JPH02265036A - 光学ヘッド - Google Patents
光学ヘッドInfo
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- JPH02265036A JPH02265036A JP1087219A JP8721989A JPH02265036A JP H02265036 A JPH02265036 A JP H02265036A JP 1087219 A JP1087219 A JP 1087219A JP 8721989 A JP8721989 A JP 8721989A JP H02265036 A JPH02265036 A JP H02265036A
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- light
- hologram
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- semiconductor laser
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Landscapes
- Optical Head (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、光学系にホログラムを用いた光学ヘッドに関
する。
する。
[従来の技術]
近年、情報に関する産業の進展がめざましく、取扱われ
る情報量も増大する傾向にある。このため、従来の磁気
ヘッドを用いて情報を記録したり、再生したりする記録
または再生装置に代わり、光ビームを照射して、記録媒
体に高密度で情報を記録したり、記録媒体に高密度で記
録された情報を高速度で再生したりすることのできる光
学的情報記録再生装置が注目される状況にある。
る情報量も増大する傾向にある。このため、従来の磁気
ヘッドを用いて情報を記録したり、再生したりする記録
または再生装置に代わり、光ビームを照射して、記録媒
体に高密度で情報を記録したり、記録媒体に高密度で記
録された情報を高速度で再生したりすることのできる光
学的情報記録再生装置が注目される状況にある。
ところで、前記光学的情報記録再生装置に用いられる光
学ヘッドは、アクセス時間短縮のため、小型、軽量であ
ることが望ましい。そこで、最近、光学ヘッドの小型化
、軽量化のために、例えば、特開昭63−3274.3
号公報に示されるように、光学系にホログラムを用いた
ものが提案されている。
学ヘッドは、アクセス時間短縮のため、小型、軽量であ
ることが望ましい。そこで、最近、光学ヘッドの小型化
、軽量化のために、例えば、特開昭63−3274.3
号公報に示されるように、光学系にホログラムを用いた
ものが提案されている。
前記公報に示されるような従来の光学ヘッドの例の概略
を、第8図を用いて説明する。
を、第8図を用いて説明する。
この光学ヘッドは、光磁気(熱磁気)記録用のものであ
り、半導体レーザ170から出射されたレーザビーム1
72は、レンズ174により、収束した後、再び発散し
、ホログラムレンズ178を経て、対物レンズ182に
よって、光磁気(熱磁気)媒体184に収束される。前
記媒体184からの反射光は、対物レンズ182を経て
、ホログラムレンズ178に入射する。このホログラム
レンズ178の一対の回折光は188.190は、各々
、一対の光検出器192,194に収束される。この光
検出器192.194の直前には、偏光レンズ196が
設りられている。この偏光レンズ196は、例えばホロ
グラムレンズからなり、互いに偏光方向の直交する2つ
の偏光ビームを各々光検出器192,194に導りJ:
うになっている。ぞして、この光検出器192.194
の出力により、フォーカス、トラッキングエラー信号と
情報信号とを得るようになっている。また、前記半導体
レーザ170の後方には、半導体レーザ170の後方光
を検出する光検出器が設()られている。イして、例え
ば、この光検出器の出力を半導体レーザ170のAPC
(自動光量制御)に用いている。
り、半導体レーザ170から出射されたレーザビーム1
72は、レンズ174により、収束した後、再び発散し
、ホログラムレンズ178を経て、対物レンズ182に
よって、光磁気(熱磁気)媒体184に収束される。前
記媒体184からの反射光は、対物レンズ182を経て
、ホログラムレンズ178に入射する。このホログラム
レンズ178の一対の回折光は188.190は、各々
、一対の光検出器192,194に収束される。この光
検出器192.194の直前には、偏光レンズ196が
設りられている。この偏光レンズ196は、例えばホロ
グラムレンズからなり、互いに偏光方向の直交する2つ
の偏光ビームを各々光検出器192,194に導りJ:
うになっている。ぞして、この光検出器192.194
の出力により、フォーカス、トラッキングエラー信号と
情報信号とを得るようになっている。また、前記半導体
レーザ170の後方には、半導体レーザ170の後方光
を検出する光検出器が設()られている。イして、例え
ば、この光検出器の出力を半導体レーザ170のAPC
(自動光量制御)に用いている。
[発明が解決しようとする課題]
しかしながら、光磁気(熱磁気)用の光学ヘッドでは、
光磁気(熱磁気)媒体の情報信号は微小であり、媒体か
らの戻り光の一部が半導体レーザに戻る。そのため、半
導体レーザの後方光を用いたAPCでは、半導体レーザ
のノイズ(バックトークノイズ)の影響を受け、半導体
