’のP形シリコンにより、隙
間部62の下半分に相当する第1エピタキシャル層10
4を選択エピタキシャル成長させる。
間部62の下半分に相当する第1エピタキシャル層10
4を選択エピタキシャル成長させる。
■ボロンの濃度3X10”cm’以上のP形シリコンに
より、第1エピタキシャル層104の表面に、所要の箇
所102を塞ぐように、振動子本体30に相当する第2
エピタキシャル層105を選択エピタキシャル成長させ
る。
より、第1エピタキシャル層104の表面に、所要の箇
所102を塞ぐように、振動子本体30に相当する第2
エピタキシャル層105を選択エピタキシャル成長させ
る。
■ボロンの濃度10”cm’のP形シリコンにより、第
2エピタキシャル層105の表面に、隙間部62の上半
分に相当する第3エピタキシャル層106を選択エピタ
キシャル成長させる。
2エピタキシャル層105の表面に、隙間部62の上半
分に相当する第3エピタキシャル層106を選択エピタ
キシャル成長させる。
■ボロンの濃度3X10’ ” cm″2以上のP形シ
リコンにより、第3エピタキシャル層106の表面に、
シェル60に相当する第4エピタキシャル層107を選
択エピタキシャル成長させる。
リコンにより、第3エピタキシャル層106の表面に、
シェル60に相当する第4エピタキシャル層107を選
択エピタキシャル成長させる。
(4)第11図(D)に示すごとく、シリコン酸化物、
あるいは、シリコン窒化物の膜101をフッ化水素酸(
HF’ )でエツチングして除去し、エツチング注入口
108を設ける。
あるいは、シリコン窒化物の膜101をフッ化水素酸(
HF’ )でエツチングして除去し、エツチング注入口
108を設ける。
(5)第11図(E)に示すごとく、第4層に対して基
板】1に正のパルスを印加して、エツチング液の注入L
l 108よりアルカリ液を注入して、第1エピタキシ
ャル層104と第3エピタキシャル層106を選択エツ
チングして除去する。
板】1に正のパルスを印加して、エツチング液の注入L
l 108よりアルカリ液を注入して、第1エピタキシ
ャル層104と第3エピタキシャル層106を選択エツ
チングして除去する。
第2エピタキシヤルR1J105と第1エピタキシャル
層104あるいは第3エピタキシャル層106との間に
エツチング作用の差があるのは、ボロンの濃度が3X1
0” cm″2以上となるとエッチング作用に抑制現象
が生ずることによる。
層104あるいは第3エピタキシャル層106との間に
エツチング作用の差があるのは、ボロンの濃度が3X1
0” cm″2以上となるとエッチング作用に抑制現象
が生ずることによる。
このことは、例えば、[トランスデュサーズー87JF
I本電気学会発行の123ベージ Fig8に示されて
いる。
I本電気学会発行の123ベージ Fig8に示されて
いる。
(6)第11図(F)に示すごとく、1050℃の水素
(H2)中で、n形シリコンのエピタキシャル成長を行
い、第2エピタキシャル層105と第4エピタキシャル
層107と基板11の凹部103側の面を覆うと共に、
注入口108を塞ぐようにして、n形シリコンからなる
第5エピタキシャル層109を形成し、エツチング注入
口108をとじる。
(H2)中で、n形シリコンのエピタキシャル成長を行
い、第2エピタキシャル層105と第4エピタキシャル
層107と基板11の凹部103側の面を覆うと共に、
注入口108を塞ぐようにして、n形シリコンからなる
第5エピタキシャル層109を形成し、エツチング注入
口108をとじる。
〈発明が解決しようとする課題〉
しかしながら、この様な装置においては第1振動子31
.第2振動子32と連結梁33との結合部分が複雑とな
り、エピタキシャル成長が結晶方位によって異なるため
、結合部分の結晶形成が綺麗に出来ない、また、シェル
60と第1振動子31、第2振動子32との間の隙間6
2が狭くなる等の問題があり、製造上の歩留りを悪くす
るとの問題があった。
.第2振動子32と連結梁33との結合部分が複雑とな
り、エピタキシャル成長が結晶方位によって異なるため
、結合部分の結晶形成が綺麗に出来ない、また、シェル
60と第1振動子31、第2振動子32との間の隙間6
2が狭くなる等の問題があり、製造上の歩留りを悪くす
るとの問題があった。
本発明は、この問題点を解決するものである。
本発明の目的は、S/N比が良好で安定な出力信号が得
られ、安価なメカニカルフィルターを提供するにある。
られ、安価なメカニカルフィルターを提供するにある。
く問題点を解決するための手段〉
この目的を達成するために、本発明は、シリコン単結晶
の基板上に設けられたシリコン単結晶材よりなる振動子
本体と、該振動子本体を励振する励振手段と、前記振動
子本体の励振された振動を検出する振動検出手段とを具
備するメカニカルフィルターにおいて、 両端が前記基板に固定され互いに平行に配置され長さと
幅と厚さがほぼ等しい第1振動子と第2振動子とを備え
る振動子本体と、該振動子本体に直交する直流磁界を加
え第1振動子の両端に交流電流を流して磁気誘導作用に
より振動子を磁界と電流に直交する方向に励振する励振
手段と、前記第2振動子の両端に発生ずる起電力を検出
する振動検出手段とを具備してなるメカニカルフィルタ
ーを構成したものである。
