JPH0236507B2 - - Google Patents
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- B65—CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
- B65H—HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL, e.g. SHEETS, WEBS, CABLES
- B65H63/00—Warning or safety devices, e.g. automatic fault detectors, stop-motions ; Quality control of the package
- B65H63/006—Warning or safety devices, e.g. automatic fault detectors, stop-motions ; Quality control of the package quality control of the package
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Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は巻糸パツケージの巻形検査方法に関す
る。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a method for inspecting the winding shape of a wound yarn package.
自動ワインダー、撚糸機において、巻上げられ
たパツケージには種々の原因によつて巻形不良の
パツケージが混在している。例えば、自動ワイン
ダーで巻上げられたコーンパツケージの巻形不良
の代表的なものとして、第１１図に示すパツケ
ージ端面Ｔにおいて糸Ｙ１，Ｙ２が糸層の外側へ
外れて巻かれている綾外れパツケージＰ１、第１
１図に示す給糸側ボビンの糸がなくなつたり、
糸切れが生じた時に糸端Ｙ３がパツケージ端面よ
り落ちて巻取管Ｋに巻付いたり、糸層の中に入つ
た端面落ちパツケージＰ２、第１１図に示す巻
始めにおけるトラバース短縮、スリープによる張
力低下あるいはバルジによつて生じる菊巻きＧと
称するパツケージＰ３、あるいは第１１図に示
すノーテンシヨン、またはリボン巻きによつて生
じる端面にふくれた段状部Ｎを有する段巻パツケ
ージＰ４、さらには給糸側精紡ボビンの形状不良
による解じよテンシヨンの変動によつて生じる年
輪巻きパツケージＰ５等、種々の巻形不良のパツ
ケージがある。
In automatic winders and yarn twisting machines, packages wound up include packages with poor winding shapes due to various reasons. For example, as a typical case of poor winding of a cone package wound with an automatic winder, there is an off-twill package P1 in which the yarns Y1 and Y2 are wound outside the yarn layer at the package end face T shown in FIG. , 1st
If the yarn in the yarn feeding bobbin shown in Figure 1 runs out,
When yarn breakage occurs, the yarn end Y3 falls from the end of the package and winds around the take-up tube K, or the end of the package P2 falls into the yarn layer, shortening the traverse at the beginning of winding as shown in Fig. 11, and tension due to sleep. A package P3 called chrysanthemum winding G caused by a drop or a bulge, or a stepped package P4 having a notension shown in FIG. There are packages with various types of winding defects, such as ring-wound package P5, which is caused by tension fluctuations due to defects in the shape of the side spinning bobbin.
このような不良パツケージはそのまゝ編機、織
機に使用すると、スムーズな糸解じよが行われ
ず、大きな張力変動を生じたり、輪抜け等が生じ
糸切れの原因となる。 If such a defective package is used as is in a knitting machine or a loom, the threads will not unravel smoothly, causing large tension fluctuations, loops coming off, etc., and causing thread breakage.
従つて、一般にワインダーにおいて玉揚された
巻糸パツケージは、後工程へ搬送されるのに先立
つて巻形の検査が作業者の目視により行われてい
る。 Therefore, the winding shape of a wound yarn package doffed in a winder is generally visually inspected by an operator before being transported to a subsequent process.
上記検査方法では、微少な不良部分は見逃すこ
とがあり、また見る角度によつても巻形不良をチ
エツクミスすることがある。
In the above-mentioned inspection method, minute defective parts may be overlooked, and defects in the winding form may be missed depending on the viewing angle.
本発明は上記問題を解決し、パツケージの検査
を正確にしかも巻形不良の形状をも自動チエツク
可能な方法を提供するものである。 The present invention solves the above problems and provides a method that can accurately inspect packages and also automatically check the shape of winding defects.
