JPH02301991A - Elディスプレイの製造方法 - Google Patents
Elディスプレイの製造方法Info
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- JPH02301991A JPH02301991A JP1122593A JP12259389A JPH02301991A JP H02301991 A JPH02301991 A JP H02301991A JP 1122593 A JP1122593 A JP 1122593A JP 12259389 A JP12259389 A JP 12259389A JP H02301991 A JPH02301991 A JP H02301991A
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Landscapes
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野コ
本発明は、例えば計器類のバックライト用の面光源等に
使用されるエレクトロルミネッセンス(EL)ディスプ
レイに関する。
使用されるエレクトロルミネッセンス(EL)ディスプ
レイに関する。
[従来の技術]
ELディスプレイは、硫化亜鉛(ZnS)等の蛍光体に
電界をがけなときに発光する現象を利用したもので、自
発光型の平面ディスプレイとして注目されている。
電界をがけなときに発光する現象を利用したもので、自
発光型の平面ディスプレイとして注目されている。
このような従来のELディスプレイの一例を第3図に示
す。
す。
図において、ガラス基板1上には、IrO2よりなる透
明電極61、酸化タンタル(TazO5)等よりなる第
1絶縁層31、発光層41、第2絶縁層32が順次積層
形成してあり、さらにその上にITO膜よりなる透明電
極62が配設しである。
明電極61、酸化タンタル(TazO5)等よりなる第
1絶縁層31、発光層41、第2絶縁層32が順次積層
形成してあり、さらにその上にITO膜よりなる透明電
極62が配設しである。
I To (Indium Tin 0xide)膜は
、酸化インジウム(InzO3)にすず(Sn)をドー
プした透明の導電膜で、低抵抗率であることがら従来よ
り透明電極用として広く使用されている。
、酸化インジウム(InzO3)にすず(Sn)をドー
プした透明の導電膜で、低抵抗率であることがら従来よ
り透明電極用として広く使用されている。
発光層41としては、例えば、ZnSを母材層とし、発
光中心としてマンガン(Mn>や三フッ化テルビウム(
TbF3)を添加したものが使用される。EL発光によ
る発光色はZnS中の添加物の種類によって決まり、例
えば発光i心とじてMnを添加した場合にはオレンジの
、TbF3を添加した場合にはグリーンの発光が得られ
る。
光中心としてマンガン(Mn>や三フッ化テルビウム(
TbF3)を添加したものが使用される。EL発光によ
る発光色はZnS中の添加物の種類によって決まり、例
えば発光i心とじてMnを添加した場合にはオレンジの
、TbF3を添加した場合にはグリーンの発光が得られ
る。
[発明が解決しようとする課題]
しかしながら、上記構造のELディスプレイを製作し、
連続発光試験に供したところ、わずか200時間で絶縁
破壊が生じ、耐久性能面で大きな問題を有することが判
明した。これは駆動電圧が低い場合にはそれほど重要で
はないが、表示面積の拡大等で駆動電圧を高くする必要
が生じた場合には大きな問題となる。
連続発光試験に供したところ、わずか200時間で絶縁
破壊が生じ、耐久性能面で大きな問題を有することが判
明した。これは駆動電圧が低い場合にはそれほど重要で
はないが、表示面積の拡大等で駆動電圧を高くする必要
が生じた場合には大きな問題となる。
また、近年、異なる発光色を示す発光層を複数積層して
、ELディスプレイを多色化することが提案されている
(例えば、特開昭60−264096号公報、特開昭6
0−216496号公報等)。
、ELディスプレイを多色化することが提案されている
(例えば、特開昭60−264096号公報、特開昭6
