JPH0241114B2 - - Google Patents
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- JPH0241114B2 JPH0241114B2 JP58060032A JP6003283A JPH0241114B2 JP H0241114 B2 JPH0241114 B2 JP H0241114B2 JP 58060032 A JP58060032 A JP 58060032A JP 6003283 A JP6003283 A JP 6003283A JP H0241114 B2 JPH0241114 B2 JP H0241114B2
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- transistor
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- input
- pull
- differential amplifier
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- 230000000295 complement effect Effects 0.000 claims description 4
- 230000001737 promoting effect Effects 0.000 description 11
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 230000015654 memory Effects 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
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- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/06—Sense amplifiers; Associated circuits, e.g. timing or triggering circuits
- G11C7/062—Differential amplifiers of non-latching type, e.g. comparators, long-tailed pairs
Landscapes
- Static Random-Access Memory (AREA)
- Dram (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
(1) 発明の技術分野
本発明はセンス増幅器に係り、特にスタテイツ
ク型半導体メモリのビツト線対、またはデータバ
ス線対間の電位差を増幅するCMOS高速センス
増幅器に関する。
ク型半導体メモリのビツト線対、またはデータバ
ス線対間の電位差を増幅するCMOS高速センス
増幅器に関する。
(2) 技術の背景
最近の半導体メモリの高集積化に伴ない、メモ
リセルを構成する各トランジスタは益々微細化さ
れて来ている。このため、トランジスタの駆動能
力が小さくなつて来ており、読み出し時における
ビツト線及びデータバス線の電位変化は緩慢にな
つて来ている。また、ビツト線及びデータバス線
対の間の電位差も少なくなつて来ている。このよ
うに、電位変化が緩慢でかつ電位差の少ないビツ
ト線対またはデータバス線対の電位変化を高速で
検出するためには、改良されたセンス増幅器が要
求される。
リセルを構成する各トランジスタは益々微細化さ
れて来ている。このため、トランジスタの駆動能
力が小さくなつて来ており、読み出し時における
ビツト線及びデータバス線の電位変化は緩慢にな
つて来ている。また、ビツト線及びデータバス線
対の間の電位差も少なくなつて来ている。このよ
うに、電位変化が緩慢でかつ電位差の少ないビツ
ト線対またはデータバス線対の電位変化を高速で
検出するためには、改良されたセンス増幅器が要
求される。
(3) 従来技術と問題点
第1図は従来のセンス増幅器を示す回路図であ
る。同図に示されるように、従来、単一の非対称
差動増幅器SA1若しくは同一の回路形式をした2
つの非対称差動増幅器SA1およびSA2で構成され
たセンス増幅器が知られている。しかし、これら
の従来形では、出力プルアツプ用トランジスタ
Q01およびQ02のみによつてセンス増幅器の出力
を立上らせているので、出力の立上り時間が長い
こと、および、センス増幅器の出力振幅が接地電
位から電源電位までと大きいことのために、ビツ
ト線対の電位の反転時からセンス増幅器の出力電
位の反転時迄の時間が長く、高速動作に適さない
という問題がある。
る。同図に示されるように、従来、単一の非対称
差動増幅器SA1若しくは同一の回路形式をした2
つの非対称差動増幅器SA1およびSA2で構成され