レーザの正確な出射光量を検出できず、正確な制御がで
きない。
光磁気(熱磁気)媒体の情報信号は微小であり、媒体か
らの戻り光の一部が半導体レーザに戻る。そのため、半
導体レーザの後方光を用いたAPCでは、半導体レーザ
のノイズ(バックトークノイズ)の影響を受け、半導体
レーザの正確な出射光量を検出できず、正確な制御がで
きない。
この問題は、光磁気(熱磁気)用の光学ヘッドに限らず
、追記型(DRAW>や再生専用型の光学ヘッドでも生
じる。すなわち、これらの光学ヘッドでは、例えば、記
録媒体へ向う光と戻り光とで偏光方向を90麿変えるこ
とにより、戻り光が半導体レーザに戻らないようにして
いるが、それでも、記録媒体の複屈折の影響で、戻り光
の一部が半導体レーザに戻るからである。
、追記型(DRAW>や再生専用型の光学ヘッドでも生
じる。すなわち、これらの光学ヘッドでは、例えば、記
録媒体へ向う光と戻り光とで偏光方向を90麿変えるこ
とにより、戻り光が半導体レーザに戻らないようにして
いるが、それでも、記録媒体の複屈折の影響で、戻り光
の一部が半導体レーザに戻るからである。
そこで、第9図に示すように、半導体レーザの前方光を
モニター−ることが考えられる。この第9図の例では、
半導体レーザー70から出射された光は、ハーフミラ−
200に入射し、このハーフミラ−200を透過した一
部の光が、前方モニタ用光検出器202で受光される。
モニター−ることが考えられる。この第9図の例では、
半導体レーザー70から出射された光は、ハーフミラ−
200に入射し、このハーフミラ−200を透過した一
部の光が、前方モニタ用光検出器202で受光される。
前記ハーフミラ200で反0’J すれた光は、ホログ
ラムレンズ178を経て、対物レンズ182によって、
媒体184に収束される。前記媒体184からの反射光
は、対物レンズ182を経て、ホログラムレンズ178
に入射覆る。このホログラムレンズ178の一対の回折
光は、各々、前記ハーフミラ−200で反射され、一対
の光検出器192,194に収束される。
ラムレンズ178を経て、対物レンズ182によって、
媒体184に収束される。前記媒体184からの反射光
は、対物レンズ182を経て、ホログラムレンズ178
に入射覆る。このホログラムレンズ178の一対の回折
光は、各々、前記ハーフミラ−200で反射され、一対
の光検出器192,194に収束される。
しかしながら、このように、ハーフミラ−200によっ
て半導体レーザー70の前方光の一部を分離してモニタ
する場合、半導体レーザー70及び光検出器192.1
94が配設された基板と、前方モニタ用光検出器202
どが離れているため、前方モニタ用光検出器202の配
線が面倒である。
て半導体レーザー70の前方光の一部を分離してモニタ
する場合、半導体レーザー70及び光検出器192.1
94が配設された基板と、前方モニタ用光検出器202
どが離れているため、前方モニタ用光検出器202の配
線が面倒である。
本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり、光源
の前方光をモニタすることができると共に、組み立てを
容易にできるようにした光学ヘッドを提供することを目
的としている。
の前方光をモニタすることができると共に、組み立てを
容易にできるようにした光学ヘッドを提供することを目
的としている。
[課題を解決するための手段]
本発明の光学ヘッドは、記録媒体に照射する光を出射づ
−る光源ど、前記光源から出射された光を集光して前記
記録媒体に導く集光手段と、前記集光手段と前記光源と
の間に設【プられ、前記記録媒体からの戻り光を前記光
源とは異なる方向に導く第1のホログラムと、前記集光
手段と前記光源との間に設けられ、前記光源から出射さ
れる前方光の一部を反射し、前記光源とは異なる方向に
導く第2のホログラムと、前記第1のホログラムによっ
て導かれた光を受光してエラー信号と情報信号とを検出
する第1の光検出器と、前記第2のホログラムによって
導かれた光を受光して前記光源の前方光の売足を検出す
る第2の光検出器とを備え、前記光源と前記第1の光検
出器と前記第2の光検出器とを、一体の基板上に設けた
ものである。
−る光源ど、前記光源から出射された光を集光して前記
記録媒体に導く集光手段と、前記集光手段と前記光源と
の間に設【プられ、前記記録媒体からの戻り光を前記光
源とは異なる方向に導く第1のホログラムと、前記集光
手段と前記光源との間に設けられ、前記光源から出射さ
れる前方光の一部を反射し、前記光源とは異なる方向に
導く第2のホログラムと、前記第1のホログラムによっ
て導かれた光を受光してエラー信号と情報信号とを検出
する第1の光検出器と、前記第2のホログラムによって
導かれた光を受光して前記光源の前方光の売足を検出す
る第2の光検出器とを備え、前記光源と前記第1の光検
出器と前記第2の光検出器とを、一体の基板上に設けた
ものである。
[作用]
本発明では、光源から出射された光は、集光手段によっ
て記録媒体に導かれ、この記録媒体からの戻り光は、第
1のホログラムによって第1の光検出器に導かれ、この
第1の光検出器によってエラー信号と情報信号が検出さ
れる。また、光源から出射された前方光の一部は、第2
のホログラムで反則されて第2の光検出器に導かれ、こ
の第2の光検出器によって光源の前方光の出射光重が検
出される。
て記録媒体に導かれ、この記録媒体からの戻り光は、第
1のホログラムによって第1の光検出器に導かれ、この
第1の光検出器によってエラー信号と情報信号が検出さ
れる。また、光源から出射された前方光の一部は、第2
のホログラムで反則されて第2の光検出器に導かれ、こ
の第2の光検出器によって光源の前方光の出射光重が検
出される。
[実施例]
以下、図面を参照して本発明の詳細な説明する。
第1図ないし第3図は本発明の第1実施例に係り、第1
図(a)は光ピツクアップのエラー信号及び情報信号検
出用の光学系を示す説明図、第1図(b)は光ピツクア
ップの前方光モニタ用の光学系を示づ説明図、第2図は
ホログラムレンズを示す説明図、第3図は半導体レーザ
及び光検出器を配置した基板の平面図である。
図(a)は光ピツクアップのエラー信号及び情報信号検
出用の光学系を示す説明図、第1図(b)は光ピツクア
ップの前方光モニタ用の光学系を示づ説明図、第2図は
ホログラムレンズを示す説明図、第3図は半導体レーザ
及び光検出器を配置した基板の平面図である。
本実施例は、第1図(a)及び(b)に示すように、記
録再生用記録媒体4に対して、情報の記録再生を行なう
追記型(DRAW)あるいは再生専用型の光ピツクアッ
プの例である。
録再生用記録媒体4に対して、情報の記録再生を行なう
追記型(DRAW)あるいは再生専用型の光ピツクアッ
プの例である。
この光ピツクアップ10は、光源として半導体レーザ1
を備え、この半導体レーザ1と前記記録媒体4との間に
、半導体レーザ1側より順に、ホログラムレンズ2と対
物レンズ3とが配設されている。
を備え、この半導体レーザ1と前記記録媒体4との間に
、半導体レーザ1側より順に、ホログラムレンズ2と対
物レンズ3とが配設されている。
第2図に示すように、前記ホログラムレンズ2は、中央
に配置された回折ホログラム21と、この回折ホログラ
ム21の両側に配置された2つの反射型ホログラム22
.22とが、−枚板上に形成されたものである。ところ
で、第2図に示すように、半導体レーザ1の出射光ビー
ム20のファーフィールドパターンは楕円形状である。
に配置された回折ホログラム21と、この回折ホログラ
ム21の両側に配置された2つの反射型ホログラム22
.22とが、−枚板上に形成されたものである。ところ
で、第2図に示すように、半導体レーザ1の出射光ビー
ム20のファーフィールドパターンは楕円形状である。
前記ホログラムレンズ2は、前記半導体レーザ1の楕円
形状の光ビーム20の長袖方向の両端側に反射型ホログ
ラム22.22がくるように配置されている。また、回
折ホログラム21は、前記光ビーム20の短軸方向の大
きさと略同じ寸法としている。
形状の光ビーム20の長袖方向の両端側に反射型ホログ
ラム22.22がくるように配置されている。また、回
折ホログラム21は、前記光ビーム20の短軸方向の大
きさと略同じ寸法としている。
そして、半導体レーザーの楕円形状の光ビーム20が、
このホログラムレンズ2を通過する際に、反射型ホログ
ラム22によって長軸方向の両端部が遮光され、略円形
のビームに変換されるようになっている。
このホログラムレンズ2を通過する際に、反射型ホログ
ラム22によって長軸方向の両端部が遮光され、略円形
のビームに変換されるようになっている。
前記回折ホログラム21は、例えば、感光材に物体光と
参照光を照射する二重露光法により作成できる。また、
前記反射型ホログラム22は、例えば、同じく二重露光
法により形成された回折格子上に金属薄膜をコーティン
グすることにより作成できる。
参照光を照射する二重露光法により作成できる。また、
前記反射型ホログラム22は、例えば、同じく二重露光
法により形成された回折格子上に金属薄膜をコーティン
グすることにより作成できる。
第3図に示すように、前記半導体レーザーは、2つのエ
ラー信号用光検出器5及び2つの前方モニタ用光検出器
8と共に、同一基板7上に設けられている。この基板γ
上には、中央部に半導体レーザ1の発光部が配置され、
この半導体レーザーの発光部のX軸方向の両側に、前記
回折ホログラム21からの±1次のビームを検出する前
記エラー信号用光検出器5,5が、それぞれ、半導体レ
ーザ1の発光部から数mm離れた位置に配置されている
。また、前記半導体レーザ1の発光部のY軸方向の両側
には、前記反射型ホログラム22゜22のゼロ次のビー
ムを検出するための前方モニタ用光検出器8,8が、そ
れぞれ、半導体レーザ1の発光部から数mm1llれた
位置に配置されている。これら光検出器5.8は、例え
ば、半導体基板と同−構造及び材料からなり、そして半
導体基板の上面にはそれぞれの電極を設け、下面は共通
電極とし、半導体レーザ1は順方向バイアス、光検出器
5,8は逆方向バイアスにしている。尚、半導体レーザ
1.2つのエラー信号用光検出器5及び2つの前方モニ
タ用光検出器8が設けられた同一基板7の構造は、特開
昭63−32743号公報に記載されているものを用い
ても良い。
ラー信号用光検出器5及び2つの前方モニタ用光検出器
8と共に、同一基板7上に設けられている。この基板γ
上には、中央部に半導体レーザ1の発光部が配置され、
この半導体レーザーの発光部のX軸方向の両側に、前記
回折ホログラム21からの±1次のビームを検出する前
記エラー信号用光検出器5,5が、それぞれ、半導体レ
ーザ1の発光部から数mm離れた位置に配置されている
。また、前記半導体レーザ1の発光部のY軸方向の両側
には、前記反射型ホログラム22゜22のゼロ次のビー
ムを検出するための前方モニタ用光検出器8,8が、そ
れぞれ、半導体レーザ1の発光部から数mm1llれた
位置に配置されている。これら光検出器5.8は、例え
ば、半導体基板と同−構造及び材料からなり、そして半
導体基板の上面にはそれぞれの電極を設け、下面は共通
電極とし、半導体レーザ1は順方向バイアス、光検出器
5,8は逆方向バイアスにしている。尚、半導体レーザ
1.2つのエラー信号用光検出器5及び2つの前方モニ
タ用光検出器8が設けられた同一基板7の構造は、特開
昭63−32743号公報に記載されているものを用い
ても良い。
尚、第1図(a)は、エラー信号用光検出器5゜5を含
む光学系を示し、第1図(b)は、前方モ二タ用光検出
器8,8を含む光学系を示している。
む光学系を示し、第1図(b)は、前方モ二タ用光検出
器8,8を含む光学系を示している。
前記半導体レーザ1.2つのエラー信号用光検出器5及
び2つの前方モニタ用光検出器8が設()られた同一基
板7から、ホログラムレンズ2までが、一つのパッケー
ジ6に形成されている。また、前記対物レンズ3は、こ
の対物レンズ3を光軸方向及び光軸に直交する方向に移
動可能な図示しないアクチュエータによって保持されて
いる。この対物レンズ3を含むアクチュエータは交換可
能になっている。前記アクチュエータは、前記エラー信
号用検出器5,5から得られるフォーカス、トラッキン
グエラー信号に基づいて図示しない駆動回路を介して駆
動され、これにより、フォーカス。
び2つの前方モニタ用光検出器8が設()られた同一基
板7から、ホログラムレンズ2までが、一つのパッケー
ジ6に形成されている。また、前記対物レンズ3は、こ
の対物レンズ3を光軸方向及び光軸に直交する方向に移
動可能な図示しないアクチュエータによって保持されて
いる。この対物レンズ3を含むアクチュエータは交換可
能になっている。前記アクチュエータは、前記エラー信
号用検出器5,5から得られるフォーカス、トラッキン
グエラー信号に基づいて図示しない駆動回路を介して駆
動され、これにより、フォーカス。
トラッキング制御が行なわれるようになっている。
また、前記前方モニタ用光検出器8の出力は、半導体レ
ーザ1の発光出力を自動調整するAPC回路に送られる
にうになっている。
ーザ1の発光出力を自動調整するAPC回路に送られる
にうになっている。
次に、本実施例の作用について説明する。
第1図(a)に示すように、半導体レーザ1から出射さ
れた光ビームは、ホログラムレンズ2に入射し、長袖方
向の両端部は反射型ホログラム22.22で反射され、
他の部分は回折ホログラム21を通過して、略円形のビ
ームに変換される。
れた光ビームは、ホログラムレンズ2に入射し、長袖方
向の両端部は反射型ホログラム22.22で反射され、
他の部分は回折ホログラム21を通過して、略円形のビ
ームに変換される。
光ビームは、この回折ホログラム21を通過する際に、
ゼロ次と±1次の回折ビームに分離し、ゼロ次のビーム
は回折せずにそのまま対物レンズ3に入則し、記録媒体
4上に収束する。この記録媒体4で反射されたビームは
、対物レンズ3を通過し、再び回折ホログラム21に入
射し、ゼロ次と±1次の回折ビームを発生し、U日次の
ビームは半導体レーザ1に戻る。一方、±1次のビーム
は、半導体レーザ1と同一基板7上にあるエラー信号用
光検出器5,5に収束され、この光検出器5゜5で受光
され、光電変換される。そして、この光検出器5,5の
出力から、フォーカス、1へラッキングエラー信号と情
報信号とが得られる。尚、フォーカス、トラッキングエ
ラー信号は、例えば特開昭63−32743号公報に示
されるように、非点収差法、プッシュプル法等にJ:っ
て得ることができる。
ゼロ次と±1次の回折ビームに分離し、ゼロ次のビーム
は回折せずにそのまま対物レンズ3に入則し、記録媒体
4上に収束する。この記録媒体4で反射されたビームは
、対物レンズ3を通過し、再び回折ホログラム21に入
射し、ゼロ次と±1次の回折ビームを発生し、U日次の
ビームは半導体レーザ1に戻る。一方、±1次のビーム
は、半導体レーザ1と同一基板7上にあるエラー信号用
光検出器5,5に収束され、この光検出器5゜5で受光
され、光電変換される。そして、この光検出器5,5の
出力から、フォーカス、1へラッキングエラー信号と情
報信号とが得られる。尚、フォーカス、トラッキングエ
ラー信号は、例えば特開昭63−32743号公報に示
されるように、非点収差法、プッシュプル法等にJ:っ
て得ることができる。
一方、第1図(b)に示づ−ように、半導体レーザ1か
ら出射され前記反射型ホログラム22,22で反射され
たゼロ次のビームは、前方モニタ用光検出器8.8に収
束され、この光検出器8,8で受光され、光電変換され
る。そして、この光検出器8の出力は、APC回路に送
られ、前記半導体レーザ1の発光出力が自動調整される
。
ら出射され前記反射型ホログラム22,22で反射され
たゼロ次のビームは、前方モニタ用光検出器8.8に収
束され、この光検出器8,8で受光され、光電変換され
る。そして、この光検出器8の出力は、APC回路に送
られ、前記半導体レーザ1の発光出力が自動調整される
。
このように本実施例によれば、半導体レーザ1と対物レ
ンズ3の間に、回折ホログラム21と共に反射型ホログ
ラム22を設け、この反射型ホログラム22で反射され
た回折光を前方モニタ用光検出器8で受光することによ
り、半導体レーザ1の前方光をモニタでき、戻り光によ
るバツクトクノイズの影響を受けないAPCを実現でき
る。
ンズ3の間に、回折ホログラム21と共に反射型ホログ
ラム22を設け、この反射型ホログラム22で反射され
た回折光を前方モニタ用光検出器8で受光することによ
り、半導体レーザ1の前方光をモニタでき、戻り光によ
るバツクトクノイズの影響を受けないAPCを実現でき
る。
また、半導体レーザ1とエラー信号用光検出器5.5と
前方モニタ用光検出器8.8とを、同一基板7上に設り
たので、同一基板7上に、配線を要する全ての素子が配
置され、光検出器8からの信号線をパッケージの内部か
ら取り出す必要がなくなり、光ピツクアップ10の組み
立てが容易になる。
前方モニタ用光検出器8.8とを、同一基板7上に設り
たので、同一基板7上に、配線を要する全ての素子が配
置され、光検出器8からの信号線をパッケージの内部か
ら取り出す必要がなくなり、光ピツクアップ10の組み
立てが容易になる。
また、このように同一基板7上に半導体レーザ1、光検
出器5,8を配置すると共に、回折ホログラム21ど反
射型ホログラム22とを一枚板上に形成したので、構成
が簡単で、光ピツクアップ10の小型化が可能になる。
出器5,8を配置すると共に、回折ホログラム21ど反
射型ホログラム22とを一枚板上に形成したので、構成
が簡単で、光ピツクアップ10の小型化が可能になる。
第4図及び第5図は本発明の第2実施例に係り、第4図
はホログラムレンズを示す説明図、第5図は光ピツクア
ップの前方光モニタ用の光学系を示す説明図である。
はホログラムレンズを示す説明図、第5図は光ピツクア
ップの前方光モニタ用の光学系を示す説明図である。
本実施例の光ピツクアップ30は、第1実施例に対しホ
ログラムレンズ2の構成が異なる。
ログラムレンズ2の構成が異なる。
本実施例におけるホログラムレンズ2は、第4図に示す
ように、回折ホログラム21の中心部に、1mm程度の
円形の反射型ホログラム22を配置させている。この反
射型ホログラム22の格子線は、回折ホログラム21の
格子線に対して略直交(90度)するように形成してい
る。また、反射型ホログラム22の反射膜には、金属薄
膜がコーディングされている。
ように、回折ホログラム21の中心部に、1mm程度の
円形の反射型ホログラム22を配置させている。この反
射型ホログラム22の格子線は、回折ホログラム21の
格子線に対して略直交(90度)するように形成してい
る。また、反射型ホログラム22の反射膜には、金属薄
膜がコーディングされている。
また、回折ホログラム21は、半導体レーザ1の出射光
ビーム20の短軸方向の大きさと略同じ寸法とし、半導
体レーザ1の楕円形状の光ビーム20が、このホログラ
ムレンズ2を通過づ−る際に、このホログラムレンズ2
の枠によって長袖方向の両端部が遮光され、略円形のビ
ームに変換されるようになっている。
ビーム20の短軸方向の大きさと略同じ寸法とし、半導
体レーザ1の楕円形状の光ビーム20が、このホログラ
ムレンズ2を通過づ−る際に、このホログラムレンズ2
の枠によって長袖方向の両端部が遮光され、略円形のビ
ームに変換されるようになっている。
本実施例では、第5図に示すように、半導体レザ1から
出射された光ビームは、ホログラムレンズ2に入射し、
回折ホログラム21に照射された光ビームは透過し、中
央部に位置する反射型ホログラム22に照射された光ビ
ームは、反射され、ゼロ次と±1次のビームを発生させ
、ゼロ次のビームは半導体レーザ1に戻り、±1次のビ
ームは、前方モニタ用光検出器8,8に収束され、この
光検出器8,8で受光され、光電変換される。
出射された光ビームは、ホログラムレンズ2に入射し、
回折ホログラム21に照射された光ビームは透過し、中
央部に位置する反射型ホログラム22に照射された光ビ
ームは、反射され、ゼロ次と±1次のビームを発生させ
、ゼロ次のビームは半導体レーザ1に戻り、±1次のビ
ームは、前方モニタ用光検出器8,8に収束され、この
光検出器8,8で受光され、光電変換される。
また、前記回折ホログラム21の出射光は、ホログラム
レンズ21の枠によって、楕円ビームの両端部が遮光さ
れて略円形ビームに変換される。
レンズ21の枠によって、楕円ビームの両端部が遮光さ
れて略円形ビームに変換される。
その他の構成1作用及び効果は、第1実施例と同様であ
る。
る。
第6図及び第7図は本発明の第3実施例に係り、第6図
(a)は光学ヘッドのエラー信号及び情報信号検出用の
光学系を示す説明図、第6図(b)は光学ヘッドの前方
光モニタ用の光学系を示1説明図、第7図は光学ヘッド
の各光学素子を示す説明図である。
(a)は光学ヘッドのエラー信号及び情報信号検出用の
光学系を示す説明図、第6図(b)は光学ヘッドの前方
光モニタ用の光学系を示1説明図、第7図は光学ヘッド
の各光学素子を示す説明図である。
本実施例は、光磁気媒体に対して情報の記録。
再生を行なう光磁気方式の光学ヘッドの例である。
第6図(a)、(b)に示すように、光学ヘッド40は
、光源として半導体レーザ1を備え、この半導体レーザ
1と光磁気媒体44との間に、半導体レーザ1側より順
に、偏光ホログラム47と、1/2波長板46と、ホロ
グラムレンズ42ど、対物レンズ43とが配設されてい
る。前記1/2波長板46とホログラムレンズ42は、
硝子ブロック48の両端面に設けられ、偏光ホログラム
47は、1/2波長板46の端面に設けられている。
、光源として半導体レーザ1を備え、この半導体レーザ
1と光磁気媒体44との間に、半導体レーザ1側より順
に、偏光ホログラム47と、1/2波長板46と、ホロ
グラムレンズ42ど、対物レンズ43とが配設されてい
る。前記1/2波長板46とホログラムレンズ42は、
硝子ブロック48の両端面に設けられ、偏光ホログラム
47は、1/2波長板46の端面に設けられている。
第7図に示すように、前記ホログラムレンズ42は、回
折ホログラム21の中心部に、円形の反割型ホログラム
22を配置さゼている。この反則型ホログラム22の格
子線は、回折ホログラム21の格子線に対して略直交す
るように形成している。また、反射型ホログラム22の
反射膜には、金属薄膜がコーティングされている。
折ホログラム21の中心部に、円形の反割型ホログラム
22を配置さゼている。この反則型ホログラム22の格
子線は、回折ホログラム21の格子線に対して略直交す
るように形成している。また、反射型ホログラム22の
反射膜には、金属薄膜がコーティングされている。
また、前記偏光ホログラム47には、中心から数mmの
幅aで、格子の形成されていない、すなわち偏光特性を
持たない空間4.78が設けられている。この偏光ホロ
グラム47では、前記空間47Sの両側の偏光部分4.
7R,=1.7Rの格子線が、左右線対象であり、それ
ぞれ、前記回折ホログラム21の格子線に対して45度
の角度を有している。
幅aで、格子の形成されていない、すなわち偏光特性を
持たない空間4.78が設けられている。この偏光ホロ
グラム47では、前記空間47Sの両側の偏光部分4.
7R,=1.7Rの格子線が、左右線対象であり、それ
ぞれ、前記回折ホログラム21の格子線に対して45度
の角度を有している。
また、前記1/2波長板46.46は、前記偏光ホログ
ラム47の偏光部分71.7R,47Lに対応する部分
のみに設(プられ、中央部は、前記空間478に対応す
る空間になっている。また、この1/2波長板46.4
6は、入射光の偏光方向を45度回転させるために、方
位角が22.5度に設定されている。
ラム47の偏光部分71.7R,47Lに対応する部分
のみに設(プられ、中央部は、前記空間478に対応す
る空間になっている。また、この1/2波長板46.4
6は、入射光の偏光方向を45度回転させるために、方
位角が22.5度に設定されている。
第1実施例と同様に、前記半導体レーザ1は、2つのエ
ラー信号用光検出器5及び2つの前方モニタ用光検出器
8と共に、同一基板7上に設けられている。
ラー信号用光検出器5及び2つの前方モニタ用光検出器
8と共に、同一基板7上に設けられている。
次に、本実施例の作用について説明する。
第6図(a)に示すように、半導体レーザ1から出射さ
れる例えばP偏光の光ビームは、偏光ホログラム47の
空間47Sと1/2波長板46゜46の間の空間を通過
し、ホログラムレンズ42に入射し、回折ホログラム2
1に照射された光ビームは、この回折ホログラム21に
よってコリメートされ平行光となる。この平行光は対物
レンズ3によって、光磁気媒体44上に収束される。こ
の光磁気媒体44には、上向き磁化と下向き磁化とによ
って情報が記録されている。従って、前記光磁気媒体4
4に入射したP偏光の光は、光磁気媒体44の磁化方向
に応じて磁気光学効果(カー効果)によって偏光面が回
転する。例えば、上向き磁化に対して偏光面がθ度回転
するものとすれば、下向き磁化に対しては偏光面が一θ
度回転ずる。このように偏光面が回転してS偏光成分を
持った反射光ビームは、対物レンズ43を通過し、再び
回折ホログラム21に入射し、ゼロ次と±1次の回折ビ
ームを発生する。このゼロ次のビームは半導体レーザ1
に戻る。そして、±1次のビームは、1/2波長板46
.46を通り、偏光ホログラム47の偏光部分/1.7
R,47Lを通過し、前記エラー信号用光検出器5,5
に収束され、この光検出器5,5で受光され、光電変換
される。
れる例えばP偏光の光ビームは、偏光ホログラム47の
空間47Sと1/2波長板46゜46の間の空間を通過
し、ホログラムレンズ42に入射し、回折ホログラム2
1に照射された光ビームは、この回折ホログラム21に
よってコリメートされ平行光となる。この平行光は対物
レンズ3によって、光磁気媒体44上に収束される。こ
の光磁気媒体44には、上向き磁化と下向き磁化とによ
って情報が記録されている。従って、前記光磁気媒体4
4に入射したP偏光の光は、光磁気媒体44の磁化方向
に応じて磁気光学効果(カー効果)によって偏光面が回
転する。例えば、上向き磁化に対して偏光面がθ度回転
するものとすれば、下向き磁化に対しては偏光面が一θ
度回転ずる。このように偏光面が回転してS偏光成分を
持った反射光ビームは、対物レンズ43を通過し、再び
回折ホログラム21に入射し、ゼロ次と±1次の回折ビ
ームを発生する。このゼロ次のビームは半導体レーザ1
に戻る。そして、±1次のビームは、1/2波長板46
.46を通り、偏光ホログラム47の偏光部分/1.7
R,47Lを通過し、前記エラー信号用光検出器5,5
に収束され、この光検出器5,5で受光され、光電変換
される。
尚、第7図において、符号55aは回折ホログラム21
の1次光を示し、55bば回折ホログラム21の一1次
光を示している。前記偏光部分47R,47Lは、互い
に直交する偏光方向の光のみを透過するため、前記光検
出器5,5の出力差を差動増幅器を介して出力すること
により、情報信号を得ることができる。
の1次光を示し、55bば回折ホログラム21の一1次
光を示している。前記偏光部分47R,47Lは、互い
に直交する偏光方向の光のみを透過するため、前記光検
出器5,5の出力差を差動増幅器を介して出力すること
により、情報信号を得ることができる。
一方、第6図(b)に示すように、半導体レーザ1から
出射され、ホログラムレンズ42の中央部に位置する反
射型ホログラム22に照射された光ビームは、反射され
、ゼロ次と±1次のビーム1つ を発生させ、ゼロ次のビームは半導体レーザ1に戻り、
±1次のビームは、1/2波長板46,46の間の空間
と偏光ホログラム47の空間47Sを通過し、前方モニ
タ用光検出器8.8に収束され、この光検出器8,8で
受光され、光電変換される。尚、第7図において、符号
58aは反射型ホログラム22の1次光を示し、58b
は反射型ホログラム22の一1次光を示している。
出射され、ホログラムレンズ42の中央部に位置する反
射型ホログラム22に照射された光ビームは、反射され
、ゼロ次と±1次のビーム1つ を発生させ、ゼロ次のビームは半導体レーザ1に戻り、
±1次のビームは、1/2波長板46,46の間の空間
と偏光ホログラム47の空間47Sを通過し、前方モニ
タ用光検出器8.8に収束され、この光検出器8,8で
受光され、光電変換される。尚、第7図において、符号
58aは反射型ホログラム22の1次光を示し、58b
は反射型ホログラム22の一1次光を示している。
尚、前記1/2波長板46.46は、見かけ上のjJ−
回転角を増大ざぜるためのものであり、必ずしも必要で
はない。この1/2波長板46,46を設りない場合に
は、硝子ブロック48の端面に、ビームエツヂレグ法ま
たは転写法により、偏光ホログラム47を直接作成する
ことができる。
回転角を増大ざぜるためのものであり、必ずしも必要で
はない。この1/2波長板46,46を設りない場合に
は、硝子ブロック48の端面に、ビームエツヂレグ法ま
たは転写法により、偏光ホログラム47を直接作成する
ことができる。
また、ホログラムレンズ42も、硝子ブロック48の端
面に直接作成しても良い。
面に直接作成しても良い。
また、前記硝子ブロック48の代りに非線形光学素子か
らなる板またはブロックを用いても良い。
らなる板またはブロックを用いても良い。
このように、硝子または非線形光学素子からなる板やブ
ロックの両端面に、回折ホログラム21及び反射型ホロ
グラム22を有するホログラムレンズ42と、偏光ホロ
グラム47とを形成することにより、各ホログラムの格
子線の位置合わせが、製造プロセス作業でできるため、
調整が不要になる。また、この調整のための機構が不要
になるので、光学ヘッド40を小型化が可能になる。
ロックの両端面に、回折ホログラム21及び反射型ホロ
グラム22を有するホログラムレンズ42と、偏光ホロ
グラム47とを形成することにより、各ホログラムの格
子線の位置合わせが、製造プロセス作業でできるため、
調整が不要になる。また、この調整のための機構が不要
になるので、光学ヘッド40を小型化が可能になる。
その他の構成1作用及び効果は、第1実施例と同様であ
る。
る。
尚、本発明で使用している反射型ホログラムの代りに、
マイクロプリズムを設(プ、このマイクロプリズムで反
射した半円状のビームを、それぞれ前方モニタ用光検出
器で受光するようにしても良い。このマイクロプリズム
は、形状をビームの照射面に対してウェッジ(楔)にし
、金属薄膜または誘電体多層膜でコーティングしておく
。
マイクロプリズムを設(プ、このマイクロプリズムで反
射した半円状のビームを、それぞれ前方モニタ用光検出
器で受光するようにしても良い。このマイクロプリズム
は、形状をビームの照射面に対してウェッジ(楔)にし
、金属薄膜または誘電体多層膜でコーティングしておく
。
[発明の効果]
以上説明したように本発明によれば、光源と集光手段の
間に、反射型ホログラムを設け、この反射型ホログラム
で反射された回折光を前方モニタ用光検出器で受光づ゛
ることにより、光源の前方光をモニタでき、戻り光によ
るバックトークノイズの影響を受けないAPCを実現で
きると共に、光源と全ての光検出器を、一体の基板上に
設りたので、光検出器からの信号線をパッケージの内部
から取り出す必要がなくなり、光学ヘッドの組み立てが
容易になるという効果がある。
間に、反射型ホログラムを設け、この反射型ホログラム
で反射された回折光を前方モニタ用光検出器で受光づ゛
ることにより、光源の前方光をモニタでき、戻り光によ
るバックトークノイズの影響を受けないAPCを実現で
きると共に、光源と全ての光検出器を、一体の基板上に
設りたので、光検出器からの信号線をパッケージの内部
から取り出す必要がなくなり、光学ヘッドの組み立てが
容易になるという効果がある。
第1図ないし第3図は本発明の第1実施例に係り、第1
図(a)は光ピツクアップのエラー信号及び情報信号検
出用の光学系を示す説明図、第1図(b)は光ピツクア
ップの前方光モニタ用の光学系を示す説明図、第2図は
ホログラムレンズを示す説明図、第3図は半導体レーザ
及び光検出器を配置した基板の平面図、第4図及び第5
図は本発明の第2実施例に係り、第4図はホログラムレ
ンズを示す説明図、第5図は光ピツクアップの前方光モ
ニタ用の光学系を示づ説明図、第6図及び第7図は本発
明の第3実施例に係り、第6図(a)は光学ヘッドのエ
ラー信号及び情報信号検出用の光学系を示す説明図、第
6図(b)は光学ヘッドの前方光モニタ用の光学系を示
す説明図、第7図は光学ヘッドの各光学素子を示す説明
図、第8図は従来の光学ヘッドの一例の概略を示す説明
図、第9図はハーフミラ−によって半導体レーザの前方
光の一部を分離してモニタする光学ヘッドの概略を示す
説明図である。 1・・・半導体レーザ 2・・・ホログラムレンズ
3・・・対物レンズ 4・・・記録媒体5・・・