本発明は、巻検査対象の巻糸パツケージの糸層
表面に光を照射し、反射光をイメージセンサで読
み取る方法であつて、巻糸パツケージの検査面の
読取り位置を移動させつつ、定ピツチ毎の光情報
を取込み、この光情報をアナログデジタル変換回
路１７によつてデジタル化し、続いて微分・平滑
回路１８、２値化回路１９によつて処理し、更
に、演算処理回路２０によつて１走査ライン上の
パラメータＸと各ライン方向におけるパラメータ
Ｙの関数（ｆ（Ｘ、Ｙ））として処理し、複数位置
の光情報に基づいて巻形不良を判別するようにし
たものである。
The present invention is a method of irradiating light onto the surface of the yarn layer of a wound yarn package to be inspected and reading the reflected light with an image sensor. The optical information of It is processed as a function (f(X, Y)) of the parameter X on the scanning line and the parameter Y in each line direction, and a winding defect is determined based on optical information at a plurality of positions.
例えば、パツケージを軸心回りに１回転させつ
つ、端面に光を照射し、反射光をイメージセンサ
で読取る際、パツケージ端面全周をｎ等分割し、
各分割位置の光情報を読み取り、該情報を演算処
理することにより、巻形不良の形状が把握され
る。
For example, when rotating the package around its axis once and irradiating the end face with light and reading the reflected light with an image sensor, the entire circumference of the end face of the package is divided into n equal parts.
By reading the optical information at each division position and processing the information, the shape of the winding defect can be grasped.
以下、本発明の実施例を図面に従つて説明す
る。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
第６図において検査装置１の一例を示す。該装
置１は、検査対象となる巻糸パツケージＰの糸層
表面Ｔに光を照射する光源２、鏡３等の投光部４
と、糸層表面で反射した光を受光する鏡５、イメ
ージセンサ６等の受光部７、および上記受光した
光情報を分析処理する分析装置８、さらにはパツ
ケージの軸心９を中心にパツケージＰを一定速度
で回転させる図示しない回転装置等より構成され
る。 An example of the inspection device 1 is shown in FIG. The device 1 includes a light source 2 that irradiates light onto the surface T of the yarn layer of the wound yarn package P to be inspected, and a light projecting section 4 such as a mirror 3.
, a mirror 5 that receives the light reflected on the thread layer surface, a light receiving unit 7 such as an image sensor 6, an analyzer 8 that analyzes and processes the received light information, and a package P centered on the axis 9 of the package. It consists of a rotating device (not shown) that rotates at a constant speed.
なお、上記光源２から照射される光１０は平行
光線であつて、照射範囲は第７図示の如く、パツ
ケージ端面Ｔを検査する場合は、一つの半径線上
の特定位置１２を含む狭い範囲１１に設定する。
即ち、測定位置以外の糸層表面からの反射光が受
光部へ入射するのを極力少なくするために、パツ
ケージ周囲を暗室状態とし、測定位置１２のみに
光を照射できるように投光部には適当な絞りが設
けられる。 The light 10 emitted from the light source 2 is a parallel light beam, and the irradiation range is a narrow range 11 including a specific position 12 on one radius line when inspecting the package end face T, as shown in Figure 7. Set.
That is, in order to minimize the incidence of reflected light from the surface of the thread layer other than the measurement position on the light receiving part, the area around the package is kept in a dark room, and the light emitting part is set so that the light can be irradiated only on the measurement position 12. A suitable aperture is provided.
また、受光部７においては、測定位置の実像が
イメージセンサ６の撮像素子上に結ぶように、レ
ンズ１３部分はスライド自在であり、測定開始に
あたつて作業者はフアインダ１４を見ながら焦点
合わせを行う。 In addition, in the light receiving unit 7, the lens 13 is slidable so that a real image at the measurement position is focused on the image sensor 6, and the operator needs to focus while looking at the viewfinder 14 when starting the measurement. I do.
以上のような装置において、検査方法を次に説
明する。 In the apparatus as described above, an inspection method will be explained below.