たセンス増幅器が知られている。しかし、これら
の従来形では、出力プルアツプ用トランジスタ
Q01およびQ02のみによつてセンス増幅器の出力
を立上らせているので、出力の立上り時間が長い
こと、および、センス増幅器の出力振幅が接地電
位から電源電位までと大きいことのために、ビツ
ト線対の電位の反転時からセンス増幅器の出力電
位の反転時迄の時間が長く、高速動作に適さない
という問題がある。
(4) 発明の目的
従つて本発明の目的は、同一の回路形式をした
2つの非対称差動増幅器を用い、入力の変化に伴
なつて電位が変化するノードを利用し、非対称差
動増幅器のお互いの出力のチヤージアツプを助け
るように上記2つの非対称差動増幅器を接続する
という構想に基づき、センス増幅器において、高
速動作を可能にすることにある。
2つの非対称差動増幅器を用い、入力の変化に伴
なつて電位が変化するノードを利用し、非対称差
動増幅器のお互いの出力のチヤージアツプを助け
るように上記2つの非対称差動増幅器を接続する
という構想に基づき、センス増幅器において、高
速動作を可能にすることにある。
(5) 発明の構成
上記の目的を達成するための本発明の要旨は、
相補信号が入力される差動入力トランジスタ対
と、その共通接続点に接続され、一方の差動入力
トランジスタの出力を制御入力とするフイードバ
ツクトランジスタとを含む差動増幅回路を一対具
備し、該一対の差動増幅回路に対する該相補信号
の入力関係は互いに逆の関係にあり、少なくとも
一方の差動増幅回路は、電源と出力端との間に並
列に接続された第1、第2出力プルアツプトラン
ジスタを有し、該第1出力プルアツプトランジス
タは該フイードバツクトランジスタと共通の制御
入力を受け、該第2出力プルアツプトランジスタ
は、他方の差動増幅回路内のフイードバツクトラ
ンジスタの出力を受けることを特徴とするセンス
増幅器にある。
相補信号が入力される差動入力トランジスタ対
と、その共通接続点に接続され、一方の差動入力
トランジスタの出力を制御入力とするフイードバ
ツクトランジスタとを含む差動増幅回路を一対具
備し、該一対の差動増幅回路に対する該相補信号
の入力関係は互いに逆の関係にあり、少なくとも
一方の差動増幅回路は、電源と出力端との間に並
列に接続された第1、第2出力プルアツプトラン
ジスタを有し、該第1出力プルアツプトランジス
タは該フイードバツクトランジスタと共通の制御
入力を受け、該第2出力プルアツプトランジスタ
は、他方の差動増幅回路内のフイードバツクトラ
ンジスタの出力を受けることを特徴とするセンス
増幅器にある。
(6) 発明の実施例
以下本発明の実施例を図面によつて説明する。
第2図は本発明の一実施例によるセンス増幅器
を示す回路図である。第2図において、センス増
幅器SAは、第1の差動増幅器D1と第2の差動増
幅器D2とを備えている。第1の差動増幅器D1は、
第1の入力トランジスタQ11、第2の入力トラン
ジスタQ12、出力プルアツプトランジスタQ13、
トランジスタQ14およびフイードバツクトランジ
スタQ15を備えている。本実施例においては、ト
ランジスタQ13およびQ14はPチヤンネルMOSト
ランジスタ、トランジスタQ11,Q12およびフイ
ードバツクトランジスタQ15はNチヤンネルMOS
トランジスタである。入力トランジスタQ11のゲ
ートにはビツト線BLが接続され、入力トランジ
スタQ12のゲートにはビツト線が接続される。
入力トランジスタQ11のドレインはトランジスタ
Q14のゲートとドレイン、出力プルアツプトラン
ジスタQ13のゲート、およびトランジスタQ15の
ゲートに接続されている。トランジスタQ14のソ
ースは電源線Vccに接続されている。出力プルア
ツプトランジスタQ13のドレインは入力トランジ
スタQ12のドレインと、出力端DAに接続されて
いる。入力トランジスタQ11とQ12のソースはフ
イードバツクトランジスタQ15のドレインに接続
されている。フイードバツクトランジスタQ15の
ソースは接地線Vssに接続されている。
を示す回路図である。第2図において、センス増
幅器SAは、第1の差動増幅器D1と第2の差動増
幅器D2とを備えている。第1の差動増幅器D1は、
第1の入力トランジスタQ11、第2の入力トラン
ジスタQ12、出力プルアツプトランジスタQ13、
トランジスタQ14およびフイードバツクトランジ
スタQ15を備えている。本実施例においては、ト
ランジスタQ13およびQ14はPチヤンネルMOSト
ランジスタ、トランジスタQ11,Q12およびフイ
ードバツクトランジスタQ15はNチヤンネルMOS
トランジスタである。入力トランジスタQ11のゲ
ートにはビツト線BLが接続され、入力トランジ
スタQ12のゲートにはビツト線が接続される。
入力トランジスタQ11のドレインはトランジスタ
Q14のゲートとドレイン、出力プルアツプトラン
ジスタQ13のゲート、およびトランジスタQ15の
ゲートに接続されている。トランジスタQ14のソ