0−216496号公報等)。
ところが、上記した絶縁層の耐圧低下現象は、このよう
な積層型のE Lディスプレイにおいて特に顕著である
ことが判明し、実用化に際し大きな障害となっている。
な積層型のE Lディスプレイにおいて特に顕著である
ことが判明し、実用化に際し大きな障害となっている。
しかして、本発明の目的は、絶縁層の電気耐圧が高く、
高電圧駆動時においても絶縁破壊が生じることかない、
高い信顆性を有するELディスプレイを提供することに
ある。
高電圧駆動時においても絶縁破壊が生じることかない、
高い信顆性を有するELディスプレイを提供することに
ある。
[課題を解決するための手段]
上記目的を達成するために、本発明では、少なくとも一
方を透明導電膜で構成した一対の電極層に、絶縁層を介
して発光層を設けてなるELディスプレイにおいて、上
記透明導電膜を、酸化亜鈴を主成分とし、3価以上の原
子価を有する少なくとも一種の元素を含有する材料で構
成しである。
方を透明導電膜で構成した一対の電極層に、絶縁層を介
して発光層を設けてなるELディスプレイにおいて、上
記透明導電膜を、酸化亜鈴を主成分とし、3価以上の原
子価を有する少なくとも一種の元素を含有する材料で構
成しである。
また、本発明のELディスプレイは、上記発光層を複数
設けてこれらを透明導電膜よりなる中間電極を挟んで積
層し、該中間電極と複数の発光層との間にそれぞれ絶縁
層を形成した積層型の構成としてもよい。
設けてこれらを透明導電膜よりなる中間電極を挟んで積
層し、該中間電極と複数の発光層との間にそれぞれ絶縁
層を形成した積層型の構成としてもよい。
[作用]
従来のELディスプレイにおいて絶縁層の耐圧低下現象
が生じるのは、製造工程において、透明電極を構成する
ITO膜が部分的に還元され、導電体であるInが、熱
処理の過程で絶縁層中に拡散するためと考えられる。
が生じるのは、製造工程において、透明電極を構成する
ITO膜が部分的に還元され、導電体であるInが、熱
処理の過程で絶縁層中に拡散するためと考えられる。
これに対し、本発明において使用するZn○を主成分と
する透明導電膜は、安定で、ITOのような拡散現象を
生じないので、耐圧低下を抑制することができる。
する透明導電膜は、安定で、ITOのような拡散現象を
生じないので、耐圧低下を抑制することができる。
[実施例]
第1図には本発明のELディスプレイの一実施例を示す
。図において、ガラス基板上上には第1透明電極21が
形成してあり、その上面には第1絶縁層31、発光層4
1、第2絶縁層32、第2透明電極22が順次積層形成
しである。
。図において、ガラス基板上上には第1透明電極21が
形成してあり、その上面には第1絶縁層31、発光層4
1、第2絶縁層32、第2透明電極22が順次積層形成
しである。
第1透明電極21および第2透明電極22は、酸化亜鈴
を主成分とし、不純物ドナーとして3価以上の原子価を
有する少なくとも一種の元素を含有する透明導電膜で構
成されている。
を主成分とし、不純物ドナーとして3価以上の原子価を
有する少なくとも一種の元素を含有する透明導電膜で構
成されている。
以下、上記構造のELディスプレイの製造方法の一例を
説明する。
説明する。
まず、ガラス基板1上に、第1透明電極21を成膜した
。蒸着材料としては、ZnO粉末にGa2O3粉末を2
重量%加えて混合し、ペレット状に成形したものを用い
、成膜装置としてはイオンブレーティング装置を用いた
。装置内にArガスを導入して装置内圧力を3X10−
4Torrに保持し、高周波型カフ0W、基板温度10
0°Cで、蒸着レートが1.0〜2.0人/ s e
cの範囲になるように電子ビーム電力を調整した。
。蒸着材料としては、ZnO粉末にGa2O3粉末を2
重量%加えて混合し、ペレット状に成形したものを用い
、成膜装置としてはイオンブレーティング装置を用いた
。装置内にArガスを導入して装置内圧力を3X10−
4Torrに保持し、高周波型カフ0W、基板温度10
0°Cで、蒸着レートが1.0〜2.0人/ s e
cの範囲になるように電子ビーム電力を調整した。
このようにして得られた第1透明電極21の抵抗値は約