エラー信号用光検出器 7・・・基板 8・・・前方モニタ用光検出器 10・・・光ピツクアップ 21・・・回折ホログラム 22・・・反射型ホログラム ■ 第4!!I −6図(a) 第6図(b) 手彰にネ1g正響4(自発) 特拾庁長官 田 文 毅 殿 1、事件の表示 平成1年特許願第87219号 2、発明の名称 光学ヘッド 3、補正をする者 事件との関係
図(a)は光ピツクアップのエラー信号及び情報信号検
出用の光学系を示す説明図、第1図(b)は光ピツクア
ップの前方光モニタ用の光学系を示す説明図、第2図は
ホログラムレンズを示す説明図、第3図は半導体レーザ
及び光検出器を配置した基板の平面図、第4図及び第5
図は本発明の第2実施例に係り、第4図はホログラムレ
ンズを示す説明図、第5図は光ピツクアップの前方光モ
ニタ用の光学系を示づ説明図、第6図及び第7図は本発
明の第3実施例に係り、第6図(a)は光学ヘッドのエ
ラー信号及び情報信号検出用の光学系を示す説明図、第
6図(b)は光学ヘッドの前方光モニタ用の光学系を示
す説明図、第7図は光学ヘッドの各光学素子を示す説明
図、第8図は従来の光学ヘッドの一例の概略を示す説明
図、第9図はハーフミラ−によって半導体レーザの前方
光の一部を分離してモニタする光学ヘッドの概略を示す
説明図である。 1・・・半導体レーザ 2・・・ホログラムレンズ
3・・・対物レンズ 4・・・記録媒体5・・・
エラー信号用光検出器 7・・・基板 8・・・前方モニタ用光検出器 10・・・光ピツクアップ 21・・・回折ホログラム 22・・・反射型ホログラム ■ 第4!!I −6図(a) 第6図(b) 手彰にネ1g正響4(自発) 特拾庁長官 田 文 毅 殿 1、事件の表示 平成1年特許願第87219号 2、発明の名称 光学ヘッド 3、補正をする者 事件との関係
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 記録媒体に照射する光を出射する光源と、 前記光源から出射された光を集光して前記記録媒体に導
く集光手段と、 前記集光手段と前記光源との間に設けられ、前記記録媒
体からの戻り光を前記光源とは異なる方向に導く第1の
ホログラムと、 前記集光手段と前記光源との間に設けられ、前記光源か
ら出射される前方光の一部を反射し、前記光源とは異な
る方向に導く第2のホログラムと、前記第1のホログラ
ムによって導かれた光を受光してエラー信号と情報信号
とを検出する第1の光検出器と、 前記第2のホログラムによって導かれた光を受光して前
記光源の前方光の光量を検出する第2の光検出器と を備え、前記光源と前記第1の光検出器と前記第2の光
検出器とを、一体の基板上に設けたことを特徴とする光
学ヘッド。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1087219A JP2897924B2 (ja) | 1989-04-05 | 1989-04-05 | 光学ヘッド |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1087219A JP2897924B2 (ja) | 1989-04-05 | 1989-04-05 | 光学ヘッド |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9358902A Division JP3010032B2 (ja) | 1997-12-26 | 1997-12-26 | 光学ヘッド |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02265036A true JPH02265036A (ja) | 1990-10-29 |
JP2897924B2 JP2897924B2 (ja) | 1999-05-31 |
Family
ID=13908797
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1087219A Expired - Fee Related JP2897924B2 (ja) | 1989-04-05 | 1989-04-05 | 光学ヘッド |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2897924B2 (ja) |
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EP1531460A3 (en) * | 2003-11-12 | 2007-10-17 | Hitachi-LG Data Storage Korea Inc. | Recording method of an optical disc device and method for determining an abnormality of the optical disc device |
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JPS6446242A (en) * | 1987-08-12 | 1989-02-20 | Seiko Epson Corp | Optical pickup |
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1989
- 1989-04-05 JP JP1087219A patent/JP2897924B2/ja not_active Expired - Fee Related
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