ースは電源線Vccに接続されている。出力プルア
ツプトランジスタQ13のドレインは入力トランジ
スタQ12のドレインと、出力端DAに接続されて
いる。入力トランジスタQ11とQ12のソースはフ
イードバツクトランジスタQ15のドレインに接続
されている。フイードバツクトランジスタQ15の
ソースは接地線Vssに接続されている。
本発明により、出力プルアツプトランジスタ
Q13のソースおよびドレインに並列に、出力チヤ
ージアツプ促進用のプルアツプトランジスタQ16
のソースおよびドレインが接続されている。トラ
ンジスタQ16は本実施例ではPチヤネルMOSトラ
ンジスタである。
Q13のソースおよびドレインに並列に、出力チヤ
ージアツプ促進用のプルアツプトランジスタQ16
のソースおよびドレインが接続されている。トラ
ンジスタQ16は本実施例ではPチヤネルMOSトラ
ンジスタである。
第2の差動増幅器D2の回路構成は第1の差動
増幅器D1のそれとほぼ同様であり、第1の入力
トランジスタQ21、第2の入力トランジスタQ22、
出力プルアツプトランジスタQ23、トランジスタ
Q24、フイードバツクトランジスタQ25、および
出力チヤージアツプ促進用のプルアツプトランジ
スタQ26を備えている。ただし、第1の差動増幅
器D1と異なり、第1の入力トランジスタQ21のゲ
ートにはビツト線が接続され、第2の入力ト
ランジスタQ22のゲートにはビツト線BLが接続さ
れ、出力プルアツプトランジスタQ23のドレイン
は出力端に接続されている。
増幅器D1のそれとほぼ同様であり、第1の入力
トランジスタQ21、第2の入力トランジスタQ22、
出力プルアツプトランジスタQ23、トランジスタ
Q24、フイードバツクトランジスタQ25、および
出力チヤージアツプ促進用のプルアツプトランジ
スタQ26を備えている。ただし、第1の差動増幅
器D1と異なり、第1の入力トランジスタQ21のゲ
ートにはビツト線が接続され、第2の入力ト
ランジスタQ22のゲートにはビツト線BLが接続さ
れ、出力プルアツプトランジスタQ23のドレイン
は出力端に接続されている。
トランジスタQ13,Q16,Q23、およびQ26のソ
ースは出力振幅決定用トランジスタQ20を介して
電源線Vccに接続されている。トランジスタQ20
も本実施例ではPチヤンネルMOSトランジスタ
である。トランジスタQ20のゲートは接地線Vss
に接地されており、従つて常にオン状態となつて
いる。
ースは出力振幅決定用トランジスタQ20を介して
電源線Vccに接続されている。トランジスタQ20
も本実施例ではPチヤンネルMOSトランジスタ
である。トランジスタQ20のゲートは接地線Vss
に接地されており、従つて常にオン状態となつて
いる。
第1の差動増幅器D1の入力トランジスタQ11お
よびQ12のソースは、第2の差動増幅器D2の出力
チヤージアツプ促進用のプルアツプトランジスタ
Q26のゲートに接続されており、第2の差動増幅
器D2の入力トランジスタQ21およびQ22のソース
は、第1の差動増幅器D1の出力チヤージアツプ
促進用のプルアツプトランジスタQ16のゲートに
接続されている。
よびQ12のソースは、第2の差動増幅器D2の出力
チヤージアツプ促進用のプルアツプトランジスタ
Q26のゲートに接続されており、第2の差動増幅
器D2の入力トランジスタQ21およびQ22のソース
は、第1の差動増幅器D1の出力チヤージアツプ
促進用のプルアツプトランジスタQ16のゲートに
接続されている。
第1および第2の差動増幅器は、出力プルアツ
プトランジスタをPチヤネル形に、入力トランジ
スタをNチヤネル形にしたCMOS差動増幅器と
なつている。
プトランジスタをPチヤネル形に、入力トランジ
スタをNチヤネル形にしたCMOS差動増幅器と
なつている。
第2図を第1図と比較すると明らかなように、
従来のセンス増幅器は、第1または第2の差動増
幅器から出力チヤージアツプ促進用のプルアツプ
トランジスタQ16またはQ26を除いたもの、ある
いは第2図のセンス増幅器SAから出力チヤージ
アツプ促進用のプルアツプトランジスタQ16およ
びQ26と、出力振幅決定用トランジスタQ20とを
除いたものと等価であつた。
従来のセンス増幅器は、第1または第2の差動増
幅器から出力チヤージアツプ促進用のプルアツプ
トランジスタQ16またはQ26を除いたもの、ある
いは第2図のセンス増幅器SAから出力チヤージ
アツプ促進用のプルアツプトランジスタQ16およ
びQ26と、出力振幅決定用トランジスタQ20とを
除いたものと等価であつた。
第3図は第2図の回路の動作説明用波形図であ
る。第3図によつて第2図の回路の動作を説明す
る。第3図において、電源線Vccの電位は約5V、
接地線Vssの電位は約0Vである。今、ビツト線
BLが約2.5Vのローレベル(L)、ビツト線が約
3Vのハイレベル(H)にあるとする。前述の如くメ
モリセルの微細化に伴ない、ビツト線対間の電位