の基板上に設けられたシリコン単結晶材よりなる振動子
本体と、該振動子本体を励振する励振手段と、前記振動
子本体の励振された振動を検出する振動検出手段とを具
備するメカニカルフィルターにおいて、 両端が前記基板に固定され互いに平行に配置され長さと
幅と厚さがほぼ等しい第1振動子と第2振動子とを備え
る振動子本体と、該振動子本体に直交する直流磁界を加
え第1振動子の両端に交流電流を流して磁気誘導作用に
より振動子を磁界と電流に直交する方向に励振する励振
手段と、前記第2振動子の両端に発生ずる起電力を検出
する振動検出手段とを具備してなるメカニカルフィルタ
ーを構成したものである。
く作用〉
以上の構成において、
振動子には、直交するように交流磁界が掛けられている
。
。
第1振動子の両端に入力交番電流を流すと、磁気誘導作
用により、磁界と電流とに直交する方向に励振される。
用により、磁界と電流とに直交する方向に励振される。
この場合の振動周波数は、第1振動子の長さ、幅、厚さ
および張力により決まる固有振動数で励振する。
および張力により決まる固有振動数で励振する。
このとき、第2振動子も、同形状、同張力であると、等
しい固有振動数を持つために、励振された第1振動子の
振動ネルギーが、第1振動子の両端の壁を介して伝達し
、第2振動子も同じ振動数で振動する。
しい固有振動数を持つために、励振された第1振動子の
振動ネルギーが、第1振動子の両端の壁を介して伝達し
、第2振動子も同じ振動数で振動する。
振動子本体の振動は振動検出手段により検出され、その
周波数は出力信号として取出される。
周波数は出力信号として取出される。
以下、実施例に基づき詳細に説明する。
〈実施例〉
第1図は本発明の一実施例の要部構成説明図で、第2図
は実際の使用例、第3図は第2図のB−)1断面図、第
4図は第1図の動作説明図である。
は実際の使用例、第3図は第2図のB−)1断面図、第
4図は第1図の動作説明図である。
図において、第8図と同一記号の構成は同一・機能を表
わす。
わす。
以下、第8図と相違部分のみ説明する。
第8図との相違は、第1振動子3]と第2振動子32と
を連結する連結梁33がないのみである。
を連結する連結梁33がないのみである。
しかして、第1振動子31と第2振動子32とは近接し
て設りられ、その長さ、幅、厚さは等しく形成されてい
る。
て設りられ、その長さ、幅、厚さは等しく形成されてい
る。
以上の構成において、
振動子31.32には、直交するように交流磁界をかけ
、第1振動子31の両端に入力交番電流を流すと、磁気
誘導作用により、磁界と電流とに直交する方向に励振す
る。
、第1振動子31の両端に入力交番電流を流すと、磁気
誘導作用により、磁界と電流とに直交する方向に励振す
る。
この場合の振動周波数は、第1振動子の長さ、幅、厚さ
および張力により決まる固有振動数で励振する。
および張力により決まる固有振動数で励振する。
このとき、第2振動子32も、同形状、同張力であると
、等しい固有振動数を持つために、励振された第1振動
子31の振動ネルギーか、第1振動子31の両端の壁を
介して伝達し、第2振動子32も同じ振動数で振動する
。
、等しい固有振動数を持つために、励振された第1振動
子31の振動ネルギーか、第1振動子31の両端の壁を
介して伝達し、第2振動子32も同じ振動数で振動する
。
第2振動子32の振動は、振動検出手段により検出され
、その周波数は、出力信号として取出される。
、その周波数は、出力信号として取出される。
この結果、
(1)振動子本体30の形状が2本の振動子31゜32
のみとなり、第8図従来例の様な連結梁33が無くなっ
た為に、製造プロセスの歩留が大幅に向上する。
のみとなり、第8図従来例の様な連結梁33が無くなっ
た為に、製造プロセスの歩留が大幅に向上する。
(2)励振電流を流す第1振動子31と、起電力検出用
の第2振動子32は電気的に完全に、絶縁されているた
め、高い入力成分除去比(S/N比)か得られる。
の第2振動子32は電気的に完全に、絶縁されているた
め、高い入力成分除去比(S/N比)か得られる。
(3)振動子本体30に、振動子31.32の軸に直角
方向に、第4図に示すごとき、歪みε。が加わると、従
来例の振動子本体・30では、連結梁33のなめに、第
4図(A)の破線の様な変形を生じ、第1fi+動子3
1.第2振動子32の固有振動数が変化するという問題
があった。
方向に、第4図に示すごとき、歪みε。が加わると、従
来例の振動子本体・30では、連結梁33のなめに、第
4図(A)の破線の様な変形を生じ、第1fi+動子3
1.第2振動子32の固有振動数が変化するという問題
があった。
しかし、本発明では、第4図(B)の破線の様な変形を
生じ、誤差を生じない。
生じ、誤差を生じない。
〈発明の効果〉
以上説明したように、本発明は、シリコン単結晶の基板
上に設けられたシリコン単結晶材よりなる振動子本体と
、該振動子本体を励振する励振手段と、前記振動子本体
の励振された振動を検出する振動検出手段とを具備する
メカニカルフィルタにおいて、 両端が前記基板に固定され互いに平行に配置され長さと
幅と厚さがほぼ等しい第1振動子と第2振動子とを備え
る振動子本体と、該振動子本体に直交するFl’l流磁
界流加界第1振動子の両端に交流電流を流して磁気誘導