第７図において、パツケージＰを軸心９の回り
に一定の速度で矢印１５方向に回転させつつ、イ
メージセンサによつて測定位置１２を走査する。
例えば、パツケージの回転速度を3.03sec／回転
とし、イメージセンサで蓄積している光情報の読
出し周期ｔをｔ＝47.3msecとすると、パツケー
ジの全周が64分割され、36゜／64ごとに読み出す
ことになる。上記パツケージ回転速度、読出し周
期ｔは適宜設定可能であり、糸種によつて分割数
を変更することが効果的であり、太糸の場合は読
出し周期ｔを大きく、細糸の場合は周期ｔを小さ
くすることが好ましい。 In FIG. 7, the measurement position 12 is scanned by the image sensor while the package P is rotated around the axis 9 at a constant speed in the direction of the arrow 15.
For example, if the rotation speed of the package is 3.03 sec/rotation and the readout period t of optical information stored in the image sensor is 47.3 msec, the entire circumference of the package is divided into 64 parts, and the information is read out every 36°/64. It turns out. The above-mentioned package rotation speed and readout period t can be set as appropriate, and it is effective to change the number of divisions depending on the yarn type.In the case of thick yarn, the readout period t is increased, and in the case of thin yarn, the period t It is preferable to make it small.
今仮りに第７図の如く、糸層端面Ｔの一部に綾
落ちした糸Ｙ１が存在するとすると、イメージセ
ンサの１ラインの撮像素子上には、第８図のよう
に、綾落ち糸Ｙ１が測定位置１２を移動すること
により、読出し周期毎のラインlj〜lm上の光量変
化部分Qj〜Qmも撮像素子上を移動することにな
る。即ち、模式的には第８図の如きパターンが得
られるはずであるが実際の光電変換した後の、レ
ベル信号は第２図の状態である。即ち、第１〜５
図において、イメージセンサ６により得られる光
情報信号Ｌ１はアナログ信号であり、増巾回路１
６、アナログ−デジタル変換回路１７を経て得ら
れる信号も第２図示のレベル信号Ｌ２である。従
つてこの状態では巻形不良部分を判別することは
ほとんど不可能である。 As shown in FIG. 7, if there is a thread Y1 with a fallen twill on a part of the end face T of the yarn layer, then the thread with a fallen twill Y1 will appear on the image sensor of one line of the image sensor as shown in FIG. By moving the measurement position 12, the light amount changing portions Qj to Qm on the lines lj to lm for each readout period also move on the image sensor. That is, although a pattern as schematically shown in FIG. 8 should be obtained, the level signal after actual photoelectric conversion is in the state shown in FIG. 2. That is, 1st to 5th
In the figure, the optical information signal L1 obtained by the image sensor 6 is an analog signal, and the amplification circuit 1
6. The signal obtained through the analog-digital conversion circuit 17 is also the level signal L2 shown in the second diagram. Therefore, in this state, it is almost impossible to determine the portion with poor winding shape.
本発明ではさらに、第１図示の如く、上記信号
Ｌ２は、微分・平滑回路１８、２値化回路１９、
演算処理回路２０、からなる中央演算装置２１に
よつて分析処理される。 Further, in the present invention, as shown in the first diagram, the signal L2 is transmitted through a differentiation/smoothing circuit 18, a binarization circuit 19,
The data are analyzed and processed by a central processing unit 21 comprising an arithmetic processing circuit 20.
第２図において、各データ信号ｌ１〜lnは前述
した周期ｔ毎に読出された信号で、64分割の場合
は信号ｌ１〜lnが64本並ぶことになる。巾Ｓは第
７図の光照射範囲１１の半径長さに相当する。 In FIG. 2, each data signal l1-ln is a signal read out every period t mentioned above, and in the case of 64 divisions, 64 signals l1-ln are lined up. The width S corresponds to the radial length of the light irradiation range 11 in FIG.