2X10−4Ω】であり、従来のITOとほぼ同等の抵
抗値が得られた。
2X10−4Ω】であり、従来のITOとほぼ同等の抵
抗値が得られた。
ZnOに添加する不純物としては、Gaに限らず、3価
以上の原子価を有する元素であれば透明電極の抵抗値を
下げる効果を有する。具体的には、Ga以外に、A、I
l 、Si、P、Ge、La、B、Ti、Hf、Zr、
Sn、Pb等が挙げられ、これらは通常、酸化物等の形
で添加される。
以上の原子価を有する元素であれば透明電極の抵抗値を
下げる効果を有する。具体的には、Ga以外に、A、I
l 、Si、P、Ge、La、B、Ti、Hf、Zr、
Sn、Pb等が挙げられ、これらは通常、酸化物等の形
で添加される。
ここで、ZnOに添加する不純物の量は、0゜5〜5原
千%とすることが望ましい。これら不純物の役割は、余
剰電子を生成することにあり、抵抗値の低減に大きく寄
与する。添加量が0.5原子%未満ではこの効果が小さ
く、また5原子%を超えるとZnOの結晶性が低下する
ので好ましくない。
千%とすることが望ましい。これら不純物の役割は、余
剰電子を生成することにあり、抵抗値の低減に大きく寄
与する。添加量が0.5原子%未満ではこの効果が小さ
く、また5原子%を超えるとZnOの結晶性が低下する
ので好ましくない。
第1透明電極21の上面には、TazOaよりなる第1
絶縁層31をスパッタにより形成し、第1絶縁131上
にはZnSを母材層とし、発光中心としてMnを添加し
た発光層41を蒸着により形成した。その後、発光層4
1の結晶性を向上させ、発光輝度を上げるため、真空中
、300〜500℃で熱処理を行なった。
絶縁層31をスパッタにより形成し、第1絶縁131上
にはZnSを母材層とし、発光中心としてMnを添加し
た発光層41を蒸着により形成した。その後、発光層4
1の結晶性を向上させ、発光輝度を上げるため、真空中
、300〜500℃で熱処理を行なった。
さらにTa205よりなる第2絶縁層32をスパッタに
より、第2透明電極22を蒸着により順次積層して本発
明のELディスプレイとした。各々の膜厚は、透明電極
21.22が3000A、絶縁層31.32が6000
人、発光層41が6000人である。なお、熱処理は第
2透明電極22の成膜後に行なってもよい。
より、第2透明電極22を蒸着により順次積層して本発
明のELディスプレイとした。各々の膜厚は、透明電極
21.22が3000A、絶縁層31.32が6000
人、発光層41が6000人である。なお、熱処理は第
2透明電極22の成膜後に行なってもよい。
このようにして得たELディスプレイを、連続発光試験
に供したところ(印加電圧130〜180V)、500
時間経過後も絶縁破壊は認められず、絶縁破壊に対し良
好な性能を有することがわかった。
に供したところ(印加電圧130〜180V)、500
時間経過後も絶縁破壊は認められず、絶縁破壊に対し良
好な性能を有することがわかった。
第2図には本発明の他の実施例を示す。本実施例では上
記第1実施例の構造上にさらに第2の発光層を積層した
積層型のELディスプレイとしである。
記第1実施例の構造上にさらに第2の発光層を積層した
積層型のELディスプレイとしである。
図において、中間電極となる第2透明電極22上にはT
a205よりなる第3絶縁層33がスパッタにより形成
してあり、その上に第2発光層42が形成しである。第
2発光層42は、ZnSを母材層とし、発光中心として
TbF3を添加したものでグリーン発光する。
a205よりなる第3絶縁層33がスパッタにより形成
してあり、その上に第2発光層42が形成しである。第
2発光層42は、ZnSを母材層とし、発光中心として
TbF3を添加したものでグリーン発光する。
第2発光層42上には、Ta205よりなる第4絶縁層
34を介してAMよりなる上部電極5が形成しである。
34を介してAMよりなる上部電極5が形成しである。
絶縁層33.34、第2発光層42の膜厚はいずれも6
000人であり、上部電極5は1000人である。
000人であり、上部電極5は1000人である。
上記構造のELディスプレイにおいて、第1の発光層4
1、または第2の発光層42に電圧を印加することによ
り、それぞれオレンジ、グリーンの発光色が得られ、さ
らに発光層41.42を同時に発光させることによりこ
れらの混色であるイエローの発光色が得られるので、こ
れらを組合わせることによりマルチカラーディスプレイ
が可能となる。
1、または第2の発光層42に電圧を印加することによ
り、それぞれオレンジ、グリーンの発光色が得られ、さ
らに発光層41.42を同時に発光させることによりこ
れらの混色であるイエローの発光色が得られるので、こ
れらを組合わせることによりマルチカラーディスプレイ
が可能となる。
上記構造のEしディスプレイでも絶縁破壊に対し良好な
性能が得られ、連続発光試験に供したところ、500時
間経過後も絶縁破壊は認められなかった。
性能が得られ、連続発光試験に供したところ、500時
間経過後も絶縁破壊は認められなかった。
次に、比較のため、第3図、第4図に示す従来構造のE
Lディスプレイを作製した。これらは、それぞれ、上記
第1実施例(第1図)および第2実施例(第2図)の第
1透明電極21および第2透明電極22に代えて、IT
O膜よりなる透明電極61および透明電極62を有して
いる。他の構造は上記第1.2実施例と同じである。
Lディスプレイを作製した。これらは、それぞれ、上記
第1実施例(第1図)および第2実施例(第2図)の第
1透明電極21および第2透明電極22に代えて、IT
O膜よりなる透明電極61および透明電極62を有して
いる。他の構造は上記第1.2実施例と同じである。
これらを連続発光試験に供したところ、第3図の構造で
は200時間で絶縁破壊が生じ、第4図の構造では40
時間で絶縁破壊が生じた。
は200時間で絶縁破壊が生じ、第4図の構造では40
時間で絶縁破壊が生じた。
このITOによる絶縁破壊を調べるため、第5図のよう
に、ガラス基板1上にITO電極6を設け、その上にT
a2o5絶縁膜3をスパッタ法で成膜した試料を作製し
てAES分析(オージェ電子分光分析)を行なった。試
料は側端面を5°に斜め研磨し、深さ方向の元素の分布
がわかるようにした。結果を第6図に示す。
に、ガラス基板1上にITO電極6を設け、その上にT
a2o5絶縁膜3をスパッタ法で成膜した試料を作製し
てAES分析(オージェ電子分光分析)を行なった。試
料は側端面を5°に斜め研磨し、深さ方向の元素の分布
がわかるようにした。結果を第6図に示す。
また、成膜後、350℃で熱処理したもの、550°C
で熱処理したものにつき、同様の分析を行ない、結果を
それぞれ第7図、第8図に示した。
で熱処理したものにつき、同様の分析を行ない、結果を
それぞれ第7図、第8図に示した。
各図に明らかなように、熱処理によりTaとInのオー
バーラツプが大きくなっており、Inが絶縁層3を構成
するTa2o5中に浸入していく様子がよくわかる。ま
た、熱処理温度を高くすることでさらにその傾向が増加
している。
バーラツプが大きくなっており、Inが絶縁層3を構成
するTa2o5中に浸入していく様子がよくわかる。ま
た、熱処理温度を高くすることでさらにその傾向が増加
している。
Inは導電体であるため、絶縁層3中へInが拡散する
と絶縁層の電気耐圧は低くなり、これが原因となって絶
縁破壊が生じると考えられる。このInの絶縁層中への
拡散は、ITO膜の上層の絶縁層の成膜時に、スパッタ
のようにプラズマを利用する方法を用いるため、In2
O3が還元されて部分的にIn金属となって存在するか
らで、このIn金属が熱処理の過程で拡散するためでは
ないかと考えられている。
と絶縁層の電気耐圧は低くなり、これが原因となって絶
縁破壊が生じると考えられる。このInの絶縁層中への
拡散は、ITO膜の上層の絶縁層の成膜時に、スパッタ
のようにプラズマを利用する方法を用いるため、In2
O3が還元されて部分的にIn金属となって存在するか
らで、このIn金属が熱処理の過程で拡散するためでは
ないかと考えられている。
なお、同様の試験をZn○にGaを添加じなZnO系透
明導電膜を用いて行なった結果を第9図に示しな。図に
明らかなように550℃熱処理後もZnの絶縁層中への
拡散は見られない。
明導電膜を用いて行なった結果を第9図に示しな。図に
明らかなように550℃熱処理後もZnの絶縁層中への
拡散は見られない。
さらに第5図の構成の試料につき、第10図に示す装置
を使用して、絶縁層6のリーク電流を調べた。第10図
において、7はAuメッキの針電極であり、これと試料
のIT○電極6間に電圧を印加して、熱処理前、550
℃熱処理後においてリーク電流がどのように変化するか
を調べた。また、ITO電極6に代えてZnO系透明導
電膜を用いた場合についても同様に熱処理前後のリーク
電流変化を調べ、結果を第11図に示した。
を使用して、絶縁層6のリーク電流を調べた。第10図
において、7はAuメッキの針電極であり、これと試料
のIT○電極6間に電圧を印加して、熱処理前、550
℃熱処理後においてリーク電流がどのように変化するか
を調べた。また、ITO電極6に代えてZnO系透明導
電膜を用いた場合についても同様に熱処理前後のリーク
電流変化を調べ、結果を第11図に示した。
これらの結果を比較して明らかなように、ZnO系透明
導電膜では熱処理してもリーク電流はほとんど変化しな
いが、ITO膜では熱処理によりリーク電流が大きく増
加しており、絶縁破壊しやすくなっていることがわかる
。このように、ZnO系透明導電膜を用いることにより
絶縁破壊を抑制でき、高電圧駆動のELディスプレイに
おいて大きな効果を発揮する。
導電膜では熱処理してもリーク電流はほとんど変化しな
いが、ITO膜では熱処理によりリーク電流が大きく増
加しており、絶縁破壊しやすくなっていることがわかる
。このように、ZnO系透明導電膜を用いることにより
絶縁破壊を抑制でき、高電圧駆動のELディスプレイに
おいて大きな効果を発揮する。
上記実施例では、絶縁層をTa205で構成したが、A
、ff 203、Si3N4、Y2O3等の他の絶縁材
料で構成してもよい。
、ff 203、Si3N4、Y2O3等の他の絶縁材
料で構成してもよい。
また、発光層として、ZnSにSm、Tm等の他の希土
類金属イオンを添加したもの、あるいはCaS、SrS
に希土類金属イオンを添加したものを用いてもよい。
類金属イオンを添加したもの、あるいはCaS、SrS
に希土類金属イオンを添加したものを用いてもよい。
上記実施例では発光層を1層または2層有する構成のも
のを示したか、本発明のELディスプレイは、発光層を
3層以上有する構成としてももちろんよく、例えば、赤
色系、緑色系、青色系の発光層を重ねることによりフル
カラー化が可能となる。
のを示したか、本発明のELディスプレイは、発光層を
3層以上有する構成としてももちろんよく、例えば、赤
色系、緑色系、青色系の発光層を重ねることによりフル
カラー化が可能となる。
U発明の効果]
以上のように、本発明のELディスプレイは、透明電極
を、酸化亜鉛を主成分とする透明導電膜で構成したので
、絶縁層の電気耐圧が飛躍的に向上し、絶縁破壊が生じ
ることを防止する。また、酸化亜鉛を主成分とする透明
導電膜は、抵抗率が低く、安価であり、高い信頼性と優
れた特性を有するELディスプレイを実現する。
を、酸化亜鉛を主成分とする透明導電膜で構成したので
、絶縁層の電気耐圧が飛躍的に向上し、絶縁破壊が生じ
ることを防止する。また、酸化亜鉛を主成分とする透明
導電膜は、抵抗率が低く、安価であり、高い信頼性と優
れた特性を有するELディスプレイを実現する。
第1図は本発明の一実施例を示すELディスプレイの全
体断面図、第2図は本発明の他の実施例を示すEl−デ
ィスプレイの全体断面図、第3図および第4図は従来の
ELディスプレイの全体断面図、第5図は従来のELデ
ィスプレイにおけるInの拡散状態を調べるための試料
の部分断面図、第6図〜第8図は従来のELディスプレ
イにおけるInの拡散状態を示す図、第9図は本発明の
ELディスプレイにおけるZnの拡散状態を示す図、第
10図は熱処理前後のリーク電流変化を調べるための試
験方法を示す図、第11図は熱処理前後のリーク電流変
化を示す図である。 1・・・・・・ガラス基板 21.22・・・・・・透明電極 31.32.33.34・・・・・・絶縁層41.42
・・・・・・発光層 5・・・・・・上部電極 第1図 第2図 第3図 第4図 第5図 顕 雛 距 離 第 10 図 第11図 電圧 (V)