作用により振動子を磁界と電流に直交する方向に励振す
る励振手段と、前記第2振動子の両端に発生する起電力
を検出する振動検出手段とを具(+tti してなるメ
カニカルフィルタを構成した。
上に設けられたシリコン単結晶材よりなる振動子本体と
、該振動子本体を励振する励振手段と、前記振動子本体
の励振された振動を検出する振動検出手段とを具備する
メカニカルフィルタにおいて、 両端が前記基板に固定され互いに平行に配置され長さと
幅と厚さがほぼ等しい第1振動子と第2振動子とを備え
る振動子本体と、該振動子本体に直交するFl’l流磁
界流加界第1振動子の両端に交流電流を流して磁気誘導
作用により振動子を磁界と電流に直交する方向に励振す
る励振手段と、前記第2振動子の両端に発生する起電力
を検出する振動検出手段とを具(+tti してなるメ
カニカルフィルタを構成した。
この結果、
(1)振動子本体の形状が2木の振動子のみとなり、従
来例の様な連結梁が無くなった為に、製造プロセスの歩
留が大幅に向上する。
来例の様な連結梁が無くなった為に、製造プロセスの歩
留が大幅に向上する。
(2)励r2電流を流す第1振動子と、起電力検出用の
第2振動子は電気的に完全に、絶縁されているため、高
い入力成分除去比(S/N比)が得られる。
第2振動子は電気的に完全に、絶縁されているため、高
い入力成分除去比(S/N比)が得られる。
<3)!動子本体に、振動子の軸に直角方向に、歪みが
加わると、従来例の振動子本体では、連結梁の存在のな
めに、第1振動子、第2 JM動子の固有振動数が変化
するという問題があったが、本発明では、誤差を生じな
い。
加わると、従来例の振動子本体では、連結梁の存在のな
めに、第1振動子、第2 JM動子の固有振動数が変化
するという問題があったが、本発明では、誤差を生じな
い。
従って、本発明によれば、S/N比が良好で安定な出力
信号が得られ、安価なメカニカルフィルターを実現する
ことが出来る。
信号が得られ、安価なメカニカルフィルターを実現する
ことが出来る。
第1し1は本発明の一実施例の原理的要部構成説明図、
第2図は実際使用例の要部構成説明図で、第3図は第2
図のB−B断面図、第4図は第1図の動作説明図、第5
図〜第7図は従来より一般に使用されている従来例の構
成説明図で、第5図は要部構成説明図、第6図は第5図
のA−A断面図、第7図は第5図を電気回路で示した図
、第8図〜第1】図は特願昭62−271557号の構
成説明図である。 11・・・基板、13・・・磁石、30・・・振動子本
体、31・・・第1fA動子、32・・・第2振動子、
40・・・励振手段、111・・・入カドランス、42
・・・入力端子、50・・・振動検出手段、51・・・
出カドランス、52・・・増幅器、53・・・出力端子
、60・・・シェル、61・・・真空室、62・・・隙
間。 第5図 第6図 0冒 第 ス ; 9 四 第 図
第2図は実際使用例の要部構成説明図で、第3図は第2
図のB−B断面図、第4図は第1図の動作説明図、第5
図〜第7図は従来より一般に使用されている従来例の構
成説明図で、第5図は要部構成説明図、第6図は第5図
のA−A断面図、第7図は第5図を電気回路で示した図
、第8図〜第1】図は特願昭62−271557号の構
成説明図である。 11・・・基板、13・・・磁石、30・・・振動子本
体、31・・・第1fA動子、32・・・第2振動子、
40・・・励振手段、111・・・入カドランス、42
・・・入力端子、50・・・振動検出手段、51・・・
出カドランス、52・・・増幅器、53・・・出力端子
、60・・・シェル、61・・・真空室、62・・・隙
間。 第5図 第6図 0冒 第 ス ; 9 四 第 図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 シリコン単結晶の基板上に設けられたシリコン単結晶
材よりなる振動子本体と、該振動子本体を励振する励振
手段と、前記振動子本体の励振された振動を検出する振
動検出手段とを具備するメカニカルフィルターにおいて
、 両端が前記基板に固定され互いに平行に配置され長さと
幅と厚さがほぼ等しい第1振動子と第2振動子とを備え
る振動子本体と、該振動子本体に直交する直流磁界を加
え第1振動子の両端に交流電流を流して磁気誘導作用に
より振動子を磁界と電流に直交する方向に励振する励振
手段と、第2振動子の両端に発生する起電力を検出する
振動検出手段とを具備してなるメカニカルフィルター。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63204442A JP2513280B2 (ja) | 1988-08-17 | 1988-08-17 | メカニカルフィルタ― |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63204442A JP2513280B2 (ja) | 1988-08-17 | 1988-08-17 | メカニカルフィルタ― |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0252514A true JPH0252514A (ja) | 1990-02-22 |