上記A/D変換後の信号Ｌ２を微分・平滑回路
１８によつて処理して得られる信号が第３図に示
される。即ち、信号Ｌ２におけるレベル変化部分
がさらに顕著になつており、さらに、信号Ｌ３は
２値化回路１９によつて処理され、第４図示の信
号Ｌ４となる。ここに到つて、微少なレベル変化
部分が削除され、レベルが「０」と「１」の信号
に変化する。この時点においても、実際の巻形不
良部分２２と他の突出部分２３が混在している。 A signal obtained by processing the signal L2 after the A/D conversion by the differentiation/smoothing circuit 18 is shown in FIG. That is, the level change portion in the signal L2 has become more pronounced, and the signal L3 is further processed by the binarization circuit 19 to become the signal L4 shown in FIG. At this point, the minute level change portion is deleted, and the level changes to a signal of "0" and "1". Even at this point, the actual winding defective portion 22 and other protruding portions 23 are present together.
続いて、２値化された信号Ｌ４はさらに演算回
路２０によつて関数演算処理され、１走査ライン
上のパラメータｘと、各ライン方向即ち時間方向
におけるパラメータｙが関数（ｆ（ｘ、ｙ））とし
て処理されることにより、第５図示の信号Ｌ５が
得られる。即ち、第４図のライン１７において見
られた例えば、パツケージ表面に付着した葉カス
等の不純物による突出部分２３が第５図のライン
１７では消滅しており、該突出部分は巻形不良部
分ではないことがわかる。従つて第５図の如く、
ラインｌ１５〜ラインｌ２５において突出した部
分が連続的に表われ、第８図の模式図と一致した
信号が得られるのである。即ち、綾落ち糸Ｙ１の
状態が第５図の如く明瞭に表われ、第７図のよう
な実際の綾落は目視では見逃すことがあるが、本
発明によれば確実に把握することができるのであ
る。第５図の信号Ｌ５に基づいて、判断２４され
不良信号Ｌ６が出力される。 Subsequently, the binarized signal L4 is further subjected to functional calculation processing by the calculation circuit 20, and the parameter x on one scanning line and the parameter y in each line direction, that is, in the time direction, are expressed as a function (f(x, y) ), a signal L5 shown in FIG. 5 is obtained. That is, for example, the protruding portion 23 caused by impurities such as leaf crumbs adhering to the package surface, which was seen on line 17 in FIG. 4, has disappeared on line 17 in FIG. It turns out that there isn't. Therefore, as shown in Figure 5,
The protruding portions appear continuously in lines 115 to 125, and a signal matching the schematic diagram of FIG. 8 is obtained. That is, the state of the twill drop Y1 is clearly shown as shown in FIG. 5, and the actual twill drop as shown in FIG. 7 may be overlooked with the naked eye, but according to the present invention, it can be reliably grasped. It is. Based on the signal L5 in FIG. 5, a judgment 24 is made and a defective signal L6 is output.
上記分析装置８におけるデータ処理について、
２値化された信号Ｌ４を関数処理して得られる信
号Ｌ５を得る方法について第９図第１０図におい
て説明する。前記の関数ｆ（ｘ、ｙ）は例えば次
の式で表わされる。即ち、
ｆ（ｘ、ｙ）
＝ｆ（ｘ、ｙ）×｛ｆ（ｘ＋１、ｙ）
＋ｆ（ｘ＋１、ｙ＋１）＋ｆ（ｘ、ｙ＋１）
＋ｆ（ｘ−１、ｙ＋１）＋ｆ（ｘ−１、ｙ）
＋ｆ（ｘ−１、ｙ−１）＋ｆ（ｘ、ｙ−１）
＋ｆ（ｘ＋１、ｙ−１）｝ ………(イ)
ここで、ｘは前記した如く、イメージセンサの
分解能に関連し、イメージセンサの撮像素子
CCDが2048ビツトであればｘは１〜2048の値で
あり、分割数が本実施例の如く64であればｙは１
〜64の値をとる。 Regarding data processing in the analysis device 8,
A method for obtaining the signal L5 obtained by functionally processing the binarized signal L4 will be explained with reference to FIGS. 9 and 10. The above-mentioned function f(x, y) is expressed, for example, by the following equation. That is, f(x,y) =f(x,y)×{f(x+1,y) +f(x+1,y+1)+f(x,y+1) +f(x-1,y+1)+f(x-1,y ) +f(x-1, y-1)+f(x, y-1) +f(x+1, y-1)} ...(a) Here, as mentioned above, x is related to the resolution of the image sensor. , image sensor imaging element
If the CCD is 2048 bits, x is a value from 1 to 2048, and if the number of divisions is 64 as in this example, y is 1.