体断面図、第2図は本発明の他の実施例を示すEl−デ
ィスプレイの全体断面図、第3図および第4図は従来の
ELディスプレイの全体断面図、第5図は従来のELデ
ィスプレイにおけるInの拡散状態を調べるための試料
の部分断面図、第6図〜第8図は従来のELディスプレ
イにおけるInの拡散状態を示す図、第9図は本発明の
ELディスプレイにおけるZnの拡散状態を示す図、第
10図は熱処理前後のリーク電流変化を調べるための試
験方法を示す図、第11図は熱処理前後のリーク電流変
化を示す図である。 1・・・・・・ガラス基板 21.22・・・・・・透明電極 31.32.33.34・・・・・・絶縁層41.42
・・・・・・発光層 5・・・・・・上部電極 第1図 第2図 第3図 第4図 第5図 顕 雛 距 離 第 10 図 第11図 電圧 (V)
Claims (2)
- (1)少なくとも一方を透明導電膜で構成した一対の電
極間に、絶縁層を介して発光層を設けてなるELディス
プレイにおいて、上記透明導電膜が、酸化亜鉛を主成分
とし、3価以上の原子価を有する少なくとも一種の元素
を含有することを特徴とするELディスプレイ。 - (2)上記発光層を複数設けてこれらを透明導電膜より
なる中間電極を挟んで積層し、該中間電極と複数の発光
層との間にそれぞれ絶縁層を形成した請求項1記載のE
Lディスプレイ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1122593A JPH0817115B2 (ja) | 1989-05-16 | 1989-05-16 | Elディスプレイの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1122593A JPH0817115B2 (ja) | 1989-05-16 | 1989-05-16 | Elディスプレイの製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02301991A true JPH02301991A (ja) | 1990-12-14 |
JPH0817115B2 JPH0817115B2 (ja) | 1996-02-21 |
Family
ID=14839772
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1122593A Expired - Fee Related JPH0817115B2 (ja) | 1989-05-16 | 1989-05-16 | Elディスプレイの製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0817115B2 (ja) |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57180891A (en) * | 1981-04-30 | 1982-11-08 | Fujitsu Ltd | El display element |
JPS63190294A (ja) * | 1987-01-31 | 1988-08-05 | 株式会社リコー | エレクトロルミネツセンス素子 |
-
1989
- 1989-05-16 JP JP1122593A patent/JPH0817115B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57180891A (en) * | 1981-04-30 | 1982-11-08 | Fujitsu Ltd | El display element |
JPS63190294A (ja) * | 1987-01-31 | 1988-08-05 | 株式会社リコー | エレクトロルミネツセンス素子 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0817115B2 (ja) | 1996-02-21 |
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