JP2513280B2 JP2513280B2 (ja) | 1996-07-03 |
Family
ID=16490595
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63204442A Expired - Lifetime JP2513280B2 (ja) | 1988-08-17 | 1988-08-17 | メカニカルフィルタ― |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2513280B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2005050839A1 (ja) * | 2003-11-19 | 2005-06-02 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | 電気機械フィルタ |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5564417A (en) * | 1978-11-10 | 1980-05-15 | Seiko Instr & Electronics Ltd | Mechanical filter |
JPS6150331U (ja) * | 1984-09-05 | 1986-04-04 |
-
1988
- 1988-08-17 JP JP63204442A patent/JP2513280B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5564417A (en) * | 1978-11-10 | 1980-05-15 | Seiko Instr & Electronics Ltd | Mechanical filter |
JPS6150331U (ja) * | 1984-09-05 | 1986-04-04 |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2005050839A1 (ja) * | 2003-11-19 | 2005-06-02 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | 電気機械フィルタ |
JP2005176318A (ja) * | 2003-11-19 | 2005-06-30 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 電気機械フィルタ |
US7397326B2 (en) * | 2003-11-19 | 2008-07-08 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Electromechanical filter |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2513280B2 (ja) | 1996-07-03 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPH07104217B2 (ja) | 振動式トランスデューサとその製造方法 | |
JP2005037309A (ja) | 振動式トランスデューサ | |
JPH0252514A (ja) | メカニカルフィルター | |
JPH0238934A (ja) | 振動形半導体トランスデューサ | |
JPH0756466B2 (ja) | 振動形半導体トランスデューサ | |
JPH07101749B2 (ja) | 振動形トランスデュサの製造方法 | |
JPH04297838A (ja) | 振動形半導体トランスデュ―サ | |
JPH01145539A (ja) | 振動形半導体温度センサー | |
JP2822598B2 (ja) | 振動形トランスデュサ | |
JPH02232538A (ja) | 振動形半導体トランスデューサ | |
JP2822594B2 (ja) | 振動形トランスデュサ | |
JPH07101748B2 (ja) | 振動形トランスデュサの製造方法 | |
JP2687676B2 (ja) | 振動形トランスデュサ | |
JPH0467899B2 (ja) | ||
JP5007912B2 (ja) | 半導体梁を有する構造体 | |
JPH07101750B2 (ja) | 振動形トランスデュサの製造方法 | |
JPH0628320B2 (ja) | 振動形トランスデューサの製造方法 | |
JPH0786443B2 (ja) | 振動形トランスデュサの製造方法 | |
JPH02232539A (ja) | 振動形半導体トランスデューサ | |
JPH05248973A (ja) | 振動形トランスデュ―サ及びその製造方法 | |
JP2822596B2 (ja) | 振動形トランスデュサ | |
JPH0769236B2 (ja) | 振動形トランスデュサの製造方法 | |
JP2679349B2 (ja) | 振動式半導体トランスデューサ | |
JPH0519089B2 (ja) | ||
JPH01114111A (ja) | メカニカルフィルター |