Takes a value of ~64.
例えば、第９図のｘ＝３、ｙ＝３について式(イ)
の値を計算すると、第９図の各値（０または１）
を代入するとｆ（3.3）＝０となる。 For example, for x=3 and y=3 in Figure 9, equation (a)
When calculating the value of , each value (0 or 1) in Figure 9 is obtained.
Substituting f(3.3)=0.
またｆ（２、３）を計算すると、やはりｆ（２、
３）＝０となる。またｆ（５、３）＝３、ｆ（５、
４）＝３の如くなる。このようにして得られるデ
ータを波形信号として表わしたのが第５図の信号
Ｌ５となるのである。 Also, when f(2, 3) is calculated, f(2,
3)=0. Also, f(5, 3) = 3, f(5,
4)=3. The data obtained in this manner is expressed as a waveform signal as signal L5 in FIG.
なお、式(イ)は、場合によつては、一部を削除
し、
ｆ（ｘ、ｙ）＝ｆ（ｘ、ｙ）
×｛ｆ（ｘ＋１、ｙ）＋ｆ（ｘ、ｙ＋１）｝
………(ロ)
の如くすることも可能である。 In addition, in some cases, a part of formula (a) may be deleted to obtain f (x, y) = f (x, y) × {f (x + 1, y) + f (x, y + 1)}
It is also possible to do something like (b).
以上の実施例においては、コーンパツケージの
端面について検査する方法について述べたが、勿
論チーズパツケージ、あるいは、仮撚機、撚糸機
等で生産されるパツケージについても同様に検査
可能である。 In the above embodiments, a method of inspecting the end face of a corn package has been described, but it is of course possible to similarly inspect a cheese package or a package produced by a false twisting machine, a yarn twisting machine, or the like.
また、上記実施例では、検査面の読取位置を移
動させる手段として検査対象であるパツケージを
回転させたが、パツケージを位置固定し、投光
部、受光部の検査装置側を移動させることも可能
であり、さらには、パツケージの端面を読取る場
合、投光側から照射される光をパツケージの直径
巾で照射させれば、パツケージを回転させること
なく一方向の平行移動によつても読取ることがで
きる。 In addition, in the above embodiment, the package to be inspected was rotated as a means of moving the reading position of the inspection surface, but it is also possible to fix the package and move the light emitter and light receiver on the inspection device side. Furthermore, when reading the end face of a package, if the light emitted from the light emitting side is irradiated across the diameter of the package, it can be read even by parallel translation in one direction without rotating the package. can.
以上のように本発明によると、パツケージを回
転させて、定ピツチ毎の測定信号から巻形不良を
判断するので、葉カス、実カス等の局所的な不純
物を判断対象から除外できると共に、巻形不良の
形状をも認識でき、極めて正確な巻形検査を行う
ことができる。
As described above, according to the present invention, since the package is rotated and winding defects are determined from the measurement signals for each fixed pitch, local impurities such as leaf scraps and fruit scraps can be excluded from the determination target, and the winding Even defective shapes can be recognized, making it possible to perform extremely accurate winding inspection.
第１図は光情報の分析方法を示すブロツク図、
第２図〜第５図は分析工程における波形信号の変
化を示す波形線図、第６図は巻形検査装置の一例
を示す概略構成図、第７図はパツケージの測定位
置と綾落糸の関係を示す平面図、第８図はパツケ
ージ回転によつて測定位置に表われる綾落糸の位
置を示す説明模式図、第９図第１０図は波形信号
Ｌ４をさらに処理する方法を説明する模式図、第
１１図〜は巻形不良パツケージの代表例を示
す斜視図である。
１…検査装置、４…投光部、６…イメージセン
サ、７…受光部、８…分析装置、１２…測定位
置、Ｌ１〜Ｌ５…信号、Ｐ１〜Ｐ５…巻形不良パ
ツケージ。
Figure 1 is a block diagram showing the optical information analysis method.