差は0.5Vと極めて小さくなつている。BLがL、
BLがHのとき、第1の差動増幅器D1において
は、入力トランジスタQ11はオフ、従つてPチヤ
ネルトランジスタQ13およびQ14はオフ、フイー
ドバツクトランジスタQ15はオン、入力トランジ
スタQ12はオンであり、出力端DAはQ12および
Q15のオンにより約1Vのローレベルにあり、第2
の差動増幅器D2においては、入力トランジスタ
Q21はオン、従つてトランジスタQ23およびQ24は
オン、フイードバツクトランジスタQ25はオフ、
入力トランジスタQ22はオフであり、出力端
はQ23のオン、Q22のオフにより約3.5Vのハイレ
ベルになつている。また、第1の差動増幅器の入
力トランジスタQ11およびQ12のソースとフイー
ドバツクトランジスタQ15のドレインとの共通接
続点のノードは、フイードバツクトランジスタ
Q15のオンによりローレベルとなつており、第2
の差動増幅器の入力トランジスタQ21およびQ22
のソースとフイードバツクトランジスタQ25のド
レインとの共通接続点のノードは、フイードバ
ツクトランジスタQ25のオフ、Q21およびQ23のオ
ンによりハイレベルとなつている。従つて、ゲー
トがノードに接続されている出力チヤージアツ
プ促進用のプルアツプトランジスタQ26はオン、
ゲートがノードに接続されているトランジスタ
Q16はオフとなつている。
る。第3図によつて第2図の回路の動作を説明す
る。第3図において、電源線Vccの電位は約5V、
接地線Vssの電位は約0Vである。今、ビツト線
BLが約2.5Vのローレベル(L)、ビツト線が約
3Vのハイレベル(H)にあるとする。前述の如くメ
モリセルの微細化に伴ない、ビツト線対間の電位
差は0.5Vと極めて小さくなつている。BLがL、
BLがHのとき、第1の差動増幅器D1において
は、入力トランジスタQ11はオフ、従つてPチヤ
ネルトランジスタQ13およびQ14はオフ、フイー
ドバツクトランジスタQ15はオン、入力トランジ
スタQ12はオンであり、出力端DAはQ12および
Q15のオンにより約1Vのローレベルにあり、第2
の差動増幅器D2においては、入力トランジスタ
Q21はオン、従つてトランジスタQ23およびQ24は
オン、フイードバツクトランジスタQ25はオフ、
入力トランジスタQ22はオフであり、出力端
はQ23のオン、Q22のオフにより約3.5Vのハイレ
ベルになつている。また、第1の差動増幅器の入
力トランジスタQ11およびQ12のソースとフイー
ドバツクトランジスタQ15のドレインとの共通接
続点のノードは、フイードバツクトランジスタ
Q15のオンによりローレベルとなつており、第2
の差動増幅器の入力トランジスタQ21およびQ22
のソースとフイードバツクトランジスタQ25のド
レインとの共通接続点のノードは、フイードバ
ツクトランジスタQ25のオフ、Q21およびQ23のオ
ンによりハイレベルとなつている。従つて、ゲー
トがノードに接続されている出力チヤージアツ
プ促進用のプルアツプトランジスタQ26はオン、
ゲートがノードに接続されているトランジスタ
Q16はオフとなつている。
時刻t1において、ビツト線対の電位が反転した
とする。すると、第1の差動増幅器D1において
は、Q11,Q13,Q14がオン、Q12,Q15がオフとな
りノードの電位は上昇する。この結果、出力チ
ヤージアツプ促進用のPチヤネルプルアツプトラ
ンジスタQ26の相互コンダクタンス(gn)は低下
する。一方、第2の差動増幅器D2においては、
Q21,Q23,Q24がオフ、Q22,Q25がオンとなり、
ノードの電位は下がる。この結果、出力チヤー
ジアツプ促進用のPチヤネルプルアツプトランジ
スタQ16のgnが高くなる。Q13およびQ14のゲート
に接続されたノードはローレベルであるが、ノ
ードのローレベルの方がノードのローレベル
より低いため、出力チヤージアツプ促進用のプル
アツプトランジスタQ16の方が出力プルアツプト
ランジスタQ13よりも、よりアクテイブな状態と
なる。この結果、出力チヤージアツプ促進用のプ
ルアツプトランジスタQ16が急速にオンになり、
センス増幅器の出力端DAが約3.5Vのハイレベル
にチヤージアツプされるのが促進される。一方、
第2の差動増幅器においては、Q23,Q26が共に
オフとなり、出力端に蓄積されていた正電荷
は入力トランジスタQ22およびトランジスタQ25
を介して接地線Vssに放電されるため、出力端
DAの電位は次第に低下する。こうして、時刻t2
において、出力端DAととの電位は反転する。
出力チヤージアツプ促進用のプルアツプトランジ
スタQ16の働きにより、出力端DAの電位の立上
りが急峻化されているため、また、出力端DAの
電位のハイレベルはPチヤネルトランジスタ
Q20、及びQ16のデイメンジヨン調整により調整
可能で約3.5Vと低く押えられているため、ビツ
ト線電位の反転時のクロスポイントにおける時刻
t1から、出力端の電位の反転時のクロスポイント
における時刻t2までの時間Δtが従来に比べて短く
なつている。
とする。すると、第1の差動増幅器D1において
は、Q11,Q13,Q14がオン、Q12,Q15がオフとな
りノードの電位は上昇する。この結果、出力チ
ヤージアツプ促進用のPチヤネルプルアツプトラ
ンジスタQ26の相互コンダクタンス(gn)は低下
する。一方、第2の差動増幅器D2においては、
Q21,Q23,Q24がオフ、Q22,Q25がオンとなり、
ノードの電位は下がる。この結果、出力チヤー
ジアツプ促進用のPチヤネルプルアツプトランジ
スタQ16のgnが高くなる。Q13およびQ14のゲート
に接続されたノードはローレベルであるが、ノ
ードのローレベルの方がノードのローレベル
より低いため、出力チヤージアツプ促進用のプル
アツプトランジスタQ16の方が出力プルアツプト
ランジスタQ13よりも、よりアクテイブな状態と
なる。この結果、出力チヤージアツプ促進用のプ
ルアツプトランジスタQ16が急速にオンになり、
センス増幅器の出力端DAが約3.5Vのハイレベル
にチヤージアツプされるのが促進される。一方、
第2の差動増幅器においては、Q23,Q26が共に
オフとなり、出力端に蓄積されていた正電荷
は入力トランジスタQ22およびトランジスタQ25
を介して接地線Vssに放電されるため、出力端
DAの電位は次第に低下する。こうして、時刻t2
において、出力端DAととの電位は反転する。
出力チヤージアツプ促進用のプルアツプトランジ
スタQ16の働きにより、出力端DAの電位の立上
りが急峻化されているため、また、出力端DAの
電位のハイレベルはPチヤネルトランジスタ
Q20、及びQ16のデイメンジヨン調整により調整
可能で約3.5Vと低く押えられているため、ビツ
ト線電位の反転時のクロスポイントにおける時刻
t1から、出力端の電位の反転時のクロスポイント
における時刻t2までの時間Δtが従来に比べて短く
なつている。
すなわち、出力チヤージアツプ促進用のプルア
ツプトランジスタQ16およびQ26と出力振幅決定
用トランジスタQ20とをもたない従来のセンス増
幅器においては、Q13のオン、Q12のオフによつ
て出力端DAの電位は上昇するが、その上昇は第
2図に点線で示すように本発明実施例に比べて極
めて緩慢である。これは出力チヤージアツプ促進
用トランジスタQ16が存在しないことに起因す
る。また、出力端のハイレベルがVcc(電源)レ
ベルまで上昇してしまい本発明実施例より高い。
このため、出力端DAとの電位のクロスポイ
ントの時刻t3は、本発明実施例における時刻t2よ
り遅れている。
ツプトランジスタQ16およびQ26と出力振幅決定
用トランジスタQ20とをもたない従来のセンス増
幅器においては、Q13のオン、Q12のオフによつ
て出力端DAの電位は上昇するが、その上昇は第
2図に点線で示すように本発明実施例に比べて極
めて緩慢である。これは出力チヤージアツプ促進
用トランジスタQ16が存在しないことに起因す
る。また、出力端のハイレベルがVcc(電源)レ
ベルまで上昇してしまい本発明実施例より高い。
このため、出力端DAとの電位のクロスポイ
ントの時刻t3は、本発明実施例における時刻t2よ
り遅れている。
ビツト線BLの電位がハイレベルからローレベ
ルに、ビツト線の電位がローレベルからハイ
レベルに変化する場合の第1図のセンス増幅器の
動作も前述と同様である。
ルに、ビツト線の電位がローレベルからハイ
レベルに変化する場合の第1図のセンス増幅器の
動作も前述と同様である。
本発明は前述の実施例に限定されるものではな
く、種々の変形が可能である。例えばCMOS非
対称差動増幅器に替えて、任意の他の非対称差動
増幅器が用いられ得る。
く、種々の変形が可能である。例えばCMOS非
対称差動増幅器に替えて、任意の他の非対称差動
増幅器が用いられ得る。
(7) 発明の効果
以上の説明から明らかなように、本発明により
同一の回路形式をした2つの非対称差動増幅器を
用い、入力の変化に伴なつて電位が変化するノー
ドを利用し、非対称差動増幅器のお互いの出力の
チヤージアツプを助けるように上記2つの非対称
差動増幅器を接続したことにより、従来に比べて
高速な動作を行なうセンス増幅器が得られる。
同一の回路形式をした2つの非対称差動増幅器を
用い、入力の変化に伴なつて電位が変化するノー
ドを利用し、非対称差動増幅器のお互いの出力の
チヤージアツプを助けるように上記2つの非対称
差動増幅器を接続したことにより、従来に比べて
高速な動作を行なうセンス増幅器が得られる。
第1図は従来のセンス増幅器を示す回路図、第
2図は本発明の一実施例によるセンス増幅器を示
す回路図、第3図は第1図の回路の動作説明用波
形図である。 BL,……ビツト線、D1……第1の差動増
幅器、D2……第2の差動増幅器、Q13,Q23……
出力プルアツプトランジスタ、Q11,Q21……第
1の入力トランジスタ、Q12,Q22……第2の入
力トランジスタ。
2図は本発明の一実施例によるセンス増幅器を示
す回路図、第3図は第1図の回路の動作説明用波
形図である。 BL,……ビツト線、D1……第1の差動増
幅器、D2……第2の差動増幅器、Q13,Q23……
出力プルアツプトランジスタ、Q11,Q21……第
1の入力トランジスタ、Q12,Q22……第2の入
力トランジスタ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 相補信号が入力される差動入力トランジスタ
対と、その共通接続点に接続され、一方の差動入
力トランジスタの出力を制御入力とするフイード
バツクトランジスタとを含む差動増幅回路を一対
具備し、 該一対の差動増幅回路に対する該相補信号の入
力関係は互いに逆の関係にあり、 少なくとも一方の差動増幅回路は、電源と出力
端との間に並列に接続された第1、第2出力プル
アツプトランジスタを有し、該第1出力プルアツ
プトランジスタは該フイードバツクトランジスタ
と共通の制御入力を受け、該第2出力プルアツプ
トランジスタは他方の差動増幅回路内のフイード
バツクトランジスタの出力を受けることを特徴と
するセンス増幅器。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58060032A JPS59186188A (ja) | 1983-04-07 | 1983-04-07 | センス増幅器 |
US06/596,707 US4606012A (en) | 1983-04-07 | 1984-04-04 | Sense amplifier |
DE8484302328T DE3481462D1 (de) | 1983-04-07 | 1984-04-05 | Leseverstaerker. |
EP84302328A EP0122119B1 (en) | 1983-04-07 | 1984-04-05 | A sense amplifier |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58060032A JPS59186188A (ja) | 1983-04-07 | 1983-04-07 | センス増幅器 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59186188A JPS59186188A (ja) | 1984-10-22 |
JPH0241114B2 true JPH0241114B2 (ja) | 1990-09-14 |
Family
ID=13130319
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58060032A Granted JPS59186188A (ja) | 1983-04-07 | 1983-04-07 | センス増幅器 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4606012A (ja) |
EP (1) | EP0122119B1 (ja) |
JP (1) | JPS59186188A (ja) |
DE (1) | DE3481462D1 (ja) |
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JP2514330B2 (ja) * | 1986-05-30 | 1996-07-10 | 日本テキサス・インスツルメンツ株式会社 | センスアンプ回路 |
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Family Cites Families (3)
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-
1984
- 1984-04-04 US US06/596,707 patent/US4606012A/en not_active Expired - Lifetime
- 1984-04-05 EP EP84302328A patent/EP0122119B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1984-04-05 DE DE8484302328T patent/DE3481462D1/de not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
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EP0122119A2 (en) | 1984-10-17 |
EP0122119A3 (en) | 1987-10-28 |
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