JPH0224539Y2 - - Google Patents

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JPH0224539Y2
JPH0224539Y2 JP1984191366U JP19136684U JPH0224539Y2 JP H0224539 Y2 JPH0224539 Y2 JP H0224539Y2 JP 1984191366 U JP1984191366 U JP 1984191366U JP 19136684 U JP19136684 U JP 19136684U JP H0224539 Y2 JPH0224539 Y2 JP H0224539Y2
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JP
Japan
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inspection
printed circuit
circuit board
solder
soldering
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JP1984191366U
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  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本考案はプリント基板のハンダブリツジ検査装
置に関する。
〈従来の技術〉 例えば第5図に示すようにIC1等の電子部品
はプリント基板2上にハンダ3によつて固定する
が、ハンダ3の量が多いと隣接するIC1のピン
がハンダ3によつて互いに接続してしまう所謂ハ
ンダブリツジ(図中Aの部分)が生じることがあ
る。このため、電子部品をハンダ付した後にはこ
のハンダブリツジがあるか否かの検査を行つてい
る。
従来のハンダブリツジ検査方法は第6図のよう
にプリント基板2のハンダ付個所Bを図中矢印で
示すような順序で作業者の目視により行つてい
た。
〈考案が解決しようとする問題点〉 ところが、従来のような作業者の目視による方
法では、作業者の目の疲労等によつて見落としが
生じ、その後の検査工程で修正が行われることに
なり生産ラインの効率の低下を招く。また、作業
者の疲労も大きい。
本考案は上記の実情に鑑みてなされたもので、
短時間でかつ正確にハンダブリツジを検査できる
ハンダブリツジ検査装置を提供することを目的と
する。
〈問題点を解決するための手段〉 このため本考案では第1図に示すように電子部
品をハンダ付したプリント基板のハンダ付個所数
に対応する多数の電極を有し各電極にハンダ付個
所を接触させてプリント基板をセツトする検査用
治具と、ハンダブリツジの検査を行う個所を指定
する検査個所指定手段と、該指定手段の指定した
一対のハンダ付個所に接触する互いの電極間の抵
抗値を測定する測定手段と、該測定手段の測定結
果に基づいて検査個所がハンダブリツジ状態か否
かを判定する判定手段と、その判定結果を表示す
る表示手段とを設けて構成した。
〈作用〉 これにより、ハンダブリツジを検査するプリン
ト基板を治具にセツトして検査可能な状態とし、
検査個所を指定し測定した抵抗値に基づいてハン
ダブリツジか否かを判定し、この判定結果を表示
する。以上の手順で検査個所全部の検査を行う。
このようにして各プリント基板を順次治具にセツ
トしてハンダブリツジの検査を行う。
〈実施例〉 以下本考案の実施例を図面に基づいて説明す
る。
第2図は本実施例装置の全体図を示す。
図中、後述するコントロールユニツト30を内
蔵する検査装置本体11の正面ボードには、判定
結果を表示する表示手段としての表示ランプ1
2、測定値を表示する測定値表示メータ13、検
査個所の個数を指定するデイジタルスイツチ1
4、このデイジタルスイツチ14で指定した検査
個数を示す検査個数表示部15、プリント基板2
をセツトする検査用治具21を接続するためのコ
ネクタ接続部16及び電源ランプ17等が設けら
れている。尚、前記表示ランプ2は正常時に点灯
する例えば緑色の正常表示用ランプ12Aとハン
ダブリツジ状態のとき点灯する例えば赤色の異常
表示用ランプ12Bからなつている。
18は検査装置本体11に接続されるスイツチ
ボツクスで、スタートスイツチ19とリセツトス
イツチ20を有している。
前述の検査用治具21は、検査するプリント基
板2のハンダ付個所に合わせて多数の電極22を
有しコネクタ(図示せず)によつて検査装置本体
11に接続される。
一方、検査装置本体11に内蔵されたコントロ
ールユニツト30は例えばマイクロコンピユータ
で構成され第3図のような構成になつている。
即ち、デイジタルスイツチ14、スタートスイ
ツチ19及びリセツトスイツチ20からの指令信
号が入力し、検査個数表示部15に指令を発する
検査制御回路31と、該検査制御回路31からの
指令信号に基づいて指定された検査個所の抵抗値
を治具21を介して測定すると共にその測定結果
を測定値表示メータ13に指令する測定回路32
及び前記測定結果を判定しその判定結果に対応す
る表示ランプ12A又は12Bに出力する判定回
路33等で主に構成されている。
次に検査過程を第4図のフローチヤートを参照
しながら説明する。
まず、検査するプリント基板2を治具21にハ
ンダ付個所が治具21の電極22に接触するよう
にセツトする。セツトが完了したら、デイジタル
スイツチ14により検査個所の個数の指定を行
い、その指定個数がその表示部15に表示される
と共に、検査制御回路31により指定された検査
個所に接触している一対の電極22,22の抵抗
値測定用の回路形成が行われる(S1)。
次に、スタートスイツチ19がオンされるまで
待機し、オンすることによつて抵抗値測定が行わ
れる(S2,S3)。更に、測定結果が正常か否かを
判定し(S4)、正常であれば緑色の正常表示用ラ
ンプ12Aを点灯し、ハンダブリツジであると判
定すれば赤色の異常表示用ランプ12Bを点灯す
る(S5,S6)。
これを1つのプリント基板2に対して全ての検
査個所の検査が終了するまで自動的に繰り返す。
そして全部の検査が終了したらリセツトスイツチ
20をオンとしてそのプリント基板2に対する検
査を終了し(S7)、次のプリント基板2を治具2
1にセツトする。
このような装置によれば、ハンダブリツジ検査
工程でハンダブリツジを見落とすことなく確実に
検出でき、しかも検査時間が短縮できるので、生
産能率を大幅に向上できる。また、ハンダブリツ
ジ検査作業者の疲労も格段に軽減できる。
〈考案の効果〉 以上述べたように本考案によれば、ハンダブリ
ツジを目視でなく電気的に検出しその検出結果を
表示するので、ハンダブリツジ検査工程で確実に
検出でき、また、検査時間が短縮できる。従つ
て、生産能率を向上でき、更には作業者の疲労軽
減にも有効である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の構成を説明するブロツク図、
第2図は本考案の一実施例の検査装置概略図、第
3図は同上実施例のコントロールユニツトのブロ
ツク構成図、第4図は同上実施例の制御フローチ
ヤート、第5図はプリント基板への電子部品実装
状態図、第6図は従来のハンダブリツジ検査方法
を説明する図を示す。 1……IC(電子部品)、2……プリント基板、
3……ハンダ、11……検査装置本体、12……
表示ランプ、16……コネクタ接続部、19……
スタートスイツチ、20……リセツトスイツチ、
21……検査用治具、22……電極、30……コ
ントロールユニツト、31……検査制御回路、3
2……測定回路、33……判定回路、A……ハン
ダブリツジ部、B……ハンダ付個所。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 電子部品をハンダ付したプリント基板のハンダ
    付個所数に対応する多数の電極を有し当該電極に
    ハンダ付個所をそれぞれ接触させてプリント基板
    をセツトする検査用治具と、ハンダブリツジの検
    査を行うハンダ付個所を指定する検査個所指定手
    段と、該指定手段の指定した一対のハンダ付個所
    に接触する一対の電極間の抵抗値を測定する測定
    手段と、該測定手段の測定結果に基づいて検査個
    所がハンダブリツジ状態か否かを判定する判定手
    段と、該判定手段の判定結果を表示する表示手段
    とを備えてなるプリント基板のハンダブリツジ検
    査装置。
JP1984191366U 1984-12-19 1984-12-19 Expired JPH0224539Y2 (ja)

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JP1984191366U JPH0224539Y2 (ja) 1984-12-19 1984-12-19

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JPS61107467U JPS61107467U (ja) 1986-07-08
JPH0224539Y2 true JPH0224539Y2 (ja) 1990-07-05

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07244105A (ja) * 1994-03-04 1995-09-19 Hioki Ee Corp 実装基板の基板検査装置によるブリッジ半田検出方法

Citations (1)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4832487A (ja) * 1971-09-01 1973-04-28

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JPS59117963U (ja) * 1983-01-31 1984-08-09 クラリオン株式会社 はんだ付け不良検出装置

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