Figures 2 to 5 are waveform diagrams showing changes in waveform signals in the analysis process, Figure 6 is a schematic configuration diagram showing an example of a winding inspection device, and Figure 7 is a diagram showing the measurement position of the package and the traverse thread. A plan view showing the relationship, FIG. 8 is a schematic explanatory diagram showing the position of the twill thread appearing at the measurement position by rotating the package, and FIGS. 9 and 10 are schematic diagrams explaining the method of further processing the waveform signal L4. Figures 11 and 11 are perspective views showing typical examples of packages with poor winding shapes. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1... Inspection device, 4... Light emitting part, 6... Image sensor, 7... Light receiving part, 8... Analyzer, 12... Measurement position, L1-L5... Signal, P1-P5... Defective winding package.
Claims (1)
を照射し、反射光をイメージセンサで読み取る方
法であつて、巻糸パツケージの検査面の読取り位
置を移動させつつ、定ピツチ毎の光情報を取込
み、この光情報をアナログデジタル変換回路１７
によつてデジタル化し、続いて微分・平滑回路１
８、２値化回路１９によつて処理し、更に、演算
処理回路２０によつて１走査ライン上のパラメー
タＸと各ライン方向におけるパラメーＹの関数
（ｆ（Ｘ、Ｙ））として処理し、複数位置の光情報
に基づいて巻形不良を判別する巻糸パツケージの
巻形検査方法。1. A method in which light is irradiated onto the surface of the yarn layer of a wound yarn package to be inspected, and the reflected light is read by an image sensor.The method involves moving the reading position on the inspection surface of the wound yarn package and collecting optical information at each fixed pitch. and converts this optical information into an analog-to-digital conversion circuit 17.
Then, the differential and smoothing circuit 1
8. Processed by the binarization circuit 19, further processed by the arithmetic processing circuit 20 as a function (f(X, Y)) of the parameter X on one scanning line and the parameter Y in each line direction, A winding form inspection method for a wound yarn package that determines winding defects based on optical information at multiple positions.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20087885A JPS6262938A (en) | 1985-09-10 | 1985-09-10 | Method for inspecting profile of wound yarn package |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20087885A JPS6262938A (en) | 1985-09-10 | 1985-09-10 | Method for inspecting profile of wound yarn package |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6262938A JPS6262938A (en) | 1987-03-19 |
| JPH0236507B2 true JPH0236507B2 (en) | 1990-08-17 |
Family
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Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20087885A Granted JPS6262938A (en) | 1985-09-10 | 1985-09-10 | Method for inspecting profile of wound yarn package |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6262938A (en) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02265867A (en) * | 1989-04-04 | 1990-10-30 | Murata Mach Ltd | Abnormal part detecting method for package |
| JPH06294646A (en) * | 1993-03-12 | 1994-10-21 | Murata Mach Ltd | Package inspection equipment |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS52110949A (en) * | 1976-03-09 | 1977-09-17 | Mitsubishi Rayon Co | Method of inspective surface defect wind thread bunch |
| JPS5920592A (en) * | 1982-07-08 | 1984-02-02 | ロ−ベルト・ボツシユ・ゲゼルシヤフト・ミツト・ベシユレンクテル・ハフツング | Pump |
-
1985
- 1985-09-10 JP JP20087885A patent/JPS6262938A/en active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS52110949A (en) * | 1976-03-09 | 1977-09-17 | Mitsubishi Rayon Co | Method of inspective surface defect wind thread bunch |
| JPS5920592A (en) * | 1982-07-08 | 1984-02-02 | ロ−ベルト・ボツシユ・ゲゼルシヤフト・ミツト・ベシユレンクテル・ハフツング | Pump |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6262938A (en) | 1987-03-19 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |